本实用新型涉及一种LCM电测系统。
背景技术：
随着显示屏应用的范围越来越广，公司订单量明显增大，同时高端产品的成本越来越高，对测试的良效率提出了新的需求，1、提高效率，2、避免测试对产品的损坏。
传统的测试方法很难避免测试时偏位及带电插拔导致的产品损坏，同时需要频繁开关，导致效率低下。
技术实现要素：
本实用新型的目的是提供一种LCM电测系统，解决现有的LCM电测系统在测试时，存在着如下问题：1、需手动上电，去电，每片产品需多耗时1～2S，降低测试效率；2、在未确定是否连接OK的情况下上电，导致产品损坏；3、操作人员疏忽带电插拔产品，极易损坏产品。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种LCM电测系统，包括电测装置，和电测装置相连的电源开关，还包括连接在电测装置测试端上的电容值读取装置，和电容值读取装置、电源开关相连的MCU控制系统；
电容值读取装置用于读取电测装置测试端的电容值，并反馈给MCU控制系统；
MCU控制系统用于根据接收自电容值读取装置的电容值判断电测装置测试端是否连接产品，并根据判断结果控制电压开关的通断。
为了便于提醒操作人员，还包括和MCU控制系统相连的报警装置，报警装置内设置有警示灯和蜂鸣器。
本实用新型的有益效果：通过在电测装置测试端设置电容值读取装置，读取电测装置测试端的电容值，再通过MCU控制系统判断电测装置测试端是否连接待测产品，进而通过控制电压开关的通断以控制电测装置是否工作。、有效解决了传统测试装置需手动上电，去电，每片产品需多耗时1～2S，降低测试效率；在未确定是否连接OK的情况下上电，易导致产品损坏；操作人员疏忽带电插拔产品，极易损坏产品三大技术问题。
以下将结合实施例，对本实用新型进行较为详细的说明，本实用新型不仅仅局限实施例所述内容。
附图说明
图1为本实用新型的结构框图。
具体实施方式
实施例1，如图1所示的一种LCM电测系统，包括电测装置1，和电测装置1相连的电源开关2，还包括连接在电测装置1测试端上的电容值读取装置3，和电容值读取装置3、电源开关2相连的MCU控制系统4；
电容值读取装置3用于读取电测装置1测试端的电容值，并反馈给MCU控制系统4；
MCU控制系统4用于根据接收自电容值读取装置3的电容值判断电测装置1测试端是否连接产品，并根据判断结果控制电压开关2的通断。
本LCM电测系统还包括和MCU控制系统4相连的报警装置5，报警装置5内设置有警示灯和蜂鸣器。
工作原理：设电测装置测试端未连接产品时的电容值范围值为A，连接产品时的电容值范围为B。通过电容值读取装置读取电测装置测试端的电容值，并将得到的电容值反馈给MCU控制系统，MCU控制系统根据电容值进行判断，当电容值在A范围内时，MCU控制控制电源开关保持闭合，电测装置不工作，同时MCU控制系统发送信号给报警装置，通过警示灯和蜂鸣器提醒工作人员，使工作人员能够及时将产品连接至电测装置的测试端。当电容值在B范围时，MCU控制系统控制电压开关导通，电测装置开始工作。
以上为结合附图对实用新型进行了示例性描述。显然，本实用新型具体实现并不受上述方式的限制。只要是采用了本实用新型的方法构思和技术方案进行的各种非实质性的改进；或未经改进，将本实用新型的上述构思和技术方案直接应用于其它场合的，均在本实用新型的保护范围之内。