的连接控制。射频开关Κ9的第O端连接射频开关K1的第O端，射频开关K1的第I端连接射频开关K11的第I端，射频开关K1的第2端通过耦合器C5连接至射频开关K11的第2端，射频开关K1、射频开关K11在一控制信号的控制下实现射频开关K1、射频开关K11与耦合器C5的连接控制。射频开关KlI的第O端通过衰减器Α2连接至射频切换箱的UE RX端口。
[0062]射频开关Κ12的第O端连接至射频切换箱的SG端口，射频开关Κ12的第I端连接功分器C6的输入端，射频开关Κ12的第2端连接射频切换箱的REF OUT端口。功分器C6的两个输出端分别连接射频开关Κ13的第O端和射频开关Κ14的第O端，射频开关Κ13的第I端连接至耦合器C2的直通端，射频开关K13的第2端连接负载Rl ο射频开关K14的第I端连接至耦合器C4的直通端，射频开关Κ14的第2端连接负载R2。通过射频开关Κ12、射频开关Κ13和射频开关Κ14的切换实现微波信号源的接入。
[0063 ]射频开关K15的第O端连接射频切换箱的SA端口，射频开关K15的第I端连接射频开关Κ16的第O端，射频开关Κ15的第2端连接至射频切换箱的REF IN端口。射频开关Κ16的第I端连接射频开关Kl 7的第2端，射频开关K16的第2端连接射频开关Kl 8的第2端。射频开关Kl 7的第I端连接至射频切换箱的ΙΝ3端口，射频开关K17的第O端连接至耦合器C3的直通端。射频开关K18的第I端连接至射频切换箱的ΙΝ4端口，射频开关K18的第O端连接至耦合器C5的直通端。通过射频开关Κ15、射频开关Κ16、射频开关Κ17和射频开关Κ18的切换实现频谱分析仪的接入，通过射频开关Κ17、射频开关Κ18的切换实现矢量信号源的接入。
[0064]需要补充的是，控制上述各个射频开关的控制信号可由外部控制设备(如PC机)来产生，并通过相应的接口发送给射频切换箱。具体地，在进行测试前，通过PC机将用于控制测试的配置文件打包发送给射频切换箱，射频切换箱自动读取并控制顺序执行配置文件中的各个测试项目，完成待测终端的射频一致性测试。
[0065]图3为本发明提供的终端射频一致性测试系统的原理图，如图3所示，该测试系统包括上述射频切换箱，以及分别连接射频切换箱的系统模拟器、微波信号源、矢量信号源、频谱分析仪和待测终端。
[0066]其中，系统模拟器用于发送下行信号至待测终端以及接收待测终端发送的上行信号;微波信号源用于发送连续波干扰信号给待测终端;矢量信号源用于发送矢量干扰信号给待测终端;频谱分析仪用于对待测终端发送的信号进行分析;射频切换箱用于根据测试项目，在待测终端与系统模拟器、矢量信号源、微波信号源、频谱分析仪之间进行射频测试链路的切换。
[0067]本发明利用射频切换箱将系统模拟器、矢量信号源、微波信号源、频谱分析仪集成到一起，在射频一致性测试过程中能通过射频切换箱内射频测试链路的自动切换，自动搭建LTE射频一致性测试中要求的不同测试项目对应的测试环境和射频测试链路，完成技术标准关于LTE终端一致性测试规范要求的测试项目，如3GPP技术标准、行业标准等。仅需一套系统便可完成待测终端射频一致性测试的所有测试项目，节省了测试的投入成本，提高了测试效率;简化了测试操作，降低了测试人员的专业技能要求。
[0068]以下通过具体实施例，根据待测终端的实际测试项目对本发明提供的射频控制箱的射频测试链路进行详细描述。
[0069]实施例一
[0070]图4为通过本发明提供的测试系统对待测终端进行发射互调测试时，射频切换箱内部射频测试链路的示意图。
[0071]当进行发射互调测试时，射频切换箱搭建以下射频测试链路:
[0072]从系统模拟器的第一输出端口到待测终端的RX/TX端口的连接，从待测终端的RX/TX端口到系统模拟器的输入端口的连接，从系统模拟器的第二输出端口到待测终端的RX端口的连接；
[0073]从微波信号源的输出端口到待测终端的RX/TX端口的连接，微波信号源的输出端口到待测终端的RX端口的连接；
[0074]从待测终端的RX/TX端口到频谱分析仪的输入端口的连接。
[0075]具体地，系统模拟器通过其TXl端口(发射端口)发射的一路下行信号经射频切换箱的INl端口进入射频切换箱，经过射频切换箱的射频开关K3，耦合器Cl的耦合端，射频开关K4，耦合器C2的耦合端，射频开关K5、K6，再经过耦合器C3的耦合端，射频开关Κ7，以及衰减器Al连接到待测终端的RX/TX端口。系统模拟器通过其ΤΧ2端口发射的另一路下行信号经射频切换箱的ΙΝ2端口进入射频切换箱，经过射频切换箱的射频开关Κ8、K9、K10、K11，以及衰减器A2连接到待测终端的RX端口。待测终端通过其RX/TX端口发送的上行信号经射频切换箱的UE TRX端口进入射频切换箱，经过衰减器Al，射频开关K7，耦合器C3(耦合方向)，射频开关K6、K5，耦合器C2 (耦合方向)，射频开关K4，耦合器Cl (直通方向)，射频开关K3、K2、Kl，进入系统模拟器的RX端口(接收端口)。
[0076]微波信号源通过其RFOUT端口发射的连续波干扰信号(CW)经射频切换箱的SG端口进入射频切换箱后，经过射频开关K12，功分器C6后分成两路信号:其中一路经射频开关K13，耦合器C2 (直通方向)，射频开关K5、K6，耦合器C3的耦合端，射频开关Κ7，衰减器AI到达待测终端的RX/TX端口；另一路经射频开关Κ14，连接到负载R2。
[0077]待测终端通过其RX/TX端口发送的上行信号经过衰减器Al，射频开关Κ7，耦合器C3(直通方向)，射频开关Κ17、Κ16、Κ15，到达频谱分析仪的输入端口RF IN端口。
[0078]实施例二
[0079]图5为通过本发明提供的测试系统对待测终端进行发射功率、输出动态特性、发射信号质量、占用带宽、最大输入电平和参考灵敏度测试时，射频切换箱内部射频测试链路的示意图。
[0080]当进行发射功率、输出动态特性、发射信号质量、占用带宽、最大输入电平和参考灵敏度测试时，射频切换箱搭建以下射频测试链路:
[0081 ]从系统模拟器的第一输出端口到待测终端的RX/TX端口的连接，从待测终端的RX/TX端口到系统模拟器的输入端口的连接，从系统模拟器的第二输出端口到待测终端的RX端口的连接。
[0082]具体地，系统模拟器通过其TXl端口发射的一路下行信号经射频切换箱的INl端口进入射频切换箱，经过射频切换箱的射频开关K3，耦合器Cl的耦合端，射频开关K4、Κ5、Κ6、Κ7，以及衰减器Al连接到待测终端的RX/TX端口。系统模拟器发射的另一路下行信号经射频开关K8、K9、K10、K11，以及衰减器Α2连接到待测终端的RX端口。待测终端通过其RX/TX端口发射的上行信号经过衰减器Al，射频开关K7、K6、K5、Κ4，耦合器Cl (直通方向)，射频开关K3、K2、K1进入系统模拟器的RX端口。
[0083]实施例三
[0084]图6为通过本发明提供的测试系统对待测终端进行邻道选择性、带内阻塞测试时，射频切换箱内部射频测试链路的示意图。
[0085]当进行邻道选择性、带内阻塞测试时，射频切换箱搭建以下射频测试链路:
[0086]从系统模拟器的第一输出端口到待测终端的RX/TX端口的连接，从待测终端的RX/TX端口到系统模拟器的输入端口的连接，从系统模拟器的第二输出端口到待测终端的RX端口的连接；
[0087]从矢量信号源的第一输出端口到待测终端的RX/TX端口的连接，从矢量信号源的第二输出端口到待测终端的RX端口的连接。
[0088]具体地，系统模拟器通过其TXl端口发射的一路下行信号经射频切换箱的INl端口进入射频切换箱，经过射频切换箱的射频开关K3，耦合器Cl (直通方向)，射频开关K4、K5、Κ6，耦合器C3的耦合端，射频开关Κ7以及衰减器Al连接到待测终端的RX/TX端口。系统模拟器发射的另一路下行信号经射频开关K8、K9、K10，耦合器C5的耦合端，射频开关KU以及衰减器Α2连接到待测终端的RX端口。待测终端通过其RX/TX端口发射的上行信号经过衰减器Al，射频开关Κ7，耦合器C3(耦合方向)，射频开关肪、1(5、1(4，耦合器(:1(耦合方向)，射频开关K3、K2、K1进入系统模拟器的RX端口。
[0089]矢量信号源通过其TXl端口发射的一路矢量干