例如测试系统100)将多个第一衰落测试信号提供给DUT 10的一个或多个信号输入接口。例如，测试系统100可以经由基带接口 11将多个第一衰落测试信号作为一个或多个基带信号提供给DUT 10。此外，测试系统100可以经由RF输入17将多个第一衰落测试信号提供给DUT 10作为PRF信号。
[0066]在操作440中，测试系统(例如测试系统100)将第二衰落信道特征应用于DUT 10的多个输出信号，以生成多个第二衰落测试信号。在此，根据第一衰落信道特征推导第二衰落信道特征。在一些实施例中，第二衰落信道特征可以是第一衰落信道特征114的互反或逆。
[0067]在操作450中，测试系统(例如测试系统100)的一个或多个测试仪器(例如基带测试仪器142和/或RF测试仪器144)根据多个第二衰落测试信号测量DUT 10的至少一个性能特征。在一些实施例中，所述一个或多个性能特征可以包括DUT 10的输出信号的输出功率电平、所占据的带宽、信噪比(SNR)、谐波输出电平、谐波失真、信干噪比(SNIR)、比特出错率(BER)等。在一些实施例中，测试系统100可以在各种条件(例如各种衰落信道特征应用于不同的独立信号112)下推断DUT 10的MMO基带模块12的预编码矩阵。
[0068]在可选操作460中，测试系统(例如测试系统100)可以改变用于各独立信号中每一个的第一和/或第二衰落信道特征，并且利用改变后的衰落信道特征来测量一个或多个性能特征。因此，测试系统可以确知各种无线电信道传输条件可以对DUT 10的性能特征中的一个或多个具有的效果。
[0069]虽然在此公开了示例实施例，但本领域技术人员应理解，根据本教导的很多变形是可能的，并且仍然在所附权利要求的范围内。因此，除了在所附权利要求范围内之外，本发明不受限制。
【主权项】
1.一种测试待测试设备的方法，所述方法包括: 生成多个独立信号； 将第一衰落信道特征应用于所述独立信号，以生成多个第一衰落测试信号； 将所述多个第一衰落测试信号提供给所述待测试设备DUT的一个或多个信号输入接P ; 将第二衰落信道特征应用于所述DUT的多个输出信号，以生成多个第二衰落测试信号，其中，根据所述第一衰落信道特征推导出所述第二衰落信道特征；以及 利用一个或多个测试仪器，根据所述多个第二衰落测试信号测量所述DUT的至少一个性能特征。2.如权利要求1所述的方法，其中，测量至少一个性能特征包括:测量所述DUT的多个信道的信干噪比SINR。3.如权利要求2所述的方法，还包括: 改变所述第一衰落信道特征和所述第二衰落信道特征中的至少一个；和 利用改变后的所述第一衰落信道特征和所述第二衰落信道特征中的至少一个来测量所述DUT的所述多个信道的SINR。4.如权利要求1所述的方法，其中，将所述多个第一衰落测试信号提供给所述DUT的一个或多个信号输入接口包括:经由所述DUT的光学基带输入将所述多个第一衰落测试信号提供给所述DUT的一个或多个信号输入接口。5.如权利要求1所述的方法，还包括:将所述DUT的一个或多个基带输出信号提供给各测试仪器之一，并且响应于所述多个第一衰落测试信号来测量所述DUT的基带处理模块的至少一个性能特征。6.如权利要求1所述的方法，其中，将所述第一衰落信道特征应用于各独立信号中的每一个以生成所述多个第一衰落测试信号包括: 将所述第一衰落信道特征应用于各独立信号中的每一个，以生成多个衰落基带上行链路信号；以及 将所述多个衰落基带上行链路信号应用于一个或多个RF信号生成器，以生成所述多个第一衰落测试信号作为RF信号。7.如权利要求6所述的方法，其中，将所述多个衰落基带上行链路信号应用于一个或多个RF信号生成器以生成所述多个第一衰落测试信号包括:将各独立信号中的每一个提供给所述RF信号生成器中的对应一个，其中，每个RF信号生成器生成所述第一衰落测试信号中的对应一个作为对应RF信号。8.如权利要求7所述的方法，其中，所述DUT包括多入多出M頂O收发机，并且其中，将所述多个第一衰落测试信号提供给所述DUT的一个或多个信号输入接口包括:将所述多个第一衰落测试信号提供给所述MIMO收发机的多个RF输入。9.如权利要求6所述的方法，其中，所述一个或多个测试仪器包括一个或多个RF测试仪器，所述方法还包括:将所述DUT的一个或多个RF输出信号作为一个或多个输入信号提供给所述一个或多个RF测试仪器，并且其中，根据所述多个第二衰落测试信号测量所述DUT的至少一个性能特征包括:利用所述一个或多个RF测试仪器来测量所述DUT的RF处理模块的至少一个性能特征。10.如权利要求6所述的方法，其中，所述一个或多个测试仪器包括一个或多个RF测试仪器，所述方法还包括: 将所述DUT的一个或多个RF输出信号提供给所述一个或多个RF测试仪器；以及 使用所述一个或多个RF测试仪器来测量所述DUT的所述至少一个性能特征。11.一种用于测试待测试设备的测试系统，所述测试系统包括: 一个或多个信号处理器，其配置为生成多个独立信号，并且将第一衰落信道特征应用于各独立信号中的每一个，以生成多个第一衰落测试信号； 至少一个测试系统接口，其配置为将所述多个第一衰落测试信号提供给所述待测试设备DUT的一个或多个信号输入接口 ；以及 一个或多个测试仪器， 其中，所述一个或多个信号处理器配置为将第二衰落信道特征应用于所述DUT的多个输出信号，以生成多个第二衰落测试信号， 其中，所述一个或多个信号处理器配置为根据所述第一衰落信道特征推导出所述第二衰落信道特征，并且 其中，所述一个或多个测试仪器配置为根据所述多个第二衰落测试信号测量所述DUT的至少一个性能特征。12.如权利要求11所述的测试系统，其中，一个或多个测试仪器配置为测量所述DUT的多个信道的信干噪比SINR。13.如权利要求12所述的测试系统，其中，所述一个或多个信号处理器包括:第一信号处理器，其包含存储器；以及数字处理器，其配置为执行所述存储器中存储的指令以促使数字处理器生成所述多个第一衰落测试信号。14.如权利要求13所述的测试系统，其中，所述数字处理器进一步配置为改变所述第一衰落信道特征，其中，所述一个或多个测试仪器进一步配置为利用改变后的第一衰落信道特征来测量所述DUT的所述多个信道的SINR。15.如权利要求11所述的测试系统，其中，所述DUT生成的所述一个或多个输出信号包括一个或多个基带输出信号，所述一个或多个测试仪器包括一个或多个基带测试仪器，其配置为接收所述一个或多个基带输出信号，并且根据所述一个或多个基带输出信号测量所述DUT的至少一个性能特征。16.如权利要求11所述的测试系统，还包括一个或多个RF信号生成器， 其中，所述一个或多个信号处理器配置为将所述第一衰落信道特征应用于各独立信号中的每一个，以生成多个衰落基带上行链路信号，以及 其中，所述一个或多个RF信号生成器中的每一个配置为接收所述多个衰落基带上行链路信号中的一个或多个，并且从其生成所述多个第一衰落测试信号作为RF信号。17.如权利要求16所述的测试系统，还包括一个或多个RF信号生成器， 其中，所述一个或多个信号处理器包括第一信号处理器，其配置为将所述第一衰落信道特征应用于各独立信号中的每一个，以生成多个衰落基带上行链路信号，以及 其中，所述RF信号生成器中的每一个配置为接收所述多个衰落基带上行链路信号中的一个，并且从其生成所述第一衰落测试信号中的对应一个作为对应RF信号。18.如权利要求17所述的测试系统，其中，所述DUT包括多入多出M頂O收发机，并且其中，所述RF信号生成器配置为将所述多个第一衰落测试信号提供给M頂O收发机的多个RF输入。19.如权利要求16所述的测试系统，其中，所述一个或多个测试仪器包括一个或多个RF测试仪器，所述RF测试仪器配置为接收所述DUT的一个或多个RF输出信号作为对于所述一个或多个RF测试仪器的一个或多个输入信号，并且测量所述DUT的RF处理模块的至少一个性能特征。
【专利摘要】在此公开用于测试多用户多入多出系统的系统和方法。用于测试待测试设备的测试系统包括：信号处理器，其配置为生成多个独立信号，并且将第一衰落信道特征应用于各独立信号中的每一个，以生成多个第一衰落测试信号；测试系统接口，其配置为将所述多个第一衰落测试信号提供给所述待测试设备(DUT)的一个或多个信号输入接口；第二信号处理器，其配置为将第二衰落信道特征应用于所述DUT的多个输出信号，以生成多个第二衰落测试信号，其中根据所述第一衰落信道特征推导出所述第二衰落信道特征；以及一个或多个测试仪器，其配置为根据所述多个第二衰落测试信号测量所述DUT的至少一个性能特征。
【IPC分类】H04B17/336
【公开号】CN105634632
【申请号】CN201410709758
【发明人】孔宏伟, 景雅, 赵旭
【申请人】是德科技股份有限公司
【公开日】2016年6月1日
【申请日】2014年11月28日
【公告号】WO2016085531A1