专利名称：表面粗糙度测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种表面粗糙度测量装置。
背景技术：
以“表面粗糙度”取代“表面光洁度”，是二十世纪八十年代我国制定和颁布的对机械零件加工精度进行衡量的一个新标准。现有表面粗糙度的测量方法包括有比较法、针描法、光切法、干涉法和印模法等多种，主要是使用样板、电动轮廓仪、光切显微镜、干涉显微镜等多种工具和计量仪器。除样板比较法外，其他各种测量方法都需在计量室内由专业人员进行测量操作，这很不利于工件加工过程中的现场实时检测和操作。将“表面光洁度”由“表面粗糙度”所取代的主要目的就是要取消以级别评定来确定指标的“样板比较法”，以避免用人眼观察确定工件加工精度所引发的争议和计量误差。但多年来，因生产和检验现场缺少一种能直观、便捷地测量出加工工件表面粗糙度具体数值的测量装置和检测手段，因此现在还只能留用在原来的样板评定方式，即还是表面光洁度的检验。当有争议发生时，再通过计量部门的专业计量来判定表面粗糙度的具体数值。这就给实际工作带来诸多不便。
实用新型内容本实用新型的目的就是提供一种可在生产和检验现场使用的表面粗糙度测量仪，以使“表面粗糙度”的计量简单化、科学化、数值化，使国家制定的相关标准能够真正付诸实施。
本实用新型是这样实现的表面粗糙度测量仪是在中央处理器上外接存储器、显示器、控制键盘和光控电路，光纤传感器接光控电路和中央处理器。当光纤传感器的探头在被测工件上移动时，光纤传感器输出的电压信号会随着工件表面的细微凹凸变化而改变，由此确定出工件的表面状态，并以对应的电压变化信号输入中央处理器，并通过预先存入的检测计量程序，计算出“轮廓算术平均偏差”等一组相关数据，同时在显示器上显示出来。此即该被测工件的表面粗糙度。通过控制键盘键入指令，可存储批次被测工件相关的计量数据，并可在事后集中调出数据进行分析，或与计算机联机，打印输出批次的检测数据，作为测评依据或存档。
本实用新型结构简单、便于携带、操作直观方便，可在加工现场对工件进行单个或批次的检测计量。实现了表面粗糙度检测的数据化、简单化和科学化，保证了国家标准的真正付注实施。
图1是本实用新型的结构示意图。
图2是本实用新型的外观结构示意图。
具体实施方式
如图1、2所示，本测量仪是在中央处理器上外接存储器、显示器、控制键盘和光控电路，光纤传感器接光控电路和中央处理器。中央处理器可选用51系列的单片机与外围电路连接组成，存储器用以存储检测计量程序和检测数据，显示器和控制键盘为人机对话接口，光控电路可采用现有常规的电路方式构成，并且在光控电路中还应按常规设置一个可调节光纤传感器光源强度的光强旋钮，以在各种外部环境条件下，通过调节光源强度，保证光纤传感器的稳定可靠的工作，保证本仪器检测数据的准确，由此可实现本测量仪的全天候计量使用。光纤传感器选用定型市售产品即可。
图2中，本计量仪可集中制作安装在一个小巧的机壳1内，在机壳表面有显示器窗口2和控制键盘4，光强旋钮3在机壳表面下角。光纤传感器6经光缆5与机壳1内的中央处理器的I/O接口以及光控电路相连接，通过光控电路给出光纤传感器里的光照，检测变换后的电压信号输入中央处理器进行计量计算。
权利要求1.一种表面粗糙度测量仪，其特征在于该装置是在中央处理器上外接存储器、显示器、控制键盘和光控电路，光纤传感器接光控电路和中央处理器。
2.根据权利要求1所述的表面粗糙度测量仪，其特征在于所述光控电路中设有可调节光源强度的光强旋钮。
专利摘要本实用新型是一种表面粗糙度测量仪，其结构是在中央处理器上外接存储器、显示器、控制键盘和光控电路，光纤传感器接光控电路和中央处理器。本实用新型通过控制键盘键入指令，可存储单个或批次被测工件相关的计量数据，并可在事后集中调出数据进行分析，或与计算机联机，打印输出批次的检测数据，作为测评依据或存档。本实用新型结构简单、便于携带、操作直观方便，可在加工现场对工件进行单个或批次的检测计量。实现了表面粗糙度检测的数据化、简单化和科学化，保证了国家标准的真正付注实施。
文档编号G01B11/30GK2689168SQ20032012925
公开日2005年3月30日 申请日期2003年12月29日 优先权日2003年12月29日
发明者石岩, 雷彬, 石敬谊, 雷亮 申请人:石岩