专利名称：数码微弱痕迹提取仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种提取犯罪现场痕迹的仪器，尤其是一种数码微弱痕迹提取 仪。
背景技术：
具备一定反射率客体上的痕迹，如各类镀膜面，油漆面、平滑金属面、含胶量高的 高档纸张、高级包装盒、塑料、玻璃及陶瓷等大量生活设施上的痕迹用同轴光摄影或称定向 反射摄影装置可以做到有效提取，现有的同轴光摄影装置包括照相机、照相机固定调整支 架、半反射半透射平面镜和聚光灯(由聚光镜与普通灯泡组成)，半反射半透射平面镜倾 斜放置，其与竖直面及水平面的倾斜夹角均为45度，照相机位于半反射半透射平面镜的上 方，聚光灯位于半反射半透射平面镜的后侧，应用时，聚光灯发出的光射在半反射半透射平 面镜上，其中的1/2光经90°反射到半反射半透射平面镜下面的痕迹平面上，从痕迹平面 反射回的部分光线再次穿过半反射半透射平面镜进入照相机的镜头成像。现有的该类装置 没有做到良好的集成，附件多携带不方便，而且出射光束没有做到良好的准直，痕迹图像反 射的光线不可能完全进入照相机的镜头，影响对微弱痕迹图像的细节分辨，并且聚光灯采 用常规的灯泡进行聚光，光源组件体积偏大且光斑汇聚不易达到均勻效果。有些简易的同 类装置应用时需要较暗的工作环境。以上不足影响了现场环境下携带应用及犯罪现场勘查的效率。
实用新型内容本实用新型的目的是提供一种数码微弱痕迹提取仪，在现场勘查不需要其他附件 即可直接采用数码照相方式提取痕迹、勘查效率高且便于携带。为了实现上述方案，本实用新型的技术解决方案为一种数码微弱痕迹提取仪，包 括数码相机、半反射半透射平面镜和聚光镜，所述半反射半透射平面镜设置于数码相机的 下方且与竖直面及水平面的夹角均为45度，所述聚光镜位于半反射半透射平面镜的后侧， 其中还包括透镜、筒形第一接圈、基座、灯筒、聚光镜调整环、调整螺丝、大功率半导体发光 二极管、发光二极管固定座及驱动电源，所述数码相机下端固定于第一接圈的上端，所述第 一接圈的内腔下部安装透镜，所述第一接圈的下端与基座的上端连接，所述基座为内部上 下贯通的腔体，所述半反射半透射平面镜安装于基座的内腔，所述基座的后侧壁设有通孔， 所述灯筒的前端连接到通孔上，所述灯筒的轴线与基座的轴线垂直，所述灯筒的内腔安装 有聚光镜调整环，所述灯筒的筒壁设有一由前向后相对于轴线倾斜的槽孔，所述聚光镜安 装于所述聚光镜调整环内，所述调整螺丝穿过槽孔后螺接于聚光镜调整环侧壁上，所述灯 筒的后端与发光二极管固定座的前端连接，所述大功率半导体发光二极管固定于发光二极 管固定座的前面，所述大功率半导体发光二极管位于所述聚光镜调整环的后侧，所述发光 二极管固定座的内腔安装有驱动电源。本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述基座的内腔由上至下设有上、下端固定衬套，所述半反射半透射平面镜设置于所述上、下端固定衬套之间，所述上固定衬套的下 端面、下固定衬套的上端面与半反射半透射平面镜的表面平行，所述下固定衬套的后端设 有与所述基座后端的通孔相通的第二通孔，所述基座的下端敞口处通过螺环将上固定衬 套、下固定衬套及半反射半透射平面镜固定于所述基座的内腔。本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述数码相机与第一接圈之间安装第二接 圈，所述第二接圈与第一接圈之间安装偏振镜调整环，所述偏振镜调整环内安装第一偏振 镜片，所述灯筒的内腔前部安装第二偏振镜片，所述第二偏振镜片安装于螺环上，所述螺环 固定在灯筒内，所述第二偏振镜片位于所述聚光镜调整环的前侧。本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述透镜为凸透镜或透镜组。本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述数码相机与第二接圈之间、第二接圈 与偏振镜调整环之间、偏振镜调整环与第一接圈之间、第一接圈与基座之间、基座与灯筒之 间及灯筒与发光二极管固定座之间均通过螺纹连接。本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述数码相机的下端安装于一相机固定座 上，所述相机固定座与第二接圈之间通过螺纹连接。本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述发光二极管固定座外表面设有若干圈 相间隔的环形凹槽。本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述大功率半导体发光二极管采用金属基 板片状大功率芯片。本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述发光二极管固定座的后端设有一腔 体，该腔体端口通过一端盖密封。采用上述方案后，本实用新型数码微弱痕迹提取仪将各部件组装连接为一体式结 构，便于携带，由数码相机、透镜、半反射半透射平面镜、聚光镜及大功率半导体发光二极管 组成完整的光路发射接收系统，大功率半导体发光二极管发出的漫射光经过聚光镜准直变 成平行光，投射到半反射半透射平面镜时，其中1/2光被反射到该提取仪底面的痕迹平面 上，从痕迹面反射回的光线一部分又透过半反射半透射平面镜并经过透镜汇聚，光线完全 进入数码相机的镜头成像，大功率半导体发光二极管发出的光也可以根据需要移动调整螺 丝变成汇聚光或发散光，在现场勘查应用该仪器提取痕迹做到快捷高效。
图1是本实用新型数码微弱痕迹提取仪的立体结构分解示意图；图2是本实用新型数码微弱痕迹提取仪的光路结构及剖视结构示意图。
具体实施方式
如图1及图2所示，本实用新型数码微弱痕迹提取仪包括数码相机1、半反射半透 射平面镜2、透镜3、筒形第一接圈4、基座5、灯筒6、聚光镜7、聚光镜调整环8、上端螺接螺 母的调整螺丝9、大功率半导体发光二极管10、发光二极管固定座11、驱动电源12、第二接 圈13、偏振镜调整环14、第一偏振镜片15、第二偏振镜片17、上端固定衬套19及下端固定 衬套20 ；如果数码相机1镜头部位有接圈螺纹，数码相机1下端的螺纹与第二接圈13上端的螺纹连接，如果数码相机1镜头部位没有接圈螺纹，通过在数码相机1的下端安装一相机 固定座18，相机固定座18下端设置螺纹与第二接圈13上端的螺纹连接，第二接圈13的下 端与偏振镜调整环14的上端通过螺纹连接，偏振镜调整环14内安装第一偏振镜片15，偏 振镜调整环14的下端与第一接圈4的上端通过螺纹连接，第一接圈4的内腔下部安装透镜 3，透镜3为具有汇聚作用的凸透镜，也可以是透镜组，图中以凸透镜为例，第一接圈4的下 端与基座5的上端通过螺纹连接；基座5为内部上下贯通的腔体，基座5的后侧壁设有通孔51，基座5的内腔由上至 下设有上端固定衬套19和下端固定衬套20，半反射半透射平面镜2被夹持于上端固定衬套 19和下端固定衬套20之间，半反射半透射平面镜2与竖直面及水平面的夹角均为45度，上 固定衬套19的下端面、下固定衬套20的上端面与半反射半透射平面镜2的表面平行，下固 定衬套20的后端设有与通孔51相通的第二通孔201，基座5的下端敞口处安装固定螺环 21，上固定衬套19、下固定衬套20及半反射半透射平面镜2通过螺环21固定于基座5的内 腔；灯筒6的前端通过螺纹与通孔51连接，灯筒6的轴线与基座5的轴线垂直，灯筒 6的内腔由前向后依次安装第二偏振镜片17和聚光镜调整环8，第二偏振镜片17位于半反 射半透射平面镜2的后侧，第二偏振镜片17安装于螺环16上，螺环16固定于灯筒内腔前 侧部位，灯筒6的上表面设有一由前向后相对于轴线倾斜的槽孔61，聚光镜7安装于聚光 镜调整环8内，调整螺丝9穿过槽孔61后螺接于聚光镜调整环8的侧壁，灯筒6的后端与 发光二极管固定座11的前端通过螺纹连接，大功率半导体发光二极管10固定于发光二极 管固定座U的前端面，大功率半导体发光二极管10位于聚光镜调整环8的后侧，大功率半 导体发光二极管10采用金属基板片状大功率芯片，其具有散热良好，体积微小，功率可达 到十瓦以上，发光二极管固定座11外表面设有若干圈相间隔的环形凹槽111，这些环形凹 槽111的设置便于大功率半导体发光二极管10的快速散热，在发光二极管固定座11的后 端设有空腔，该空腔内集成安装发光管恒流驱动电源12，该驱动电源12用于对大功率半导 体发光二极管10进行恒流供电，该空腔通过端盖22密封，整机外部仅需要连接直流正负极 即可，增强可靠性。如图2所示，当对反光平面上痕迹进行提取时，如对各类镀膜面，油漆面、平滑金 属面、含胶量高的高档纸张、高级包装盒、塑料、玻璃及陶瓷等大量生活设施上的痕迹提取 时，采用同轴光摄影技术，将本实用新型数码微弱痕迹提取仪中的偏振镜调整环14和第一 偏振镜片15从该仪器上取出，将第一接圈4和第二接圈13通过螺纹连接在一起，至于第二 偏振镜片17从仪器上取出或不取出都可以，该第二偏振镜片17不影响成像效果，仅亮度有 轻微降低，大功率半导体发光二极管10发射的光经过聚光镜7准直变成平行光后，经过半 反射半透射平面镜2时，其中1/2的光被反射到该提取仪底面的痕迹平面23上，从痕迹23 平面上反射回的平行光线一部分又透过半反射半透射平面镜2，经过具有汇聚作用的透镜 3后进入数码相机1的镜头。如果需要调整光路时，可以通过调整螺丝9在槽孔61内的位 置，使聚光镜7相对于灯筒6前后移动，使反射的光线完全进入数码相机1的镜头成像，大 功率半导体发光二极管10发射的光也可以根据需要通过调整螺丝9在槽孔61内位置，移 动聚光镜变成汇聚光或发散光，使用调节方便。而当对深色纺织物、橡胶、皮革及其他深色和杂色物面上的灰尘痕迹进行提取时，这类痕迹往往遗留在现场床铺、沙发、地毯及作案相关的工具和关联物品上，采用偏振光摄 影技术，将本实用新型数码微弱痕迹提取仪中的偏振镜调整环14、第一偏振镜片15和第二 偏振镜片17均安装于仪器上，大功率半导体发光二极管10发射的光经过聚光镜7汇聚整 形，经过第二偏振镜片17变成偏振光后，经过半反射半透射平面镜2的部分光线反射到仪 器底面的痕迹平面23上，痕迹图像的部分反射光线穿过半反射半透射平面镜2后再经过具 有汇聚作用的透镜3后，通过第一偏振镜片15，进入数码相机1的镜头成像，通过旋转偏振 镜调整环14可以调整偏振状态，使图像质量达到最佳。采用本实用新型数码微弱痕迹提取仪既可以对具备一定反射率客体上进行痕迹 提取时，如对各类镀膜面，油漆面、平滑金属面、含胶量高的高档纸张、高级包装盒、塑料、玻 璃及陶瓷等大量生活设施上的痕迹进行对提取，也可以对深色纺织物、橡胶、皮革及其他深 色和杂色物面上的灰尘痕迹进行提取，提取痕迹高效快捷，并且不受现场环境光线的影响， 该仪器体积小功能强，更便于携带及现场应用。以上所述实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新 型的范围进行限定，在不脱离本实用新型设计精神的前提下，本领域普通工程技术人员对 本实用新型的技术方案作出的各种变形和改进，均应落入本实用新型的权利要求书确定的 保护范围内。
权利要求1.一种数码微弱痕迹提取仪，包括数码相机(1)、半反射半透射平面镜( 和聚光镜 (7)，所述半反射半透射平面镜( 设置于数码相机(1)的下方且与竖直面及水平面的夹角 均为45度，所述聚光镜(7)位于半反射半透射平面镜( 的后侧，其特征在于还包括透镜 (3)、筒形第一接圈(4)、基座( 、灯筒(6)、聚光镜调整环(8)、调整螺丝(9)、大功率半导体 发光二极管(10)、发光二极管固定座(11)及驱动电源(12)，所述数码相机(1)下端固定于 第一接圈的上端，所述第一接圈的内腔下部安装透镜(3)，所述第一接圈(4)的下 端与基座( 的上端连接，所述基座( 为内部上下贯通的腔体，所述半反射半透射平面镜 (2)安装于基座( 的内腔，所述基座( 的后侧壁设有通孔(51)，所述灯筒(6)的前端连 接到通孔(51)上，所述灯筒(6)的轴线与基座(5)的轴线垂直，所述灯筒(6)的内腔安装 有聚光镜调整环(8)，所述灯筒(6)的筒壁设有一由前向后相对于轴线倾斜的槽孔(61)，所 述聚光镜(7)安装于所述聚光镜调整环(8)内，所述调整螺丝(9)穿过槽孔(61)后螺接于 聚光镜调整环(8)侧壁上，所述灯筒(6)的后端与发光二极管固定座(11)的前端连接，所 述大功率半导体发光二极管(10)固定于发光二极管固定座(11)的前面，所述大功率半导 体发光二极管(10)位于所述聚光镜调整环(8)的后侧，所述发光二极管固定座(11)的内 腔安装有驱动电源(12)。
2.如权利要求1所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于所述基座(5)的内腔由上 至下设有上、下端固定衬套(19，20)，所述半反射半透射平面镜( 设置于所述上、下端固 定衬套(19，20)之间，所述上固定衬套(19)的下端面、下固定衬套00)的上端面与半反射 半透射平面镜( 的表面平行，所述下固定衬套00)的后端设有与所述基座( 后端的通 孔(51)相通的第二通孔001)，所述基座(5)的下端敞口处通过螺环将上固定衬套 (19)、下固定衬套OO)及半反射半透射平面镜O)固定于所述基座(5)的内腔。
3.如权利要求2所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于所述数码相机(1)与第一 接圈(4)之间安装第二接圈(13)，所述第二接圈(1 与第一接圈(4)之间安装偏振镜调整 环(14)，所述偏振镜调整环(14)内安装第一偏振镜片(15)，所述灯筒(6)的内腔前部安装 第二偏振镜片(17)，所述第二偏振镜片(17)安装于螺环(16)上，所述螺环(16)固定在灯 筒(6)内，所述第二偏振镜片(17)位于所述聚光镜调整环(8)的前侧。
4.如权利要求3所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于所述透镜C3)为凸透镜或 透镜组。
5.如权利要求4所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于所述数码相机(1)与第二 接圈(1 之间、第二接圈(1 与偏振镜调整环(14)之间、偏振镜调整环(14)与第一接圈 ⑷之间、第一接圈⑷与基座(5)之间、基座(5)与灯筒(6)之间及灯筒(6)与发光二极 管固定座(11)之间均通过螺纹连接。
6.如权利要求5所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于所述数码相机(1)的下端 安装于一相机固定座(18)上，所述相机固定座(18)与第二接圈(1 之间通过螺纹连接。
7.如权利要求6所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于所述发光二极管固定座 (11)外表面设有若干圈相间隔的环形凹槽(111)。
8.如权利要求7所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于所述大功率半导体发光二 极管(10)采用金属基板片状大功率芯片。
9.如权利要求8所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于所述发光二极管固定座(11)的后端设有一腔体，该腔体端口通过一端盖0 密封。
专利摘要一种数码微弱痕迹提取仪，属于提取犯罪现场痕迹的仪器技术领域，包括数码相机等，数码相机固定于第一接圈上，第一接圈内腔下部设置有透镜，第一接圈下端与基座连接，半反射半透射平面镜以45°倾角安装于基座内腔，基座为内部上下贯通的腔体，腔体后侧壁与灯筒前端垂直连接，灯筒内腔安装聚光镜调整环，聚光镜安装于聚光镜调整环内，灯筒壁设有槽孔，调整螺丝穿过槽孔后插接于聚光镜调整环上，灯筒后端与发光二极管固定座前端连接，大功率半导体发光二极管固定于发光二极管固定座上，发光二极管固定座的后部腔体内安装有驱动电源。本实用新型可以在犯罪现场快速并且高质量提取现场痕迹。
文档编号G03B17/56GK201936108SQ201120054048
公开日2011年8月17日 申请日期2011年3月3日 优先权日2011年3月3日
发明者朱双全 申请人:朱双全