专利名称：一种试卷密封卡的制作方法
技术领域：
本实用新型属于一种教学用品，具体为一种试卷密封卡。
在现有技术中，密封试卷多采用缉线方式，既费时又费功，且极容易因操作不正确而出现漏封、倒封或翻封现象，造成试卷密封不严或试卷排序不正确的后果，此外，缉线密封的试卷折封时比较费劲。
本实用新型的目的任务是为了解决上述问题而提供一种试卷密封卡。
本试卷密封卡是这样设计的，它由上、下两个卡片组成，两卡片的长宽相等，且其长度与试卷的宽度相等，其宽度以不遮盖试卷考题内容为准；其下卡片上设有5-11个卡钉，且第一卡钉与第二卡钉之间的距离大于其它卡钉之间的距离，其它卡钉之间的距离相等；在上卡片上，对应下卡片上各卡钉的位置，均开有钉孔；各钉孔旁，均铰连一卡钩；在上下两卡片的第一与第二卡钉(或孔)之间，各设一折断槽。
本实用新型的使用方法及其优特点是首先在试卷的密封线处，开几个与卡片钉孔大小相同、位置相对应的孔，再将下卡片置于试卷下，使各卡钉穿入试卷各孔中，并露出卡钉头，而后把上卡片安装在其上。面，旋转各卡钩至卡钉的颈部，将各卡钉卡死，最后将密封条粘贴在上卡片上，覆盖所有的卡钉。折封时，可沿上下两折断槽折断卡片，除保留第一卡钉外，其余部分全部折除，这样能保证试卷不会散乱。本密封卡片的优点是结构简单，使用方便，省时又省功，所装钉的试卷不会出现任何漏封、倒装或翻装等差错。
现结合附图详细说明本实用新型的设计结构附
图1为本实用新型的上卡片主视图；附图2为本实用新型的下卡片俯视图；附图3为准备密封的试卷示意图；附图4为本实用新型的使用状态示意图。
图中，1为下卡片，上面设有7个卡钉2，且第一卡钉与第二卡钉之间的距离大于其它卡钉之间的距离，其它卡钉间的钉距相等；4为上卡片，它对应下卡片1上各卡钉的位置，均开有钉孔5；各钉孔旁均铰连一卡钩6；在上下两卡片的第一与第二卡钉(或孔)之间，各设一折断槽3和7；8为准备装钉的试卷，9为试卷装钉孔，10为密封条，11为试卷密封线。
权利要求1.一种试卷密封卡，其特征在于它由上、下两个卡片组成，两卡片的长宽相等，且其下卡片上设有5-11个卡钉；在上卡片上，对应下卡片上各卡钉的位置，均开有钉孔；各钉孔旁，均铰连一卡钩。
2.按照权利要求1所述的试卷密封卡，其特征在于上述第一卡钉与第二卡钉之间的距离大于其它卡钉之间的距离，其它卡钉之间的距离相等。
3.按照权利要求1或2所述的试卷密封卡，其特征在于上述两卡片的长度与试卷的宽度相等，其宽度以不遮盖试卷考题内容为准。
4.按照权利要求3所述的试卷密封卡，其特征在于在上述上、下两卡片的第一与第二卡钉(或孔)之间，各设一折断槽。
专利摘要一种试卷密封卡,由上、下两个卡片组成,两卡片的长宽相等,其下卡片上设有5—11个卡钉,且第一卡钉与第二卡钉之间的距离大于其它卡钉之间的距离,其它卡钉之间的距离相等;在上卡片上,对应下卡片上各卡钉的位置,均开有钉孔;各钉孔旁,均铰连一卡钩;在上下两卡片的第一与第二卡钉(或孔)之间,各设一折断槽。本密封卡的优特点是,其结构简单,使用方便,省时又省功,所装订的试卷不会出现任何漏封、倒装或翻装等差错。
文档编号B42F3/04GK2312814SQ9723073
公开日1999年4月7日 申请日期1997年12月27日 优先权日1997年12月27日
发明者孙谦怀 申请人:孙谦怀