技术特征：
技术总结
本发明提供一种键合不良的检测方法和检测装置，属于显示技术领域，其可至少部分解决现有的发光二极管显示面板与驱动芯片键合不良的检测效率低的问题。本发明的键合不良的检测方法包括在步骤S1，驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，一个数据输出引脚输出第一电平，该数据输出引脚的沿第一方向的第一侧的数据输出引脚输出第二电平，其余数据输出引脚均输出第三电平；在步骤S2，获取该驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和；在步骤S3，判断该驱动芯片的数据输出引脚的设定的连续区域内所有数据输出引脚是否均输出过第一电平，如是则转至步骤S4；在步骤S4，根据参考电流值、该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和确定键合不良的位置和性质。
技术研发人员：廖成浩;吴国强;兰传艳;刘颖
受保护的技术使用者：京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
技术研发日：2018.11.22
技术公布日：2019.01.11