液晶驱动芯片测试方法及使用这种测试方法的液晶驱动芯片的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及液晶芯片的测试技术，尤其涉及高分辨率液晶驱动芯片的测试方法及使用这种测试方法的液晶驱动芯片。
【背景技术】
[0002]屏幕显示效果很大程度上取决于液晶驱动芯片的质量。为了使液晶驱动芯片达到预期效果，每一款驱动芯片在量产之前，都会经过反复的调试，以保证各项设置符合设计的要求，并且达到较好的显示效果。
[0003]目前液晶驱动芯片的测试需要藉助探针卡的探针将驳动芯片内驱动电路的电压信号经由输出管脚送到液晶驱动测试机台的测试通道。驱动芯片的每个管脚需要有一探针卡的探针与之相对应。
[0004]随着液晶面板分辨率不断提高，液晶驱动芯片的输出驱动电路也越来越多，以手机的1280*800的分辨率为例，驱动芯片中至少有2400个输出驱动。而现有的大部分测试机台的测试通道数量尚不能达到这个数量。例如advantest公司提供的型号为T6372的测试机台，只有1536个测试通道，不能满足1280*800分辨率的驱动芯片的测试需求。
[0005]现有的解决方法是在探针卡上加装切换开关。图1示出了加装了切换开关的探针卡及其测试方法。如图1所示，探针卡101在原有一根探针SlA的基础上，增加一根探针S1B，在探针卡101的测试通道Dl与两探针SlA和SlB之间增加一个切换开关X。两根探针SlA和SlB分别连接到液晶驱动芯片ICI的管脚1 2A和1 2B上，探针卡1I的输出端口 DI (测试通道)连接到液晶驱动芯片测试机台103上。
[0006]液晶驱动芯片内与管脚1 2A连接的驱动电路Dr A的输出经过管脚1 2A输出到探针SlA上;与管脚102B连接的驱动电路DrB的输出经过管脚102B输出到探针SlB上。
[0007]测试时，首先切换开关X状态设为端口Dl与第一探针SlA导通，和第二探针SlB断开。此时，驱动电路DrA的输出电压可以通过管脚102A、第一探针S1A、端口Dl到达液晶驱动芯片测试机台103的测试通道进行测试。测试完成后，将切换开关X的状态设为端口 Dl与第二探针SlB导通，和第一探针SlA断开。此时，驱动电路DrB的输出电压可以通过管脚102B、第二探针S1B、端口 Dl到达液晶驱动芯片测试机台103的测试通道进行测试。从而实现I个探针卡的输出端口(测试通道)可以实现两个驱动电路(管脚)的测试。
[0008]但是，这种测试方法和装置显示增加了探针卡的探针数量，为适应分辨率不断提尚的液晶驱动芯片，探针卡制作复杂度也不断提尚，制造成本难以控制。
【发明内容】
[0009]鉴于现有技术的状态，本发明的目的在于提供一种适应于高分辨率的液晶驱动芯片的测试方法，可以降低探针卡的制造难度，有效地控制成本的上升。
[0010]同时，本发明的另一个目的在于还提供一种使用这种测试方法的液晶驱动芯片。[0011 ]根据上述目的，在本发明的液晶驱动芯片测试方法中，液晶驱动芯片包括N个驱动电路和N个管脚，所述方法包括:
[0012]在所述液晶驱动芯片的每M个驱动电路与每M个管脚之间增设一切换电路；
[0013]将所述每M个管脚中的第一管脚连接到一探针卡的探针上；
[0014]将所述探针卡连接到一液晶驱动芯片测试机台上；以及
[0015]控制该切换电路，使所述M个驱动电路的每个按序连接到所述M个管脚的第一管脚上；
[0016]其中N和M为自然数，且N2 2;2<MSN。
[0017]在上述液晶驱动芯片测试方法中，所述M = 2。
[0018]在上述液晶驱动芯片测试方法中，所述切换电路包括四个开关，以交叉方式连接在2个输驱动电路和2个管脚之间。
[0019]本发明提供的使用上述液晶驱动芯片测试方法的液晶驱动芯片，包括N个驱动电路和N个管脚，还包括:
[0020]多个切换电路，分别设置在所述液晶驱动芯片的每M个驱动电路与每M个管脚之间；以及
[0021]控制电路，与所述切换电路相连，控制该切换电路，使所述M个驱动电路的每个按序连接到所述M个管脚的第一管脚上；
[0022]其中N和M为自然数，且N2 2;2<MSN。
[0023]在上述液晶驱动芯片中，所述M = 2。
[0024]在上述的液晶驱动芯片中，所述切换电路包括四个开关，以交叉方式连接在2个驱动电路和2个管脚之间。
【附图说明】
[0025]图1示出了现有的加装了切换开关的探针卡及其测试方法。
[0026]图2示出了本发明液晶驱动芯片的结构示意图；
[0027]图3示出了本发明液晶驱动芯片的测试方法示意图。
【具体实施方式】
[0028]请参见图2，图2示出了本发明液晶驱动芯片的结构示意图。如图2所示，液晶驱动芯片IC2内包括有多个驱动电路，驱动电路的数量与需驱动的屏幕的分辨率有关。在图2所示的实施例中，为了方便描述和理解，仅示出了与本发明有关的部件或单元，其它与本发明无关的部件或单元虽然示出。
[0029]继续参见图2，在本实施例中，在每两个驱动电路Drl和Dr2以及管脚201和202(为方便描述，以分别称为第一驱动电路和第二驱动电路以及第一管脚与第二管脚)之间设置一个切换电路203。该切换电路203包括四个开关K1-K4，四个开关以交叉方式连接在第一驱动电路Drl和第二驱动电路Dr2与第一管脚201和第二管脚202之间。即，开关Kl连接在第一驱动电路Drl与第一管脚201之间，开关K2连接在第一驱动电路Drl与第二管脚202之间，开关K3连接在第二驱动电路Dr2与第一管脚201之间，开关K4连接在第二驱动电路Dr2与第二管脚202之间。
[0030]在液晶驱动芯片中，还包括一个控制单元204。控制单元204用于控制切换电路203中各个开关的状态。
[0031]请同时参见图3，图3示出了本发明液晶驱动芯片的测试方法示意图。下面将结合图3描述本发明的测试方法。首先将液晶驱动芯片200中的第一管脚201连接到探针卡205中的探针上，探针卡205按常规方式与液晶驱动芯片测试机台连接。由控制单元204控制切换电路203中各个开关的闭合和断开状态。此时，控制单元204使第一开关Kl和第四开关K4闭合，第二开关K2和第三开关K3断开。即将第一驱动电路Drl连接到第一管脚201，将第二驱动电路Dr2连接到第二管脚202上。液晶驱动芯片测试机台207工作，对第一驱动电路Drl进行测试。测试完成后，控制单元204使第二开关K2和第三开关K3闭合，第一开关Kl和第四开关K4断开。即将第一驱动电路Drl连接到第二管脚202，将第二驱动电路Dr2连接到第一管脚202上。液晶驱动芯片测试机台207工作，对第二驱动电路Drl进行测试。
[0032]从上述测试过程中可以看出，测试机台207的一个测试通道以及探针卡205的一根探针就可以对液晶驱动芯片中的两个输出驱动电路进行测试。以【背景技术】中面板1280*800的分辨率为例，按照传统的方法，使用爱德万公司(ad van t e s t) T6 3 7 2液晶驱动芯片测试机台测试其所有的输出驱动电路，探针卡需要2400根探针，同时探针卡上需要864个切换开关。
[0033]但是使用本发明的方法后，探针卡只需要1200根探针，对应的探针卡的探针数量只有旧方法的一半。同时探针卡不再需要切换开关。极大的降低了探针卡的制作难度和成本。
[0034]在图2的实施例中，是以两个驱动电路使用一个切换电路为例进行说明。但可以理解，三个驱动电路使用一个切换电路或者更多个驱动电路使用一个切换电路都是本发明预期的变化和实施例。更多个驱动电路使用一个切换电路可以更多地减少探针卡的探针数量。当然具体多少个驱动电路使用一个切换电路应视实际情况而定。切换电路的作用是使多个驱动电路的每个按序连接到第一管脚上，以便于测试机台进行测试。切换电路具体是使用如图2实施例中的开关，拟或是其它电路形式，例如开关矩阵，本发明均不作限定，只要能实现上述的按序连接功能即可。本领域技术人员根据这一功能要求，可以设计出多种不同的切换电路，均应包含在本发明的范围内。
[0035]本发明的液晶驱动芯片在正常使用时，由控制电路204将切换电路中的第一开关Kl和第四开关K4导闭合，第二开关K2和第三开关K3断线。驱动电路Drl的输出电压就能正常送到管脚201，驱动电路Dr2的输出电压就能正常送到管脚202。
[0036]虽然本发明的实施例如上所述，然而该些实施例并非用来限定本发明，本技术领域具有通常知识者可依据本发明的明示或隐含的内容对本发明的技术特征施以变化，凡此种种变化均可能属于本发明所寻求的专利保护范畴，换言之，本发明的专利保护范围须视本说明书的申请专利范围所界定为准。
【主权项】
1.一种液晶驱动芯片测试方法，该液晶驱动芯片包括N个驱动电路和N个管脚，所述方法包括: 在所述液晶驱动芯片的每M个驱动电路与每M个管脚之间增设一切换电路； 将所述每M个管脚中的第一管脚连接到一探针卡的探针上； 将所述探针卡连接到一液晶驱动芯片测试机台上；以及 控制该切换电路，使所述M个驱动电路的每个按序连接到所述M个管脚的第一管脚上； 其中N和M为自然数，且N2 2;2<MSN。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述M=2。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述切换电路包括四个开关，以交叉方式连接在2个输驱动电路和2个管脚之间。4.一种使用如权利要求1至3之一所述的测试方法的液晶驱动芯片，包括N个驱动电路和N个管脚，其特征在于，还包括: 多个切换电路，分别设置在所述液晶驱动芯片的每M个驱动电路与每M个管脚之间；以及 控制电路，与所述切换电路相连，控制该切换电路，使所述M个驱动电路的每个按序连接到所述M个管脚的第一管脚上； 其中N和M为自然数，且N2 2;2<MSN。5.根据权利要求4所述的液晶驱动芯片，其特征在于，所述M=2。6.根据权利要求5所述的液晶驱动芯片，其特征在于，所述切换电路包括四个开关，以交叉方式连接在2个输驱动电路和2个管脚之间。
【专利摘要】本发明涉及一种液晶驱动芯片测试方法及使用这种测试方法的液晶驱动芯片，该液晶驱动芯片包括N个驱动电路和N个管脚，测试方法包括：在所述液晶驱动芯片的每M个驱动电路与每M个管脚之间增设一切换电路；将所述每M个管脚中的第一管脚连接到一探针卡的探针上；将所述探针卡连接到一液晶驱动芯片测试机台上；以及控制该切换电路，使所述M个驱动电路的每个按序连接到所述M个管脚的第一管脚上；其中N和M为自然数，且N≥2；2≤M≤N。
【IPC分类】G09G3/00
【公开号】CN105575303
【申请号】CN201510982857
【发明人】高志强, 王非
【申请人】中颖电子股份有限公司
【公开日】2016年5月11日
【申请日】2015年12月24日