技术特征：
1.一种半导体器件自动筛选装置，用以筛选半导体器件，其特征在于：所述半导体器件自动筛选装置包括依次连接的用以传送半导体器件的物料送料模块、用以对半导体器件进行参数性能检测的物料检测模块、用以将检测的参数性能与预设参数比较的判断分拣模块、用以将不同的检测结果的半导体器件喷涂不同颜色的分档喷涂模块、用以将不同颜色的半导体器件进行裁切分类的裁切落料模块。2.根据权利要求1所述的半导体器件自动筛选装置，其特征在于：所述半导体器件自动筛选装置还包括连接在所述裁切落料模块和所述物料检测模块之间的二次分拣送料模块。3.根据权利要求1所述的半导体器件自动筛选装置，其特征在于：所述物料送料模块包括带形压轮送料机构和凸轮齿条形散装件送料机构。4.根据权利要求1所述的半导体器件自动筛选装置，其特征在于：所述物料检测模块包括晶体管图示仪、示波器、电阻率测试仪、二极管参数测试仪、电容测试仪、电感测试仪、lcr数字电桥、二极管反向恢复时间测试仪、漏电流测试仪其中的一种或者多种。5.根据权利要求1所述的半导体器件自动筛选装置，其特征在于：所述判断分拣模块包括图形识别模块、数据处理模块、信号处理模块。6.一种如权利要求1-5任意一项所述的半导体器件自动筛选装置的使用方法，其特征在于：所述半导体器件自动筛选装置还包括连接在所述裁切落料模块和所述物料检测模块之间的二次分拣送料模块，半导体器件自动筛选装置的使用方法包括如下步骤：s1：将半导体器件放置在物料送料模块上，所述物料送料模块将半导体器件传送至物料检测模块；s2：所述物料检测模块对半导体器件的性能进行检测，所述判断分拣模块对检测结果与预设参数进行比较，若是设置多个预设范围，则在判断分拣模块对检测结果与预设参数进行比较后，用二次分拣送料模块将半导体器件送回判断分拣模块进行二次分拣，所述分档喷涂模块根据比较结果的不同给半导体器件喷涂不同的颜色；s3：所述裁切落料模块将不同颜色的半导体器件裁切入不同的料盒。7.根据权利要求6所述的半导体器件自动筛选装置的使用方法，其特征在于：步骤s2包括步骤s21：所述物料检测模块对半导体器件的第一参数和第二参数进行检测，所述判断分拣模块对检测结果与预设参数进行比较，若检测结果落入在预设范围内，则判断合格，若检测结果未落入在预设范围内，则判断不合格，并利用裁切落料模块将相应的半导体器件裁切入不合格料盒。8.根据权利要求7所述的半导体器件自动筛选装置的使用方法，其特征在于：步骤s2还包括在步骤s21后的步骤s22：所述物料检测模块对半导体器件的第三参数进行检测，所述判断分拣模块内针对第三参数预设三一范围和三二范围，所述判断分拣模块对检测结果与预设参数进行比较，当检测结果落入三一范围内，则所述分档喷涂模块根据给半导体器件喷涂第一颜色，当检测结果落入三二范围内，则所述分档喷涂模块根据给半导体器件喷涂第二颜色，当检测结果未落入三一范围和三二范围内，则判断不合格，并利用裁切落料模块将相应的半导体器件裁切入不合格料盒。9.根据权利要求8所述的半导体器件自动筛选装置的使用方法，其特征在于：步骤s2还包括在步骤s22后的步骤s23：所述物料检测模块对半导体器件的第四参数进行检测，所述判断分拣模块内针对第四参数预设四一范围、四二范围和四三范围，所述判断分拣模块对检
测结果与预设参数进行比较，当检测结果落入四一范围内，则所述分档喷涂模块根据给半导体器件喷涂第三颜色，当检测结果落入四二范围内，则所述分档喷涂模块根据给半导体器件喷涂第四颜色，当检测结果落入四三范围内，则所述分档喷涂模块根据给半导体器件喷涂第五颜色，当检测结果未落入四一范围、四二范围或四三范围内，则判断不合格，并利用裁切落料模块将相应的半导体器件裁切入不合格料盒。
技术总结
本发明提供了一种半导体器件自动筛选装置，用以筛选半导体器件，所述半导体器件自动筛选装置包括依次连接的用以传送半导体器件的物料送料模块、用以对半导体器件进行参数性能检测的物料检测模块、用以将检测的参数性能与预设参数比较的判断分拣模块、用以将不同的检测结果的半导体器件喷涂不同颜色的分档喷涂模块、用以将不同颜色的半导体器件进行裁切分类的裁切落料模块。本发明的半导体器件自动筛选装置可以实现对半导体器件的自动检测、分拣，检测速度快、效率高、正确率高、最主要是在提升了生产效率的同时解放了人力，降低了人力成本。成本。成本。
技术研发人员：陆洁平 肖珺 钱云 査军 陈海
受保护的技术使用者：中广核达胜加速器技术有限公司
技术研发日：2021.11.05
技术公布日：2022/3/3