一种显示面板及其残影测试装置和方法与流程
本发明涉及显示技术，尤其涉及一种显示面板及其残影测试装置和方法。
背景技术：
为了提高显示装置的性能和质量，在生产过程中，需要对显示装置的分辨率、亮度、对比度、色域、响应时间、残像等级等性能指标进行检测和评定。其中，残像是指影像残留。当显示装置的显示画面切换至下一个画面时，显示面板上会残留上一个画面的图像，从而造成影像残留的现象，即出现残影。残影会严重影响显示器的画面品质。
现有技术通过人眼观察显示装置的残影进行测试，存在人为误差因素的影响，导致测试结果误差较大。
技术实现要素：
本发明实施例提供一种显示面板及其残影测试装置和方法，以提高显示面板的残影测试精度，减小测试误差。
第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：显示区和围绕显示区的非显示区，
该显示面板包括：一一对应电连接的至少一个第一像素驱动电路和至少一个第一发光元件，位于显示区；
任一第一像素驱动电路对应设置有两条引出线，两条引出线位于第一发光元件的驱动电流的流通路径上，两条引出线的第一端位于显示区，两条引出线的第二端位于非显示区，
与第一像素驱动电路对应的两条引出线对应设置外部线路，两条引出线的第二端分别与外部线路的两端电连接。
进一步地，第一像素驱动电路的数量为两个，第一发光元件的数量为两个；
显示面板还包括：第一扫描线，两个第一像素驱动电路与第一扫描线电连接，两个第一像素驱动电路关于显示面板的第一对称轴对称，第一对称轴垂直于第一扫描线。
进一步地，至少一个第一子像素电路位于显示区的中间位置或边缘区域。
进一步地，任一外部线路包括两根导线和插接组件，与外部线路对应的两条引出线的第一端分别与两根导线的第一端一一对应电连接，两根导线的第二端与插接组件电连接。
进一步地，第一像素驱动电路的驱动晶体管的第一极经对应的两条引出线与第一发光元件的阳极电连接。
进一步地，第一发光元件的阴极经对应的两条引出线与第一电压信号线电连接。
第二方面，本发明实施例还提供了一种用于测试本发明任意实施例提供的显示面板的残影测试装置，包括：
测试控制模块，与显示面板电连接，用于在第一时间段，向显示面板输入与初始画面对应的数据电压信号，且在第二时间段，向显示面板输入与预设画面对应的数据电压信号；
至少一个电流检测模块，与至少一个外部线路一一对应设置，任一电流检测模块用于检测对应的第一发光元件在第二时间段内的驱动电流，并输出检测信号；
信号处理模块，与至少一个电流检测模块的输出端电连接，用于对检测信号进行处理。
进一步地，电流检测模块包括电流霍尔传感器，外部线路穿过对应的电流霍尔传感器的磁芯，电流霍尔传感器的输出端与电流检测模块的输出端电连接。
第三方面，本发明实施例还提供了一种用于测试本发明任意实施例提供的显示面板的残影测试方法，包括：
在第一时间段，向显示面板输入与初始画面对应的数据电压信号；
在第二时间段，向显示面板输入与预设画面对应的数据电压信号；
获取任一第一发光元件在第二时间段内的驱动电流；
根据第一发光元件在第二时间段内的驱动电流，确定残影水平。
进一步地，当第一像素驱动电路的个数为至少两个，第一发光元件的个数为至少两个时，
至少两个第一像素驱动电路在第二时间段的数据电压信号对应的灰阶大于至少两个第一像素驱动电路在第一时间段的数据电压信号对应的灰阶的最小值，小于至少两个第一像素驱动电路在第一时间段的数据电压信号对应的灰阶的最大值。
进一步地，根据第一发光元件在第二时间段内的驱动电流，确定残影水平包括：
将任一第一发光元件在第二时间段内的驱动电流与预设系数的乘积，作为任一第一发光元件对应的像素在第二时间段内的驱动电流；
根据任一第一发光元件对应的像素在第二时间段内的驱动电流，确定任一第一发光元件对应的像素在第二时间段内的驱动电流的极值和稳定值；
根据至少两个第一发光元件对应的像素在第二时间段内的驱动电流的极值和稳定值，计算残影水平，其中，残影水平
第四方面，本发明实施例还提供了一种用于测试本发明任意实施例提供的显示面板的残影测试方法，当第一像素驱动电路的个数为一个，第一发光元件的个数为一个时，
该残影测试方法包括：
在第2k-1时间段，向显示面板输入与第k个初始画面对应的数据电压信号；
在第2k时间段，向显示面板输入与预设画面对应的数据电压信号；
获取第一发光元件在第2k时间段内的驱动电流；其中，k＝1、2……k，k≥2，k和k均为整数，
将获取的第一发光元件在第2k时间段内的驱动电流与预设系数的乘积，作为第一发光元件对应的像素在第2k时间段内的驱动电流；
根据第一发光元件对应的像素在第2k时间段内的驱动电流，确定第一发光元件对应的像素在第2k时间段内的驱动电流的极值和稳定值；
根据第一发光元件对应的像素在所有第偶数时间段内的驱动电流的极值和稳定值，计算残影水平，其中，残影水平
本发明实施例通过在第一发光元件的驱动电流的流通路径上，设置两条引出线和外部线路，以将对应的第一发光元件的电流引出来，从而可以通过电流检测模块检测第一发光元件的驱动电流，进而通过切换显示面板显示的画面，以使第一发光元件切换到不同的灰阶或亮度，通过检测切换过程中第一发光元件的驱动电流，根据第一发光元件在切换过程中的驱动电流，确定残影水平，相比于通过人眼观察显示装置的残影来进行残影测试的方式，可以避免存在人为误差因素的影响，导致测试结果误差较大，从而可以提高显示面板的残影测试精度，减小测试误差。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的一种第一像素驱动电路的结构示意图；
图4为本发明实施例提供的一种第二像素驱动电路的结构示意图；
图5为本发明实施例提供的又一种第一像素驱动电路的结构示意图；
图6为本发明实施例提供的又一种第二像素驱动电路的结构示意图；
图7为本发明实施例提供的一种残影测试装置的结构示意图；
图8为本发明实施例提供的一种在第一时间段的测试示意图；
图9为本发明实施例提供的一种在第二时间段的测试示意图；
图10为本发明实施例提供的一种两个第一发光元件的驱动电流的波形示意图；
图11为本发明实施例提供的一种电流霍尔传感器的结构示意图；
图12为本发明实施例提供的一种残影测试方法的流程图；
图13为本发明实施例提供的又一种残影测试方法的流程图；
图14为本发明实施例提供的又一种残影测试方法的流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
本发明实施例提供一种显示面板。图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图。该显示面板100包括：显示区110和围绕显示区110的非显示区120。
其中，该显示面板100包括：一一对应电连接的至少一个第一像素驱动电路111和至少一个第一发光元件112，位于显示区110；任一第一像素驱动电路111对应设置有两条引出线113，两条引出线113位于第一发光元件112的驱动电流的流通路径上，两条引出线113的第一端位于显示区110，两条引出线113的第二端位于非显示区120。与第一像素驱动电路111对应的两条引出线113对应设置外部线路114，两条引出线113的第二端分别与外部线路114的两端电连接。
其中，该显示面板100可以是有机发光显示面板等。该第一发光元件112可以是有机发光二极管等。图1示例性的画出一个第一像素驱动电路111和一个第一发光元件112的情况。该两条引出线113可在第一像素驱动电路111的制作工艺过程中制作形成，无需引入其他工艺。该外部线路114可以是跳线等，跳线的两端可与两条引出线113的第二端焊接。驱动电流为由第一像素驱动电路111生成的，且流过第一发光元件112，使第一发光元件112发光的电流。通过两条引出线113和外部线路114将对应的第一发光元件112的电流引出来，通过电流检测模块检测流过外部线路114的电流，以达到检测第一发光元件112的驱动电流的目的，该驱动电流的变化与该第一发光元件112的发光亮度变化一致，进而通过切换显示面板100显示的画面，例如可以是从黑白棋盘格画面，切换至纯灰阶画面，即第一像素驱动电路111的数据电压将被切换，以使第一发光元件112切换到不同的灰阶或亮度，通过检测切换过程中第一发光元件112的驱动电流，根据第一发光元件112在切换过程中的驱动电流，确定残影水平。
本实施例通过在第一发光元件的驱动电流的流通路径上，设置两条引出线和外部线路，以将对应的第一发光元件的电流引出来，从而可以通过电流检测模块检测第一发光元件的驱动电流，进而通过切换显示面板显示的画面，以使第一发光元件切换到不同的灰阶或亮度，通过检测切换过程中第一发光元件的驱动电流，根据第一发光元件在切换过程中的驱动电流，确定残影水平，相比于通过人眼观察显示装置的残影来进行残影测试的方式，可以避免存在人为误差因素的影响，导致测试结果误差较大，从而可以提高显示面板的残影测试精度，减小测试误差。
可选的，在上述实施例的基础上，继续参见图1，该显示面板100还包括一一对应电连接的多个第二像素驱动电路115和多个第二发光元件116，位于显示区110，至少一个第一像素驱动电路111和多个第二像素驱动电路115呈阵列排布，至少一个第一发光元件112和第二发光元件116呈阵列排布，多个第二发光元件116包括多个红光发光元件、多个绿光发光元件和多个蓝光发光元件，至少一个第一发光元件112为至少一个蓝光发光元件。
其中，该显示面板可包括多个像素，对应的红光发光元件、绿光发光元件和蓝光发光元件形成一像素，将其发出的光混合成该像素所需的颜色和亮度的光。可通过分别对一像素中的红光发光元件、绿光发光元件和蓝光发光元件设置引出线和外部线路，并分别检测该像素中的红光发光元件、绿光发光元件和蓝光发光元件的驱动电流，将其和作为该像素的驱动电流，进而确定残影水平。还可通过仅对一像素中的一个单色发光元件设置引出线和外部线路，例如该单色发光元件可以是蓝光发光元件、红光发光元件或绿光发光元件，并检测该像素中的单色发光元件的驱动电流，并根据单色发光元件的驱动电流与该像素的驱动电流的关系，该关系可以是线性比例关系，确定该像素的驱动电流，进而确定残影水平。其中，相同灰阶下，相比于红光发光元件和绿光发光元件，蓝光发光元件的驱动电流较大，比较方便测量，以降低对电流检测模块的检测范围和精度等要求。残影测试过程中，显示面板显示的测试画面中，同一像素的红光发光元件、绿光发光元件和蓝光发光元件的灰阶相同。
可选的，图2为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，第一像素驱动电路111的数量为至少两个，第一发光元件112的数量为至少两个。
其中，在显示面板的测试画面切换过程中，该至少两个第一像素驱动电路111由一相同的灰阶切换至另一相同的灰阶，则可获取至少两个第一像素驱动电路111在切换工程中的驱动电流，例如可以是i1和i2，进而求取至少两个第一像素驱动电路111在切换工程中的驱动电流的均值，例如
可选的，在上述实施例的基础上，继续参见图2，第一像素驱动电路111的数量为两个，第一发光元件112的数量为两个，显示面板100还包括：第一扫描线131，至少两个第一像素驱动电路111与第一扫描线131电连接，两个第一像素驱动电路111关于显示面板100的第一对称轴对称(图中未示出)，第一对称轴垂直于第一扫描线131。
其中，显示面板100还包括多条第二扫描线132和多条数据线133，第一扫描线131和多条第二扫描线132成行排列，多条数据线133与第一扫描线131和多条第二扫描线132垂直绝缘交叉。通过将两个第一像素驱动电路111设置为对称，可以使得两个第一像素驱动电路111受显示面板的影响一致。
可选的，在上述实施例的基础上，至少一个第一子像素电路111位于显示区110的中间位置或边缘区域。
其中，如图1所示，至少两个第一子像素电路111位于显示区110的边缘区域，例如可以是顶行或底行，可以减少引出线113的设置长度，引出线越短，引出线的电阻越小，驱动电流的损失越小。如图2所示，至少两个第一子像素电路111位于显示区110的中间位置，例如可以是中间行，可以融入显示面板的数据线的线路上的纵向压降对残影的影响，更接近实际显示效果。
可选的，在上述实施例的基础上，如图2所示，任一外部线路114包括两根导线1141和插接组件1142，与外部线路114对应的两条引出线113的第一端分别与两根导线1141的第一端一一对应电连接，两根导线1141的第二端与插接组件1142电连接。
其中，显示面板正常显示时，将插接组件1142连接。在残影测试时，先将插接组件1142拆开，以穿过电流霍尔传感器的磁芯后，再连接。外部线路114可以缠绕电流霍尔传感器的磁芯数圈，外部线路114缠绕电流霍尔传感器的磁芯的匝数大于补偿线圈缠绕电流霍尔传感器的磁芯的匝数，以使电流霍尔传感器具有电流放大的作用。
图3为本发明实施例提供的一种第一像素驱动电路的结构示意图。图4为本发明实施例提供的一种第二像素驱动电路的结构示意图。其中，如图3所示，第一扫描线131将扫描信号传输至第一像素驱动电路111的第二晶体管m2的栅极，第二晶体管m2打开，使得数据线133将数据电压写入驱动晶体管m1的栅极，同时对存储电容c1充电，以产生稳定的驱动电流给第一发光元件112，使第一发光元件112发光。同理，可知第二像素驱动电路115驱动第二发光元件116发光的工作过程。图4中的虚线表示第二发光元件116的驱动电流的流通路径。
可选的，如图1和2所示，第一发光元件112的阴极经对应的两条引出线113与第一电压信号线vss电连接。其中，第一电压信号线vss的电压低于第二电压信号线vdd的电压。
可选的，如图3所示，第一像素驱动电路111的驱动晶体管的第一极经对应的两条引出线113与第一发光元件112的阳极电连接。
图5为本发明实施例提供的又一种第一像素驱动电路的结构示意图。图6为本发明实施例提供的又一种第二像素驱动电路的结构示意图。其中，如图5所示，通过第三扫描线scan1将第三扫描信号传输至第一像素驱动电路111的第四晶体管m4的栅极和第五晶体管m5的栅极，控制第四晶体管m4和第五晶体管m5打开，其余晶体管关断，以使参考电压信号线vref将参考电压写入驱动晶体管m3的栅极，并使第一发光元件112进行初始化，然后通过第四扫描线scan2将第四扫描信号传输至第一像素驱动电路111的第六晶体管m6的栅极和第七晶体管m7的栅极，控制第六晶体管m6和第七晶体管m7打开，其余晶体管关断，以使数据线data将数据电压写入，同时对存储电容c1充电，然后通过发光控制线em将发光控制信号传输至第一像素驱动电路111的第八晶体管m8的栅极和第九晶体管m9的栅极，控制第八晶体管m8和第九晶体管m9打开，其余晶体管关断，以产生稳定的驱动电流给第一发光元件112，使第一发光元件112发光。同理，可知第二像素驱动电路115驱动第二发光元件116发光的工作过程。图6中的虚线表示第二发光元件116的驱动电流的流通路径。其中，多条第三扫描线scan1、多条第四扫描线scan2和发光控制线em在显示面板上可成行排列，与图2的显示面板的结构类似，区别在于：与图5对应的显示面板中与一行像素驱动电路对应连接的信号线增多。
本发明实施例提供一种残影测试装置。图7为本发明实施例提供的一种残影测试装置的结构示意图。该残影测试装置可用于测试本发明任意实施例提供的显示面板的残影水平。该残影测试装置可用于执行本发明任意实施例提供的残影测试方法。该残影测试装置包括：测试控制模块410、电流检测模块420和信号处理模块430。
其中，测试控制模块410与显示面板100电连接，用于在第一时间段t1，向显示面板100输入与初始画面对应的数据电压信号，且在第二时间段t2，向显示面板100输入与预设画面对应的数据电压信号；至少一个电流检测模块420与至少一个外部线路114一一对应设置，任一电流检测模块420用于检测对应的第一发光元件112在第二时间段t2内的驱动电流，并输出检测信号；信号处理模块430与至少一个电流检测模块420的输出端电连接，信号处理模块430用于对检测信号进行处理。
其中，测试控制模块410还可以向显示面板100输入更多的控制信号，例如扫描信号和发光控制信号等。信号处理模块430可根据检测信号与驱动电流的关系，确定第一发光元件112在第二时间段t2内的驱动电流，进而确定残影水平。该信号处理模块可以是计算机等。电流检测模块420可以是任何可用于检测小电流的电流检测装置。
测试过程：图8为本发明实施例提供的一种在第一时间段的测试示意图。图9为本发明实施例提供的一种在第二时间段的测试示意图。图10为本发明实施例提供的一种两个第一发光元件的驱动电流的波形示意图。结合图8至图10所示，图10中的横轴表示时间，纵轴表示各第一发光元件在发光阶段的驱动电流，曲线la表示区域a的第一像素驱动电路向对应的第一发光元件输出的驱动电流变化，曲线lb表示区域b的第一像素驱动电路向对应的第一发光元件输出的驱动电流变化。其中，ia为区域a的第一发光元件的驱动电流在切换过程中的极小值，即斜率最大位置的驱动电流，ib为区域b的第一发光元件的驱动电流在切换过程中的极大值，即斜率最大位置的驱动电流，in为区域a和区域b的第一发光元件的驱动电流的稳定值，残影水平可为
本发明实施例提供的残影测试装置可用于测试上述实施例中的显示面板，因此本发明实施例提供的残影测试装置也具备上述实施例中所描述的有益效果，此处不再赘述。
可选的，图11为本发明实施例提供的一种电流霍尔传感器的结构示意图，结合图7和图11所示，电流检测模块420包括电流霍尔传感器，外部线路114穿过对应的电流霍尔传感器的磁芯4211，电流霍尔传感的输出端与电流检测模块420的输出端电连接。
其中，图7的电流霍尔传感器为集成式的电流霍尔传感器。电流霍尔传感器可以为开环式电流霍尔传感器或闭环式电流霍尔传感器，适用于检测小电流，检测精度高。
可选的，在上述实施例的基础上，继续参见图11，电流霍尔传感器可以为闭环式电流霍尔传感器，电流霍尔传感器还包括霍尔元件4212、运算放大电路4213和补偿线圈4214，其中，磁芯4211为环形开口状，与电流霍尔传感器对应的外部线路114穿过磁芯4211，霍尔元件4212位于磁芯4211的开口处，补偿线圈4214缠绕在磁芯4211上，霍尔元件4212的两个输出端分别与运算放大电路4213的第一输入端和第二输入端电连接，补偿线圈4214的第一端与运算放大电路4213的输出端电连接，补偿线圈4214的第二端作为电流霍尔传感器的输出端。
其中，闭环式电流霍尔传感器采用磁平衡原理，其中，外部线路114的电流在磁芯4211中产生磁场，被霍尔元件4212感应，霍尔元件4212的两个输出端产生感应电压，经运算放大电路4213生成一补偿电流输出至补偿线圈4214，以使补偿线圈4214在磁芯4211中产生的磁场与外部线路114在磁芯4211中产生的磁场方向相反，达到霍尔元件4212处于零磁通的状态。其中，is*ns＝i*np，is为补偿电流，ns为补偿线圈4214缠绕在磁芯4211上的匝数，i为外部线路114的电流，np为外部线路114缠绕在磁芯4211上的匝数。
可选的，继续参见图11，运算放大电路4213包括第二电阻r2、第三电阻r3、运算放大器cmp、第一开关管q1和第二开关管q2，其中，运算放大电路4213的第一端经第二电阻r2与运算放大器cmp的第一输入端电连接，运算放大电路4213的第二端经第三电阻r3与运算放大器cmp的第二输入端电连接，运算放大器cmp的输出端与第一开关管q1和第二开关管q2的控制端电连接，第一开关管q1的第一端与正性电压源v1电连接，第二开关管q2的第一端与负性电压源v2电连接，第一开关管q1的第二端，以及第二开关管q2的第二端均与运算放大电路4213的输出端电连接。第一开关管q1可以是pnp三极管。第二开关管q2可以是pnp三极管。第一开关管q1的第一端可为集电极，第二端可为发射极。第二开关管q2的第一端可为集电极，第二端可为发射极。
可选的，在上述实施例的基础上，结合图7和图11所示，电流检测模块420还包括：数字电流表422和第一电阻r1，数字电流表422的一对测量端与第一电阻r1串联后的两端分别与电流霍尔传感器的输出端和地电连接，数字电流表422的输出端通过通信线路与信号处理模块430电连接，数字电流表422用于将数字电流表422检测的信号发送至信号处理模块430，信号处理模块430用于根据数字电流表422检测的信号，确定任一第一发光元件112在第二时间段t2内的驱动电流，并根据第一发光元件112在第二时间段t2内的驱动电流，确定残影水平。可选的，信号处理模块430还用于若残影水平小于或等于预设阈值，则确定显示面板合格；若残影水平大于预设阈值，则确定显示面板不合格。信号处理模块430还用于显示测试结果。
可选的，信号处理模块430还用于显示任一第一发光元件112在第二时间段t2内的驱动电流的波形。其中，测试人员可根据显示的波形，确定第一发光元件112在第二时间段t2内的驱动电流的极值和稳定值，以计算残影水平。
本发明实施例提供一种残影测试方法。图12为本发明实施例提供的一种残影测试方法的流程图。该残影测试方法可用于测试本发明任意实施例提供的显示面板的残影水平。该残影测试方法可由本发明任意实施例提供的残影测试装置执行。该残影测试方法具体包括如下步骤：
步骤510、在第一时间段，向显示面板输入与初始画面对应的数据电压信号。
其中，结合图7和图8所示，测试控制模块410在第一时间段t1，向显示面板输入与初始画面对应的数据电压信号。
步骤520、在第二时间段，向显示面板输入与预设画面对应的数据电压信号。
其中，结合图7和图9所示，测试控制模块410在第二时间段t2，向显示面板输入与预设画面对应的数据电压信号。
步骤530、获取任一第一发光元件在第二时间段内的驱动电流。
其中，结合图8至图10所示，电流检测模块420获取任一第一发光元件在第二时间段内的驱动电流。
步骤540、根据第一发光元件在第二时间段内的驱动电流，确定残影水平。
其中，信号处理模块430可根据第一发光元件在第二时间段内的驱动电流，确定残影水平。
本发明实施例提供的残影测试方法可用于测试上述实施例中的显示面板，可通过本发明任意实施例提供的残影测试装置执行，因此本发明实施例提供的残影测试方法也具备上述实施例中所描述的有益效果，此处不再赘述。
可选的，当第一像素驱动电路的个数为至少两个，第一发光元件的个数为至少两个时，至少两个第一像素驱动电路在第二时间段的数据电压信号对应的灰阶大于至少两个第一像素驱动电路在第一时间段的数据电压信号对应的灰阶的最小值，小于至少两个第一像素驱动电路在第一时间段的数据电压信号对应的灰阶的最大值。
可选的，初始画面为黑白棋盘格，预设画面为纯灰阶画面。其中，黑白棋盘格可以是5×5或10×10规格，其中，黑色区域的灰阶为0灰阶，白色区域的灰阶为255灰阶。纯灰阶画面可以是48灰阶或128灰阶。由黑白棋盘格切换至纯灰阶画面时，残影现象最严重，故该种情况若满足要求，该显示面板合格。
可选的，至少两个第一像素驱动电路在第二时间段的数据电压信号对应的灰阶小于或等于128灰阶。其中，由于切换的纯灰阶画面的灰阶不能太高，否则亮度过高，人眼对其变化不敏感，故残影现象不明显，残影测试没有意义。
本发明实施例提供又一种残影测试方法。图13为本发明实施例提供的又一种残影测试方法的流程图。在上述实施例的基础上，当第一像素驱动电路的个数为至少两个，第一发光元件的个数为至少两个时，该方法包括：
步骤610、在第一时间段，向显示面板输入与初始画面对应的数据电压信号。步骤620、在第二时间段，向显示面板输入与预设画面对应的数据电压信号。
步骤630、获取任一第一发光元件在第二时间段内的驱动电流。
步骤640、将任一第一发光元件在第二时间段内的驱动电流与预设系数的乘积，作为任一第一发光元件对应的像素在第二时间段内的驱动电流。
其中，至少两个第一发光元件可为蓝光发光元件，任一第一发光元件与对应的红光发光元件和绿光发光元件形成一像素，相比于其他颜色的发光元件，蓝光发光元件的驱动电流较大，可以降低对电流检测模块的要求，避免检测精度不够，检测成本过高。
步骤650、根据任一第一发光元件对应的像素在第二时间段内的驱动电流，确定任一第一发光元件对应的像素在第二时间段内的驱动电流的极值和稳定值。
其中，如图10所示，第一发光元件在灰阶切换瞬间，电流突变较大，会超出稳定状态的稳定值，并经过多帧图像显示阶段，逐渐回到稳定值，极值与稳定值的差值越大，残影越严重，故根据极值和稳定值，计算残影水平，可以更好的反应残影现象的严重程度。
步骤660、根据至少两个第一发光元件对应的像素在第二时间段内的驱动电流的极值和稳定值，计算残影水平，其中，残影水平
其中，信号处理模块430可执行步骤640至660。至少两个第一像素驱动电路在第一时间段的数据电压信号对应的灰阶不同，至少两个第一像素驱动电路在第二时间段的数据电压信号对应的灰阶相同，以减少画面切换次数，一次切换即可完成测试。
本发明实施例提供又一种残影测试方法。图14为本发明实施例提供的又一种残影测试方法的流程图。在上述实施例的基础上，当第一像素驱动电路的个数为一个，第一发光元件的个数为一个时，该残影测试方法具体包括如下步骤：
步骤710、在第2k-1时间段，向显示面板输入与第k个初始画面对应的数据电压信号，其中，k＝1、2……k，k≥2，k和k均为整数。
其中，结合图7所示，在第2k-1时间段，测试控制模块410向显示面板输入与第k个初始画面对应的数据电压信号。初始画面的可以包括下述至少一种：黑白棋盘格、黑画面、白画面和纯灰阶画面。不同的第奇数个时间段的初始画面不同。第一像素驱动电路111在不同的第奇数个时间段的数据电压信号对应的灰阶不同。可选的，k＝2。
步骤720、在第2k时间段，向显示面板输入与预设画面对应的数据电压信号。
其中，第1时间段至第2k时间段，按顺序执行。预设画面可以是纯灰阶画面。结合图7所示，在第2k时间段，测试控制模块410向显示面板输入与预设画面对应的数据电压信号。第一像素驱动电路111在不同的第偶数个时间段的数据电压信号对应的灰阶相同。
步骤730、获取第一发光元件在第2k时间段内的驱动电流。
其中，结合图7所示，电流检测模块420获取第一发光元件在第2k时间段内的驱动电流。第一发光元件可为蓝光发光元件时，第一发光元件与对应的红光发光元件和绿光发光元件形成一像素。
步骤740、将获取的第一发光元件在第2k时间段内的驱动电流与预设系数的乘积，作为第一发光元件对应的像素在第2k时间段内的驱动电流。
步骤750、根据第一发光元件对应的像素在第2k时间段内的驱动电流，确定第一发光元件对应的像素在第2k时间段内的驱动电流的极值和稳定值。
步骤760、根据第一发光元件对应的像素在所有第偶数时间段内的驱动电流的极值和稳定值，计算残影水平，其中，残影水平
其中，信号处理模块430可执行步骤740至760。通过设置一个第一发光元件，并进行多次画面切换，以实现对残影水平的测试，可以减少设置引出线和外部线路的数量。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
- 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞！