激光经纬仪测量用反光棱镜装置的制作方法

文档序号:2812939阅读:732来源:国知局
专利名称:激光经纬仪测量用反光棱镜装置的制作方法
技术领域
本实用新型属于一种激光测量设备的附件,具体是激光经讳仪测量用的反光 棱镜装置。
背景技术
在实际工作中,大型工业设备,如轧钢机械,锻压机械,大型机床等,在 安装使用一段时间后,机架往往发生变生和基础的沉降等。因此就有必要对大 型设备进行必要的测量,以便制定更合理的生产工艺,也能为设备的维修,维 护和补救提供可靠的数据。这些测量工作目前均是通过激光经讳仪实现的。
测量时,测量大型设备的变形时,用反光棱镜紧贴在设备的表面,激光经 纬仪发射出激光照射在反光棱镜的中心点上,激光经棱镜中心点反射回激光测 量仪器,激光测量仪器经计算后,得出棱镜中心点到激光测量仪器中心的三维 坐标数据。
但现有的激光经纬仪的反光棱镜不能很好的与设备的工作面相接,定位精 度低,造成了测量结果的不准确,而且操作不方便,大大影响了工作效率,同 时也进一步的影响了测量精度。因此有必要对现有反光设备进行进一步的改造 和创新。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种激光经纬仪测量用反光棱镜装置,采用反光 棱镜作为反光装置,对激光有很好的反射,通过磁铁块作为吸附大型设备的载 体,可很好的保证测量精度,操作非常简便。
本实用新型的技术方案如下
激光经纬仪测量用反光棱镜装置,其特征在于在磁块或磁片表面固定有反光 棱镜,磁块或磁片的底面或侧面为平整的磁吸面。
所述的激光经纬仪测量用反光棱镜装置,其特征在于所述的反光棱镜由三块 棱镜组成,拼成一个圆盘形状,其径向截面为W形状。
反光棱镜安装在磁块或磁片中。当测量正面时用磁块或磁片的底面吸附在
测量面上,测量侧面时用磁性块的侧面吸附。该装置可很好的利用现有的棱镜
制造技术,可方便固定,效率高,能很好的保证测量精度。


图l为本实用新型结构示意图。
图2为反光棱镜结构示意图。
图3为反光棱镜拼装后俯视图。
具体实施方式

参见图l、 2、 3。
激光经纬仪测量用反光装置,在立方体磁块1表面贴有反光棱镜2。反光棱 镜2共三块,结构相同,拼成一个圆盘形状,其径向截面为W形状,当测量大 型设备正面时,用磁块1的底面吸附在测量面上,测量侧面时用磁块1的侧面 吸附。可方便固定,效率高,能很好的保证测量精度。
权利要求1、激光经纬仪测量用反光棱镜装置,其特征在于在磁块或磁片表面固定有反光棱镜,磁块或磁片的底面或侧面为平整的磁吸面。
2、 根据权利要求l所述的激光经纬仪测量用反光棱镜装置,其特征在于所述的 反光棱镜由三块棱镜组成,拼成一个圆盘形状,其径向截面为W形状。
专利摘要本实用新型公开了一种激光经纬仪测量用反光棱镜装置,在磁块或磁片表面贴有反光棱镜。反光棱镜安装在经过精确加的磁性块中。当测量正面时用磁性块的底面吸附在测量面上,测量侧面时用磁性块的侧面吸附。该装置可很好的利用现有的棱镜制造技术,可方便固定,效率高,能很好的保证测量精度。
文档编号G02B5/04GK201210046SQ20082003480
公开日2009年3月18日 申请日期2008年4月23日 优先权日2008年4月23日
发明者胜 吴, 翔 李, 李长宏, 李黎明, 王道远, 程丙贵, 黄贞益 申请人:安徽工业大学;南京钢铁股份有限公司
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