一种高速测试分选装置的制作方法

本实用新型涉及一种工业自动化技术领域，具体是一种高速测试分选装置。

背景技术：

随着半导体分立器件产业在国际市场占有举足轻重的地位提升，并保持着持续、快速、稳定的发展，同时电子整机、消费类电子产品等市场的发展，使半导体分立器件的需求量的增长。因此，现代的生产工厂需要一种高速，高性能的测试分选设备以满足其生产需要，然而，常规的半导体分立器件测试分选机，因机械结构限制，设备运行速度较低，且设备故障率较高，工厂产能速度uph较低，同时设备工位工序不容易拓展与产品类型变更转换，导致无法满足高产能、高质量的生产需求。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种高速测试分选装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种高速测试分选装置，包括转塔取放模组、高速送料模组、视像检测装置、转向纠正装置、电性测试装置、定位修正装置、打标副盘模组、ds检测模组、集中分料装置、编带封装模组、留拓展工位、测试拓展位置、极性测试装置、清料回收装置、操作控制系统、转塔支撑立臂、横向联接立臂、电气转换系统、独立下压机构、真空分配机构、取料吸嘴机构、ddr电机系统、设备工作台板、设备电气机柜、支脚和滑轮，所述转塔支撑立臂上端设有横向联接立臂，所述横向联接立臂左下端设有电气转换系统，所述电气转换系统下端设有独立下压机构，所述独立下压机构下端设有真空分配机构，所述真空分配机构下端设有取料吸嘴机构，所述取料吸嘴机构下端设有ddr电机系统，所述ddr电机系统下端设有设备工台板，所述设备工台板下端设有设备电气机柜。

作为本实用新型进一步的方案：转塔取放模组包括转塔支撑立臂、横向联接立臂、电气转换系统、独立下压机构、真空分配机构、取料吸嘴机构、ddr电机系统、设备工作台板、设备电气机柜、支脚和滑轮，能够有效地提升生产效率。

作为本实用新型进一步的方案：真空分配机构以圆型卫星状分布在ddr电机周围，即按整圆18位、24位以及36位均分，通过ddr电机相应按照20°、15°、10°等角度运转转塔取放模组内的真空吸嘴机构，与独立伺服下压机构配合将器件取放并运转到各工序，实现半导体分立器高速传递和取放器件，使半导体分立器件按照一定的生产工艺流程顺序进行相关的高速处理工作。

作为本实用新型进一步的方案：设备电气机柜下端面设有支脚和滑轮，便于对装置进行移动和定位固定。

作为本实用新型再进一步的方案：视像检测装置和3d5s检测模组内皆采用ccd高速工业相机，工作效率高。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：将ddr电机组成转塔取放模组安装置于工位中心位置，各工位以圆型卫星状分布在周围即按整圆18位、24位、36位均分，通过ddr电机相应按照20°、15°、10°等角度运转转塔取放模组内的真空吸嘴机构，与独立伺服下压机构配合将器件取放并运转到各工序，实现半导体分立器高速传递和取放器件，使半导体分立器件按照一定的生产工艺流程顺序进行相关的高速处理工作；实现对半导体分立器高速高性能的电性测试、外观检测、激光打标、分选分类、编带封装等，设备运行速度高且故障率低，可以跟据客户需求分为18工位、24工位、36工位等，方便工厂对设备工位工序拓展，以及便捷因生产需要对产品类型变更转换；解决了现代工厂高产能、高质量，多功能的生产需求，节约了成本，提高了工作效率。

附图说明

图1为一种高速测试分选装置的结构示意图。

图2为一种高速测试分选装置的俯视图。

图3为一种高速测试分选装置的俯剖视图。

图4为一种高速测试分选装置中转塔取放模组的结构示意图。

图5为一种高速测试分选装置中高速送料模组的结构示意图。

图6为一种高速测试分选装置中视像检测装置的结构示意图。

图7为一种高速测试分选装置中转向纠正装置的结构示意图。

图8为一种高速测试分选装置中电性测试装置的结构示意图。

图9为一种高速测试分选装置中定位修正装置的结构示意图。

图10为一种高速测试分选装置中打标副盘模组的结构示意图。

图11为一种高速测试分选装置中3d5s检测模组的结构示意图。

图12为一种高速测试分选装置中集中分料装置的结构示意图。

图13为一种高速测试分选装置中编带封装模组的结构示意图。

图中：转塔取放模组1、高速送料模组2、视像检测装置3、转向纠正装置4、电性测试装置5、定位修正装置6、打标副盘模组7、3d5s检测模组8、集中分料装置9、编带封装模组10、留拓展工位11、测试拓展位置12、极性测试装置13、清料回收装置14、操作控制系统15、转塔支撑立臂16、横向联接立臂17、电气转换系统18、独立下压机构19、真空分配机构20、取料吸嘴机构21、ddr电机系统22、设备工作台板23、设备电气机柜24、支脚25、滑轮26。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1～13，本实用新型实施例中，一种高速测试分选装置，包括转塔取放模组1、高速送料模组2、视像检测装置3、转向纠正装置4、电性测试装置5、定位修正装置6、打标副盘模组7、3d5s检测模组8、集中分料装置9、编带封装模组10、留拓展工位11、测试拓展位置12、极性测试装置13、清料回收装置14、操作控制系统15、转塔支撑立臂16、横向联接立臂17、电气转换系统18、独立下压机构19、真空分配机构20、取料吸嘴机构21、ddr电机系统22、设备工作台板23、设备电气机柜24、支脚25和滑轮26，转塔支撑立臂16、横向联接立臂17、电气转换系统18、独立下压机构19、真空分配机构20、取料吸嘴机构21、ddr电机系统22、设备工作台板23、设备电气机柜24、支脚25和滑轮26，能够有效地提升生产效率，所述转塔支撑立臂16上端设有横向联接立臂17，所述横向联接立臂17左下端设有电气转换系统18，所述电气转换系统18下端设有独立下压机构19，所述独立下压机构19下端设有真空分配机构20，真空分配机构20以圆型卫星状分布在ddr电机周围，即按整圆18位、24位以及36位均分，通过ddr电机相应按照20°、15°、10°等角度运转转塔取放模组内的真空吸嘴机构，与独立伺服下压机构配合将器件取放并运转到各工序，实现半导体分立器高速传递和取放器件，使半导体分立器件按照一定的生产工艺流程顺序进行相关的高速处理工作，所述真空分配机构20下端设有取料吸嘴机构21，所述取料吸嘴机构21下端设有ddr电机系统22，所述ddr电机系统22下端设有设备工台板23，所述设备工台板23下端设有设备电气机柜24，设备电气机柜24下端面设有支脚25和滑轮26，便于对装置进行移动和定位固定，视像检测装置3和3d5s检测模组8内皆采用ccd高速工业相机，工作效率高。

本实用新型的工作原理是：将半导体分立器件放置于高速送料模组2，高速送料模组2进行自动排序分离，输送至转塔取放吸嘴机构22工作位置下方；经过转塔吸嘴机构22提取器件，传送至视像检测装置3，通过ccd高速工业相机进行视像检查，判断器件在吸嘴上的方向及位置，为后工序处理收集数据；转塔吸嘴带器件传送至极性测试装置，极性测试装置13对吸嘴上的料件进行极性测试判断，确定其在吸嘴上的方向，记录信息数据；转塔吸嘴带器件传送至转向纠正装置4，转向纠正装置4根据前工序收集到的信息数据，对器件的方向位置纠正处理，使吸嘴上每一个器件方向位置一致；转塔吸嘴带器件传送至电性测试装置5，电性测试根据器件产品的测试要求，测试电性参数并收集记录信息数据；根据器件产品的性能与产能要求，可以进行单工位测试，或者多工位测试，方便客户测试配置拓展；转塔吸嘴带器件传送至定位修正装置6，定位纠正装置6将吸嘴上的器件进行重新定位修正，避免转塔吸嘴带的器件在传送过程中的位置偏离，确保位置的唯一性；转塔吸嘴带器件传送至打标副盘模组7，打标副盘模组7的转盘分为四工位或者八工位，每工位设计有带料的定位导模，在副盘的工位上布置有激光打标机，以及打标印字视觉检测装置，当吸嘴将器件放入打标副盘定位导模中，再从下一定位导模中，提取经打标副盘激光打标和打标视觉检测的器件；转塔吸嘴带器件传送至3d5s视觉检测装置8，通过ccd高速工业相机对吸嘴上带的器件进行5面的外观检测，记录信息数据；转塔吸嘴带器件传送至集中分料装置9，集中分料装置9是系统根据前工序收集到的电性参数与视觉外观检测信息，将吸嘴上的料件进行集中分档分类处理；转塔吸嘴带器件传送至编带封装模组10，吸嘴将器件放入编带载带中，经封装视觉检测后，与盖带一起进行热压封装，按照一定的数量进行卷盘收集即成品输出；转塔吸嘴运行至清料回收装置15，清料回收装置15功能是当设备中途停机或设备复位时，将转塔吸嘴上所带的器件进行清理回收避免混料。

尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。