专利名称：激光经纬仪测量用反光膜装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于一种激光测量设备的附件，具体是激光经纬仪测量用的反光
膜装置o
背景技术：
在实际工作中，大型工业设备，如轧钢机械，锻压机械，大型机床等，在 安装使用一段时间后，机架往往发生变生和基础的沉降等。因此就有必要对大 型设备进行必要的测量，以便制定更合理的生产工艺，也能为设备的维修，维 护和补救提供可靠的数据。这些测量工作目前均是通过激光经纬仪实现的。
测量时，测量大型设备的变形时，用反光棱镜紧贴在设备的表面，激光经 纬仪发射出激光照射在反光棱镜的中心点上，激光经棱镜中心点反射回激光测 量仪器，激光测量仪器经计算后，得出棱镜中心点到激光测量仪器中心的三维
坐标数据。
但现有的激光经讳仪的反光棱镜不能很好的与设备的工作面相接，定位精 度低，造成了测量结果的不准确，而且操作不方便，大大影响了工作效率，同 时也进一步的影响了测量精度。因此有必要对现有反光设备进行进一歩的改造 和创新。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种激光经纬仪测量用反光膜装置，采用反光膜 作为反光膜装置，对激光有很好的反射，通过磁铁块作为吸附大型设备的载体， 可很好的保证测量精度，操作非常简便。
本实用新型的技术方案如下
激光经纬仪测量用反光膜装置，其特征在于采用下列结构(1)、方形或矩 形磁块或磁片表面贴有反光膜；或者(2)、直角形磁块的两内侧表面分别贴有 反光膜。
本实用新型把反光薄膜粘贴固定在经过精密加工的磁性体上，在测量时把 磁性体直接吸附在被测大型设备的机架上，可很好的保证测量精度，操作非常
方便，效率较高，节省人力。
图1为本实用新型一种结构示意图。
图2为本实用新型另一种结构示意图。
图3为本实用新型再一种结构示意图。
具体实施方式
例l
参见图l。
激光经纬仪测量用反光膜装置，在立方体磁块1表面贴有反射膜2。当测量 大型设备正面时，用磁块1的底面吸附在测量面上，测量侧面时用磁块1的侧 面吸附。可方便固定，效率高，能很好的保证测量精度。 例2
参见图2。
激光经纬仪测量用反光膜装置，在磁片3表面贴有反射膜2。测量大型设备 正面时，将磁片3吸附在测量面上，以进行固定。 例3
参见图3。
激光经纬仪测量用反光膜装置，直角形磁块4的两内侧表面分别贴有反光膜 2。可用于大型设备正面和侧面的测量，也可用于间隙的测量。
权利要求1、激光经纬仪测量用反光膜装置，其特征在于采用下列结构(1)、方形或矩形磁块或磁片表面贴有反光膜；或者(2)、直角形磁块的两内侧表面分别贴有反光膜。
专利摘要本实用新型公开了一种激光经纬仪测量用反光膜装置，其特征在于采用下列结构(1)方形或矩形磁块或磁片表面贴有反光膜；或者(2)直角形磁块的两内侧表面分别贴有反光膜。本实用新型把反光薄膜粘贴固定在经过精密加工的磁性体上，在测量时把磁性体直接吸附在被测大型设备的机架上，可很好的保证测量精度，操作非常方便，效率较高，节省人力。
文档编号G01C1/00GK201191182SQ20082003395
公开日2009年2月4日 申请日期2008年3月27日 优先权日2008年3月27日
发明者胜 吴, 翔 李, 李长宏, 李黎明, 王道远, 程丙贵, 黄贞益 申请人:南京钢铁股份有限公司;安徽工业大学