一种高速测试机构的制作方法

本实用新型涉及一种高速测试机构。

背景技术：

电子元器件测试分选系统中，一般在料槽的下方安装隔料机构，使被测元器件一个一个地进入测试位置。现有的隔料机构存在均只能适合单一的电子元器件进行分选，从而增加分选成本。同时现有的隔离机构存在一旦堵塞，就必须停止机构维修，从而降低测试速度。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种高速测试机构，其结构简单，使用方便，适合不同大小的电子元器件，且分选效率高，有效提高测试速度。

为了达到上述目的，本实用新型的技术方案是：

一种高速测试机构，包括分选底板，所述分选底板上从左到右依次安装有第一隔离挡板、第二隔离挡板、第三隔离挡板、第四隔离挡板，所述第一隔离挡板上端与第二隔离挡板上端之间形成第一电子元器件入口，所述第三隔离挡板上端与第四隔离挡板上端之间形成第二电子元器件入口，所述第二隔离挡板下端与第三隔离挡板下端之间形成电子元器件出口；所述第一隔离挡板与第二隔离挡板之间安装有第一底板，所述第一底板上安装有第一推板，所述第一推板与第一推杆相连，所述第一推杆与第一气缸相连，所述第一底板右侧的第二隔离挡板上开设有第一电子元器件移动通孔；所述第三隔离挡板与第四隔离挡板之间安装有第二底板，所述第二底板上安装有第二推板，所述第二推板与第二推杆相连，所述第二推杆与第二气缸相连，所述第二底板左侧的第三隔离挡板上开设有第二电子元器件移动通孔；所述第二隔离挡板与第一可调节倾斜挡板相连，所述第三隔离挡板与第二可调节倾斜挡板相连。

所述第二隔离挡板与第三隔离挡板之间安装有支撑板，所述支撑板上安装有第三推杆，所述第三推杆与第三气缸相连。

所述第三推杆与推块相连。

所述第二隔离挡板通过第一调节杆与第一可调节倾斜挡板相连，所述第三隔离挡板通过第二调节杆与第二可调节倾斜挡板相连。

本实用新型的有益效果是：一种高速测试机构，其结构简单，使用方便，适合不同大小的电子元器件，且分选效率高，有效提高测试速度。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

实施例1

如图1所示一种高速测试机构，包括分选底板1，所述分选底板1上从左到右依次安装有第一隔离挡板2、第二隔离挡板3、第三隔离挡板4、第四隔离挡板5，所述第一隔离挡板2上端与第二隔离挡板3上端之间形成第一电子元器件入口6，所述第三隔离挡板4上端与第四隔离挡板5上端之间形成第二电子元器件入口7，所述第二隔离挡板3下端与第三隔离挡板4下端之间形成电子元器件出口8；所述第一隔离挡板2与第二隔离挡板3之间安装有第一底板11，所述第一底板11上安装有第一推板12，所述第一推板12与第一推杆13相连，所述第一推杆13与第一气缸14相连，所述第一底板11右侧的第二隔离挡板3上开设有第一电子元器件移动通孔15；所述第三隔离挡板4与第四隔离挡板5之间安装有第二底板21，所述第二底板21上安装有第二推板22，所述第二推板22与第二推杆23相连，所述第二推杆23与第二气缸24相连，所述第二底板21左侧的第三隔离挡板4上开设有第二电子元器件移动通孔25；所述第二隔离挡板3与第一可调节倾斜挡板31相连，所述第三隔离挡板4与第二可调节倾斜挡板32相连。

所述第二隔离挡板3与第三隔离挡板4之间安装有支撑板41，所述支撑板41上安装有第三推杆42，所述第三推杆42与第三气缸43相连。

所述第三推杆42与推块44相连。

所述第二隔离挡板3通过第一调节杆33与第一可调节倾斜挡板31相连，所述第三隔离挡板4通过第二调节杆34与第二可调节倾斜挡板32相连。

本实施例子所述的一种高速测试机构在使用时，先调整第一可调节倾斜挡板31与第二可调节倾斜挡板32之间的夹角，使其通过的间隙刚好能够让一个电子元器件通过。然后在第一电子元器件入口6和第二电子元器件入口7内放入电子元器件，在第一底板11上的电子元器件由于第一推板12推动通过第一电子元器件移动通孔15后掉入电子元器件出口8。在第二底板21上的电子元器件由于第二推板22的推动通过第二电子元器件移动通孔25后调入电子元器件出口8。第三气缸43推动第三推杆42，通过第三推杆42推动电子元器件下落，避免电子元器件堵塞电子元器件出口8，从而实现电子元器件一个一个地进入测试位置。

本实施例的一种高速测试机构，其结构简单，使用方便，适合不同大小的电子元器件，且分选效率高，有效提高测试速度。