一种去除气体中杂质的装置的制造方法

文档序号:10304987阅读:569来源:国知局
一种去除气体中杂质的装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种去除杂质的装置,具体是指一种在气体进样检测之前将其中的微小固体颗粒去除的装置。
【背景技术】
[0002]现有技术中,气瓶中的标准气体在进入到检测仪器之前是直接通过六通阀进样的。标准气体种类繁多,制备标准气体的原料来源千差万别,质量参差不齐。市场上供应的某些原料,受提纯工艺的限制,纯度低于99.99%,且含有杂质。存放标准气体的气瓶,经反复使用后,气瓶内壁将无可避免地会发生老化脱落现象。这些微小固体颗粒状杂质会随着气体进入检测仪器,除了增加本底值和噪声、降低灵敏度而影响分析结果以外,还会伤害到检测仪器,缩短检测仪器的使用寿命。
[0003]另外,标准气体一般通过一个减压器从气瓶中输出。而减压器的调节能力和调节精度有限,使得标准气体通过六通阀时的流量会发生变化,从而引起取样量的变化,进而影响到分析结果的准确性和重复性。
[0004]基于上述,因此需要提出一种能够在气体进样检测之前将其中的杂质去除的装置。同时,使得进入检测仪器的气体流速保持恒定,不随外部流量的变化而变化。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型的目的是提供一种去除气体中杂质的装置,能有效去除标准气体中的微小固体颗粒,避免产生伤害检测仪器以及影响检测结果的情况,同时保证进入检测仪器的气体流速的恒定,使用方便简单,安全可靠。
[0006]为实现上述目的,本实用新型的技术方案是提供一种去除气体中杂质的装置,其包含:滤筒,其为中空柱体结构且两侧端部设置开口,该滤筒的内部填充多层微孔滤膜;密封组件,分别设置在所述滤筒的两侧端部开口处以密封滤筒;进气管,其一端与存放标准气体的气瓶连接,另一端穿过设置在滤筒一侧端部的密封组件伸入滤筒的内部;出气管,其一端穿过设置在滤筒另一侧端部的密封组件伸入滤筒的内部,另一端与检测仪器连接;恒流阀,设置在所述的进气管上,控制由气瓶进入滤筒内的标准气体流速的恒定。
[0007]所述的滤筒采用不锈钢材料制成。
[0008]所述的滤筒的两侧端部的外壁上设置有外螺纹。
[0009]所述的密封组件包含:螺母,其内螺纹与所述的滤筒的端部外壁上设置的外螺纹相匹配,拧紧该螺母使其固定安装在所述的滤筒的端部开口处;O型橡胶垫圈,其设置在所述的螺母与滤筒的端部之间。
[0010]所述的密封组件还包含金属隔片,其呈网状结构,设置在所述的O型橡胶垫圈与滤筒的端部之间。
[0011 ]所述的螺母上设置有通孔。
[0012]所述的进气管穿过设置在滤筒其中一侧端部开口处的螺母上的通孔,将气瓶内的标准气体输入滤筒;所述的出气管穿过设置在滤筒另一侧端部开口处的螺母上的通孔,将滤筒中去除杂质后的标准气体输出至检测仪器。
[0013]所述的进气管和出气管的外径与所述的螺母上的通孔的内径相匹配。
[0014]综上所述,本实用新型所述的去除气体杂质的装置,具有以下优点和有益效果:1、采用不锈钢材料制成,密封性能好,耐腐蚀,安全保障度高;2、填充在滤筒内的微孔滤膜对微小固体颗粒的过滤能力强,能有效去除气体中的杂质,避免产生伤害检测仪器以及影响检测结果的情况,提高气体样品的检测精度;3、拆卸方便,使用一段时间后可更换填充物微孔滤膜,价格便宜,使用方便;4、通过恒流阀控制由气瓶进入滤筒内的气体流速的恒定,从而确保去除杂质后进入检测仪器内的气体流速的恒定,不随外部流量的变化而变化。
【附图说明】
[0015]图1为本实用新型中的去除气体中杂质的装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0016]以下结合图1,详细说明本实用新型的一个优选的实施例。
[0017]如图1所示,为本实用新型所提供的去除气体中杂质的装置,其包含:滤筒I,其为中空柱体结构且两侧端部设置开口,该滤筒I的内部填充多层微孔滤膜2;密封组件,分别设置在所述滤筒I的两侧端部开口处以密封滤筒I;进气管41,其一端与存放标准气体的气瓶连接,另一端穿过设置在滤筒I一侧端部的密封组件伸入滤筒I的内部;出气管42,其一端穿过设置在滤筒I另一侧端部的密封组件伸入滤筒I的内部,另一端与检测仪器连接;恒流阀5,设置在所述的进气管41上,控制由气瓶进入滤筒I内的标准气体流速的恒定。
[0018]所述的滤筒I采用不锈钢材料制成。
[0019]所述的滤筒I的两侧端部的外壁上设置有外螺纹。
[0020]所述的密封组件包含:螺母31,其内螺纹与所述的滤筒I的端部外壁上设置的外螺纹相匹配,拧紧该螺母31使其固定安装在所述的滤筒I的端部开口处;O型橡胶垫圈32,其设置在所述的螺母31与滤筒I的端部之间,起到密封作用。
[0021]所述的密封组件还包含金属隔片33,其呈网状结构,设置在所述的O型橡胶垫圈32与滤筒I的端部之间;该金属隔片33起到支撑固定作用,防止微孔滤膜2在气流的作用下移动位置,从而出现能使气流直接通过的空隙;并在支撑固定微孔滤膜2的同时,使得标准气体能够顺利流出。
[0022 ]所述的螺母31上设置有通孔。
[0023]所述的进气管41穿过设置在滤筒I其中一侧端部开口处的螺母31上的通孔,将气瓶内的标准气体输入滤筒I;所述的出气管42穿过设置在滤筒I另一侧端部开口处的螺母31上的通孔,将滤筒I中去除杂质后的标准气体输出至检测仪器。
[0024]所述的进气管41和出气管42的外径与所述的螺母31上的通孔的内径相匹配。
[0025]本实用新型所提供的去除气体中杂质的装置,将需要进行进样检测的含有杂质的标准气体由进气管41送入滤筒I内,滤筒I内的多层微孔滤膜2将标准气体中的微小固体颗粒滤去,因此,最后从出气管42导出的标准气体是已经去除了其中的杂质,并保留了其他所有需要进行检测组分的气体。此时,再将气体输入检测仪器中,即可正常进行检测。也就是说,本实用新型就是用于去除可能伤害检测仪器以及影响检测结果的杂质。
[0026]综上所述,本实用新型所述的去除气体杂质的装置,具有以下优点和有益效果:1、采用不锈钢材料制成,密封性能好,耐腐蚀,安全保障度高;2、填充在滤筒内的微孔滤膜对微小固体颗粒的过滤能力强,能有效去除气体中的杂质,避免产生伤害检测仪器以及影响检测结果的情况,提高气体样品的检测精度;3、拆卸方便,使用一段时间后可更换填充物微孔滤膜,价格便宜,使用方便;4、通过恒流阀控制由气瓶进入滤筒内的气体流速的恒定,从而确保去除杂质后进入检测仪器内的气体流速的恒定,不随外部流量的变化而变化。
[0027]尽管本实用新型的内容已经通过上述优选实施例作了详细介绍,但应当认识到上述的描述不应被认为是对本实用新型的限制。在本领域技术人员阅读了上述内容后,对于本实用新型的多种修改和替代都将是显而易见的。因此,本实用新型的保护范围应由所附的权利要求来限定。
【主权项】
1.一种去除气体中杂质的装置,其特征在于,包含: 滤筒(1),其为中空柱体结构且两侧端部设置开口,该滤筒(I)的内部填充多层微孔滤膜⑵; 密封组件,分别设置在所述滤筒(I)的两侧端部开口处以密封滤筒(I); 进气管(41),其一端与存放标准气体的气瓶连接,另一端穿过设置在滤筒(I) 一侧端部的密封组件伸入滤筒(I)的内部; 出气管(42),其一端穿过设置在滤筒(I)另一侧端部的密封组件伸入滤筒(I)的内部,另一端与检测仪器连接; 恒流阀(5),设置在所述的进气管(41)上,控制由气瓶进入滤筒(I)内的标准气体流速的恒定。2.如权利要求1所述的去除气体中杂质的装置,其特征在于,所述的滤筒(I)采用不锈钢材料制成。3.如权利要求1所述的去除气体中杂质的装置,其特征在于,所述的滤筒(I)的两侧端部的外壁上设置有外螺纹。4.如权利要求3所述的去除气体中杂质的装置,其特征在于,所述的密封组件包含: 螺母(31),其内螺纹与所述的滤筒(I)的端部外壁上设置的外螺纹相匹配,拧紧该螺母(31)使其固定安装在所述的滤筒(I)的端部开口处; O型橡胶垫圈(32),其设置在所述的螺母(31)与滤筒(I)的端部之间。5.如权利要求4所述的去除气体中杂质的装置,其特征在于,所述的密封组件还包含金属隔片(33),其呈网状结构,设置在所述的O型橡胶垫圈(32)与滤筒(I)的端部之间。6.如权利要求4所述的去除气体中杂质的装置,其特征在于,所述的螺母(31)上设置有通孔。7.如权利要求6所述的去除气体中杂质的装置,其特征在于,所述的进气管(41)穿过设置在滤筒(I)其中一侧端部开口处的螺母(31)上的通孔,将气瓶内的标准气体输入滤筒(I); 所述的出气管(42)穿过设置在滤筒(I)另一侧端部开口处的螺母(31)上的通孔,将滤筒(I)中去除杂质后的标准气体输出至检测仪器。8.如权利要求7所述的去除气体中杂质的装置,其特征在于,所述的进气管(41)和出气管(42)的外径与所述的螺母(31)上的通孔的内径相匹配。
【专利摘要】本实用新型涉及一种去除气体中杂质的装置,包含:滤筒,为中空柱体结构且两侧端部设置开口,该滤筒的内部填充多层微孔滤膜;密封组件,分别设置在滤筒的两侧端部开口处以密封滤筒;进气管,一端与存放标准气体的气瓶连接,另一端穿过设置在滤筒一侧端部的密封组件伸入滤筒的内部;出气管,一端穿过设置在滤筒另一侧端部的密封组件伸入滤筒的内部,另一端与检测仪器连接;恒流阀,设置在进气管上,控制由气瓶进入滤筒内的标准气体流速的恒定。本实用新型能有效去除标准气体中的微小固体颗粒,避免产生伤害检测仪器以及影响检测结果的情况,同时保证进入检测仪器的气体流速的恒定,使用方便简单,安全可靠。
【IPC分类】G01N1/34, B01D61/00
【公开号】CN205216587
【申请号】CN201521083457
【发明人】戎海伟, 刘艳, 孙子文
【申请人】上海神开气体技术有限公司
【公开日】2016年5月11日
【申请日】2015年12月23日
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