专利名称：用于修复平面显示面板的方法
技术领域：
本发明涉及一种修复平面显示面板的方法，更具体地，涉及这样一种 用于修复平面显示面板的方法，其中，使用激光将单元修复处理之后产生 的亮像素转换成暗像素，以便降低产品缺陷率，使产品利用率提高。而且， 为了提高处理效率，在转换成暗像素的处理之后当光发射(light
transmission)低于特定值时，替代使用激光将亮像素转换成暗像素的处 理，使用分配器(dispenser)将修复处理应用于还没有转换成暗像素的红 (R)、绿(G)、蓝(B)和黑(BK)像素，从而优化整个修复处理。
背景技术：
通常，显示器被用作人与电子设备之间的接口。此类显示器作为信息 显示设备，M各类电子设备输出的电子信息信号转换成光信息信号，以 便于/0^视觉上识别此类信息。在这些显示器中，平面显示面板包括液晶 显示器(LCD)、等离子体显示面板(PDP)、场发射显示器(FED)、有 机发光二极管(OLED)等。
图1是说明传统薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)的横截面图。
如图1中所示，该TFT-LCD被配置成包括TFT阵列衬底、偏振器、 像素电极、累积电容、定向层(alignment layer )、密封剂、间隔物(spacer )、 TFT、液晶、公共电极(ITO)、滤色器、黑矩阵(blackmatrix)等。
液晶(LC)单元处理被包括在制造作为平面显示面板之一的 TFT-LCD的整个处理中。
该LC单元处理指的是制造单位LC单元的处理，其中，将驱动电路 提供给已完成的TFT衬底和滤色器衬底，使得可以通过信号来驱动单位 LC单元。
LC单元处理的特征在于与TFT处理或滤色器处理相比，正常情况 下不需要重复处理。整个LC单元处理可以粗略地分为定向层形成处理， 用于定向LC分子；单元间隙形成处理；液晶注射处理；以及偏振膜附着 处理。
各个处理具有不同特点，并因此需要不同的工艺，如聚合物薄膜形成 处理、摩擦处理、使用真空的液晶注射处理等。
在液晶单元处理之前，执行单元修复处理来^f务复LC单元。
然而，在传统技术中没有用于修复在单元修复处理之后产生的亮像素 的方法。所以，需要一种用于修复亮像素的方法。而且，应当提出一种可 以优化整个处理的1务复处理。
发明内容
因此，本发明针对上述问题而被提出，并且，本发明的一个目的是提 供一种用于修复平面显示面板的方法，因为使用激光将单元l务复处理之后 产生的亮像素转换成暗像素，其可以降低产品缺陷率，从而4吏产品利用率 提高。该方法也可以优化整个修复处理，这是因为在将亮像素转换成暗像 素之后当光发射低于特定值时，使用分配器将修复处理应用于还没有转换 成暗像素的红(R)、绿(G)、蓝(B)和黑(BK)像素，来替代使用激 光将亮像素转换成暗像素的处理，从而提高了处理效率。
根据本发明的一个方面，上述和其他目的可以通过提供一种用于修复 平面显示面板的方法来实现，所述方法包括执行单元修复处理；确定在 单元修复处理之后是否已经产生亮缺陷；当已经产生亮缺陷时，执行修复 处理，以便将亮像素转换成暗像素；确定在修复处理之后M射是否低于 特定值；以及当光发射低于特定值时，使用分配器来修复还没有转换成暗 像素的红(R)、绿(G)、蓝(B)和黑(BK)像素。
优选地，确定是否已经产生亮缺陷的步骤确定当由于一个或多个原因 而产生缺陷时亮缺陷是否已经出现，所述一个或多个原因是液晶内的粒 子、栅极开路(gate open )、像素与数据线间短路、a-Si残留、像素通道 (pixel channel)短路、TFT特性差、跨数据线的像素间短路、像素下的 数据线残留、没有接触孔、S/D开路以及跨栅极线的像素间短路。
优选地，执行修复处理的步骤是使用激光来执行的。
优选地，当M射超过特定值时，执行修复处理的步骤被再次执行。
根据以下结合附图的详细描述，本发明的上迷和其他目的、特征以及
其他优势将得到更清楚地理解，在附图中 图l是说明传统平面显示面板的横截面图2是描述根据本发明的一个实施例的用于修复平面显示面板的方 法的流程图3是说明由于平面显示面板上的粒子而产生缺陷的一个例子的横 截面图，该缺陷可以通过图2的方法来解决；
图4 ^U兌明平面显示面板上产生的各类缺陷的一个例子的顶视图，这 些缺陷可以通过图2的方法来解决；
图5是说明应用图2的用于修复平面显示面板的方法的例子的横截面
图6是说明通过图2的方法使用激光将亮像素转换成暗《象素的一个示 例性处理的示意图；以及
图7A到图7D是说明通过图2的方法将亮像素转换成暗l象素的一个 处理的示意图。
具体实施例方式
现在，将参考附图详细描述具有此类构思的本发明的用于修复平面显 示面板的方法的优选实施例。
图2是描述根据本发明的一个实施例的用于修复平面显示面板的方 法的流一呈首先，执行典型的单元修复处理(SIO)。然后，确定是否已经产生亮 缺陷(S20)。当得到肯定的确定结果，即已经产生亮缺陷时，执行修复处 理，以便将亮像素转换成暗像素(S30 )。然后，读取M射以4更确定其是 否低于特定值(S40)。当光发射低于所述特定值时，使用分配器来转换还 没有转换成暗像素的红(R)、绿(G)、蓝(B)和黑(BK)像素(S50)。
这里，如图3和图4中所示来确定是否已经产生亮缺陷。
图3是说明由于平面显示面板上的粒子而产生缺陷的一个例子的横 截面图，该缺陷可以通过图2的方法来解决。图4是i兑明平面显示面板上 产生的各类缺陷的一个例子的顶视图，这些缺陷可以通过图2的方法来解 决。
如图3和图4中所示，当由于一个或多个原因而产生缺陷时，确定亮 缺陷已经出现，所述一个或多个原因是液晶内的粒子、栅极开路、像 素与数据线间短路、a-Si残留、像素通道短路、TFT特性差、跨数据线的 像素间短路、像素下的数据线残留、没有接触孔、S/D开路以及跨栅极线 的像素间短路。
激光执行将亮像素转换成暗像素的处理。
另外，当光发射超过特定值(这意味着还没有达到适当的效率)时， 重复执行将亮像素转换成暗像素的修复处理。
将参考附图详细描述根据本发明的用于修复具有某种构造的平面显 示面板的方法的优选实施例。
当确定对相关功能和构造的详细说明会4吏本发明的构思不清楚时，将 省略详细说明。将在后面说明的术语是考虑本发明的功能而定义的，其可 能由于4吏用者、操作者或前人的意图不同而有所不同。因此，每条术语都 应当基于本发明说明书通篇的内容来理解。
首先，本发明涉及通过使用激光将单元修复处理之后产生的亮像素转 换成暗像素来降低产品缺陷率，以便提高产品利用率。
传统技术没有提^M壬何在执行单元修复处理之后、或在执4于单元修复 处理并且然后完成液晶单元处理之后修复亮^(象素的处理。
这里，亮像素表示因为在滤色器上形成一个完整像素的R、 G和B 子像素中的某个子像素不管所施加的电压而总是工作，所以，滤色器的唯 一颜色被显示在监视器上。甚至在黑矩阵(BK)中也可能产生亮像素。
当上述某个子像素连续处于接通状态时(即，如果其连续为亮像素)， 处于单色(黑或白)静止状态的监视器上就会出现问题。因此，本发明以 如此方式工作，以便使上述某个子像素总是处于关断状态(即，暗像素)。
也就是说，在TFT处理期间产生的亮像素被转换成暗像素。而且， 对于在TFT和滤色器的附着处理期间产生的亮像素，在单元处理中将亮 缺陷转换成暗像素。
这种亮缺陷是在如下情况中产生的。也就是说，其产生应归因于在 TFT处理期间外部材料的产生；对TFT的异常操作；以及当TFT处理正 在进行时由于人为引入的外部材料而引起的短路。
产生亮缺陷的情况可以如图3和图4中所示分类。
1) 液晶内的粒子
2) 栅极开路
3) 像素与数据线间短路
4) a-Si残留
5 ) 4象素通道短路
6) TFT特性差
7) 跨数据线的像素间短路
8) 像素下的数据线残留
9) 没有接触孔 10 ) S/D开路
11)跨栅极线的像素间短路
然后，如图5和图6中所示，执行使用激光形成黑矩阵的处理。
图5是说明应用图2的用于修复平面显示面板的方法的例子的横截面 图。图6是说明通过图2的方法使用激光将亮像素转换成暗像素的一个示 例性处理的示意图。
当黑矩阵形成时，其中已经产生亮缺陷的滤色器就被黑矩阵覆盖。这 里，通过控制激光的强度，可以调整穿透深度。
图7A到图7D是说明通过图2的方法将亮像素转换成暗像素的一个 处理的示意图。图7A说明了R、 G和B子《象素，而图7B说明了一个像 素。
如图7C中所示，当亮缺陷产生时，在某个子像素中产生亮现象。然 后，如图7D中所示，使用激光来修复所述某个子像素，从而将其转换成 暗像素。
这样，本发明使用激光将单元修复处理之后产生的亮像素转换成暗像 素，从而降低了产品缺陷率并提高了产品利用率。
然而，由于执行使用激光将亮像素转换成暗像素的处理需要的时间 长，处理效率可能稍微降低。所以，本发明以如此方式工作，以便使用激 光将某个量的亮像素转换成暗像素，从而获得合适的效率。也就是说，本
发明以如此方式来执行修复处理，以便将亮像素转换成R、 G、 B和BK 像素。
更具体地说，在其中将亮像素转换成暗像素的修复处理被执行了某个 量之后，中止使用激光的修复处理，然后，读出M射，以便测量效率。 也就是说，确定光发射是否低于特定值。当所述n射低于特定值时，表 明对面板获得了期望的效率。否则，还没有实现期望的效率。所述特定值 依赖于产品的消费者。
当M射低于所述特定值时，则确定获得了如所期望的效率。因此， 不再执行使用激光来转换成暗像素的处理。取而代之，考虑到处理效率， 使用分配器将还没有转换成暗像素的R、 G、 B和BK像素转换成唯一的 像素。
如果光发射超过所述特定值，则确定对面板还没有实现期望的效率。 因此，重复执行使用激光将亮像素转换成暗像素的修复处理。
如上所述，在根据本发明的用于修复平面显示面板的方法中，使用激 光将单元修复处理之后产生的亮像素转换成暗像素，从而降低产品缺陷率 并提高产品利用率。
而且，在将亮像素转换成暗像素之后，当狄射低于特定值时，替代 4吏用激光将亮像素转换成暗像素的处理，本发明以如此方式工作，以便使 用分配器来修复还没有转换成暗像素的R、 G、 B和BK像素，从而优化 了整个^务复处理，并且提高了处理效率。
如到目前为止所述的，尽管以说明的目的已经披露了本发明的优选实 施例，本发明不应限制于此，而是可获得各种修改、变化和等同。因此， 本发明的优选实施例可以经适当变化来7^以应用，而不偏离如所附权利要 求所披露的本发明的范围和实质。
权利要求
1.一种用于修复平面显示面板的方法，包括执行单元修复处理；确定在所述单元修复处理之后是否已经产生亮缺陷；当已经产生所述亮缺陷时，执行修复处理，以便将亮像素转换成暗像素；确定在所述修复处理之后光发射是否低于特定值；以及当所述光发射低于所述特定值时，使用分配器来修复还没有转换成所述暗像素的红(R)、绿(G)、蓝(B)和黑(BK)像素。
2. 如权利要求1所述的方法，其中，确定是否已经产生所述亮缺陷 的步骤确定当由于一个或多个原因而产生缺陷时亮缺陷是否已经出现，所 述一个或多个原因是液晶内的粒子、栅极开路、像素与数据线间短路、 a-Si残留、像素通道短路、TFT特性差、跨数据线的像素间短路、像素下 的数据线残留、没有接触孔、S/D开路以及跨栅极线的像素间短路。
3. 如权利要求1或权利要求2所述的方法，其中，执行修复处理的 步骤使用激光来执行。
4. 如权利要求1所述的方法，其中，当所述M射超过特定值时， 执行修复处理的步骤被再次执行。
全文摘要
披露了一种用于修复平面显示面板的方法。使用激光将单元修复处理之后产生的亮像素转换成暗像素，以便降低产品缺陷率，从而提高产品利用率。在将亮像素转换成暗像素之后，当光发射低于特定值时，使用分配器来修复还没有修复成暗像素的红(R)、绿(G)、蓝(B)和黑(BK)像素，从而优化整个修复处理。所述方法包括执行单元修复处理；确定在单元修复处理之后是否已经产生亮缺陷；当已经产生亮缺陷时，执行修复处理，以便将亮像素转换成暗像素；确定在修复处理之后光发射是否低于特定值；以及当光发射低于特定值时，使用分配器来修复还没有转换成暗像素的红(R)、绿(G)、蓝(B)和黑(BK)像素。
文档编号G02F1/13GK101174035SQ20071012347
公开日2008年5月7日 申请日期2007年6月25日 优先权日2006年11月1日
发明者郑泳泰 申请人:查目&Ci股份公司