梯度线圈的检测装置和磁共振成像系统的制作方法_2

文档序号:8686277阅读:来源:国知局
关闭信号或一警报信号。若所述梯度线圈计算电阻小于所述参考数值,则所述结果信号为一保持信号或一安全信号。
[0022]根据本实用新型的具体实施例的磁共振成像系统的梯度线圈的检测装置100还包括一关闭单元,与所述比较单元104连接,用于根据所述关闭信号关闭所述梯度线圈300。关闭单元可与梯度功率放大器200连接或者与梯度线圈300连接,因此关闭梯度线圈300的方式包括关闭梯度功率放大器200的输出或者将梯度线圈300断路。
[0023]根据本实用新型的具体实施例的磁共振成像系统的梯度线圈的检测装置还包括一报警单元,与所述比较单元104连接,用于根据所述警报信号发出警报。
[0024]根据本实用新型的具体实施例的磁共振成像系统的梯度线圈的检测装置100还包括一开启单元105,用于根据所述磁共振成像系统的同步时钟(开启单元105可以直接从梯度功率放大器200获得同步时钟也可以从磁共振成像系统的同步时钟源获得同步时钟)开启所述检测装置100,具体而言开启所述电压采样电路101和所述电流采样电路102。
[0025]所述磁共振成像系统包括一滤波单元400,所述滤波单元400包括一滤波输入端B和一滤波输出端C,所述滤波输入端B与所述磁共振成像系统的梯度功率放大器的输出端A通过一第一导线连接,所述滤波输出端C与所述梯度线圈的输入端D通过一第二导线连接,其中,所述采样电压输入端1011与所述第一导线上任意一点连接;或者所述采样电压输入端与所述第二导线上任意一点连接。在不同点上连接采样电压输入端1011可以得到不同范围的检测结果,包括:梯度线圈和/或第一导线和/或第二导线和/或滤波单元。
[0026]无论是否存在滤波单元,所述采样电压输入端1011都可以与所述梯度功率放大器的输出端A连接,由此可检测梯度线圈和梯度功率放大器与梯度线圈之间的导线;或者,所述采样电压输入端与所述梯度线圈的输入端D连接,由此可仅检测梯度线圈。
[0027]计算单元103还用于对所述梯度线圈计算电阻进行校对,可通过多种方式进行校对,比如查表或所述计算单元包括一加法器或乘法器,用于通过与一校对数值相加或相乘的方式对所述梯度线圈计算电阻进行校对,所述磁共振成像系统的使用年限越长所述校对数值越大。
[0028]综上所述,根据本实用新型的具体实施例的磁共振成像系统的梯度线圈的检测装置能够在磁共振成像系统扫描期间实时检测梯度线圈的工作状态,进一步地如果梯度线圈的工作状态与标准不符,那么根据本实用新型的具体实施例的磁共振成像系统的梯度线圈的检测装置能够停止梯度线圈以及其它相邻组件的工作以免造成更大损失。
[0029]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种磁共振成像系统的梯度线圈的检测装置,其特征在于,包括: 一电压米样电路,包括: 一采样电压输入端,连接在所述磁共振成像系统的梯度功率放大器与所述梯度线圈之间获得一梯度线圈采样电压,以及 一米样电压输出端; 一电流米样电路, 一采样电流输入端,与所述磁共振成像系统的梯度功率放大器连接获得一梯度线圈采样电流,以及 一米样电流输出端; 一计算单元,与所述采样电压输出端和所述采样电流输出端连接,用于根据所述梯度线圈采样电压和所述梯度线圈采样电流计算一梯度线圈计算电阻; 一比较单元,与所述计算单元连接,用于将所述梯度线圈计算电阻与一参考数值比较获得一结果信号。
2.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,还包括: 一开启单元,用于根据所述磁共振成像系统的同步时钟开启所述电压采样电路和所述电流米样电路。
3.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,若所述梯度线圈计算电阻大于等于所述参考数值,则所述结果信号为一关闭信号或一警报信号。
4.如权利要求3所述的检测装置,其特征在于,还包括: 一关闭单元,与所述比较单元连接,用于根据所述关闭信号关闭所述梯度功率放大器。
5.如权利要求3所述的检测装置,其特征在于,还包括: 一报警单元,与所述比较单元连接,用于根据所述警报信号发出警报。
6.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述磁共振成像系统包括一滤波单元,所述滤波单元包括一滤波输入端和一滤波输出端,所述滤波输入端与所述磁共振成像系统的梯度功率放大器通过一第一导线连接,所述滤波输出端与所述梯度线圈通过一第二导线连接,其中, 所述采样电压输入端与所述第一导线上任意一点连接;或者 所述采样电压输入端与所述第二导线上任意一点连接。
7.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述采样电压输入端与所述梯度功率放大器的输出端连接;或者,所述采样电压输入端与所述梯度线圈的输入端连接。
8.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述计算单元还用于对所述梯度线圈计算电阻进行校对。
9.如权利要求8所述的检测装置,其特征在于,所述计算单元还包括一加法器或一乘法器,通过与一校对数值相加或相乘的方式对所述梯度线圈计算电阻进行校对,所述磁共振成像系统的使用年限越长所述校对数值越大。
10.一种磁共振成像系统,其特征在于,包括如权利要求1-9任一所述的检测装置。
【专利摘要】本实用新型提供一种梯度线圈的检测装置和磁共振成像系统。所述磁共振成像系统的梯度线圈的检测装置,包括:一电压采样电路,包括:一采样电压输入端,连接在所述磁共振成像系统的梯度功率放大器与所述梯度线圈之间获得一梯度线圈采样电压,以及一采样电压输出端;一电流采样电路,一采样电流输入端,与所述磁共振成像系统的梯度功率放大器连接获得一梯度线圈采样电流,以及一采样电流输出端;一计算单元,与所述采样电压输出端和所述采样电流输出端连接,用于根据所述梯度线圈采样电压和所述梯度线圈采样电流计算一梯度线圈计算电阻;一比较单元,与所述计算单元连接,用于将所述梯度线圈计算电阻与一参考数值比较获得一结果信号。根据本实用新型的具体实施例的磁共振成像系统的梯度线圈的检测装置能够在磁共振成像系统扫描期间实时检测梯度线圈的工作状态。
【IPC分类】A61B5-055
【公开号】CN204394510
【申请号】CN201520007845
【发明人】刘晓光, 陈启兴
【申请人】西门子(深圳)磁共振有限公司
【公开日】2015年6月17日
【申请日】2015年1月6日
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