透明显示装置、透明显示面板及其修复方法与流程

相关申请的交叉引用

本申请要求2015年9月30日提交的韩国专利申请第10-2015-0138242号的权益，通过引用将其并入本文，就像在本文中完全阐述那样。

本发明涉及一种透明显示装置以及透明显示面板。

背景技术：

随着信息导向社会的进步，对用于显示图像的显示装置的要求日益提高。近来，各种显示装置例如液晶显示(lcd)装置、等离子体显示装置、有机发光显示装置等正得到应用。

近来，正在开发与常规显示装置不同的具有透明性的透明显示装置。然而，用于提供透明性的研究和开发聚焦于用透明元件代替显示面板的元件。因此，没有有效地实现透明显示面板和透明显示装置。

此外，已经开发了仅适用于没有透明性的常规显示装置的、用于修复有缺陷的像素的常规修复结构和常规修复方法。因此，在透明显示面板中，在出现有缺陷的像素时，常规修复结构和常规修复方法不适用于修复该有缺陷的像素。

技术实现要素：

因此，本发明涉及提供一种基本上消除由于相关技术的局限和缺点所导致的一个或多个问题的透明显示装置和透明显示面板。

本发明的一个方面涉及提供一种透明度高的透明显示面板和透明显示装置。

本发明的另一方面涉及提供一种具有透明像素结构的透明显示面板和透明显示装置。

本发明的又一方面涉及提供一种适用于透明像素结构的修复结构和修复处理方法。

本发明的又一方面涉及提供一种对其已经执行了修复的透明显示面板和透明显示装置。

本发明的又一方面涉及提供一种产率高的透明显示面板和透明显示装置。

本发明的另外的优点和特征一部分将在下面的描述中阐述，并且一部分在考察下面的描述后对本领域普通技术人员将是明显的或者可以从本发明的实践了解。本发明的目标和其他优点可以通过在书面说明书及其权利要求书以及附图中具体指出的结构来实现和得到。

为了实现这些优点以及其他优点并且根据本发明的目的，如在本文中实施和粗略描述的，提供了一种透明显示面板和透明显示装置，透明显示面板和透明显示装置均包括：多个数据线和多个栅极线；多个透明像素，所述多个透明像素均包括多个子像素和透明区，所述子像素显示不同的颜色并且被布置成沿第一方向彼此相邻，所述透明区被布置成沿第二方向与相应的子像素相邻；以及修复线，所述修复线与所述多个透明像素中的沿所述第二方向彼此相邻的第一透明像素和第二透明像素交叠。

根据本公开提供一种透明显示装置，包括：透明显示面板，所述透明显示面板包括多个数据线和多个栅极线、多个透明像素以及修复线，所述多个透明像素每一个均包括多个子像素和透明区，所述多个子像素显示不同的颜色并且被布置成沿第一方向彼此相邻，所述透明区被布置成沿第二方向与对应的多个子像素相邻，所述修复线与所述多个透明像素中的沿所述第二方向彼此相邻的第一透明像素和第二透明像素交叠；驱动所述多个数据线的数据驱动器；以及驱动所述多个栅极线的栅极驱动器。

根据本公开提供一种用于透明显示面板的修复方法，所述透明面板包括多个数据线和多个栅极线；多个透明像素，所述多个透明像素每一个均包括多个子像素和透明区，所述多个子像素显示不同的颜色并且被布置成沿第一方向彼此相邻，所述透明区被布置成沿第二方向与对应的多个子像素相邻，其中所述多个透明像素中每个所包括的多个子像素中的每一个包括晶体管和像素电极，所述修复方法包括：将修复线设置为与所述多个透明像素中的沿所述第二方向彼此相邻的第一透明像素和第二透明像素交叠；以及通过将有缺陷的透明像素的像素电极与其晶体管断开连接并且将该像素电极与所述修复线连接来修复所述有缺陷的透明像素。

要理解的是，本发明的前述一般描述和下面的具体描述是示例性和说明性的，旨在提供所要求保护的发明的进一步说明。

附图说明

包括附图来提供对本发明的进一步理解并且附图被并入且构成本申请的一部分，附图示出本发明的实施方式并且与描述一起用于说明本发明的原理。在附图中：

图1是示出根据实施方式的透明显示装置的示意系统构造的框图；

图2和图3是示出根据实施方式的透明显示装置的一般透明像素结构的图；

图4至图6是示出根据实施方式的透明显示装置的基于三个子像素的透明像素布置结构的图；

图7和图8是示出根据实施方式的透明显示装置的基于四个子像素的透明像素布置结构的图；

图9是示意性示出根据实施方式的透明显示装置中的子像素结构的图；

图10是示出在根据实施方式的透明显示装置中的具有图9的子像素结构的两个透明像素的图；

图11a和图11b是在根据实施方式的透明显示装置中的具有透明像素结构的透明像素的局部截面视图；

图12是在根据实施方式的透明显示装置中的子像素的基础等效电路图；

图13是用于描述在根据实施方式的透明显示装置中引起与子像素结构相关联的透明像素缺陷的图；

图14是概念性示出对于在根据实施方式的透明显示装置中的透明像素缺陷的修复操作的图；

图15是示例性示出在根据实施方式的透明显示装置中的对有缺陷的透明像素执行修复的点的图；

图16是示出在根据实施方式的透明显示装置中、在修复有缺陷的透明像素时在焊接点处执行的焊接操作的图；

图17a和17b是示出在根据实施方式的透明显示装置中、在修复有缺陷的透明像素时在切割点处执行的切割操作的图；

图18是示出在根据实施方式的透明显示装置中、在修复有缺陷的透明像素时在切割及焊接点处执行的切割及焊接操作的图；

图19是示例性示出在根据实施方式的透明显示装置中在具有透明像素结构的一个透明像素中要进行修复的点的图；

图20至图23是示出在根据实施方式的透明显示装置中在基于四个子像素的透明像素结构中在产生缺陷的点中的每个点处已经执行修复的状态的示例图；以及

图24和图25是示出在根据实施方式的透明显示装置中在包括含有整体像素电极的四个子像素的、基于四个子像素的透明像素结构中，在产生缺陷处的点中的每个点处已经执行修复的状态的示例图。

具体实施方式

现在将详细地参考本发明的示例性实施方式，其示例示出在附图中。尽可能地，遍及附图将使用相同的附图标记来指代相同或相似的部分。

在下文中，将参照附图详细地描述本发明的一些实施方式。在说明书中，给每个附图中的元件添加附图标记，应该注意的是，对于元件尽可能地使用已经用于指示其他附图中的类似元件的类似附图标记。在下面的描述中，在确定相关已知功能或构造的详细描述不必要地使本发明的重点模糊时，将省略该详细描述。

在描述本发明的元件时，可以使用术语例如第一、第二、a、b、(a)、(b)等。这样的术语仅用于将相应元件与其他元件进行区分并且上述相应元件在其实质、顺序或优先级方面不受上述术语限制。将理解的是，在元件或层称为在另一元件或层“上”或“连接至”所述另一元件或层时，该元件或层可以直接在所述另一元件或层上或者直接连接至所述另一元件或层，或者可以存在插入的元件或层。

图1是示出根据实施方式的透明显示装置100的示意系统构造的框图。

参照图1，根据实施方式的透明显示装置100可以包括：设置有多个栅极线、多个数据线和多个透明像素的透明显示面板110；分别向所述多个数据线输出数据电压以驱动数据线的数据驱动器120；按顺序向所述多个栅极线输出扫描信号以驱动栅极线的栅极驱动器130；以及输出用于控制数据驱动器120和栅极驱动器130的各种控制信号的定时控制器140。

数据驱动器120可以包括多个数据驱动集成电路(ic，称为源极驱动ic)。所述多个数据驱动ic可以连接至带式自动接合(tab)型或玻璃上芯片(cog)型的透明显示面板110的接合焊盘，或者可以直接设置在透明显示面板110中。根据情况，可以将数据驱动ic集成至透明显示面板110中。

根据驱动类型，栅极驱动器130可以如图1所示设置在透明显示面板110的仅一侧上，或者栅极驱动器130可以设置为两个并且可以设置在透明显示面板110的两侧上。另外，栅极驱动器130可以包括多个栅极驱动ic，并且栅极驱动ic可以连接至tab型或cog型的透明显示面板110的接合焊盘。可替代地，栅极驱动ic可以实现为面板内栅极(gip)型并且可以直接设置在透明显示面板110中。根据情况，栅极驱动ic可以集成至透明显示面板110中。

在本实施方式中，提供了一种新型的透明像素结构，因而，提供了透明显示面板110和透明显示装置100。

新颖地被配置成用于实现透明显示面板110和透明显示装置100的透明像素结构具有如下结构特征：具有相同颜色的子像素彼此不相邻。

当由于透明像素结构的特征、在包括于一个子像素中的晶体管或像素电极中产生缺陷时，出现通过使用相邻子像素不能执行修复的有限的情况。

另一方面，在本实施方式中，提供了一种用于修复甚至透明像素结构中的有缺陷的像素的修复结构。在此，可以在产品出厂之前在制造面板的过程中执行修复，在产品出厂之后可以根据消费者的售后服务请求执行修复。

在下文中，将参照附图描述用于实现透明显示面板110和透明显示装置100的透明像素结构以及用于执行透明像素结构中的修复的修复结构和修复方法。

图2和图3是示出根据实施方式的透明显示装置的一般透明像素结构的图。图2是示出一个像素的一般透明像素结构的图，并且图3是示出四个透明像素的图。

参照图2，一个透明像素p可以包括透明区ta和子像素区spa，在该子像素区设置有显示不同颜色的k个子像素sp_1,sp_2,……,和sp_k。在此，指代包括在一个透明像素p中的子像素的数量的k可以是三或四，并且根据情况，k可以是二或者等于或大于五的自然数。

参照图2，在一个透明像素p中，子像素sp_1,……,和sp_k可以被布置成沿第一方向彼此相邻。

参照图2，透明区ta可以被布置成沿第二方向与子像素区spa相邻。也就是说，透明区ta可以被布置成沿第二方向与子像素sp_1,……,和sp_k相邻。

如上所述，多个透明像素p每个均可以包括透明区ta，因而，每个均可以包括透明结构。由于这样的透明像素结构，实现了根据实施方式的透明显示面板110和透明显示装置100。

例如，参照图2，在透明像素p中的每一个中，透明区ta的高度hta可以对应于或可以类似于子像素区spa的高度hspa，并且透明区ta的宽度wta可以与子像素区spa的宽度wspa相比较窄、较宽或相等。在此，基于宽度w和高度h确定的透明区ta的尺寸“ata＝wta×hta”与子像素区spa的尺寸“aspa＝wspa×hspa”的比“ata/hspa”可以基于透明显示装置100的透射率和分辨率中的至少之一来确定。

在此，随着透明区ta的尺寸ata变得大于子像素区spa的尺寸aspa，即，随着透明区ta的尺寸“ata＝wta×hta”与子像素区spa的尺寸“aspa＝wspa×hspa”的比“ata/hspa”变得更高，透明像素p的透明度可以增加，此外，透明显示装置100的透明度可以增加。

图3是示出具有图2的透明像素结构的四个透明像素p1至p4的图。在图3中，第一透明像素p1和第二透明像素p2可以被布置成沿第一方向彼此相邻；第三透明像素p3和第四透明像素p4可以被布置成沿第一方向彼此相邻；第一透明像素p1和第三透明像素p3可以被布置成沿第二方向彼此相邻；并且第二透明像素p2和第四透明像素p4可以被布置成沿第二方向彼此相邻。

参照图3，第一透明像素p1可以包括：在子像素区spa中的被布置成沿第一方向彼此相邻的k个子像素sp_11,sp_12,……,和sp_1k；以及被布置成沿第二方向与子像素区spa相邻的透明区ta_1。第二透明像素p2可以包括：在子像素区spa中的被布置成沿第一方向彼此相邻的k个子像素sp_21,sp_22,……,和sp_2k；以及被布置成沿第二方向与子像素区spa相邻的透明区ta_2。第三透明像素p3可以包括：在子像素区spa中的被布置成沿第一方向彼此相邻的k个子像素sp_31,sp_32,……,和sp_3k；以及被布置成沿第二方向与子像素区spa相邻的透明区ta_3。第四透明像素p4可以包括：在子像素区spa中的被布置成沿第一方向彼此相邻的k个子像素sp_41,sp_42,……,和sp_4k；以及被布置成沿第二方向与子像素区spa相邻的透明区ta_4。

参照图3，沿第一方向彼此相邻的第一透明像素p1和第二透明像素p2的透明区ta_1和ta_2可以被布置成彼此相邻。另外，沿第一方向彼此相邻的第三透明像素p3和第四透明像素p4的透明区ta_3和ta_4可以被布置成彼此相邻。

如此，由于各个透明像素p的透明区ta被布置成彼此相邻，所以透明显示装置100的透明度增加，此外，容易实现修复结构(例如，修复线等)，该修复结构能够使有缺陷的透明像素得到修复(这将在下面更详细地描述)。

参照图3，在根据实施方式的透明显示装置100中，两个相邻的子像素可以是不同颜色的子像素，与透明像素p无关。

换言之，在一个透明像素中的两个相邻子像素可以是不同颜色的子像素。

例如，在第一透明像素p1中，第一子像素sp_11和第二子像素sp_12可以是不同颜色的子像素。

此外，在分别包括在两个相邻透明像素中的两个子像素彼此相邻的情况下，这两个子像素可以是不同颜色的子像素。

例如，第一透明像素p1的第k个子像素sp_1k可以被布置成与第二透明像素p2的第一子像素sp_21相邻，并且第一透明像素p1的第k个子像素sp_1k和第二透明像素p2的第一子像素sp_21可以是不同颜色的子像素。

如此，所有子像素中的两个相邻子像素可以是不同颜色的子像素，因而，在子像素中的一个子像素产生缺陷时，难以使用与所述一个子像素相邻的像素来修复产生缺陷的所述一个子像素。

因此，本实施方式提供了一种修复结构，该修复结构能够甚至在如下子像素布置结构中实现修复：在该子像素布置结构中，不能通过与有缺陷的子像素相邻的子像素来修复有缺陷的子像素。这将在下面更详细地描述。

在下文中，可以将以上参照图2和图3描述的、根据实施方式的透明像素布置结构应用于三个子像素的结构和四个子像素的结构。

首先，将参照图4至图6描述根据实施方式的透明像素布置结构被应用于三个子像素的结构的示例。

图4是示出根据实施方式的透明显示装置100的基于三个子像素的透明像素布置结构的图。

参照图4，在沿第一方向彼此相邻的第一透明像素p1和第二透明像素p2中，第一透明像素p1的子像素sp_11,……,和sp_1k以及第二透明像素p2的子像素sp_21,……,和sp_2k可以具有不同的颜色阵列。

此外，在沿第一方向彼此相邻的第三透明像素p3和第四透明像素p4中，第三透明像素p3的子像素sp_31,……,和sp_3k以及第四透明像素p4的子像素sp_41,……,和sp_4k可以具有不同的颜色阵列。

参照图4，沿第二方向与第一透明像素p1相邻的第三透明像素p3的子像素sp_31,……,和sp_3k以及沿第一方向与第一透明像素p1相邻的第二透明像素p2的子像素sp_21,……,和sp_2k可以具有相同的颜色阵列。

此外，沿第二方向与第二透明像素p2相邻的第四透明像素p4的子像素sp_41,……,和sp_4k以及沿第一方向与第二透明像素p2相邻的第一透明像素p1的子像素sp_11,……,和sp_1k可以具有相同的颜色阵列。

图5是基于三个子像素的透明像素布置结构的示例图。

参照图5，各透明像素p1至p4的子像素可以具有相同的颜色阵列。

参照图5，第一透明像素p1的子像素sp_11、sp_12和sp_13，第二透明像素p2的子像素sp_21、sp_22和sp_23，第三透明像素p3的子像素sp_31、sp_32和sp_33，以及第四透明像素p4的子像素sp_41,sp_42和sp_43可以具有例如其中红色(r)、绿色(g)和蓝色(b)以预定次序布置的颜色阵列。

图6是示出基于三个子像素的透明像素布置结构的另一示例图。

参照图6，在沿对角方向布置的第一透明像素p1和第四透明像素p4中，第一透明像素p1的子像素sp_11,sp_12和sp_13以及第四透明像素p4的子像素sp_41,sp_42和sp_43可以具有其中红色(r)、绿色(g)和白色(w)以预定次序布置的颜色阵列。

参照图6，在沿对角方向布置的第二透明像素p2和第三透明像素p3中，第二透明像素p2的子像素sp_21,sp_22和sp_23以及第三透明像素p3的子像素sp_31,sp_32和sp_33可以具有其中蓝色(b)、绿色(g)、和白色(w)以预定次序布置的颜色阵列。

换言之，在基于三个子像素的透明像素布置结构中，被布置成沿第一方向彼此相邻的两个透明像素的子像素可以具有不同的颜色阵列，并且沿对角方向布置的两个透明像素的子像素可以具有相同的颜色阵列。

例如，如图6所示，被布置成沿第一方向彼此相邻的两个透明像素中的一个可以包括多个具有其中红色(r)、绿色(g)和白色(w)以预定次序布置的颜色阵列的子像素，并且另一个透明像素可以包括多个具有其中蓝色(b)、绿色(g)和白色(w)以预定次序布置的颜色阵列。

除了图6的颜色阵列之外，一个透明像素可以通过布置与根据预定阵列规则的红色(r)、蓝色(b)、绿色(g)这三种颜色以及白色(w)相对应的多个子像素来构造。在此，阵列规则表示每种颜色的阵列图案是规则的。

如以上参照图4至图6所述的，本实施方式提供了基于三个子像素的透明像素结构以及具有使用该基于三个子像素的透明像素结构的透明像素布置结构的透明显示装置100。因此，透明显示面板110的开口率进一步增加，并且子像素、信号线(例如栅极线)、ic(例如，栅极驱动ic)等的数量减少。

在图6的透明像素布置结构中，多个透明像素之中的两个相邻的透明像素可以共享红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素中的一个子像素。两个相邻的透明像素包括具有一个颜色的第一颜色阵列和具有彼此不同的两个颜色的第二像素阵列。第一颜色阵列可以具有绿色子像素。第二颜色阵列可以具有红色子像素和蓝色子像素。两个相邻的透明像素可以沿第二方向共享红色子像素或者蓝色子像素。两个相邻的透明像素还包括具有白色子像素一个颜色的第三颜色阵列。因此，在图6的透明像素布置结构中，由于一个透明像素不包括对应于红色、绿色和蓝色中的每一个(特别地，红色(r)或蓝色(b))的子像素，也就是说，由于上述一个透明像素仅包括分别对应于白色和两种颜色(例如，红色和绿色，或者蓝色和绿色)的子像素，所以可以使用能够使相邻透明像素共享特定颜色的透明像素渲染过程。

接下来，将参照图7和图8描述根据实施方式的透明像素布置结构被应用于四个子像素的结构的示例。

图7是示出根据实施方式的透明显示装置100的基于四个子像素的透明显示布置结构的图。

参照图7，各透明像素p1至p4的子像素可以具有相同的颜色阵列。

参照图7，在基于四个子像素的透明像素布置结构中，多个透明像素中的每一个可以包括分别对应于红色、绿色、蓝色和白色的多个子像素。

图8是基于四个子像素的透明像素布置结构的示例图。

参照图8，多个透明像素中的每一个的子像素可以具有其中红色(r)、绿色(g)、蓝色(b)和白色(w)以预定次序布置的颜色阵列。

参照图8，第一透明像素p1的子像素sp_11至sp_14可以是分别对应于红色(r)、绿色(g)、蓝色(b)和白色(w)的子像素。第二透明像素p2的子像素sp_21至sp_24可以是分别对应于红色(r)、绿色(g)、蓝色(b)和白色(w)的子像素。第三透明像素p3的子像素sp_31至sp_34可以是分别对应于红色(r)、绿色(g)、蓝色(b)和白色(w)的子像素。第四透明像素p4的子像素sp_41至sp_44可以是分别对应于红色(r)、绿色(g)、蓝色(b)和白色(w)的子像素。

如以上参照图7和图8所述的，本实施方式提供了基于四个子像素的透明像素结构以及具有使用该基于四个子像素的透明像素结构的透明像素布置结构的透明显示装置100。因此，透明显示面板110更精确地显示颜色，并且分辨率被进一步提高。另外，由于一个透明像素包括全颜色子像素，所以与图6的透明像素布置结构不同，可以不执行像素渲染过程。

图9是示意性示出在根据实施方式的透明显示装置100中的子像素结构的图。

参照图9，在根据实施方式的透明显示装置100中，包括在多个透明像素的每一个中的多个子像素sp可以均包括至少一个晶体管t和像素电极pe，该像素电极pe相对于连接部930被分为第一部分910和第二部分920。

参照图9，在像素电极pe中，可连接至晶体管t的部分可以为第一部分910，并且相对于连接部930、与第一部分910相对的部分可以为的第二部分920。

参照图9，子像素中的每一个可以具有划分结构，其中像素电极pe相对于连接部930被分为第一部分910和第二部分920。划分结构可以为用于执行修复的结构。

例如，当在作为可连接至晶体管t的第一部分910中产生缺陷时，可以通过切割连接部930来修复相应的透明像素p。

因此，在像素电极pe中，连接部930可以是要被切割以进行修复(切割)的切割点cp。

参照图9，可以在包括于每个透明像素p中的多个子像素的每一个附近、沿第一方向设置用于修复有缺陷的像素的两个修复线pl。

由于在图9中示出的像素电极结构和修复结构，修复被精确且容易地执行。

此外，甚至在不同颜色的子像素彼此相邻的透明像素布置结构中，也可以通过修复线rl来执行修复。

参照图9，可以在像素电极pe的第一部分910中设置伸出至修复线pl上的第一伸出部911。

参照图9，像素电极pe的第一部分910可以连接至晶体管t或者从晶体管t切断，并且从晶体管t切断的第一部分910的一部分可以通过修复线rl来修复(焊接)。

在修复被执行之前，第一伸出部911可以连接至晶体管t并且可以与修复线rl电绝缘。在修复被执行之后，第一伸出部911可以被切割以使晶体管与像素电极pe断开，或者可以通过修复线pl焊接被切割以使晶体管t与像素电极pe断开的第一伸出部911的一部分，以用于电连接。

因此，设置在像素电极pe的第一部分910中的第一伸出部911可以是被切割以用于修复的切割点cp，也可以是被焊接的焊接点wp。

参照图9，可以在像素电极pe的第二部分920中设置伸出至修复线rl上的第二伸出部921。

第二伸出部921可以被初始设置成与修复线rl间隔开。

在包括设置有第二伸出部921的像素电极pe的子像素sp中，在另一子像素sp中产生缺陷从而该另一像素被修复的情况下，第二伸出部921可以电连接至修复线rl。

因此，与第一伸出部911类似，设置在像素电极pe的第二部分920中的第二伸出部921可以是要被焊接以用于修复(焊接)的焊接点。

如以上参照图9所述的，由于像素电极pe包括划分结构并且该结构包括第一伸出部911和第二伸出部921，所以修复被更容易且精确地执行。另外，当第一部分和第二部分之一产生缺陷时，另一部可以通过使用各种修复方法而正常使用。

参照图9，在像素电极pe中，连接部930、第一伸出部911、第二伸出部921中的每一个的宽度可以比像素电极pe的其他部分的宽度窄。

此外，像素电极pe可以相对于连接部930被分为包括第一伸出部911的第一部分910和包括第二伸出部921的第二部分920。

通过这样的结构，要被修复(焊接或切割)的部分在尺寸上减小，从而更容易地、精确地且快速地进行修复。

图10是示出具有图9的子像素结构且沿第二方向彼此相邻的两个透明像素p1和p2的图。

参照图10，第一修复线rl1和第二修复线rl2可以同时与沿第二方向彼此相邻的第一透明像素p1和第二透明像素p2交叠。

具体地，第一透明像素p1的第一子像素sp_11和第二子像素sp_12中每一个的第二伸出部可以沿第一方向与第一修复线rl1的第一修复线部分rl_11交叠。第一修复线rl1的第二修复线部分rl_12可以沿第二方向布置在第一透明像素p1的透明区ta外部。第二透明像素p2中的第一子像素sp_21和第二子像素sp_22中的每一个的第一伸出部可以沿第一方向与第一修复线rl1的第三修复线部分rl_13交叠。第一透明像素p1的其他两个子像素sp_13和sp_14以及第二透明像素p2的其他两个子像素sp_2和sp_24可以与第二修复线rl2交叠。

也就是说，第一透明像素p1的第三子像素sp_13和第四子像素sp_14中每一个的第二伸出部可以沿第一方向与第二修复线rl2的第一修复线部分rl_21交叠。第二修复线rl2的第二修复线部分rl_22可以沿第二方向布置在第一透明像素p1的透明区ta外部。第二透明像素p2的第三子像素sp_23和第四子像素sp_24中每一个的第一伸出部可以沿第一方向与第二修复线rl2的第三修复线部分rl_23交叠。

在此，第一修复线rl1和第二修复线rl2可以同时与沿第二方向彼此相邻的第一透明像素p1和第二透明像素p2交叠。此外，第一修复线rl1可以与第二修复线rl2断开。

在此，图10仅公开了包括四个子像素sp的透明像素p，但是如以上参照图2至图8所描述的，可以对子像素sp的数量进行各种改变，不限于图10中所示的实施方式。

例如，在图10中，如果第一透明像素p1和第二透明像素p2每一个均包括三个子像素，则第一透明像素p1的第一子像素sp_11和第二子像素sp_12中每一个的第二伸出部可以沿第一方向与第一修复线rl1的第一修复线部分rl_11交叠。第一修复线rl1的第二修复线部分rl_12可以沿第二方向布置在第一透明像素p1的透明区ta外部。第二透明像素p2的第一子像素sp_21和第二子像素sp_22中每一个的第一伸出部可以与第一修复线rl1的第三修复线部分rl_13交叠。

此外，第一透明像素p1的第三子像素sp_23的第二伸出部可以与第二修复线rl2的第一修复线部分rl_21交叠。第二修复线rl2的第二修复线部分rl_22可以沿第二方向布置在第一透明像素p1的透明区ta外部。第二透明像素p2的第三子像素sp_23的第一伸出部可以沿第一方向与第二修复线rl2的第三修复线部分rl_23交叠。

因此，在第一透明像素p1和第二透明像素p2的每一个中，如果子像素的数量为n个，则可以将子像素分为n-m(其中n和m是自然数，且m<n)个第一子像素组和m个第二子像素组。在这种情况下，与第一透明像素p1中的第一像素组的第二伸出部交叠的修复线可以连接至与第二透明像素p2中的第一子像素组的第一伸出部交叠的修复线；并且与第一透明像素p1中的第二像素组的第二伸出部交叠的修复线可以连接至与第二透明像素p2中的第二子像素组的第一伸出部交叠的修复线。在此，布置在第一子像素组中的修复线可以与布置在第二子像素组中的修复线断开。

在此，修复线el可以经由透明区ta的外部连接至另一透明像素，以便不减少透明区ta的开口率。

根据本实施方式的透明显示装置100可以是lcd装置、有机发光显示装置等。在下文中，将描述透明显示装置100为有机发光显示装置的情况作为示例。

图11a和图11b是在根据实施方式的透明显示装置100中具有透明像素结构的透明像素p的局部截面视图，并且是沿图10的线z1-z1’和线z2-z2’所取的截面视图。图11a和图11b是执行修复之前的截面视图。

参照图11a和图11b，在均设置有包括在多个透明像素p的每一个中的多个子像素sp的区域中可以设置有：布置在基板1110上的第一绝缘层1115；布置在第一绝缘层1115上的第二绝缘层1120；布置在第二绝缘层1120上的反射层1130；布置在反射层1130上的像素电极pe；布置在像素电极pe上的有机层1140；布置在有机层1140上的包括透明材料的公共电极1150；以及布置在公共电极1150上的封装层1160。

可以形成第一绝缘层1115，然后可以在预定位置处形成修复线rl。然后，可以形成第二绝缘层1120。

可以使用同一掩模对反射层1130和像素电极pe进行图案化。

在此，第一绝缘层1115、第二绝缘层1120、有机层1140、公共电极1150和封装层1160每一个均可以由透明材料形成。例如，图11a和图11b中所示的子像素sp的截面视图与顶发射型有关。

图11a的截面视图中所示的像素电极pe对应于设置有第二伸出部921的第二部分920，并且图11b的截面视图中所示的像素电极pe对应于设置有第一伸出部911的第一部分910。

参照图11a，在通过第二绝缘层1120绝缘的情况下可以将修复线rl形成在第二伸出部921下方。参照图11b，在通过第二绝缘层1120绝缘的情况下可以将修复线rl形成在第一伸出部911下方。在此，修复线rl可以形成在其上形成有栅电极的层上、其上形成有源-漏电极的层上、或者其上形成有分隔图案的层上。

在图11b中，没有示出连接至像素电极pe以将电流施加至像素电极pe的驱动晶体管drt。然而，驱动晶体管drt可以形成在像素电极pe下方以使透明区ta最大化。在此，驱动晶体管drt可以不连接至修复线rl。

参照图11a和图11b，包括透明材料的公共电极1150可以形成在没有反射层1130和像素电极pe的每个透明像素p的透明区ta中。在此，根据情况，如图11a和图11b所示，在每个透明像素p中的透明区ta中可以形成或不形成有机层1140。

在此，像素电极pe可以是有机发光二极管(oled)的正电极(或负电极)，并且公共电极1150可以是oled的负电极(或正电极)。

每个透明像素p的子像素可以均包括发射对应颜色的光的有机层1140。在这种情况下，有机层1140可以包括发射对应颜色的光的发射层。

此外，每个透明像素p的所有子像素可以均包括发射白光的有机层1140。在这种情况下，有机层1140可以形成在公共电极1150上，并且各个子像素还可以包括将白光转换为对应颜色的光的滤色器(未示出)。

通过实现图11a和图11b中所示的截面结构，实现了透明显示装置100。

子像素sp可以包括形成有晶体管t等的电路区ca和发射光的发射区ea。

在图11a和图11b中，形成有有机层1140的区域可以对应于发射区ea。

图10中示出的晶体管t可以是形成在电路区ca中的一个元件并且可以对应于用于驱动oled的驱动晶体管drt。

将参照图12示例性地描述有机发光显示装置的每个子像素sp的电路区ca。

图12是在根据实施方式的透明显示装置100中的子像素的基本等效电路图。

参照图12，多个子像素sp中每一个均可以包括：用于驱动有机发光二极管oled的驱动晶体管drt；用于控制驱动晶体管drt的栅极电压的开关晶体管swt；以及用于在一个帧时段期间保持特定电压的存储电容器cst。

图12示出包括两个晶体管(例如，drt和swt)和一个电容器(例如，cst)的2t-1c结构。除了2t-1c结构之外，多个子像素中的每一个可以包括还含有一个或更多个晶体管或还含有一个或更多个电容器的结构。

在下文中，将描述修复上述透明像素结构中的有缺陷像素的操作。在此，可以在产品出厂前在制造透明显示面板110的过程中执行修复，以及在产品出厂之后，可以根据消费者的售后服务请求执行修复。

图13是用于描述在根据实施方式的透明显示装置100中引起与子像素结构相关联的透明像素缺陷的图。

参照图13，如上所述，在多个子像素sp中的每一个中可以设置有晶体管t和像素电极pe。

参照图13，作为透明像素缺陷的第一原因的异物在制造过程中进入形成晶体管t的部分，并且引起晶体管的栅极与连接至高电平电压evdd端子的晶体管t的源极或漏极之间的短路。在这种情况下，对应的子像素sp变白以辐射地闪烁，并且包括对应的子像素sp的透明像素p变白。

参照图13，作为透明像素缺陷的第二原因的短路在晶体管的栅极与连接至低电平电压evss端子的晶体管t的源极或漏极之间发生。在这种情况下，对应的子像素sp变黑而不发光，并且包括对应的子像素sp的透明像素p变黑。

参照图13，作为透明像素缺陷的第三原因的异物在制造过程中进入设置有像素电极pe的第一部分910的部分，并且引起在像素电极pe(例如，正电极)与公共电极1150(例如，负电极)之间的短路。在这种情况下，对应的子像素sp变黑而不发光，并且包括对应的子像素sp的透明像素p变黑。

参照图13，作为透明像素缺陷的第四原因的异物在制造过程中进入设置有像素电极pe的第二部分920的部分，并且引起在像素电极pe(例如，正电极)与公共电极1150(例如，负电极)之间的短路。在这种情况下，对应的子像素sp变黑而不发光，并且包括对应的子像素sp的透明像素p变黑。

图14是概念性示出对于在根据实施方式的透明显示装置100中的透明像素缺陷的修复操作的图。

参照图14，当在包括于透明像素p的多个子像素sp_1,…,和sp_k中的一个子像素sp_2中发生以上参照图13所描述的透明像素缺陷的四个原因中的一个时，子像素sp_2变黑或变白，引起使透明像素p变白或变黑的缺陷。

通过修复透明像素p的缺陷，子像素sp_2及包括子像素sp_2的透明像素p可以正常工作。

因此，在根据本实施方式的透明显示面板110出厂之后，所有的透明像素p和所有的子像素sp可能处于没有执行修复的状态，或者至少一个透明像素p即至少一个子像素sp可以处于被修复的状态。

本实施方式公开了一种修复结构及修复方法，其中修复被执行以便于使有缺陷的子像素sp以及包括有缺陷的子像素sp的透明像素p正常工作，尽管具有其中透明区ta被布置在沿第二方向彼此相邻的子像素之间的透明像素结构和透明像素布置结构。

根据本公开，提供一种用于透明显示面板的修复方法，所述透明面板包括多个数据线和多个栅极线；多个透明像素，所述多个透明像素每一个均包括多个子像素和透明区，所述多个子像素显示不同的颜色并且被布置成沿第一方向彼此相邻，所述透明区被布置成沿第二方向与对应的多个子像素相邻，其中所述多个透明像素中每个所包括的多个子像素中的每一个包括晶体管和像素电极，修复方法包括：将修复线设置为与所述多个透明像素中的沿所述第二方向彼此相邻的第一透明像素和第二透明像素交叠；以及通过将有缺陷的透明像素的像素电极与其晶体管断开连接并且将该像素电极与所述修复线连接来修复所述有缺陷的透明像素。

另外，本实施方式公开了具有修复结构的透明显示面板110和透明显示装置110，并且公开了已经执行修复的透明显示面板110和透明显示装置100。这将在下面更详细地描述。

图15是示例性示出在根据实施方式的透明显示装置100中的、对有缺陷的透明像素执行修复的点的图。图16是示出在根据实施方式的透明显示装置100中，在修复有缺陷的透明像素时在焊接点处执行的焊接操作的图。图17a和17b是示出在根据实施方式的透明显示装置100中，在修复有缺陷的透明像素时在切割点处执行的切割操作的图。图18是示出在根据实施方式的透明显示装置100中、在修复有缺陷的透明像素时在切割及焊接点处执行的切割及焊接操作的图。

参照图15，在包括于多个透明像素p的每一个中的多个子像素sp的每一个中可以设置有像素电极pe。像素电极pe可以包括相对于连接部930被划分的第一部分910和第二部分920。在此，第一部分910可以是可连接至晶体管t的部分，并且第二部分920可以是相对于连接部930与第一部分910相对的部分。

参照图15，在像素电极pe的第一部分910中可以设置有第一伸出部911。第一部分910可以连接至晶体管t或者从晶体管t切断，或者可以从晶体管t切断并且可以通过修复线rl被焊接。

此外，参照图15，在像素电极pe的第二部分920中可以设置有第二伸出部921。在此，第二伸出部921可以与修复线rl间隔开，并且可以通过修复线rl被焊接以用于执行修复。

参照图15和图16，设置在像素电极pe的第一部分910中的第一伸出部911可以是要被切割以用于修复的第一切割点cp1，并且可以是要被焊接的第二焊接点wp2。

此外，设置在第二部分920中的第二伸出部921可以是要被焊接以用于修复的第一焊接点wp1。

参照图15和图16，在执行修复之前，设置在像素电极pe的第二部分920中的第二伸出部921可以具有与反射层1130的电势相同的电势，并且可以通过第二绝缘层1120与修复线rl绝缘并间隔开。

参照图15和图16，在通过焊接执行修复之后，具有与像素电极pe的电势相同的电势的反射层1130可以连接至修复线rl，并且设置在像素电极pe的第二部分920中的第二伸出部921可以连接至修复线rl。此时，通过第二伸出部921下方的修复线rl与反射层1130之间的焊接，可以形成连接第二伸出部921下方的修复线rl和反射层1130的连接图案1600。在此，可以根据焊接方法修改连接图案1600，例如，可以熔化反射层1130的一部分和/或修复线rl的一部分，并且连接图案1600可以是包括与反射层1130和修复线rl的材料不同的材料的图案。

参照图15和图17a，设置在像素电极pe的第一部分910中的第一伸出部911可以是要被切割以用于修复(焊接)的第一切割点cp1。

参照图15和图17a，在执行修复之前，设置在像素电极pe的第一部分910中的第一伸出部911可以连接至晶体管t。

参照图15和图17a，在执行修复之后，设置在像素电极pe的第一部分910中的第一伸出部911可以被切割。因此，晶体管t可以与像素电极pe断开连接。

参照图15和图17b，像素电极pe的连接部930可以是要被切割的第二切割点cp2。

参照图15和图17b，在执行修复之前，像素电极pe的连接部930可以处于未切割状态，并且在执行修复之后，像素电极pe的连接部930可以处于被切割状态。

参照图15和图18，在执行修复之前，设置在像素电极pe的第一部分910中的第一伸出部911可以连接至晶体管t。另外，第一伸出部911可以具有与反射层1130的电势相同的电势，并且可以通过第二绝缘层1120与修复线rl绝缘且间隔开。

参照图15和图18，设置在像素电极pe的第一部分910中的第一伸出部911可以是要被切割以用于修复(焊接)的第一切割点cp1，以及可以是要被焊接以用于修复(焊接)的第二焊接点wp2。

参照图15和图18，在执行修复之后，设置在像素电极pe的第一部分910中的第一伸出部911可以被切割。因此，晶体管t可以与像素电极pe断开连接。

然后，从晶体管t切断的第一伸出部911可以通过焊接修复。也就是说，具有与像素电极pe的电势相同的电势的反射层1130可以连接至修复线rl，并且设置在像素电极pe的第一部分910中的第一伸出部911可以连接至修复线rl。此时，通过第一伸出部911下方的修复线rl与反射层1130之间的焊接，可以形成连接第一伸出部911下方的修复线rl和反射层1130的连接图案1600。在此，可以根据焊接方法修改连接图案1600，例如，可以熔化反射层1130的一部分和/或修复线rl的一部分，并且连接图案1600可以是包括与反射层1130和修复线rl的材料不同的材料的图案。

图19是示出在以上参照图15至图18所述的示出一个子像素sp中的两个焊接点wp1和wp2以及两个切割点cp1和cp2被示为在包括于第一透明像素p1中的多个子像素sp_11,sp_12,sp_13和sp_14和包括于第二透明像素p2中的多个子像素sp_21,sp_22,sp_23和sp_24中。

此外，在包括于第一透明像素p1中的多个子像素sp_11,sp_12,sp_13和sp_14与包括于第二透明像素p2中的多个子像素sp_21,sp_22,sp_23和sp_24之间可以设置有用于修复的两个修复线(例如，第一修复线和第二修复线)。

在此，以上参照图10已经描述了第一修复线和第二修复线，因而省略其详细描述。

图20至图23是示出在根据实施方式的透明显示装置100中在基于四个子像素的透明像素结构中、在产生缺陷的点中的每个点处已经执行修复的状态的示例图。

在图20至图22中，为了便于描述，将描述包括多个透明像素的透明显示面板中的沿第二方向彼此相邻的第一透明像素p1和第二透明像素p2。另外，假设如下：第一透明像素p1包括发射红光的子像素sp_11、发射绿光的子像素sp_12、发射蓝光的子像素sp_13以及发射白光的子像素sp_14；并且第二透明像素p2包括发射红光的子像素sp_21、发射绿光的子像素sp_22、发射蓝光的子像素sp_23以及发射白光的子像素sp_24。

图20是用于描述当在设置在第一透明像素p1的子像素sp_11,sp_12,sp_13和sp_14之中的子像素sp_12中的晶体管t中产生缺陷(通过短路而引起的热斑或暗斑)时的修复方法和修复状态的图。

参照图20，在由于异物进入包括在第一透明像素p1的子像素sp_11,sp_12,sp_13和sp_14之中的第二子像素sp_12中的晶体管而使晶体管t的栅极与连接至高电平电压evdd端子的源极或漏极短路时，大量电流流至包括在第二子像素sp_12中的像素电极pe，为此，第二子像素sp_12和包括第二子像素sp_12的第一透明像素p1变白。另外，在晶体管t的栅极与连接至低电平电压evss端子的源极或漏极短路时，至包括在第二子像素sp_12中的像素电极pe的电流的提供被阻挡，为此，第二子像素sp_12和包括第二子像素sp_12的第一透明像素p1变黑。

在产生这样的像素缺陷时，通过执行切割处理，可以在包括于第一透明像素p1的子像素sp_11,sp_12,sp_13和sp_14中的第二子像素sp_12之中的像素电极pe中切割(a点)连接至晶体管t的第一部分910。

另外，在包括于第一透明像素p1的第二子像素sp_12中的像素电极pe中，通过执行焊接过程可以将相对于连接部930与第一部分910相对的第二部分920连接至(b点)修复线rl。

此外，可以寻找包括具有与第一透明像素p1中的产生缺陷的第二子像素sp_12的颜色相同的颜色的子像素的透明像素。

所找到的透明像素可以是沿第二方向与第一透明像素p1相邻的第二透明像素p2，或者可以是沿相对于第一透明像素p1而与第二透明像素p2相对的方向、与第一透明像素p1相邻的透明像素(未示出)。然而，由于在包括于第二子像素sp_12中的像素电极pe中切割了连接至晶体管t的第一部分910，所以便于对第二透明像素p2执行修复。

在图20的实施方式中，第一透明像素p1中的产生缺陷的第二子像素sp_12可以是绿色子像素，因而，所找到的透明像素被示出为相对于与第一透明像素p1相邻的第二透明像素p2而在第一透明像素p1的右边。

因此，通过执行焊接过程，相对于连接部930的、连接至晶体管t的第一部分910可以连接至包括在第二透明像素p2的子像素sp_21,sp_22,sp_23和sp_24之中的、具有与第一透明像素p1中的产生缺陷的第二子像素sp_12的颜色相同的颜色(绿色)的子像素sp_22中的像素电极pe中的(c点)修复线rl。

通过这样的修复，包括在第一透明像素p1的第二子像素sp_12中的像素电极pe可以被提供有来自包括在如下子像素(图20的实施方式中的sp_22)中的晶体管t的驱动电流：该子像素(图20的实施方式中的sp_22)包括在与第一透明像素p1中的产生缺陷的第二子像素sp_12不相邻的另一透明像素(图20的实施方式的p2)中。

因此，即使由于在包括在第一透明像素p1的一个子像素sp_12中的晶体管t中产生的缺陷而产生热斑或暗斑，通过修复缺陷，产生缺陷的第一透明像素p1的子像素sp_12和第一透明像素p1可以正常工作。

图21是用于描述当在第一透明像素p1的子像素sp_11,sp_12,sp_13和sp_14中的子像素sp_12中设置的像素电极pe中、连接至晶体管t的第一部分910中产生缺陷时的修复方法和修复状态的图。

参照图21，在连接至晶体管t的第一部分910与设置在第一透明像素p1的子像素sp_11,sp_12,sp_13和sp_14中子像素sp_12中的像素电极pe中的公共电极1150(例如，负电极)短路时，在包括在第二子像素sp_12中的像素电极pe与公共电极1150之间没有电势差，为此，从包括在第二子像素sp_12中的像素电极pe与公共电极1150之间的有机层1140没有发射光，引起暗斑。

下面将参照图21描述修复有缺陷的像素的操作。

通过执行切割处理，可以在包括于第一透明像素p1的子像素sp_11,sp_12,sp_13和sp_14中的第二子像素sp_12中的像素电极pe中切割(a点)连接至晶体管t的第一部分910。

另外，通过执行切割处理，可以在包括于第一透明像素p1的第二子像素sp_12中的像素电极pe中切割(b点)连接部930。

此外，在包括于第一透明像素p1的第二子像素sp_12中的像素电极pe中，通过执行焊接处理可以将相对于连接部930与第一部分910相对的第二部分920连接至(c点)修复线rl。

此外，可以寻找包括具有与第一透明像素p1中的产生缺陷的第二子像素sp_12的颜色相同的颜色(g)的子像素的透明像素。

所找到的透明像素可以是沿第二方向与第一透明像素p1相邻的第二透明像素p2，或者可以是沿相对于第一透明像素p1与第二透明像素p2相对的方向、与第一透明像素p1相邻的透明像素(未示出)。然而，由于在包括于第二子像素sp_12中的像素电极pe中切割了连接部930，所以便于对第二透明像素p2执行修复。

在图21的实施方式中，第一透明像素p1中的产生缺陷的第二子像素sp_12可以是绿色子像素，因而，所找到的透明像素被示出为相对于与第一透明像素p1相邻的第二透明像素p2、在第一透明像素p1的右边。

因此，通过执行焊接处理，相对于连接部930的连接至晶体管t的第一部分910可以连接至包括在第二透明像素p2的子像素sp_21,sp_22,sp_23和sp_24之中的具有与第一透明像素p1中的产生缺陷的第二子像素sp_12的颜色相同的颜色的子像素sp_22中的、像素电极pe中的(d点)修复线rl。

通过这样的修复，包括在第一透明像素p1的第二子像素sp_12中的像素电极pe的第二部分可以被提供有来自包括在如下子像素(图21的实施方式中的sp_22)中的晶体管t的驱动电流：该子像素(图21的实施方式中的sp_22)包括在与第一透明像素p1中的产生缺陷的第二子像素sp_12不相邻的另一透明像素(图21的实施方式中的p2)中。

因此，即使由于在包括于第一透明像素p1的一个子像素sp_12中的像素电极pe的一个部910中产生的缺陷而产生热斑或暗斑，通过修复缺陷，第一透明像素p1的产生缺陷的子像素sp_12和第一透明像素p1可以正常工作。

图22是用于描述当在设置在第一透明像素p1的子像素sp_11,sp_12,sp_13和sp_14之中的子像素sp_12中的像素电极pe中的、与连接至晶体管t的第一部分910相对的第二部分920中产生缺陷时的修复方法和修复状态的图。

参照图22，在与连接至晶体管t的第一部分910相对的第二部分920与设置在第一透明像素p1的子像素sp_11,sp_12,sp_13和sp_14之中的一个子像素sp_12中的像素电极pe中的公共电极1150(例如，负电极)短路时，在包括在第二子像素sp_12中的像素电极pe与公共电极1150之间没有电势差，为此，从包括在第二子像素sp_12中的像素电极pe与公共电极1150之间的有机层1140没有发射光，引起暗斑。

下面将参照图22描述修复有缺陷的像素的操作。

通过执行切割过程，可以在包括在第一透明像素p1的子像素sp_11,sp_12,sp_13和sp_14之中的发射绿光的子像素sp_12中的像素电极pe中切割(a点)连接部930。

为了描述已经执行修复的透明显示面板110，可以在包括在第一透明像素p1的子像素sp_11,sp_12,sp_13和sp_14之中的一个子像素sp_12中的像素电极pe中切割连接部930。

通过执行修复，包括在第一透明像素p1中的发射绿光的子像素sp_12中的晶体管t可以给仅像素电极pe的第一部分910提供驱动电流，而不将驱动电流传递至像素电极pe的与公共电极1150(例如，负电极)短路的第二部分920。

因此，即使由于在包括在第一透明像素p1的一个子像素sp_12中的像素电极pe的一个部910中产生的缺陷而产生热斑或暗斑，通过修复缺陷，第一透明像素p1的产生缺陷的子像素sp_12和第一透明像素p1可以正常工作。

图23是用于描述当在第二透明像素p2的所有子像素sp_21,sp_22,sp_23和sp_24中产生暗斑或热斑时的修复方法和修复状态的图。

在此，产生在晶体管t中的暗斑缺陷或热斑缺陷的原因以及产生在像素电极pe中的暗斑缺陷的原因与上述细节相同，因而，不重复其详细描述。

参照图23，第二透明像素p2的子像素sp_21,sp_22,sp_23和sp_24之中的第一子像素sp_21和第二子像素sp_22均对应于子像素由于在包括在子像素中的晶体管t中产生的缺陷而变白或变黑的情况。另外，第三子像素sp_23对应于子像素由于在包括在子像素中的像素电极pe的第一部分910中产生的缺陷而变黑的情况，并且第二子像素sp_24对应于子像素由于在包括在子像素中的晶体管t中产生的缺陷而变白或变黑的情况。

将参照图23描述在在包括在一个透明像素中的所有子像素中产生缺陷的情况下执行修复的操作。

首先，将描述修复第二透明像素p2的第二子像素sp_22的操作。

通过执行切割过程，可以在包括在第二透明像素p2的子像素sp_21,sp_22,sp_23和sp_24之中的第二子像素sp_22中的像素电极pe中切割(a点)连接至晶体管t的第一部分910。

另外，在包括在第二透明像素p2的第二子像素sp_22中的像素电极pe中，可以通过执行焊接过程将相对于连接部930与第一部分910相对的第二部分920连接至(b点)修复线rl。

此外，可以寻找包括具有与第二透明像素p2中的产生缺陷的第二子像素sp_22的颜色相同的颜色的子像素的透明像素。

所找到的透明像素可以是沿第二方向与第二透明像素p2相邻的第一透明像素p1或第三透明像素p3。

在图23的实施方式中，第二透明像素p2中的产生缺陷的第二子像素sp_22可以是绿色子像素，因而，所找到的透明像素被示出为相对于与第二透明像素p2相邻的第三透明像素p3在第二透明像素p2的右边。

因此，通过执行焊接过程，相对于连接部930的连接至晶体管t的第一部分910可以连接至(c点)包括在第三透明像素p3的子像素sp_31,sp_32,sp_33和sp_34之中的具有与第一透明像素p1中的产生缺陷的第二子像素sp_12的颜色相同的颜色(绿色)的子像素sp_32中的像素电极pe中的修复线rl。

通过这样的修复，包括在第二透明像素p2的第二子像素sp_22中的像素电极pe可以被提供有来自包括在通过透明区ta与第二透明像素p2间隔开的第三透明像素p3的第二子像素sp_32中的晶体管t的驱动电流。

因此，即使由于在包括在第二透明像素p2的一个子像素sp_22中的像素电极pe的晶体管t中产生的缺陷而产生热斑或暗斑，通过修复缺陷，第二透明像素p2的产生缺陷的子像素sp_22和第二透明像素p2可以正常工作。

接下来，将描述修复第二透明像素p2的第一子像素sp_12的操作。

由于在晶体管t中产生缺陷，通过执行切割过程，可以在包括在第二透明像素p2的第一子像素sp_21中的像素电极pe中切割(d点)连接至晶体管t的第一伸出部911。

然后，由于执行焊接过程，不能使用已经用于修复第二透明像素p2的第二子像素sp_22以将驱动电路提供至第二透明像素p2的第一子像素sp_21的修复线rl。

第二透明像素p2的第二子像素sp_22和第一子像素sp_21可以被提供有不同的驱动电流，因而，可以使用一个修复线rl来修复仅一个子像素sp。

因此，与以上参照图18所述的修复方法类似，与第二透明像素p2的第一子像素sp_21中的晶体管t切断的第一伸出部可以与修复线rl焊接(e点)。

然后，相对于连接部930的连接至晶体管t的第一部分910可以连接至(f点)在包括在第一透明像素p1的第一子像素sp_11中的像素电极pe中的修复线rl，该第一子像素sp_11布置在相对于第二透明像素p2的第二子像素sp_22的左边并且具有与第二子像素sp_22的颜色相同的颜色(红色)。

通过这样的修复，包括在第二透明像素p2的第一子像素sp_21中的像素电极pe可以被提供有来自包括在通过透明区ta与第二透明像素p2间隔开的第一透明像素p1的第一子像素sp_11中的晶体管t的驱动电流。

因此，即使在第二透明像素p2中的沿第一方向彼此相邻的两个子像素sp_21和sp_22中产生热斑缺陷或暗斑缺陷时，通过借助不同的修复线rl修复透明像素p1和p3的子像素，第二透明像素p2的产生缺陷的第一子像素sp_21和第二透明像素p2可以正常工作。

接下来，将描述修复第二透明像素p2中的沿第一方向彼此相邻的其他子像素(例如，第三子像素sp_23和第四子像素sp_24)的操作。

通过执行切割过程，可以在包括在第二透明像素p2的第三子像素sp_23中的像素电极pe中切割(g点)连接至晶体管t的第一部分910。

另外，通过执行切割过程，可以在包括在第二透明像素p2的第三子像素sp_23中的像素电极pe中切割(h点)连接部930。

此外，在包括在第二透明像素p2的第三子像素sp_23中的像素电极pe中，通过执行焊接过程可以将相对于连接部930与第一部分910相对的第二部分920连接至(i点)修复线rl。

此外，可以寻找包括具有与第二透明像素p2中的产生缺陷的第三子像素sp_23的颜色相同的颜色(蓝色)的子像素的透明像素。

所找到的透明像素可以是沿第二方向与第二透明像素p2相邻且通过透明区ta与第二透明像素p2间隔开的第三透明像素p3。

因此，通过执行焊接过程，相对于连接部930的连接至晶体管t的第一部分910可以连接至(j点)包括在具有与第二透明像素p2中的产生缺陷的第三子像素sp_23的颜色相同的颜色的子像素sp_33中的像素电极pe中的修复线rl。

通过这样的修复，包括在第二透明像素p2的第三子像素sp_23中的像素电极pe的第二部分920可以被提供有来自包括在子像素sp_33中的晶体管t的驱动电路，该子像素sp_33包括在通过透明区ta与第二透明像素p2中的产生缺陷的第三子像素sp_23间隔开的第三像素p3中。

因此，即使由于在包括在第二透明像素p2的第三子像素sp_23中的像素电极pe的一个部910中产生的缺陷而产生热斑缺陷，通过修复缺陷，第二透明像素p2的产生缺陷的子像素sp_23和第二透明像素p2可以正常工作。

接下来，将描述修复第二透明像素p2的第四子像素sp_14的操作。

由于在晶体管t中产生缺陷，通过执行切割过程，可以在包括在第二透明像素p2的第四子像素sp_24中的像素电极pe中切割(k点)连接至晶体管t的第一伸出部911。

然后，通过执行焊接过程，可以寻找沿第二方向布置以将驱动电流提供至包括在第二透明像素p2的第四子像素sp_24中的像素电极pe并且具有相同颜色(白色)的子像素。

第一透明像素p1的第四子像素sp_14和第三透明像素p3的第四子像素sp_34每一个均可以对应于所找到的子像素。然而，由第二透明像素p2的第四子像素sp_24和第三透明像素p3的第四子像素sp_34所共用的修复线rl可以被焊接以用于修复第二透明像素p2的第三子像素sp_23，为此，不能使用该修复线rl。

第二透明像素p2的第三子像素sp_23和第四子像素sp_24可以提供有来自不同透明像素的子像素的驱动电流，因而，可以使用一个修复线rl来修复仅一个子像素sp。

因此，第二透明像素p2的第四子像素sp_24可以与第一透明像素p1的第四子像素sp_14一起修复。

然后，与以上参照图18所述的修复方法类似，与第二透明像素p2的第四子像素sp_24中的晶体管t切断的第一伸出部可以与修复线rl焊接(l点)。

然后，相对于连接部930的连接至晶体管t的第一部分910可以连接至(m点)在包括在第一透明像素p1的第四子像素sp_14中的像素电极pe中的修复线rl，该第四子像素sp_14布置在相对于第二透明像素p2的第四子像素sp_24的左边并且具有与第四子像素sp_24的颜色相同的颜色(红色)。

通过这样的修复，包括在第二透明像素p2的第四子像素sp_24中的像素电极pe可以被提供有来自包括在通过透明区ta与第二透明像素p2间隔开的第一透明像素p1的第四子像素sp_14中的晶体管t的驱动电流。

因此，在第二透明像素p2中的共用修复线rl且沿第一方向彼此相邻的两个子像素sp_23和sp_24中，在像素电极pe中的连接至一个子像素sp_23中的晶体管t的第一部分910中产生暗斑缺陷，并且在另一子像素sp_24中，即使在晶体管t中产生热斑缺陷或暗斑缺陷，通过修复沿不同方向彼此相邻且共用修复线rl的透明像素p1和p3，第二透明像素p2中的产生缺陷的第三子像素sp_23和第四子像素sp_24可以正常工作。

如上所述，即使由于晶体管t的缺陷在一个透明像素p中的沿第一方向彼此相邻的所有子像素sp中产生热斑或暗斑，或者由于透明电极pe的缺陷产生暗斑，也可以从在其间具有透明区ta的沿第二方向彼此相邻并且具有相同颜色的子像素sp提供驱动电流。

图24示出一个实施方式，其中整体像素电极被用作子像素sp结构中的像素电极pe以通过扩大包括四个子像素r、g、b和w的透明像素p中的发光面积来提高亮度。

在图24中所示的修复像素电极pe结构的修复方法中，像素电极结构不是像素电极pe被分开的结构，因而，当在子像素sp中产生暗斑缺陷时，不能修复子像素sp。

当由于连接至像素电极pe的晶体管t的缺陷而在子像素sp中产生暗斑或热斑缺陷时，子像素sp可以与分开的像素电极pe相同地被修复。

图24是用于描述当在设置在第一透明像素p1的子像素sp_11,sp_12,sp_13和sp_14之中的子像素sp_12中的晶体管t中产生缺陷(通过短路而引起的热斑或暗斑)时的修复方法和修复状态的图。该修复方法可以与以上参照图20所述的修复方法相同。

图25示出一个实施方式，其中，与图24类似地，整体像素电极被用作子像素sp结构中的像素电极pe以通过扩大透明像素p中的发光面积来提高亮度。

图25是用于描述当在第二透明像素p2的所有子像素sp_21,sp_22,sp_23和sp_24中产生热斑或暗斑时的修复方法和修复状态的图。

在图25中所示的修复像素电极pe结构的修复方法中，像素电极结构不是像素电极pe被分开的结构，因而，当在子像素sp中产生暗斑缺陷时，不能修复子像素sp。

然而，当由于连接至像素电极pe的晶体管t的缺陷而在子像素sp中产生暗斑或热斑缺陷时，子像素sp可以与分开的像素电极pe相同地被修复。

因此，图25是用于描述当在设置在第二透明像素p2的子像素sp_21,sp_22,sp_23和sp_24中的每一个子像素中的晶体管t中产生缺陷(通过短路而引起的热斑或暗斑)时的修复方法和修复状态的图。

在图25中，修复在第二透明像素p2中的沿第一方向彼此相邻且共用两个不同修复线rl的第一子像素sp_21和第二子像素sp_22的修复方法以及修复在第二透明像素p2中的沿第一方向彼此相邻且共用两个不同修复线rl的第三子像素sp_23和第四子像素sp_24的修复方法可以与图23中所示的修复第二透明像素p2的第一子像素sp_21和第二子像素sp_22的上述修复方法相同，因而，不重复其详细描述。

即使由于在包括在所有子像素中的每一个中的晶体管t中产生的缺陷而在布置在一个透明像素中的所有子像素中产生热斑或暗斑，也可以从在其间具有透明区ta的沿第二方向彼此相邻的两个透明像素的子像素提供驱动电流。

如上所述，根据本发明的实施方式，提供了透明度高的透明显示面板110和透明显示装置100。

此外，根据本发明的实施方式，提供了具有透明像素结构的透明显示面板110和透明显示装置100。

此外，根据本发明的实施方式，提供了适用于透明像素结构的修复结构和修复处理方法。

此外，根据本发明的实施方式，提供了执行修复的透明显示面板110和透明显示装置100。

此外，根据本发明的实施方式，提供了产率高的透明显示面板110和透明显示装置100。

如上所述，根据本发明的实施方式，提供了透明度高的透明显示面板和透明显示装置。

此外，根据本发明的实施方式，提供了具有透明像素结构的透明显示面板和透明显示装置。

此外，根据本发明的实施方式，提供了适用于透明像素结构的透明显示面板和透明显示装置。

此外，根据本发明的实施方式，提供了执行修复的透明显示面板和透明显示装置。

此外，根据本发明的实施方式，提供了产率高的透明显示面板和透明显示装置。

对本领域技术人员将明显的是，在不脱离本发明的精神或范围的情况下，可以在本发明中作出各种修改和变型。因而，意指的是本发明覆盖上述本发明的修改和变型，前提是其落在所附权利要求及其等同物的范围内。