专利名称：用于ct指数测量的笔型电离室的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电离室，尤其涉及一种用于CT指数测量的笔型电离室。
背景技术：
在CT扫描机的校准检测中，需要测量CT机(计算机断层扫描)释放的X射线产生的剂量、剂量率、重复性、CTDI值(计算机断层扫描剂量指数)。通常用电离室探测器进行测试，并要求该探测器高灵敏度、宽能量响应、高稳定性、大灵敏体积。现有的用于CT指数测量的笔型电离室是柱形结构，柱内壁固定有高压极(阴极)，柱的中心轴位置安放有金属丝收集极(阳极)，在收集极和高压极之间充满空气。工作时，通过外接高压电缆，在高压极上加高压，使电离室高压极和收集极之间产生一电场。测试时，只有该电场沿中心轴形成轴对称，才能保证测量的高灵敏度和测试的准确。现有的用于CT指数测量的笔型电离室，收集极一般是金属丝(如铝)，由于其较细又有韧性，并且只有在电离室中部的后端固定，而其前端未进行任何固定，因此在使用时收集极易变形，也易产生位置的改变，偏离中心轴，使产生的电场沿中心轴空间分布不对称，影响电离室的测试性能。高压极也通常采用的石墨，石墨碎性大，加工难度大，不便存放。
发明内容
本实用新型的目的就是提供一种用于CT指数测量的笔型电离室，该电离室能保证收集极固定在电离室的中心轴线上，使产生的电场沿电离室中心轴线对称分布，测试的灵敏度高、能量响应好、稳定性好，坚固耐用。
本实用新型解决其技术问题，所采用的技术方案为一种用于CT指数测量的笔型电离室，包括后端固定在电离室中部外套和绝缘环之间的环状高压极，以及后端固定在同一绝缘环内的金属丝收集极，其结构特点是高压极和收集极前端之间紧密嵌有端部绝缘帽。
与现有技术相比，本实用新型的技术方案的有益效果是端部绝缘帽紧密嵌入高压极和收集极的前端，使收集极的前端固定在端部绝缘帽中，从而收集极的两个端部均被固定，保证收集极可靠地固定在电离室的中心轴线上。在使用过程中，确保收集极不会产生位置的改变，偏移，产生的电场沿电离室的中心轴线形成轴对称，保证测试灵敏度高、能量响应好、稳定性好。实验表明，本实用新型可达到的指标为射线能量范围50～150kV，灵敏度1×10-9C/R，能量响应±3.5％，长期稳定性＜1％。
上述的高压极前端和端部绝缘帽通过螺钉固定。
上述的高压极前端和端部绝缘帽以螺纹方式连接固定。
这样通过螺钉或螺纹方式，较之单纯的紧密嵌入，可以使端部绝缘帽与高压极前端之间的固定更可靠、牢固。
上述的收集极和高压极由导电氟塑料制成。
收集极采用导电氟塑料，其硬度大于现有的金属铝，因此使用过程中不易变形，坚固耐用，并且加工方便；同样，高压极也采用导电氟塑料，比较现有技术的石墨，其易于加工成形，且韧性好、不易脆、耐用，可靠性好。
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步的描述。
附图是本实用新型实施例一的剖视结构示意图。
具体实施方式
实施例一附图示出，本实用新型的一种具体实施方式
为一种用于CT指数测量的笔型电离室，包括后端固定在电离室中部外套1和绝缘环2之间的环状高压极3，以及后端固定在同一绝缘环2内的金属丝收集极4，高压极3和收集极4前端之间紧密嵌有的端部绝缘帽5。高压极3前端和端部绝缘帽5通过螺钉6固定。收集极4和高压极3由导电氟塑料制成。
实施例二本实施例与实施例一基本相同，不同的是高压极3前端和端部绝缘帽5以螺纹方式连接固定。也即高压极3前端有内螺纹，端部绝缘帽5上有外螺纹，相互以螺纹方式旋紧嵌连。
实施例三本实施例与实施例一基本相同，不同的是高压极3前端和端部绝缘帽5之间单纯地采用紧密嵌合方式连接，而没有通过螺钉加以固定。
权利要求1.一种用于CT指数测量的笔型电离室，包括后端固定在电离室中部外套(1)和绝缘环(2)之间的环状高压极(3)，以及后端固定在同一绝缘环(2)内的金属丝收集极(4)，其特征在于所述的高压极(3)和收集极(4)前端之间紧密嵌有端部绝缘帽(5)。
2.如权利要求1所述的一种用于CT指数测量的笔型电离室，其特征在于所述的高压极(3)前端和端部绝缘帽(5)通过螺钉(6)固定。
3.如权利要求1所述的一种用于CT指数测量的笔型电离室，其特征在于所述的高压极(3)前端和端部绝缘帽(5)以螺纹方式连接固定。
4.如权利要求1所述的一种用于CT指数测量的笔型电离室，其特征在于所述的收集极(4)和高压极(3)由导电氟塑料制成。
专利摘要本实用新型公开了一种用于CT指数测量的笔型电离室，该电离室的高压极(3)和收集极(4)前端之间紧密嵌有端部绝缘帽(5)。该电离室能保证收集极固定在电离室的中心轴线上，使产生的电场沿电离室中心轴线对称分布，测试的灵敏度高、能量响应好、稳定性好，坚固耐用。
文档编号H01J47/02GK2869886SQ20052003643
公开日2007年2月14日 申请日期2005年12月9日 优先权日2005年12月9日
发明者张圆月, 鄢铃 申请人:中国测试技术研究院电离辐射研究所