一种采用多摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置制造方法
【专利摘要】该发明一种采用多摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置，属于液晶缺陷检测领域，特别是针对高分辨率的液晶屏缺陷的检测。该发明通过将多个低像素的摄像头采用阵列的方式设置在同一基座上，替代传统方法采用单个高像素摄像头检测液晶屏的缺陷，检测过程中该发明装置的各个摄像头只需要拍摄检测液晶屏的一小部分，然后将所有摄像头拍摄的图像拼接起来，形成整个液晶屏的图像，再检测液晶屏的缺陷，从而具有采集图像清晰、成本低、扩展性高、图像采集快、适用于高分辨率液晶屏检测的效果。
【专利说明】一种采用多摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置
【技术领域】
[0001]本发明属于液晶缺陷检测领域，特别是针对高分辨率的液晶屏缺陷的检测。
【背景技术】
[0002]随着社会生活水平的提高，人们对电子产品的需求与日俱增，这极大的带动了液晶产业的发展。液晶屏的自动化生产程度，直接制约着其产量与生产成本的高低，而目前的液晶屏缺陷检测方法主要是依靠人工检测，手段比较单一，生产厂商通过电测器观察液晶屏在显示画面，凭借肉眼来判断有无缺陷。这种方式即耗时又费力，而且由于人眼偶尔的疲劳与不确定性，经常造成部分缺陷产品被漏检，当一批产品的漏检率过高时，客户就会要求退货，从而给生产商造成经济和时间上的损失。如果能实现液晶屏缺陷检测的自动化，取代传统的人工检测，将大大提高生产效率，降低生产成本。
[0003]实现液晶面板缺陷自动化检测首先是采集液晶屏的显示画面，再对采集到的图像进行分析，找到画面有缺陷的部位，对应找出液晶屏的缺陷位置。目前对大尺寸液晶显示屏的缺陷检测采用单个图像采集相机，对相机有上亿的像素要求，有上亿像素相机的价格十分昂贵，这使液晶屏缺陷检测成本明显增加。高像素相机的图像采集速度缓慢，耽误液晶面板生产进度，增加了成本。
【发明内容】
[0004]本发明的目的是针对【背景技术】的不足之处改进设计了一种采用多摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置，从而达到采集图像清晰、成本低、扩展性高、图像采集快、适用于高分辨率液晶屏检测的目的。
[0005]本发明一种采用多摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置的解决方案是用多个采用阵列方式排布的低像素摄像头替换【背景技术】中单个高像素摄像头，从而实现发明目的。因而本发明包括:基座、设置于基座上的摄像头、相应的数据线和电源线，其特征在于:基座上有规则的设置有多个摄像头。
[0006]所述的多个摄像头采用阵列的方式设置在基座上；所述各摄像头所有参数完全一致；所述摄像头通过数据线与电脑连接，实现每个摄像头的自动对焦。
[0007]本发明一种采用多摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置通过在基座上按照阵列的方式设置多个低像素的摄像头，从而使图像采集装置具有采集图像清晰、成本低、扩展性高、图像采集快、适用于高分辨率液晶屏检测的效果。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]图1为本发明一种采用多摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置的结构示意图。
[0009]图中:1.被检测的液晶屏，2.摄像头，3.基座。
具体实施方案[0010]本说明书(包括任何附加权利要求、摘要和附图)中公开的任一特征，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子，本具体实施方案为针对检测4寸液晶显示屏缺陷设计的采图装置。
[0011]参照图1，本发明一种采用多摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置，其基座3为方形，尺寸为按照4X4的阵列方式设置16个摄像头2,相邻两摄像头之间的距离为O。各摄像头参数完全一致,参数为:镜头像素为500万,分辨率292*1944,焦距3.8mm,各摄像头均与电脑相连，实现各摄像头的自动对焦。
[0012]被检测液晶屏显示I背景画面为黑，白，红，绿，蓝。被检测液晶屏与摄像头透光镜头垂直。
[0013]本发明采用阵列式摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置，对摄像头的选取需要满足一定条件，即摄像头拍摄的物理视野范围44，需要大于摄像头本身尺寸22。
[0014]一般摄像头拍摄的图片长宽方向的像素比为4:3。因此如果摄像头拍摄的图片长方向的像素个数为4a，则宽方向的像素个数为3a，从而可知摄像头的像素大小:
[0015]Q = 4a X 3a = 12a2
[0016]再假设被拍摄的液晶屏像素的放大倍数为n*n，每个液晶屏上像素大小为d，摄像头本身尺寸为L ；
[0017]如果阵列的摄像头要能拍摄到液晶屏里的所有像素，则需要满足如下关系式:
(4a/n)*d≥L[0018]所以用于阵列的摄像头的像素大小应满足如下关系
【权利要求】
1.一种采用多摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置包括:基座、设置于基座上的摄像头、相应的数据线和电源线，其特征在于基座上有规则的设置有多个摄像头。
2.如权利要求1所述的一种采用多摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置，其特征在于:多个摄像头采用阵列的方式设置在基座上。
3.如权利要求1所述的一种采用多摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置，其特征在于:各摄像头所有参数完全一致。
4.如权利要求1所述的一种采用多摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置，其特征在于:每个摄像头通过数据线与电脑连接，实现每个摄像头的自动对焦。
【文档编号】G02F1/13GK103955080SQ201410176077
【公开日】2014年7月30日 申请日期:2014年4月29日 优先权日:2014年4月29日
【发明者】谢煜, 刘鹏, 刘霖, 梁翔, 何岗, 胡勇, 刘娟秀, 张静, 陈仕隆, 杨雷 申请人:电子科技大学