专利名称：一种修复显示面板亮点像素瑕疵的方法以及显示面板的制作方法
技术领域：
本发明属于显示器技术领域，具体涉及ー种修复显示面板亮点像素瑕疵的方法以及显示面板。
背景技术：
显示器通常作为电子设备与用户之间的接ロ，其作为信息显示设备将各类电子设备输出的电子情报信号转化成光情报信号，以便用户从视觉上识别此类信息。在显示器领域中，平面显示器一般包括薄膜晶体管液晶显示器(TFT-IXD，ThinFilmTransistor-Liquid Crystal Display)、等离子体平板显不器(PDP, Plasma DisplayPanel)、场发射显示器(FED, Field EmissionDisplay)、有机发光二极管显示器(OLED, Organic Light EmittingDiode)等。其中，TFT-LCD以其大尺寸、高度集成、功能强大、エ艺 灵活、低成本等优势而广泛应用于电视机、电脑、手机等领域。在TFT-IXD中，显示面板是主要部件之一，其包括阵列基板(也称为TFT基板)与彩膜基板(也称为CF基板)。所述显示面板的制造エ艺一般包括阵列(Array)エ艺，液晶成盒(Cell)エ艺以及模组(Module)エ艺等。其中，所述阵列エ艺用于制作阵列基板及彩膜基板。所述液晶成盒エ艺包括成盒前エ艺、成盒中エ艺以及成盒后エ艺。所述成盒前エ艺用于分别在制作好的阵列基板和彩膜基板表面形成均匀的取向层；成盒中エ艺用于将涂覆有封框胶的阵列基板和形成有隔垫物并注入了液晶的彩膜基板在真空环境下贴合，然后将所述封框胶固化，以形成液晶盒；成盒后エ艺用于将所述液晶盒按产品尺寸切割成多个显示面板，并在所述多个显示面板的上下表面分别贴附偏光片。所述模组エ艺用于将贴附有偏光片的显示面板分别与驱动电路、印刷电路板、背光源等外部零件组装成显示面板成品。在上述液晶成盒エ艺与模组エ艺之间还设置有成盒修复(Cell Test)エ艺，以检测完成液晶成盒エ艺的显示面板是否合格，并对不合格的显示面板进行修复。在成盒修复エ艺过程中发现，当灰尘、有机物、金属等杂质吸附到显示面板内靠近彩膜(colorfilter，彩色滤光片)的区域时，对应于这些区域的亚像素(SubPixel)会透射出比其他正常的亚像素的亮度明亮得多的光，即发生亮点像素瑕疵(Bright Pixel Defect)现象，从而导致所述显示面板产生漏光并严重影响显示面板的品质，因此需要对具有亮点像素瑕疵的亚像素进行修复。传统エ艺中，对所述具有亮点像素瑕疵的亚像素进行修复的エ艺一般在液晶成盒エ艺之前完成，这是因为在液晶成盒エ艺之前，阵列基板与彩膜基板上的元件都裸露在外面，如所述元件上有灰尘、有机物、金属等杂质，可采用激光将所述杂质打掉并在后续的清洗エ艺中清洗掉所述杂质残渣，因为一旦完成液晶成盒エ艺之后，所述杂质就被封在显示面板中而不易对具有亮点像素瑕疵的亚像素进行修复了。但是实际生产中，在液晶成盒エ艺之前对所述杂质进行清理并不能保证将杂质完全清理干净，或者在液晶成盒エ艺过程中也可能会产生杂质，因此均可能造成所述杂质对应区域的亚像素发生亮点像素瑕疵现象。为解决上述问题，现有技术中，有采用激光照射来修复具有亮点像素瑕疵的亚像素的方法，具体技术方案如下在申请号为200880102671. 1，名称为“修复平板显示器的方法”的中国专利申请所公开的技术方案中，提出使用激光在具有亮点像素瑕疵的滤色器(即彩膜)处或在该滤色器和玻璃(即衬底)之间形成ー个间隙，然后使用激光分解与该滤色器相邻的黑色基质(即黑矩阵)，并使所述黑色基质向滤色器的瑕疵区域扩散，以修复显示装置的亮点像素瑕疵。在申请号为200880020731. 5，名称为“修复平板显示器的方法”的中国专利申请所公开的技术方案中，提出选择性地使用一定波长范围的激光，使其照射具有亮点像素瑕疵的像素(滤色器及其相邻黑色基质)以使该瑕疵像素变暗，以修复显示装置的亮点像素瑕疵。上述专利申请文件中的技术方案的相同之处是均使用激光来消除滤色器(即彩膜)区域的亚像素的亮点像素瑕疵。但采用激光修复所述亮点像素瑕疵时，具有修复速度慢、效率低、设备成本高等缺点，而且随着液晶显示面板的大型化会导致其效率的进ー步下 降。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是针对现有技术中存在的上述问题，提供ー种修复显示面板亮点像素瑕疵的方法、以及采用所述方法进行修复的显示面板。解决本发明技术问题所采用的技术方案是所述修复显示面板亮点像素瑕疵的方法包括I)在设置于彩膜基板ー侧和/或设置于阵列基板ー侧的偏光片上与具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置相对应的位置处设置遮挡层，以遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光。优选地，所述遮挡层采用能够遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光的可固化液体制成。优选地，所述可固化液体的材质包括成膜物质、助剂及有机溶剂。优选地，所述可固化液体中掺杂有黑色颜料。优选地，所述黑色顔料为炭黑、灯黑、こ炔黑或石墨。优选地，采用所述可固化液体制成的遮挡层的厚度范围为1-2 μ m。优选地，所述遮挡层为能够遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光的贴膜。优选地，所述贴膜采用负性光刻胶制成。优选地，所述负性光刻胶的材质包括丙ニ醇甲醚醋酸酯和炭黒。优选地，所述贴膜的厚度范围为1-3 μ m。优选地，所述步骤I)之前还包括在显示面板上获取具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置的步骤。优选地，在显示面板上获取具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置的步骤具体为采用白光光源将待修复的显示面板点亮并控制其显示黑色图像，然后在显示面板上获取具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置。
本发明同时提供一种显示面板，其包括具有亮点像素瑕疵的亚像素，所述显示面板包括彩膜基板、阵列基板、以及分别设置在彩膜基板一侧和阵列基板ー侧的偏光片，其中，在设置于彩膜基板ー侧和/或设置于阵列基板ー侧的偏光片上与所述具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置相对应的位置处设置有遮挡层，以遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光。有益效果I)本发明所述修复显示面板亮点像素瑕疵的方法与传统的修复エ艺相比，能够在显示面板的成盒エ艺之后对显示面板上具有亮点像素瑕疵的亚像素进行修复，因此能够有效地修复在成盒エ艺过程中产生的亮点像素瑕疵。2)本发明所述修复显示面板亮点像素瑕疵的方法与现有技术中采用激光照射进行修复的方法相比，具有简单易行、修复速度快、效率高及成本低等优点。
3)本发明所述修复显示面板亮点像素瑕疵的方法能够对所有具有亮点像素瑕疵的亚像素进行修复，极大地提高了显示面板的合格率。
图I为本发明实施例I中所述显示面板的结构示意图；图2为本发明实施例2中修复显示面板亮点像素瑕疵的方法流程示意图。图中1 ー衬底；2 —偏光片；3 —遮挡层。
具体实施例方式为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式
对本发明修复显示面板亮点像素瑕疵的方法及显示面板作进ー步详细描述。实施例I :本实施例提供一种修复显示面板亮点像素瑕疵的方法，包括如下步骤在设置于彩膜基板ー侧和/或设置于阵列基板ー侧的偏光片上与具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置相对应的位置处设置遮挡层，以遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光。可见，所述修复显示面板亮点像素瑕疵的方法简单易行，并能对所有具有亮点像素瑕疵的亚像素进行修复，与现有技术中采用激光照射进行修复的方法相比修复速度快、效率高。本实施例同时提供一种显示面板，其包括具有亮点像素瑕疵的亚像素，所述显示面板包括彩膜基板、阵列基板、以及分别设置在彩膜基板一侧和阵列基板ー侧的偏光片。如图I所示，在设置于彩膜基板ー侧和/或设置于阵列基板ー侧的偏光片2上与所述具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置相对应的位置处设置有遮挡层3，以遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光。需要说明的是，图I中所述衬底I可以为彩膜基板中的衬底，也可以为阵列基板中的衬底。当然，所述遮挡层3也可以分别设置在彩膜基板的衬底以及阵列基板的衬底上。实施例2:如图2所示，本实施例提供一种修复显示面板亮点像素瑕疵的方法，包括如下步骤
slOl.采用白光光源将待修复的显示面板点亮并控制其显示黑色图像，然后在显示面板上获取具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置。sl02.在设置于彩膜基板ー侧和/或设置于阵列基板ー侧的偏光片上与具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置相对应的位置处设置遮挡层，以遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光。所述遮挡层的厚度以能够使所述具有亮点像素瑕疵的亚像素不透光为宜。其中，所述遮挡层采用能够遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光的可固化液体制成。优选所述可固化液体的材质包括成膜物质、助剂及有机溶剂，所述成膜物质可采用合成高分子树脂、天然树脂或改性油脂等。优选所述可固化液体中掺杂有黑色颜料。根据无机黑色颜料的Cl分类，所述黑色 颜料可采用黑颜料6 (77266)或黑颜料7 (77266)。优选黑色颜料为炭黑、灯黑、こ炔黑或石墨，其中，所述炭黑包括槽黑、炉黑和热裂黒。在所述可固化液体中掺杂黑色顔料的好处是所述遮挡层不但能遮挡来自背光源处的光，还能吸收来自外界环境的光。优选采用所述可固化液体制成的遮挡层的厚度范围为1-2 μ m。本实施例同时提供一种显示面板，其包括具有亮点像素瑕疵的亚像素，所述显示面板包括彩膜基板、阵列基板、以及分别设置在彩膜基板一侧和阵列基板ー侧的偏光片。其中，在设置于彩膜基板ー侧和/或设置于阵列基板ー侧的偏光片上与所述具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置相对应的位置处设置有遮挡层，以遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光。所述遮挡层的材质和厚度分别与上述遮挡层的材质和厚度相同。本实施例中的其他方法、结构以及作用都与实施例I相同，这里不再赘述。实施例3:本实施例与实施例2的区别在于本实施例所述修复显示面板亮点像素瑕疵的方法以及显示面板中，所述遮挡层为能够遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光的贴膜。优选所述贴膜采用负性光刻胶制成。所述负性光刻胶的材质包括丙ニ醇甲醚醋酸酷(PGMEA )、炭黑以及现有添加剂等。优选所述贴膜的厚度范围为1-3 μ m。本实施例中的其他方法、结构以及作用都与实施例2相同，这里不再赘述。可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。
权利要求
1.一种修复显示面板亮点像素瑕疵的方法，其特征在于，所述方法包括 I)在设置于彩膜基板ー侧和/或设置于阵列基板ー侧的偏光片上与具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置相对应的位置处设置遮挡层，以遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光。
2.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，所述遮挡层采用能够遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光的可固化液体制成。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述可固化液体的材质包括成膜物质、助剂及有机溶剤。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述可固化液体中掺杂有黑色颜料。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述黑色顔料为炭黑、灯黑、こ炔黑或石 mO
6.根据权利要求2-5中任一项所述的方法，其特征在于，采用所述可固化液体制成的遮挡层的厚度范围为1-2 μ m。
7.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，所述遮挡层为能够遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光的贴膜。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述贴膜采用负性光刻胶制成。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在干，所述负性光刻胶的材质包括丙ニ醇甲醚醋Ife酷和炭黑。
10.根据权利要求7-9中任一项所述的方法，其特征在于，所述贴膜的厚度范围为1-3 μ m0
11.根据权利要求1-5、7-9中任一项所述的方法，其特征在于，所述步骤I)之前还包括在显示面板上获取具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置的步骤。
12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，在显示面板上获取具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置的步骤具体为采用白光光源将待修复的显示面板点亮并控制其显示黑色图像，然后在显示面板上获取具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置。
13.—种显示面板，其包括具有亮点像素瑕疵的亚像素，所述显示面板包括彩膜基板、阵列基板、以及分别设置在彩膜基板一侧和阵列基板ー侧的偏光片，其特征在于，在设置于彩膜基板ー侧和/或设置于阵列基板ー侧的偏光片上与所述具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置相对应的位置处设置有遮挡层，以遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光。
全文摘要
本发明提供一种修复显示面板亮点像素瑕疵的方法，包括如下步骤在设置于彩膜基板一侧和/或设置于阵列基板一侧的偏光片上与具有亮点像素瑕疵的亚像素的位置相对应的位置处设置遮挡层，以遮挡所述具有亮点像素瑕疵的亚像素并使其不透光。相应的，提供一种采用上述的方法进行修复的显示面板。本发明所述修复显示面板亮点像素瑕疵的方法与现有技术相比具有修复速度快、效率高及成本低等优点。
文档编号G02F1/1335GK102854647SQ20121036961
公开日2013年1月2日 申请日期2012年9月28日 优先权日2012年9月28日
发明者范朋, 王丽娜, 吴涛 申请人:合肥京东方光电科技有限公司, 京东方科技集团股份有限公司