专利名称：一种土壤粗糙度的测量方法
技术领域：
本发明涉及一种土壤质量测定方法，尤其是涉及一种土壤粗糙度的测量方法。
为实现上述目的，本发明包括以下的步骤1)在目标土地内随机取样，随机固定两点，两点间距离为L；2)在固定两点所在的直线上，用无弹性软绳紧贴土壤的粗糙面放平，获取两点间软绳拉直的距离L′；3)依次类推测定每个样方；4)根据测得的数据得出每个样方的土壤粗糙度Ci＝Li′/L(i＝1、2、3…n)，再得出整片目标土地的土壤粗糙度C=Σi=1nCi/n]]>。
本发明测量土壤粗糙度简便实用，能满足农业生产和土壤侵蚀管理需要。
权利要求
1.一种土壤粗糙度的测量方法，其特征在于包括以下的步骤1)在目标土地内随机取样，随机固定两点，两点间距离为L；2)在固定两点所在的直线上，用无弹性软绳紧贴土壤的粗糙面放平，获取两点间软绳拉直的距离L′；3)依次类推测定每个样方；4)根据测得的数据得出每个样方的土壤粗糙度Ci＝Li′/L(i＝1、2、3…n)，再得出整片目标土地的土壤粗糙度C=Σi=1nCi/n]]>。
全文摘要
本发明公开了一种土壤粗糙度的测量方法，包括以下的步骤1)在目标土地内随机取样，随机固定两点，两点间距离为L；2)在固定两点所在的直线上，用无弹性软绳紧贴土壤的粗糙面放平，获取两点间软绳拉直的距离L′；3)依次类推测定每个样方；4)根据测得的数据得出每个样方的土壤粗糙度Ci＝Li′/L(i＝1、2、3…n)，再得出整片目标土地的土壤粗糙度见上式。本发明测量土壤粗糙度简便实用，能满足农业生产和土壤侵蚀管理需要。
文档编号G01N33/24GK1447116SQ0311415
公开日2003年10月8日 申请日期2003年4月8日 优先权日2003年4月8日
发明者吴志峰, 刘平, 朱立安 申请人:吴志峰