专利名称：晶体定位检测仪的固定平台的制作方法
技术领域：
晶体定位检测仪的固定平台技术领域[0001]本实用新型涉及一种固定平台，尤其是晶体定位检测仪的固定平台。
背景技术：
[0002]晶体材料，尤其是应用于固体激光器的晶体材料，其晶质量的优劣，直接影响激光 器的输出能量大小。导致晶体材料质量的优劣原因很多，所以该产品都要经过严格的定位 检测。而传统上使用的定位检侧仪其功率较大，在工作过程中震动的幅度较大，以至于检测 过程中容易发生检测偏差，同时设备也减少了设备寿命。实用新型内容[0003]本实用新型要解决的技术问题是提供一种晶体定位检测仪的固定平台，减小了检 测仪的震动幅度，提闻了检测精度。[0004]本实用新型是通过以下技术方案来实现的。[0005]一种晶体定位检测仪的固定平台，包括两个子固定台，上述两个子固定台并排设 置，并且之间具有宽3 10mm的缝隙，晶体定位检测仪分别固定在上述两个子固定台上表面。[0006]进一步地，上述两个子固定台之间的缝隙宽度为5mm。[0007]本实用新型的有益效果在于，通过这种设置，减小了检测过程中检测仪的震动幅 度，提高了检测精度，同时也减轻了设备的损耗，延长了设备的使用寿命。
[0008]图1为本实用新型晶体定位检测仪的固定平台的结构示意图。
具体实施方式
[0009]下面根据附图和实施例对本实用新型作进一步详细说明。[0010]图1为本实用新型晶体定位检测仪的固定平台的结构示意图，参照图1，本实用新 型，晶体定位检测仪的固定平台，包括两个子固定台1，上述两个子固定台I并排设置，并且 两个子固定台I之间具有宽3 10mm的缝隙10，晶体定位检测仪2分别固定在上述两个子固 定台I上表面。[0011]进一步地，上述两个子固定台I之间的缝隙10宽度为5mm。[0012]本实用新型，晶体定位检测仪的固定平台，通过这种设置，减小了检测过程中检测 仪的震动幅度，提高了检测精度，同时也减轻了设备的损耗，延长了设备的使用寿命。[0013]上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此领域技 术的人士能够了解本实用新型内容并加以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。 凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围 内。
权利要求1.一种晶体定位检测仪的固定平台，其特征在于，包括两个子固定台，所述两个子固定台并排设置，并且之间具有宽3 10mm的缝隙，晶体定位检测仪分别固定在所述两个子固定台上表面。
2.根据权利要求1所述的晶体定位检测仪的固定平台，其特征在于，所述两个子固定台之间的缝隙宽度为5mm。
专利摘要本实用新型公开了一种晶体定位检测仪的固定平台，包括两个子固定台，上述两个子固定台并排设置，并且之间具有宽3~10mm的缝隙，晶体定位检测仪分别固定在上述两个子固定台上表面。本实用新型的有益效果在于，通过这种设置，减小了检测过程中检测仪的震动幅度，提高了检测精度，同时也减轻了设备的损耗，延长了设备的使用寿命。
文档编号F16M11/00GK202834598SQ20122042147
公开日2013年3月27日 申请日期2012年8月23日 优先权日2012年8月23日
发明者万文, 万黎明 申请人:巢湖市环宇光学技术有限公司