一种探针治具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及检测装置领域，尤其涉及一种探针治具。
【背景技术】
[0002]目前纳米点针台在使用过程中，探针有磨损及损坏，需要不定期更换探针。从厂商处购买的探针，有两种类型，一种类型为成品，即已经弯曲完成，可直接供设备使用；另一种为半成品，即直的探针，需要进行弯曲后，才能供设备使用。因价格差异，为控制成本，通常会选择购买半成品的直探针，然后自行弯曲。但因弯曲探针方法与设备技术不成熟，会导致弯针成功率较低，以及弯曲好的探针参差不齐，纳米点针设备使用起来不便调试，设备效率降低。
[0003]目前半成品探针的弯曲方法有:
[0004]A，取一根直探针，与已经弯曲完成的探针做比对，预估需要弯曲的角度与长度
[0005]B，一只手持探针末端，一手拿镊子夹住探针的尖端
[0006]C，一只手持探针末端位置，起固定作用，另一只手拿镊子尖端夹住要弯曲的位置，施力，将探针弯曲，直到与预估长度与角度一致，便完成弯曲探针过程。
[0007]因弯曲探针的长度与角度完全靠人为控制，只能以人目测、感觉来控制，导致弯曲完成的探针成品参差不齐，长度与角度差异过大。这样品质的探针使用在纳米点针台上，会造成纳米点针台在做探针找平以及针尖聚焦时，难度增大，时间增长。在弯曲探针的时候，两只手控制，一只手拿探针尾，一只手用镊子夹住探针头，然后施力，此过程如用力不均匀，会导致探针弯曲角度过大或者过小。如果重复弯曲几次探针，会导致探针无法使用；在弯曲探针时候，全程依靠徒手操作，如不小心碰到探针头，会导致探针损坏，无法使用。
【实用新型内容】
[0008]本实用新型的目的在于克服现有技术的不足之处，提供一种探针治具，用于将直探针弯曲成型，其特征在于，包括:上治具和下治具；
[0009]所述下治具设置有顶部表面以及与所述顶部表面连接的第一斜面，所述顶部表面设置有一用于放置所述直探针的凹槽，且所述凹槽延伸至所述第一斜面；
[0010]所述上治具与所述下治具铰接，并设置有与所述下治具相对应的第二斜面；
[0011]其中，于所述凹槽中放置直探针后，所述直探针待弯曲的部位悬空在所述第一斜面和所述第二斜面之间，以在所述上治具的第二斜面压合至所述第一斜面时，所述直探针弯曲成型。
[0012]上述的治具，其特征在于，所述下治具顶部表面的凹槽上设置有卡箍。
[0013]上述的治具，其特征在于，所述上治具与所述下治具铰接在所述顶部表面和所述第一斜面交界线附近。
[0014]上述的治具，其特征在于，所述顶部表面与所述斜面之间呈135°
[0015]上述的治具，其特征在于，所述下治具为一立方梯形。
[0016]上述的治具，其特征在于，所述上治具与所述下治具形状相同。
[0017]上述的治具，其特征在于，所述凹槽垂直于所述下治具顶部表面和所述第一斜面的交界线。
[0018]综上所述，采用本实用新型的探针治具，可以增加弯曲探针的成功率，而且在弯曲批量探针的时候，长度和角度一致性比较高，这样在使用弯曲后的探针时有效提高了工作效率，直接购买半成品探针后自己加工成适合的成品探针，节约了成本。
【附图说明】
[0019]参考所附附图，以更加充分的描述本实用新型的实施例。然而，所附附图仅用于说明和阐述，并不构成对本实用新型范围的限制。
[0020]图1、图2是本实用新型结构示意图。
【具体实施方式】
[0021]为了使本实用新型的技术方案及优点更加易于理解，下面结合附图作进一步详细说明。应当说明，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0022]为了针对现有技术的不足，本实用新型设计出一种探针治具，该探针治具分为上治具和下治具两个部分。在下治具的顶部表面上开设一凹槽，凹槽的长度固定，这样将需要弯曲的探针置于凹槽内，即可以达到控制需要弯曲探针的弯曲长度的目的。下治具上还开设一斜面，斜面与顶部表面成一定的角度且固定，这样就可以达到控制需要弯曲探针弯曲角度的问题，为了在弯曲探针时不使探针头受到挤压而损坏，在下治具的斜平面上同样开设一凹槽。将一具有平面和与该平面连接的斜面的上治具铰接在下治具上，通过上治具的斜面与下治具的斜面压合，这样就可以达到弯曲探针的目的，弯曲的探针头部分刚好落入下治具斜平面的凹槽内，而且可以有效控制需要弯曲探针的弯曲长度、弯曲角度，可以确保探针头不受损坏。
[0023]下面结合具体实施例进行说明。
[0024]如图1和图2所示，分别制作两个治具，分别为上治具3和下治具1，下治具I为立方梯形，下治具I上包括有顶部表面和与顶部表面连接的第一斜面，于下治具I顶部表面开设一条凹槽2，该凹槽2垂直于顶部表面与斜面交界线，且该凹槽2延伸至斜面上。
[0025]上治具3，与下治具I形状相同的倒立方体形，且该上治具3的第二斜面与下治具I的第一斜面相对应，将上治具3的底面与下治具I的顶部表面贴合并铰接，在本实用新型中，铰接点位于下治具I顶部表面与斜面交界线附近，铰接点同样位于上治具3底面与斜平面交界线附近。
[0026]在弯曲探针时，将直探针放置于下治具I的凹槽2内，直探针待弯曲的部位悬空在第一斜面和第二斜面之间，根据工艺的不同，探针弯曲长度也有不同的需求，所以在该凹槽2上设定一可活动的卡箍，用以卡住需要弯曲探针的末端。在本实用新型中，凹槽2末端开设为孔状，探针放置于凹槽2内，探针末端卡进孔内，这样在弯曲探针时探针末端不会活动，能有足够的力量施加到探针针头上。
[0027]将上治具3斜平面下压，探针头会在上治具3斜平面的作用下弯曲，弯曲好的探针头为了不会撞击到下治具I的斜面上，刚好契合进设置在下治具I斜面的第一凹槽2内，直探针弯曲成型。在本实用新型中，下治具I的斜面与顶部表面之间的角度为135°，且第一凹槽2的长度足够长，以使探针针头在弯曲时不会脱离第一凹槽2。
[0028]在本实用新型中，下治具上还设置了另外两个深凹槽，与之匹配的上治具的底面上设置两个凸起的长方体角柱，这样两个长方体角柱就可以契合进两个深凹槽内，达到一个固定上治具和下治具的作用。在本实用新型中，下治具顶部表面凹槽的长度约等于2/3探针长度，深度和宽度约为探针末端直径，下治具的两个深凹槽与凹槽长度相等，下治具斜面上凹槽的深度和宽度与顶部表面凹槽相同，长度约为2/3探针长度。
[0029]采用本实用新型的探针治具，可以增加弯曲探针的成功率，而且在弯曲批量探针的时候，长度和角度一致性比较高，这样在使用弯曲后的探针时有效提高了工作效率，直接购买半成品探针后自己加工成适合的成品探针，节约了成本。
[0030]通过说明和附图，给出了【具体实施方式】的特定结构的典型实施例，基于本实用新型精神，还可作其他的转换。尽管上述实用新型提出了现有的较佳实施例，然而，这些内容并不作为局限。
[0031]对于本领域的技术人员而言，阅读上述说明后，各种变化和修正无疑将显而易见。因此，所附的权利要求书应看作是涵盖本实用新型的真实意图和范围的全部变化和修正。在权利要求书范围内任何和所有等价的范围与内容，都应认为仍属本实用新型的意图和范围内。
【主权项】
1.一种探针治具，用于将直探针弯曲成型，其特征在于，包括:上治具和下治具； 所述下治具设置有顶部表面以及与所述顶部表面连接的第一斜面，所述顶部表面设置有一用于放置所述直探针的凹槽，且所述凹槽延伸至所述第一斜面； 所述上治具与所述下治具铰接，并设置有与所述下治具相对应的第二斜面； 其中，于所述凹槽中放置直探针后，所述直探针待弯曲的部位悬空在所述第一斜面和所述第二斜面之间，以在所述上治具的第二斜面压合至所述第一斜面时，所述直探针弯曲成型。2.根据权利要求1所述的治具，其特征在于，所述下治具顶部表面的凹槽上设置有卡箍。3.根据权利要求1所述的治具，其特征在于，所述上治具与所述下治具铰接在所述顶部表面和所述第一斜面交界线附近。4.根据权利要求1所述的治具，其特征在于，所述顶部表面与所述斜面之间呈135°。5.根据权利要求1所述的治具，其特征在于，所述下治具为一立方梯形。6.根据权利要求1所述的治具，其特征在于，所述上治具与所述下治具形状相同。7.根据权利要求1所述的治具，其特征在于，所述凹槽垂直于所述下治具顶部表面和所述第一斜面的交界线。
【专利摘要】本实用新型涉及检测装置领域，尤其涉及一种探针治具。该探针治具包括下治具，设置有上表面和与上表面连接的斜面，于上表面开设一固定长度的凹槽；上治具，与下治具铰接，并设置有一平面和与平面连接的斜平面。采用本实用新型的探针治具，可以增加弯曲探针的成功率，而且在弯曲批量探针的时候，长度和角度一致性比较高，这样在使用弯曲后的探针时有效提高了工作效率，直接购买半成品探针后自己加工成适合的成品探针，节约了成本。
【IPC分类】B21F1/00
【公开号】CN204657341
【申请号】CN201520083870
【发明人】汤光敏, 张顺勇, 高慧敏
【申请人】武汉新芯集成电路制造有限公司
【公开日】2015年9月23日
【申请日】2015年2月5日