专利名称：双测头接触式坐标测量机床的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量仪器，尤其是一种坐标测量机床。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是在现有接触式坐标测量机床的结构上，增加一个测头，采用双测头；两测头至少有一个坐标方向的运动相互独立，使之可同时测量两个点的坐标，突破现有接触式坐标测量机床采用一个测头进行逐点测量的局限性，从而快速地得到被测尺寸。
本实用新型的有益效果是在保留现有接触式坐标测量机床的坐标测量功能外，还可快速地测量轮廓尺寸。
图2是本实用新型第一个实施例的轴测视图。
图3是本实用新型第一个实施例的正视图。
图4是本实用新型第一个实施例的俯视图。
图5是本实用新型第一个实施例的侧视图。
图6是本实用新型第二个实施例的轴测视图。
图7是本实用新型第二个实施例的正视图。
图8是本实用新型第二个实施例的俯视图。
图9是本实用新型第二个实施例的测量电路原理图。
图中，1.底座，2.工作台，3.龙门架，4.测头A，5.横梁，6.伺服电机，7.拖板，8.测头B，9.电气柜，10.手柄。
图6、图7、图8所示的第二个实施例为一种手动的双测头接触式坐标测量机床，它在坐标方向的运动控制和测头的接触感知完全由人工完成。它的结构与第一个实施例基本相同，不同之处在于a)测头A(4)与测头B(7)安装在横梁(5)上的同一根滑杆上(不需要使用滚珠丝杠螺母副)，两测头的运动由手来推动完成；b)龙门架(3)和横梁(5)的运动由手柄(10)带动滚珠丝杠螺母副来完成；c)两测头的形状可为直角弯头型，以便能测量量内凹点的坐标；d)各坐标方向的坐标测量由位移传感器加测量电路完成，测量电路原理如图9所示。
权利要求1.一种双测头接触式坐标测量机床，包括测头，其特征是在现有接触式坐标测量机床的结构上，增加一个测头，采用两个测头。
2.根据权利要求1所述的双测头接触式坐标测量机床，其特征是两测头安装在同一个横梁上，并可彼此相互独立的运动。
3.根据权利要求1所述的双测头接触式坐标测量机床，其特征是各坐标方向的运动采用数控系统完成，实现自动测量。
4.根据权利要求1所述的双测头接触式坐标测量机床，其特征是各坐标方向的运动均用手动完成。
5.根据权利要求4所述的双测头接触式坐标测量机床，其特征是测头形状除了用直线型外，还可采用直角弯头型，以便于测量内凹点的坐标。
专利摘要一种双测头接触式坐标测量机床，在现有接触式坐标测量机床的结构上，增加一个测头，采用双测头，两测头至少有一坐标方向的运动相互独立，使之可同时测量两个点的坐标，突破现有接触式坐标测量机床采用一个测头进行逐点测量的局限性，从而快速地得到被测尺寸。该实用新型可用来测量坐标和轮廓尺寸。
文档编号B23Q17/20GK2536349SQ02202349
公开日2003年2月19日 申请日期2002年1月14日 优先权日2002年1月14日
发明者郑海波, 郑凌云 申请人:郑海波