用于分光计调节的平面镜装置的制作方法

文档序号:2676951阅读:673来源:国知局
专利名称:用于分光计调节的平面镜装置的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种分光计中的反射镜装置,特别是一种用于分光计调节的平面
镜装置。
背景技术
现有在物理实验中用于分光计调节的平面镜是一种固定式的平行平面反射镜装置(两表面相互平行且都能反光)。该装置虽可用来调节分光计,但在使用时却不太方便。主要是在采用自准直法进行调节时,在望远镜视场中不易找到绿色十字叉丝的反射像;而在望远镜视场中快速找到绿色十字叉丝的反射像是顺利调好分光计的前题。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种用于分光计调节的平面镜装置,可以方便、快速的用于分光计调节。为解决上述技术问题,本实用新型所采用的技术方案是一种用于分光计调节的平面镜装置,平面镜通过转轴安装在基座上,转轴与手柄连接,基座上与平面镜垂直状态相对应位置设有定位卡。所述的基座为磁性基座。本实用新型提供的一种用于分光计调节的平面镜装置,通过将双面平行的平面反射镜通过转轴安装在基座上,转轴与手柄连接,使用时转动手柄可以方便的实现镜面与望远镜光轴的垂直。因为只有在镜面与望远镜光轴近似垂直的情况下,才能在望远镜视场中看到绿色十字叉丝的反射像,而只有在绿色十字叉丝的反射像顺利找到的情况下,才能实现分光计的快速调节,从而提高实验教学效率。而采用磁性基座可以方便的将本装置固定在可旋转的载物台上。
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明


图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式

图1中,一种用于分光计调节的平面镜装置,平面镜1通过转轴2安装在基座5 上,转轴2与手柄3连接,基座5上与平面镜1垂直状态相对应位置设有定位卡4。所述的基座5为磁性基座。本实用新型将一正反两面平行的平面反射镜通过转轴2安装在磁性基座上。在转轴2的一端装有手柄3,通过该手柄可以绕转轴2转动镜面。在磁性基座上装有一定位卡 4,用来止动平面镜1。当定位卡4卡上时,平面镜1的镜面应与基座5垂直。当该装置置于分光计载物台6上时,基座与载物台6的台面吸附在一起。通过转动手柄和/或载物台6,实现平面 镜1的镜面转动,并使之与望远镜光轴大致垂直,以便在望远镜视场中找到绿色十字叉丝的反射像,实现分光计的快速调节。
权利要求1.一种用于分光计调节的平面镜装置,其特征在于平面镜(1)通过转轴(2)安装在基座(5)上,转轴(2)与手柄(3)连接,基座(5)上与平面镜(1)垂直状态相对应位置设有定位卡(4)。
2.根据权利要求1所述的一种用于分光计调节的平面镜装置,其特征在于所述的基座(5)为磁性基座。
专利摘要一种用于分光计调节的平面镜装置,平面镜通过转轴安装在基座上,转轴与手柄连接,基座上与平面镜垂直状态相对应位置设有定位卡。本实用新型提供的一种用于分光计调节的平面镜装置,通过将双面平行的平面反射镜通过转轴安装在基座上,转轴与手柄连接,使用时转动手柄可以方便的实现镜面与望远镜光轴的垂直。因为只有在镜面与望远镜光轴近似垂直的情况下,才能在望远镜视场中看到绿色十字叉丝的反射像,而只有在绿色十字叉丝的反射像顺利找到的情况下,才能实现分光计的快速调节,从而提高实验教学效率。而采用磁性基座可以方便的将本装置固定在可旋转的载物台上。
文档编号G02B27/10GK202067013SQ20112019070
公开日2011年12月7日 申请日期2011年6月8日 优先权日2011年6月8日
发明者沈金洲 申请人:沈金洲
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