1.一种数显三轴测斜仪校验台，其特征在于：由下向上依次包括有底座（1）、固定底板（2）、下固定盘（3）、下齿轮盘（4）、支架（14）、第一井斜支架（21）、第二井斜支架（22）、双轴校验装置、第一光栅数显测量机构和第二光栅数显测量机构；所述的底座（1）设置有三个，固定底板（2）上设置有三个120°均布的螺纹孔，三个底座（1）通过螺纹孔与固定底板（2）固定连接，所述的下固定盘（3）通过固定螺钉反向固定在固定底板（2）上，下齿轮盘（4）设置在下固定盘（3）上，且下齿轮盘（4）、下固定盘（3）和固定底板(2)的中间均设置有过孔，且为同心设置；
所述的过孔中固定设置有第一光栅数显测量机构(6)和光栅轴(5)，所述的光栅轴(5)与光栅数显机构(6)滑动配合；所述固定底板(2)上还设置有与下齿轮盘(4)通过齿轮之间的咬合连接的传动齿轮(8)，所述的传动齿轮(8)上设置有涡轮(7)，二者通过涡轮固定轴(9)相连接，涡轮固定轴(9)通过涡轮总成(10)固定在固定底板(2)上；涡轮(7)的一侧还设置有与其齿合的蜗杆(11)，所述的蜗杆(11)通过蜗杆总成(12)固定在固定底板(2)上，且蜗杆(11)的端部还设置有把手；所述的第二光栅数显测量机构(26)通过挠性联轴器(27)固定设置在连接块(16)的第一半轴端部；
所述的双轴校验装置通过第一、第二井斜支架固定在两个支架(14)上，所述的校验装置包括有连接块(16)、工具筒(15)、工具游标尺(20)和工具面盘(19)；所述的连接块(16)为筒式部件，筒式部件中间部分通过两个半轴均匀对称的固定在第一、第二井斜支架之间；所述的工具筒(15)穿过连接块(16)设置，所述的连接块(16)上靠近工具筒（15)的两端分别设置有一个轴承(17)，所述的两个轴承(17)分别通过一个压板与连接块(16)相固定；
所述工具筒(15)外环固定设置有工具面盘(19)，工具面盘(19)上固定设置工具游标尺(20)，工具游标尺(20)的刻线工具面盘(19)刻线对齐。
2.根据权利要求1所述的数显三轴测斜仪校验台，其特征在于：井斜支架上还设置有微调装置，所述的微调装置包括连接杆(28)，所述连接杆(28)一端套设在连接块第一半轴的端部，另一端与滑块(31)通过销钉轴(30)相连接；所述的滑块(31)设置在水平放置的调整丝杆(32)上，所述的滑块(31)上设置有丝孔通孔，丝孔通孔的内螺纹与调整丝杆(32)上的外螺纹相配合。
3.根据权利要求2所述的数显三轴测斜仪校验台，其特征在于：还包括有锁紧结构(29)，所述的锁紧结构(29)设置在连接杆(28)上，用于限定连接杆(28)与连接块第一半轴的传动。
4.根据权利要求3所述的数显三轴测斜仪校验台，其特征在于：所述的光栅数显测量机构包括光栅编码器和光栅解码器；所述的光栅编码器由码盘、光源、光敏电阻、计数器、数据处理电路组成，所述的光敏电阻输出端连接输出处理电路的输入端，数据处理电路的输出端连接计数器、显示器的输入端。
5.根据权利要求4所述的数显三轴测斜仪校验台，其特征在于：第一井斜支架上还设置有用于固定井斜游标尺(25)的内孔，井斜盘固定设置在连接块(16)上第二半轴的端部，且井斜盘零刻线朝上，并用锁紧压帽(24)锁紧；所述的井斜盘与井斜游标尺(25)紧贴滑动设置。
6.根据权利要求5所述的数显三轴测斜仪校验台，其特征在于：所述的下齿轮盘(4)圆周360°均分360个刻线。
7.根据权利要求6所述的数显三轴测斜仪校验台，其特征在于：还设置有方位游标尺(13)，所述的方位游标尺(13)固定在固定底板(2)上，且方位标尺(13)和下齿轮盘(4)刻线相对齐；所述方位游标尺(13)在斜面上向心19°均分20个刻线。
8.根据权利要求7所述的数显三轴测斜仪校验台，其特征在于：所述井斜游标尺(25)是零线两侧59°向心均布60条刻线，保证井斜精度为1′。
9.根据权利要求8所述的数显三轴测斜仪校验台，其特征在于：所述的支架(14)有两个，两个支架(14)通过八个螺钉固定在下齿轮盘(4)上。
10.根据权利要求9所述的数显三轴测斜仪校验台，其特征在于：所述的轴承(17)为高精度陶瓷轴承。