高温气冷堆核测量系统板卡测试装置的制作方法

1.本技术涉及反应堆工程技术领域，尤其涉及一种高温气冷堆核测量系统板卡测试装置。


背景技术：

2.高温气冷堆核测量系统在反应堆停堆、启动、正常运行、事故工况和事故后工况下对中子注量率水平及其变化率进行监测，向反应堆保护系统、事故后监测系统、功率控制系统和控制室提供反应堆核功率和周期信号，为操纵员、反应堆功率控制系统、反应堆保护系统提供准确的功率信息，保证反应堆能够在正常状态下运行。
3.高温气冷堆示范工程每座反应堆共设8个核测量子系统，其中，源量程子系统2个，中间量程子系统2个，功率量程子系统4个。核测量系统采用模拟电路设计，通过不同功能的板卡组合在一个机箱内实现信号调理和信号处理功能。
4.然而，相关技术中，高温气冷堆核测量系统故障存在排查困难，故障点范围过大无法定位到单个板卡，导致核测量系统的可维护性较差。


技术实现要素：

5.本技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
6.为此，本技术的目的在于解决核测量系统的可维护性较差的技术问题，提出了一种高温气冷堆核测量系统板卡测试装置。
7.本技术的另一个目的在于提出一种基于高温气冷堆核测量系统板卡测试装置的测试方法。
8.为达上述目的，本技术一方面提出了高温气冷堆核测量系统板卡测试装置，包括：
9.测量单元，用于为被测板卡上电和提供激励信号，并测量所述被测板卡的电性能数据；
10.控制单元，用于协调测试资源，并采集所述电性能数据；
11.人机交互单元，用于接收测试指令，并显示所述电性能数据。
12.在一种可能的实施方式中，所述测量单元，包括：
13.测量仪表，用于测量所述被测板卡的电性能数据；
14.程控电源，用于为所述被测板卡上电；
15.信号源，用于为所述被测板卡提供激励信号；
16.矩阵电路，用于通过针脚连接至所述被测板卡。
17.在一种可能的实施方式中，所述控制单元，包括：
18.机箱，用于接入仪器模块；
19.控制器，用于协调所述测试资源，并采集所述电性能数据。
20.在一种可能的实施方式中，所述测量仪表，包括：61/2-位数字万用表。
21.在一种可能的实施方式中，所述电性能数据包括：常规测试的电性能数据、上电测
试的电性能数据和激励测试的电性能数据。
22.为达到上述目的，本技术另一方面提出了一种基于高温气冷堆核测量系统板卡测试装置的测试方法，包括：
23.在未为被测板卡上电的情况下，对所述被测板卡进行常规测试，获取所述被测板卡的常规测试的电性能数据；
24.在为所述被测板卡上电的情况下，对所述被测板卡进行上电测试，获取所述被测板卡的上电测试的电性能数据；
25.在为所述被测板卡上电且提供激励信号的情况下，对所述被测板卡进行激励测试，获取所述被测板卡的激励测试的电性能数据。
26.本技术的有益效果：
27.在本技术实施例中，测量单元，用于为被测板卡上电和提供激励信号，并测量被测板卡的电性能数据；控制单元，用于协调测试资源，并采集电性能数据；人机交互单元，用于接收测试指令，并显示电性能数据。本技术能够将核测量系统故障从定位机箱缩小至板卡，可以提高核测量系统的运行可靠性和可维护性，提高核测量系统的维修效率。
28.本技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
29.本技术上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
30.图1为根据本技术实施例的高温气冷堆核测量系统板卡测试装置的结构示意图；
31.图2为根据本技术实施例的测试单元的结构示意图；
32.图3为根据本技术实施例的基于高温气冷堆核测量系统板卡测试装置的测试方法的流程图。
具体实施方式
33.需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。
34.为了使本技术领域的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本技术保护的范围。
35.下面参照附图描述根据本技术实施例提出的高温气冷堆核测量系统板卡测试装置及基于高温气冷堆核测量系统板卡测试装置的测试方法，首先将参照附图描述根据本技术实施例提出的高温气冷堆核测量系统板卡测试装置。
36.图1为根据本技术实施例的高温气冷堆核测量系统板卡测试装置的结构示意图。
37.如图1所示，该高温气冷堆核测量系统板卡测试装置100包括：
38.测量单元110，用于为被测板卡上电和提供激励信号，并测量被测板卡的电性能数
据。
39.在本技术实施例中，测量单元110可以为被测板卡上电和提供激励信号，并在上电前、上电后且提供激励信号前、上电后且提供激励信号后，分情况测量被测板卡的电性能数据。其中，所述激励信号可以包括电压信号、电流信号和脉冲信号。
40.控制单元120，用于协调测试资源，并采集电性能数据。
41.在本技术实施例中，控制单元120可以协调测试资源，并可以采集电性能数据。在采集到电性能数据之后，控制单元120可以将电性能数据发送至人机交互单元130。其中，测试资源可以是测量单元110的内部子单元，也就是说，控制单元120可以协调测量单元120的内部子单元对被测板卡进行测试。
42.人机交互单元130，用于接收测试指令，并显示电性能数据。
43.在本技术实施例中，人机交互单元130可以接收测试指令。其中，测试指令可以是测试人员通过触摸屏或者功能按键发出的。人机交互单元130接收到测试指令之后，可以将测试指令发送至控制单元120，控制单元120在接收到测试指令之后，可以控制测量单元110对被测板卡进行测量，并采集被测板卡的电性能数据。控制单元120可以将电性能数据发送至人机交互单元130。人机交互单元130在接收到电性能数据后，可以通过显示屏显示电性能数据。
44.在本技术实施例中，测量单元，用于为被测板卡上电和提供激励信号，并测量被测板卡的电性能数据；控制单元，用于协调测试资源，并采集电性能数据；人机交互单元，用于接收测试指令，并显示电性能数据。本技术能够将核测量系统故障从定位机箱缩小至板卡，可以提高核测量系统的运行可靠性和可维护性，提高核测量系统的维修效率。
45.在一种可能的实施方式中，测量单元110，包括：
46.测量仪表，用于测量被测板卡的电性能数据；
47.程控电源，用于为被测板卡上电；
48.信号源，用于为被测板卡提供激励信号；
49.矩阵电路，用于通过针脚连接至被测板卡。
50.在本技术实施例中，图2为根据本技术实施例的测试单元的结构示意图，如图2所示，测量单元可以包括测量仪表、程控电源、信号源和矩阵电路，其中，矩阵电路包括两部分。具体地，人机交互单元可以与控制单元连接，控制单元分别连接至测量仪表、程控电源和信号源，测量仪表、程控电源和信号源分别连接至两部分矩阵电路，两部分矩阵电路分别连接至被测板卡。其中，测量仪表可以测量被测板卡的电性能数据，程控电源可以为被测板卡上电，信号源可以为被测板卡提供激励信号，矩阵电路可以通过针脚连接至被测板卡。如此，可以基于上述结构的测量单元对被测板卡进行测试，从而能够将核测量系统故障从定位机箱缩小至板卡，提高核测量系统的运行可靠性和可维护性，以及提高核测量系统的维修效率。
51.需要说明的是，矩阵电路可以为可组合切换电路，可以任意组合通道，方便连接至被测板卡所需针脚。此外，信号源可以为被测板卡提供电压(包括微电压)信号、电流(包括微电流)信号和脉冲信号。
52.在一种可能的实施方式中，控制单元120，包括：
53.机箱，用于接入仪器模块；
54.控制器，用于协调测试资源，并采集电性能数据。
55.在本技术实施例中，机箱可以接入仪器模块，控制器可以协调测试资源，并采集电性能数据。需要说明的是，机箱可以具有全混合背板，从而可以满足各种高性能测试和测量应用的需求，机箱上每个外设插槽可支持混合连接器，能够接入各种仪器模块。此外，控制器可以用于创建紧凑型和/或便携式基于个人电脑的平台来满足工业控制、数据采集以及测试和测量应用的需求。如此，基于上述结构的控制单元可以对被测板卡进行测试，从而能够将核测量系统故障从定位机箱缩小至板卡，提高核测量系统的运行可靠性和可维护性，以及提高核测量系统的维修效率。
56.在一种可能的实施方式中，测量仪表，包括：61/2-位数字万用表。
57.在本技术实施例中，测量仪表可以是61/2-位数字万用表。需要说明的是，61/2-位数字万用表可以进行交流/直流电压、交流/直流电流和2线或4线电阻测量以及二极管测试，适合oem板(original equipment manufacture，原始设备制造商)、教学实验室或其他注重成本的测试和测量应用。如此，可以通过对61/2-位数字万用表测量被测板卡的电性能数据，能够提高测量结果的可靠性。
58.在一种可能的实施方式中，电性能数据包括：常规测试的电性能数据、上电测试的电性能数据和激励测试的电性能数据。
59.在本技术实施例中，可以通过全自动化设计，对被测板卡进行常规测试、上电测试和激励测试，从而获取常规测试的电性能数据、上电测试的电性能数据和激励测试的电性能数据。如此，通过常规测试、上电测试和激励测试三种测试方式测试被测板卡，可以全面获取被测板卡的电性能数据，从而能够提高被测板卡的电性能数据的可靠性。
60.需要说明的是，在对被测板卡进行上电测试的过程中，还可以测量被测板卡的供电电压和供电电流。
61.为了实现上述实施例，如图3所示，本实施例中还提供了一种基于高温气冷堆核测量系统板卡测试装置的测试方法，该方法包括：
62.步骤310，在未为被测板卡上电的情况下，对被测板卡进行常规测试，获取被测板卡的常规测试的电性能数据；
63.步骤320，在为被测板卡上电的情况下，对被测板卡进行上电测试，获取被测板卡的上电测试的电性能数据；
64.步骤330，在为被测板卡上电且提供激励信号的情况下，对被测板卡进行激励测试，获取被测板卡的激励测试的电性能数据。
65.在本技术实施例中，可以在未为被测板卡上电的情况下，对被测板卡进行常规测试，获取被测板卡的常规测试的电性能数据；在为被测板卡上电的情况下，对被测板卡进行上电测试，获取被测板卡的上电测试的电性能数据；在为被测板卡上电且提供激励信号的情况下，对被测板卡进行激励测试，获取被测板卡的激励测试的电性能数据。如此，可以在被测板卡上电前、上电后且提供激励信号前、上电后且提供激励信号后分别进行常规测试、上电测试和激励测试，从而完成对被测板卡的全面测试，能够将核测量系统故障从定位机箱缩小至板卡，提高核测量系统的运行可靠性和可维护性，以及提高核测量系统的维修效率。
66.需要说明的是，前述对高温气冷堆核测量系统板卡测试装置实施例的解释说明也
适用于该实施例的基于高温气冷堆核测量系统板卡测试装置的测试方法，此处不再赘述。
67.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
68.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
69.尽管上面已经示出和描述了本技术的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本技术的限制，本领域的普通技术人员在本技术的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。