专利名称：显微镜支架检测器具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及检夹具领域，尤其涉及一种用于对显微镜支架压铸件同步 进行多项精度综合检测的专用检测器具。
背景技术：
目前，国内显微镜支架压铸件的各项技术指标检测大多采用三维坐标测量 仪等常规检测方法，检测过程费时费力，大大地增加了检测成本，且检测效率 低，不能满足流水线的要求。同时，通常情况下需要对显微镜支架压铸件的宽 度、高度、偏斜度、同轴度、垂直度等多项精度实现全数检验，现有的常规检 测方法无法实现对待检验产品的上述精度的全数检验，只能分用多个检具经多 道程序完成，即耗费人力，检测精度也差。本领域技术人员虽曾设计制造过数 种检具，但经实际使用检验，均未能满足产品的各项技术指标，使产品检测过 程成为长期困扰产品质量的 一大难点。
实用新型内容
有鉴于现有技术的上述缺陷，本实用新型所要解决的技术问题是提供一种 使用便利、成本低、效率高、精确性好、稳定性高的显微镜支架检测器具。
为实现上述目的，本实用新型提供了一种显微镜支架检测器具，包括一基 板，所述基板上滑动设置有用于将待检工件定位并送入检测区域的滑板装置； 所述基板一侧还固定设置有用于检测待检工件高度、宽度及上下宽度偏斜度的 立柱装置；所述立柱装置上端设置有用于检测待检工件同轴度、垂直度的摆杆 装置。
较佳地，所述滑板装置包括分别设置在所述基板两侧的左侧板、右侧板， 及借助所述左侧板、右侧板与所述基板滑动设置的滑板，所述滑板上间隔设置
有定位轴及定位销，所述定位轴顶端设置有一中心孔。
较佳地，所述立柱装置包括立柱体，所述立柱体两侧上下分别固定设置有 两上定位板及两下定位块，所述立柱体上端正面还固定设置有高度定位块。
较佳地，所述摆杆装置包括固定设置在所述立柱体顶端的搁架及活动架， 所述活动架在对应所述立柱体的一端通过一定芯轴可转动地设置有一带轴套 的活动套座，所述活动套座的所述轴套中设置有一可上下移动的检测轴。
本实用新型的显微镜支架检测器具，用于对显微镜支架压铸件进行多项精 度检测。由于采用了上述特别设计的结构，本实用新型的显微镜支架检测器具 集显微镜支架压铸件的各项尺寸指标检测于一体，使显微镜支架检测过程简 化、迅速，检测结果正确直观，效率大大提高，获得了使用便利、效率高、精 确性好、稳定性高的有益效果，使精度检测直接穿插于生产过程中，使产品质 量始终处于受控状态。并且采用本实用新型获得的检测结果正确直观。据测算， 用常规测量方法检测与用本实用新型的检测器具检测，后者检测效率可提高10 倍，完全可满足对产品的宽度、高度、偏斜度、同轴度、垂直度等多项精度实 现全数检验的技术要求。
以下将结合附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果作进一 步说明，以充分地了解本实用新型的目的、特征和效果。
图1是本实用新型一具体实施例使用状态的结构示意图2是图1所示实施例的俯视局部剖视图； '
图3是图1中沿A向的局部剖视图。
具体实施方式
如图l、图2所示为本实用新型一具体实施例，包括基板15，基板15上滑 动设置有滑板装置。基板15 —侧还固定设置有立柱装置。立柱装置上端设置 有摆杆装置。
具体地，本实施例中，上述滑板装置用于将待检工件17定位并送入检测区
域，包括分别设置在基板15两侧的左、右侧板14，左、右侧板14上设置有四
个滚动轴承16。借助左、右侧板14上的滚动轴承16，滑板13与基板15形成 滑动设置。滑板13上间隔设置有定位轴IO及定位销11，定位轴10顶端设置 有一中心孔101。
上述立柱装置用于检测待检工件17高度、宽度及上下宽度偏斜度，包括立 柱体9，立柱体9两侧上下分别固定设置有两上定位板7及两下定位块12，立 柱体9上端正面还固定设置有高度定位块6。
上述摆杆装置用于检测待检工件17同轴度、垂直度，包括固定设置在立 柱体9顶端的搁架1及活动架4，活动架4在对应立柱体9的一端通过一定芯 轴2可转动地设置有一带轴套5的活动套座3，活动套座3的轴套5中设置有 一可上下移动的检测轴8。
本实用新型的工作过程如下
将滑板13向外拉出，远离立柱体9，将待检工件17放在滑板13上，使之 处于定位轴10与定位销11的定位位置上。
将待检工件17随滑板13缓慢推向立柱体9，此时安装于立柱体9 二侧上 下的四块定位板7、 12，安装于立柱体9正面的高度定位块6同时对待检工件 17作上下宽度、高度及上下宽度偏斜等误差的检测。
将摆杆装置的活动套座3、轴套5、检测轴8，从搁架1上绕定芯轴2沿逆 时针方向转下，将活动架4沿水平方向移动，使轴套5对准待检工件17上部 沉坑18并-沿垂直方向向下移动至进入待检工件17上部沉坑18内，再将检测 轴8顺着轴套5中间孔向下移动直至进入定位轴10的中心孔101为止，用以 检测待检工件17上下孔的同轴度，上下孔轴与工件基面的垂直度等的误差。
按上述顺序反向操作，直至取出待检工件17，就完成一次检测全过程。
本实用新型由于采用了上述结构，检测待检工件17时，将待检工件17放 置于滑板13上通过滑板13上的定位轴10、定位销11对待检工件17进行定位， 随后推动滑板13使其沿侧板14、滚动轴承16组成的导轨将待检工件17送入 检测区域；安装于立柱体9上的定位板7、 12和高度定位块6同时对待检工件 17的宽度、上下宽度偏斜度及高度等误差实行检测，通过的为合格品，反之为 不良品，需对不良品进行再加工以校正其不合格之处。对已通过宽度、高度方 向检测的待检工件17，再将摆杆装置中的检测轴8从搁架l上放下，通过前后
调整活动架4位置，将轴套5插入待检工件17上部的沉坑18内，然后将检测 轴8再通过轴套5插入设于滑板13上的定位轴10中心孔101中，对待检工件 17的同轴度、垂直度误差进行检测，通过的为合格品，反之为不良品，需对不 良品进行再加工以校正其不合格之处。
本实用新型检测效率高，检测结果直观迅速，仅需一道工序就可以完成对 显微镜支架压铸件的宽度、高度、偏斜度、同轴度、垂直度等多项精度实现全 数检验，提高了工作效率也提高了检测精度，满足了对产品质量全数检测的要 求。
综上所述，本说明书中所述的只是本实用新型的几种较佳具体实施例，以 上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制。凡本技术领域中技术人 员依本实用新型的构思在现有技术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实 验可以得到的技术方案，皆应在本实用新型的权利要求保护范围之内。
权利要求1、一种显微镜支架检测器具，包括一基板，其特征在于所述基板上滑动设置有用于将待检工件定位并送入检测区域的滑板装置；所述基板一侧还固定设置有用于检测待检工件高度、宽度及上下宽度偏斜度的立柱装置；所述立柱装置上端设置有用于检测待检工件同轴度、垂直度的摆杆装置。
2、 如权利要求1所述的显微镜支架检测器具，其特征在于所述滑板装置 包括分别设置在所述基板两侧的左侧板、右侧板，及借助所述左侧板、 右侧板与所述基板滑动设置的滑板，所述滑板上间隔设置有定位轴及定 位销，所述定位轴顶端设置有一中心孔。
3、 如权利要求1所述的显微镜支架检测器具，其特征在于所述立柱装置 包括立柱体，所述立柱体两侧上下分别固定设置有两上定位板及两下定 位块，所述立柱体上端正面还固定设置有高度定位块。
4、 如权利要求1所述的显微镜支架检测器具，其特征在于所述摆杆装置 包括固定设置在所述立柱体顶端的搁架及活动架，所述活动架在对应所 述立柱体的一端通过一定芯轴可转动地设置有一带轴套的活动套座，所 述活动套座的所述轴套中设置有一可上下移动的检测轴。
专利摘要本实用新型公开了一种显微镜支架检测器具，包括一基板，所述基板上滑动设置有用于将待检工件定位并送入检测区域的滑板装置；所述基板一侧还固定设置有用于检测待检工件高度、宽度及上下宽度偏斜度的立柱装置；所述立柱装置上端设置有用于检测待检工件同轴度、垂直度的摆杆装置。由于采用了上述结构，本实用新型获得了使用便利、成本低、效率高、精确性好、稳定性高的有益效果。
文档编号G02B21/00GK201075148SQ20072007423
公开日2008年6月18日 申请日期2007年8月30日 优先权日2007年8月30日
发明者方立新, 陈阿芳 申请人:上海广濑-关勒铭精密机械有限公司