本发明涉及led显示屏领域，特别是指一种led显示模组芯片的esd测试方法。
背景技术：
在led显示屏的led显示模组生产过程中，需要对led显示模组的芯片进行esd测试（静电放电测试），以验证led显示模组的芯片是否满足静电防护等级要求。目前对led显示模组的芯片进行esd测试，要对芯片的各引脚逐一进行静电放电测试；其中对芯片的每个引脚进行静电放电测试时，要将静电放电发生器的枪头抵靠在芯片的引脚上，然后进行电压值由低到高的接触放电；由于需要将静电放电发生器的枪头抵靠在芯片的引脚上，且需要对芯片的各引脚逐一进行测试，测试费时费力，严重影响测试效率。
技术实现要素：
本发明的目的在于提供一种led显示模组芯片的esd测试方法，其测试效率高。
为了达成上述目的，本发明的解决方案是：
一种led显示模组芯片的esd测试方法，其包括如下步骤：
步骤一：将led显示模组进行有效接地，并将led显示模组点亮；
步骤二：将静电放电发生器的放电模式调整为接触放电模式，并将静电放电发生器的测试条件设定为多个预设放电条件中的一种，所述预设放电条件包括测试电压、电压极性、放电次数以及放电间隔时间；且其中静电放电发生器的放电枪安装的放电电极为圆锥形放电电极；
步骤三：触发静电发生器的放电枪开关而使得放电枪的放电电极放电，同时将放电枪的放电电极的尖端在led显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动，直至放电枪放电结束；其中将放电枪的放电电极的尖端在led显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动时，放电枪的放电电极尖端与芯片各引脚的高度差大于零且小于等于2mm；
步骤四：若在步骤三结束后，led显示模组工作出现异常，则结束测试；
而若在步骤三结束后，led显示模组正常工作，则先将静电放电发生器的测试条件中的电压极性调整为相反极性后重复步骤三；在重复步骤三后，若led显示模组工作出现异常，则结束测试；而若在重复步骤三后，led显示模组正常工作，则进入步骤五：
步骤五：将静电放电发生器的测试条件依次调整为其他的预设放电条件，并重复步骤三和步骤四；其中后一个预设放电条件的测试电压的绝对值要大于前一个预设放电条件的测试电压的绝对值。
所述放电枪的放电电极的尖端在led显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动时，放电电极垂直于芯片的各引脚所在平面。
各所述预设放电条件中的放电次数和放电间隔时间相同。
采用上述方案后，本发明具有以下特点：
1、本发明在放电电极进行放电时，是将放电枪的放电电极的尖端在led显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动，直至放电枪放电结束，这使得本发明相比较现有技术，本发明在操作上更加简单快速，测试效率更高。
2、本发明在放电电极进行放电时，放电枪的放电电极的尖端是在led显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动，放电枪的放电电极释放的高压电需要击穿空气后才能输入芯片的引脚，而且放电枪的放电电极释放的高压电击穿空气后能输入芯片的多个引脚中，这使得本发明更能模拟实际场景中人体或物体对芯片的静电放电形式。
具体实施方式
为了进一步解释本发明的技术方案，下面通过具体实施例来对本发明进行详细阐述。
本发明揭示了一种led显示模组芯片的esd测试方法，其包括如下步骤：
步骤一：将led显示模组进行有效接地，并将led显示模组点亮；
步骤二：将静电放电发生器的放电模式调整为接触放电模式，并将静电放电发生器的测试条件设定为多个预设放电条件中的一种，所述预设放电条件包括测试电压、电压极性、放电次数以及放电间隔时间；其中静电放电发生器的放电枪安装的放电电极为圆锥形放电电极，静电放电发生器的型号可为sks-0220g；
步骤三：触发静电发生器的放电枪开关而使得放电枪的放电电极放电，同时将放电枪的放电电极的尖端在led显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动，直至放电枪放电结束；其中将放电枪的放电电极的尖端在led显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动时，放电枪的放电电极尖端与芯片各引脚的高度差大于零且小于等于2mm，放电电极垂直于芯片的各引脚所在平面；
步骤四：若在步骤三结束后，led显示模组工作出现异常，则结束测试；而若在步骤三结束后，led显示模组正常工作，则调整测试条件的电压极性后重复步骤三；在重复步骤三后，led显示模组工作出现异常，则结束测试；而若在重复步骤三后，led显示模组正常工作，则进入步骤五；
步骤五：将静电放电发生器的测试条件依次调整为其他的预设放电条件，并重复步骤三和步骤四；其中后一个预设放电条件的测试电压的绝对值要大于前一个预设放电条件的测试电压的绝对值。
在本发明揭示的一种led显示模组芯片的esd测试方法中，各所述预设放电条件中的放电次数和放电间隔时间可相同，其中放电次数可为50次至200次，放电次数优选为100次，而放电间隔时间为0.05秒至0.5秒，放电间隔时间优选为0.05秒。在各预设放电条件中，第一预设放电条件的放电电压的绝对值为2kv，其余的预设放电条件的放电电压的绝对值可以以0.5kv或1kv递增，例如预设放电条件为八个，八个预设放电条件中的放电电压的绝对值依次为2kv、3kv、4kv、5kv、6kv、7kv和8kv。
由于本发明在放电电极进行放电时，是将放电枪的放电电极的尖端在led显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动，直至放电枪放电结束，这使得本发明相比较现有技术，本发明在操作上更加简单快速，测试效率更高。另外本发明在放电电极进行放电时，放电枪的放电电极的尖端是在led显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动，这样放电枪的放电电极释放的高压电需要击穿空气后才能输入芯片的引脚，而且放电枪的放电电极释放的高压电击穿空气后会输入芯片的多个引脚中，从而使得本发明更能模拟实际场景中人体或物体对芯片的静电放电形式。
上述实施例并非限定本发明的产品形态和式样，任何所属技术领域的普通技术人员对其所做的适当变化或修饰，皆应视为不脱离本发明的专利范畴。
1.一种led显示模组芯片的esd测试方法，其特征在于：包括如下步骤：
步骤一：将led显示模组进行有效接地，并将led显示模组点亮；
步骤二：将静电放电发生器的放电模式调整为接触放电模式，并将静电放电发生器的测试条件设定为多个预设放电条件中的一种，所述预设放电条件包括测试电压、电压极性、放电次数以及放电间隔时间；且其中静电放电发生器的放电枪安装的放电电极为圆锥形放电电极；
步骤三：触发静电发生器的放电枪开关而使得放电枪的放电电极放电，同时将放电枪的放电电极的尖端在led显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动，直至放电枪放电结束；其中将放电枪的放电电极的尖端在led显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动时，放电枪的放电电极尖端与芯片各引脚的高度差大于零且小于等于2mm；
步骤四：若在步骤三结束后，led显示模组工作出现异常，则结束测试；
而若在步骤三结束后，led显示模组正常工作，则先将静电放电发生器的测试条件中的电压极性调整为相反极性后重复步骤三；在重复步骤三后，若led显示模组工作出现异常，则结束测试；而若在重复步骤三后，led显示模组正常工作，则进入步骤五：
步骤五：将静电放电发生器的测试条件依次调整为其他的预设放电条件，并重复步骤三和步骤四；其中后一个预设放电条件的测试电压的绝对值要大于前一个预设放电条件的测试电压的绝对值。
2.如权利要求1所述的一种led显示模组芯片的esd测试方法，其特征在于：所述放电枪的放电电极的尖端在led显示模组的芯片的各引脚正上方来回移动时，放电电极垂直于芯片的各引脚所在平面。
3.如权利要求1所述的一种led显示模组芯片的esd测试方法，其特征在于：各所述预设放电条件中的放电次数和放电间隔时间相同。