全方位金相检测显微镜的固定装置制造方法
【专利摘要】全方位金相检测显微镜的固定装置，其要点在于它包括固定架、调节管、显微镜固定框组件，调节管为两节结构，中间由活动关节进行连接，所述的活动关节由抱箍固定板、固定于抱箍固定板上表面的两个抱箍及固定于两个抱箍内的三通调节头组成，抱箍固定板一端为与调节管连接的螺柱，另一端为平面，用于固定抱箍，第一根调节管的一端与固定架连接，另一端与抱箍固定板的螺柱连接，第二根调节管的一端与三通调节头连接，另一端内部具有轴承，并通过轴承与显微镜固定框组件连接。本实用新型对检测对象表面曲率半径无要求；显微镜调整更加灵活、精确。不必受限于待检测试件，可实现显微镜在三维空间内任意调整，且具有微调功能。
【专利说明】全方位金相检测显微镜的固定装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及金相显微镜，特别是涉及现场检测所用的全方位金相检测显微镜的固定装置。
【背景技术】
[0002]金相组织是反映金属金相的具体形态，如马氏体，奥氏体，铁素体，珠光体等等。广义的金相组织是指两种或两种以上的物质在微观状态下的混合状态以及相互作用状況。金属的性能取决于它的成分和微观组织，其中微观组织对金属性能的影响最为直接。金属材料的显微组织直接影响到机械零件的性能和使用寿命，因此我们可以通过对金属微观组织的观察和分析(即金相分析技木)来预测和判断金属的性能，并分析其失效破坏的原因。金相分析技术是根据有关的标准和规定来评定金属材料内在质量的一种常规检验方法，并可用来判断零件生产エ艺是否完善，有助于寻求零件产生缺陷的原因，因此它是涉及金属材料生产、使用和科研中ー种必不可少的手段。但在一般日常检验工作中，无法在设备上切取试样，在实验室内进行检测，而只能在现场进行无损检測。
[0003]检测过程为:在检测表面经过打磨抛光，得到合格的表面后，经过腐蚀，清洁，然后才能架设显微镜观察。在观察分析过程中，显微镜焦平面，必须与检测平面严格平行，才有可能得到清晰的图像。否则，就只能得到局部清晰的图像，不利于结果分析和得出正确的结论。但是，由于现场待检验的设备表面通常为圆柱形曲面或球面，这就对架设显微镜提出了极高的要求。
[0004]如图1所示，现有金相显微镜6底部有两个圆柱形磁性座14，用来将显微镜吸附在被测设备5的表面。一旦打开磁性座开关，吸附在设备表面后，就难以进行调整。所以，整个调整过程只能在打开磁性座开关前进行调节，全程只能通过肉眼宏观观察作为调整依据，一旦固定在设备上只能在水平面上进行X、Y轴两个方向平行移动，物镜距待测表面高度调整靠物镜的自调节系统进行调节，而这个调节距离非常小，若还不能达到满意的結果，还要松开磁性吸附座开关进行调整。这就造成了调整过程非常繁琐，往往需要反复进行多次，才有可能得到较满意的效果。在现场金相检验工作中，这个步骤通常也是耗时最长的一个步骤。
【发明内容】
[0005]本实用新型针对现有技术存在的不足，提供一种能适应各种固定环境，能进行空间转动调整，能方便圆管或球状表面检测的全方位金相检测显微镜的固定装置。
[0006]本实用新型所采用的技术方案为ー种全方位金相检测显微镜的固定装置，其要点在于它包括固定架、调节管、显微镜固定框组件，调节管为两节结构，中间由活动关节进行连接，所述的活动关节由抱箍固定板、固定于抱箍固定板上表面的两个抱箍及固定于两个抱箍内的三通调节头组成，抱箍固定板一端为与调节管连接的螺柱，另一端为平面，用于固定抱箍，第一根调节管的一端与固定架连接，另一端与抱箍固定板的螺柱连接，第二根调节管的一端与三通调节头连接，另一端内部具有轴承，并通过轴承与显微镜固定框组件连接，所述的显微镜固定框组件包括外层固定框架、第一层调节架、第二层调节架、显微镜固定架，四者依次由外到内固定连接，第一层调节架的中心轴线上对称分布有两个摆动轴A与外层固定框架相连，二者通过固定件进行固定，第二层调节架的中心轴线上对称分布有两个摆动轴B与第一层调节架相连，二者通过固定件进行固定，摆动轴A与摆动轴B相垂直，显微镜固定架固定于第二层调节架。
[0007]本实用新型通过活动关节实现两根调节管之间大于180摆动，及每个摆动平面上的360转动，方便显微镜工作位置复杂多变的需要。显微镜可在与轴承垂直的平面内自由转动，当调整好固定组件空间角度后，即可实现显微镜在任一空间平面内的固定。同时通过两个摆动轴呈直角的调节架使固定在整个固定装置最内层的显微镜固定架具有两个方向的摆动，这保证了在检测圆管或球状表面能通过摆动、平移寻找到一个与显微镜焦平面平行的检测平面，减小调整难度，提高检测效率。
[0008]外层固定框架与第一层调节架之间的连接只要是满足松开固定件二者间能有相对摆动，锁紧固定件二者间固定连接即可。同样第一层调节架与第二层调节架之间的连接只要是满足松开固定件二者间能有相对摆动，锁紧固定件二者间固定连接即可。
[0009]如:在外层固定框架的表面、摆动轴A的上方钻有与摆动轴A轴孔相通的紧定螺钉孔，同样在第一层调节架摆动轴A上表面处开有与固定件相配合的通孔，在第一层调节架的表面、摆动轴B的上方钻有与摆动轴B轴孔相通的紧定螺钉孔，同样在第二层调节架摆动轴B上表面处开有与固定件相配合的通孔。
[0010]或:第一层调节架的上表面对称分布有两个凸出框架的调整耳，调整耳上设置有调整螺孔，固定件为与调整螺孔相配合的调整螺钉，在外层固定框架与调整耳相对应处开有调整槽，调整槽的深度大于调整耳的厚度，第二层调节架的上表面对称分布有两个凸出框架的调整耳，调整耳上设置有调整螺孔，固定件为与调整螺孔相配合的调整螺钉，在第一层调节架与调整耳相对应处开有调整槽，调整槽的深度大于调整耳的厚度。
[0011]当外层固定框架为四边形时，第一层调节架、第二层调节架同为四边形。
[0012]三通调节头的三个通孔制有内螺纹，并配有三通堵头，三通调节头的三个ロ都能与调节管连接，这样显微镜固定位置更多，能适应不同的需要。
[0013]固定架由管件通过固定座连接而成的四边形，每根管件的端头都制有内螺纹，固定座为长方体，ー侧钻有能穿过管件的通孔C，在通孔C的垂直面上钻有能穿过管件却与通孔C不相交的通孔D，通孔C与通孔D的轴线空间垂直。
[0014]固定架由管件通过固定座拼接而成，使整个机构能方便固定在地面或就近固定在待测部件上或其周围。
[0015]具有一根加长杆，加长杆的一端与三通调节头相接，另一端与调节管相接。
[0016]当固定处与检测处距离较远时，可通过加长杆来实现延长装夹。由于本实用新型的多个部件都是采用管件，所以连接组装方便，各管件的端ロ加工有螺纹，通过管接头进行连接即可。
[0017]调节管与加长杆之间连接有活动关节。由于设备使用环境恶劣，对于拥挤狭小的固定空间在连接处增加活动关节能方便固定。
[0018]组成固定架的管件的中部固定有磁钢固定螺杆，磁钢固定螺杆一端穿过管件与磁钢固接。由于检测环境中多数设备为铁件，利用磁钢进行固定速度快又牢固，同时考虑到检测处的管件多，利用中部夹紧的方式进行固定能減少固定空间。
[0019]具有与管件端部内螺纹相配合的塞头。由于希望固定架的每个管件都能固定调节管，所以固定架的每个管件的端头都加工的连接螺纹，为了保护连接螺纹，在不使用时用塞头进行保护。
[0020]本实用新型与现有技术相比所具有的有益效果是:该固定装置对检测对象表面曲率半径无要求；显微镜调整更加灵活、精确。不必受限于待检测试件，可实现显微镜在三维空间内任意调整，且具有微调功能。
【专利附图】
【附图说明】
[0021]图1为现有金相显微镜使用状态示意图
[0022]图2为本实用新型实施例1的结构示意图
[0023]图3为实施例1中显微镜固定框组件的结构示意图
[0024]图4为图3中第一层调节架的结构示意图
[0025]图5为图4的俯视图
[0026]图6为本实用新型活动关节的抱箍固定板的结构示意图
[0027]图7为本实用新型活动关节的抱植的结构不意图
[0028]图8为本实用新型活动关节的三通调节头的结构示意图
[0029]图9为本实用新型固定架的固定座的结构示意图
[0030]图10为图9的左视图
[0031]图11为本实用新型实施例2的结构示意图
[0032]图12为本实用新型实施例3的结构示意图
[0033]其中I固定架11磁钢固定螺杆12管件13磁钢14塞头15紧定螺钉2第一根调节管21固定夹22连接螺纹23加长杆24轴承25第二根调节管3活动关节31抱箍固定板32抱箍33三通调节头4显微镜固定框组件41外层固定框架411紧定螺钉孔412调整槽42第一层调节架421摆动轴A 422固定件423调整耳424调整螺孔43第ニ层调节架431摆动轴B 44显微镜固定架5被测设备6金相显微镜8固定座83通孔C 84通孔D。
【具体实施方式】
[0034]下面结合视图对本实用新型进行详细的描述，下面的实施例可以使本专业的技术人员更理解本实用新型，但不以任何形式限制本实用新型。
[0035]实施例1，如图2-10所示，ー种全方位金相检测显微镜的固定装置，它包括固定架
1、调节管、显微镜固定框组件4，调节管为两节结构，中间由活动关节3进行连接，所述的活动关节3由抱箍固定板31、固定于抱箍固定板31上表面的两个抱箍32及固定于两个抱箍32内的三通调节头33组成，抱箍固定板一端为与调节管连接的螺柱，另一端为平面，用于固定抱箍，第一根调节管2的一端与固定架I连接，另一端与抱箍固定板31的螺柱连接，第ニ根调节管25的一端与三通调节头33连接，另一端内部具有轴承24，并通过轴承24与显微镜固定框组件4连接，所述的显微镜固定框组件4包括外层固定框架41、第一层调节架42、第二层调节架43、显微镜固定架44，四者依次由外到内固定连接，第一层调节架42的中心轴线上对称分布有两个摆动轴A 421与外层固定框架41相连，二者通过固定件422进行固定，第二层调节架43的中心轴线上对称分布有两个摆动轴B 431与第一层调节架42相连，二者通过固定件422进行固定，摆动轴A 421与摆动轴B 431相垂直，显微镜固定架44固定于第二层调节架43。外层固定框架I为四边形，相应的内部几层调节架也为四方形。第一层调节架2的上表面对称分布有两个凸出框架的调整耳423，调整耳423上设置有调整螺孔424，固定件422为与调整螺孔424相配合的调整螺钉，在外层固定框架41与调整耳423相对应处开有调整槽412，调整槽412的深度大于调整耳423的厚度，二者间的距离即为调整幅度，因此可根据需要进行设计。同样，第二层调节架43的上表面对称分布有两个凸出框架的调整耳423，调整耳423上设置有调整螺孔424，固定件422为与调整螺孔424相配合的调整螺钉，在第一层调节架42与调整耳423相对应处开有调整槽412，调整槽412的深度大于调整耳423的厚度。
[0036]由于本实用新型多采用管件进行拼接，因此可将管件的端部加工成内螺纹或外螺纹，通过管接头进行连接，方便快捷，固定架I由管件12通过固定座8连接而成的四边形，每根管件的端头都制有内螺纹，具有与管件12端部内螺纹相配合的塞头14，当管件12不与调节管2等连接时就旋上塞头14以防管件12的连接螺纹损坏。固定座8为长方体，ー侧钻有能穿过管件的通孔C83，在通孔C83的垂直面上钻有能穿过管件却与通孔C83不相交的通孔D84，通孔C83与通孔D84的轴线空间垂直，在通孔C83的外表面(通常是在通孔C83的上方表面)钻有紧定螺孔，用于固定紧定螺钉15，当管件12放入通孔C83中后用固定紧定螺钉15将其固定，防止移位，同样通孔D84上也配有固定紧定螺钉15。组成固定架I的管件12的中部固定有磁钢固定螺杆11，磁钢固定螺杆11 一端穿过管件12与磁钢13固接。
[0037]如图11所示实施例2是在实施例1的基础上进ー步改进，具有一根加长杆23，カロ长杆23的一端与三通调节头33相接，另一端与调节管相接。调节管2与加长杆23之间连接有活动关节3，在调节管与固定架I之间连接有活动关节。
[0038]实施例3如图12所示，外层固定框架41为圆形，相应的内部几层调节架也为圆形，在外层固定框架41的表面、摆动轴A 421的上方钻有与摆动轴A轴孔相通的紧定螺钉孔411，在第一层调节架42摆动轴A4 21上表面处开有与固定件422相配合的通孔。同样在第一层调节架42的表面、摆动轴B 431的上方钻有与摆动轴B轴孔相通的紧定螺钉孔，在第二层调节架43摆动轴B 431上表面处开有与固定件422相配合的通孔。
[0039]以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，对于本【技术领域】的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型的实质范围内所做出的改进、替换和润饰，也应属于本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.ー种全方位金相检测显微镜的固定装置，其特征在于:它包括固定架(1)、调节管、显微镜固定框组件(4)，调节管为两节结构，中间由活动关节(3)进行连接，所述的活动关节(3)由抱箍固定板(31)、固定于抱箍固定板(31)上表面的两个抱箍(32)及固定于两个抱箍(32)内的三通调节头(33)组成，抱箍固定板(31)—端为与调节管连接的螺柱，另ー端为平面，用于固定抱箍，第一根调节管(2)的一端与固定架(1)连接，另一端与抱箍固定板(31)的螺柱连接，第二根调节管(25)的一端与三通调节头(33)连接，另一端内部具有轴承(24)，并通过轴承(24)与显微镜固定框组件(4)连接，所述的显微镜固定框组件(4)包括外层固定框架(41)、第一层调节架(42)、第二层调节架(43)、显微镜固定架(44)，四者依次由外到内固定连接，第一层调节架(42)的中心轴线上对称分布有两个摆动轴A (421)与外层固定框架(41)相连，二者通过固定件(422)进行固定，第二层调节架(43)的中心轴线上对称分布有两个摆动轴B (431)与第一层调节架(42)相连，二者通过固定件(422)进行固定，摆动轴A (421)与摆动轴B (431)相垂直，显微镜固定架(44)固定于第二层调节架(43)上。
2.根据权利要求1所述的ー种全方位金相检测显微镜的固定装置，其特征在于:显微镜固定框组件(4)的外层固定框架(41)的表面、摆动轴A (421)的上方钻有与摆动轴A轴孔相通的紧定螺钉孔(411)，同样在第一层调节架(42)摆动轴A (421)上表面处开有与固定件(422)相配合的通孔，在第一层调节架(42)的表面、摆动轴B (431)的上方钻有与摆动轴B轴孔相通的紧定螺钉孔，同样在第二层调节架(43)摆动轴B (431)上表面处开有与固定件(422)相配合的通孔。
3.根据权利要求1所述 的ー种全方位金相检测显微镜的固定装置，其特征在于:显微镜固定框组件(4)的第一层调节架(42)的上表面对称分布有两个凸出框架的调整耳(423)，调整耳(423)上设置有调整螺孔(424)，固定件(422)为与调整螺孔(424)相配合的调整螺钉，在外层固定框架(41)与调整耳(423)相对应处开有调整槽(412)，调整槽(412)的深度大于调整耳(423)的厚度，第二层调节架(43)的上表面对称分布有两个凸出框架的调整耳(423)，调整耳(423)上设置有调整螺孔(424)，固定件(422)为与调整螺孔(424)相配合的调整螺钉，在第一层调节架(42)与调整耳(423)相对应处开有调整槽(412)，调整槽(412)的深度大于调整耳(423)的厚度。
4.根据权利要求1所述的ー种全方位金相检测显微镜的固定装置，其特征在于固定架(I)由管件(12)通过固定座(8)连接而成的四边形，每根管件的端头都制有内螺纹，固定座(8)为长方体，ー侧钻有能穿过管件的通孔C (83)，在通孔C (83)的垂直面上钻有能穿过管件却与通孔C (83)不相交的通孔D (84)，通孔C (83)与通孔D (84)的轴线空间垂直。
5.根据权利要求1所述的ー种全方位金相检测显微镜的固定装置，其特征在于:具有一根加长杆(23)，加长杆(23)的一端与三通调节头(33)相接，另一端与调节管相接。
6.根据权利要求5所述的ー种全方位金相检测显微镜的固定装置，其特征在于:调节管与加长杆(23)之间连接有活动关节(3)。
7.根据权利要求1所述的ー种全方位金相检测显微镜的固定装置，其特征在于:在调节管与固定架(1)之间连接有活动关节(3)。
8.根据权利要求1所述的ー种全方位金相检测显微镜的固定装置，其特征在于:三通调节头(33 )的三个通孔制有内螺纹，并配有三通堵头(34 )。
9.根据权利要求1所述的ー种全方位金相检测显微镜的固定装置，其特征在于:组成固定架(1)的管件(12)的中部固定有磁钢固定螺杆(11)，磁钢固定螺杆(11) 一端穿过管件(12)与磁钢(13)固接。
10.根据权利要求1所述的ー种全方位金相检测显微镜的固定装置，其特征在于:具有与管件(12)端部内螺纹相配合 的塞头(14)。
【文档编号】G02B21/24GK203414400SQ201320568084
【公开日】2014年1月29日 申请日期:2013年9月13日 优先权日:2013年9月13日
【发明者】曾钦达, 陈宝英, 陈嵩, 陈小韩, 黄凯湃, 叶振华, 谢小明, 吴永波, 杨文彬 申请人:福建省锅炉压力容器检验研究院