专利名称：电路板测试治具的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种电路板测试治具，特别是涉及一种将待测卡连结于主机板以及测试埠的电路板测试治具。
背景技术：
随着科技的日新月异以及人们对于资讯需求的渴望，电脑已成为现代人生活中不可或缺的配备，而电脑的使用率以及拥有率的增加，促使电脑制造工业成为国际性的明星产业，同时由于产业的竞争性提高，电脑制造商无不花费心思研发更具有竞争力的产品，以满足消费者对于电脑高品质以及多功能的需求。
电脑内部的组成元件繁多，请参阅图1所示。是一现有习知主机板的结构立体示意图，其中的主机板10可谓是电脑主机中最重要的零组件，其是为一块安装复数个电子元件的印刷电路板(PCB)，设有多种形式的插槽11可供各种IC元件以及介面卡插入，通常，电脑制造商在电脑出货前必须对主机板10上所设置的各元件做测试，确保其功能正常以监控产品的良率。
现有习知的测试方式，请参阅图2所示，以下以测试一显示卡20为例进行说明，首先是以人工将显示卡20上的一接头21沿箭头方向插入设置于主机板10上相对应的插槽11(例如AGP插槽)中，之后再以手将测试埠40(例如DVI连接头)，插入显示卡20上相对应的连接器22，以进行显示卡20的功能测试，然而，为了对不同功能进行测试评估，常需插拔不同的测试埠40(例如TV或是CRT连接头)来进行测试，由于手工的插拔动作常导致显示卡20的晃动，因而使得电路讯号发生断讯或是输出不良，进而甚至造成主机板10烧板的可能，再者，此反复地插拔测试埠40的过程，对于测试人员来说过程亦甚为繁复。
由此可见，上述现有的电路板测试方式在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决电路板测试方式存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。
因此，为了解决上述的问题，如何提供一种更为简易便利的电路板测试治具，方便测试人员变更转换测试的元件而不致于导致主机板烧板的情形，实为当前电脑配备制造商的重要课题之一。
有鉴于上述现有的电路板测试方式存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的电路板测试治具，能够改进一般现有的电路板测试方式，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
本发明的主要目的在于，克服现有的电路板测试方式存在的缺陷，而提供一种将待测卡连结于主机板以及测试埠且方便操作者变更转换测试元件的电路板测试治具。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种电路板测试治具，包括一基座；一第一连接部，其是连结于该基座；一承载件，其是承载一待测卡，该待测卡具有一第二连接部与一第三连接部，该承载件是连结于该基座；一滑动件，其具有一第四连接部，该滑动件是连结于该基座；以及一控制组件，其是驱动该承载件与该滑动件移动，以使该第一连接部与该第二连接部相连接，且该第三连接部与该第四连接部相连接。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的电路板测试治具，其更包括一第一滑动组件以及一第二滑动组件，其中该第一滑动组件是连接该基座与该承载件，而该第二滑动组件是连接该基座与该滑动件。
前述的电路板测试治具，其中所述的控制组件是具有一第一连杆、一第二连杆、一第一枢轴与一第二枢轴，该第一连杆更具有一第一枢接部、一第二枢接部以及一导引部，该第二连杆更具有一第三枢接部与一第四枢接部，该第一连杆的第一枢接部枢设于该基座，该第一枢轴是枢接该第一连杆的第二枢接部与该第二连杆的第三枢接部，该第二枢轴是枢接该第二连杆的第四枢接部与该滑动件。
前述的电路板测试治具，其中所述的承载件面对该基座的一表面具有一凹槽，该第一连杆的导引部是扣接于该凹槽。
前述的电路板测试治具，其中当推动该第一连杆至一第一位置时，该第一连杆的导引部沿着该承载件的凹槽滑动，且带动该承载件往一第一方向移动，以使该第一连接部与该第二连接部相连接。
前述的电路板测试治具，其中当推动该第一连杆至一第二位置时，该第一连杆带动该第二连杆，该第二连杆带动该滑动件，使该滑动件往一第二方向移动，而使该第三连接部与该第四连接部相连接。
前述的电路板测试治具，其中所述的待测卡是为一显示卡。
前述的电路板测试治具，其中所述的电路板测试治具的机构材质是为抗静电材质。
前述的电路板测试治具，其更包括一固定件，其设于该承载件上，固定该待测卡。
本发明的目的及解决其技术问题还采用以下的技术方案来实现。依据本发明提出的一种电路板测试治具，其包括一基座，一第一电路板是固定于该基座，该第一电路板具有一第一连接部；一承载件，其是承载一第二电路板，该第二电路板具有一第二连接部与一第三连接部，该承载件是连结于该基座；一滑动件，其具有一第四连接部，该滑动件是连结于该基座；以及一控制组件，其是驱动该承载件与该滑动件移动，以使该第一连接部与该第二连接部相连接，且该第三连接部与该第四连接部相连接。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上技术方案可知，为了达到上述发明目的，本发明的主要技术内容如下本发明提供一种电路板测试治具，其包括一基座、一第一连接部、一承载件、一滑动件以及一控制组件。其中，第一连接部是连结于基座；承载件是承载一待测卡，待测卡具有一第二连接部与一第三连接部，且承载件是连结于基座；滑动件是具有一第四连接部，且滑动件是连结于基座；控制组件是驱动承载件与滑动件移动，以使第一连接部与第二连接部相连接，且使第三连接部与第四连接部相连接。
又，为达到上述目的，本发明还提供另一种电路板测试治具，其包括一基座、一承载件、一滑动件以及一控制组件。其中，基座上固定一第一电路板，且第一电路板具有一第一连接部；承载件承载一第二电路板，第二电路板具有一第二连接部与一第三连接部，且承载件是连结于基座；滑动件具有一第四连接部，滑动件是连结于基座；以及控制组件是驱动承载件与滑动件移动，以使第一连接部与第二连接部相连接，且第三连接部与第四连接部相连接。
借由上述技术方案，本发明电路板测试治具至少具有下列优点因依本发明的电路板测试治具，是利用一简易的机械结构让测试人员将待测卡与主机板以及测试埠连结，以进行功能测试工作。与现有习知技术相比，由于机械的结构使得测试人员可简易地将待测卡连接于主机板上或是连结于模拟测试模组的第一连接部，同时该电路板测试治具并可将滑动件连结于待测卡的相对连接器，而连结件是提供一更换不同测试埠的介面，因此，当为测试不同的功能而需转换变更不同的测试埠时，将不致产生因晃动待测卡而导致短路或是烧板的情形，进而可以提升产品的良率以及减低测试人员的劳动力。
综上所述，本发明提供了一种将待测卡连结于主机板以及测试埠且方便操作者变更转换测试元件的电路板测试治具，其包括一基座、一第一连接部、一承载件、一滑动件以及一控制组件。其中，第一连接部是连结于基座；承载件是承载一待测卡，待测卡具有一第二连接部与一第三连接部，且承载件是连结于基座；滑动件是具有一第四连接部，且滑动件是连结于基座；控制组件是驱动承载件与滑动件移动，使第一连接部与第二连接部相连接，且使第三连接部与第四连接部相连接。其具有上述诸多优点及实用价值，并在同类产品中未见有类似的结构设计公开发表或使用而确属创新，其不论在结构上或功能上皆有较大的改进，在技术上有较大的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的电路板测试方式具有增进的多项功效，从而更加适于实用，而具有产业的广泛利用价值，诚为一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
图1是一现有习知主机板的结构立体示意图。
图2是一现有习知测试显示卡功能的方式的立体示意图。
图3是一依本发明较佳实施例的电路板测试治具的结构立体示意图。
图4是一依本发明较佳实施例的电路板测试治具与待测卡的分解立体示意图。
图5是一依本发明较佳实施例的电路板测试治具的部分分解立体示意图。
图6是一依本发明较佳实施例的电路板测试治具测试卡与第一电路板连结的作动示意图。
图7是一依本发明较佳实施例的电路板测试治具测试卡与滑动件连结的作动示意图。
10主机板 11插槽20显示卡 21接头22连接器 3电路板测试治具30基座31第一连接部承载件321凹槽 33滑动件331第四连接部 34控制组件341第一连杆 3411第一枢接部3412第二枢接部3413导引部342第二连杆 3421第三枢接部
3422第四枢接部343第一枢轴344第二枢轴 35待测卡35’第二电路板351第二连接部352第三连接部 36固定件37第一滑动组件38第二滑动组件39第一电路板 4模拟测试模组40测试埠 41转接器S0起始位置S1第一位置S2第二位置D1第一方向D2第二方向具体实施方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的电路板测试治具其具体实施方式
、结构、特征及其功效，详细说明如后。
以下说明依本发明较佳实施例的电路板测试治具，其中相同的元件将以相同的符号加以说明。
请参阅图3所示，依本发明较佳实施例的一种电路板测试治具3，其包括一基座30、一第一连接部31、一承载件32、一滑动件33以及一控制组件34。
在本实施例中，第一连接部31是连结于基座30；承载件32亦是连结于基座30，且其用以承载一待测卡35，待测卡35是具有一第二连接部351与一第三连接部352；滑动件33是连结于基座30，且其具有一第四连接部331；控制组件34则是连结承载件32与滑动件33，其中，第一连接部31是与模拟测试模组4相连结，而上述的待测卡35可以为一显示卡，且电路板测试治具3的机构材质是可以为抗静电材质来构成。
又，依本发明较佳实施例的一种电路板测试治具3其更包括一固定件36，其是设置于承载件32上，用以固定待测卡35，防止待测卡35在承载件32上移动。
请再参阅图4所示，该电路板测试治具3，其更包括一第一滑动组件37与一第二滑动组件38，该第一滑动组件37与第二滑动组件38是设置于基座30上，其中，承载件32是以第一滑动组件37滑设于基座30，而滑动件33则以第二滑动组件38滑设于基座30。
在本实施例中，控制组件34具有一第一连杆341、一第二连杆342、一第一枢轴343与一第二枢轴344，而该第一连杆341更具有一第一枢接部3411、一第二枢接部3412以及一导引部3413，该第二连杆342更具有一第三枢接部3421与一第四枢接部3422。再此，第一连杆341的第一枢接部3411是枢设于基座30上，第一枢轴343是枢接第一连杆341的第二枢接部3412与第二连杆342的第三枢接部3421，且第二枢轴344是枢接第二连杆342的第四枢接部3422与滑动件33，利用此一设计将控制组件34与滑动件33相互连结。
又，请参阅图5所示，承载件32面对基座30的一表面上是具有一凹槽321，而第一连杆341则藉由导引部3413扣接于凹槽321，利用导引部3413以及凹槽321的相对位置的改变，以利用控制组件34控制承载件32的作动。
另外，依本发明另一较佳实施例的一种电路板测试治具3，其包括一基座30、一承载件32、一滑动件33以及一控制组件34，在此为方便了解本发明另一较佳实施例的一种电路板测试治具，以下是以相同的电路板测试治具标号表示。
请参阅图6所示，在本实施例中，由于组件结构与设置连结方式皆如前述的电路板测试治具3，故此不再赘述。
唯，其不同之处在于，一第一电路板39是固定于基座30上，且第一电路板39具有一第一连接部31，承载件32是承载一第二电路板35’，其中，该第二电路板35’是为前述实施例所述的待测卡35，且如前所述，在此的第二电路板35’可为一显示卡，第一电路板39可为一主机板，另外，电路板测试治具3的机构材质是可为抗静电材质来构成。
又，为使本发明的内容更容易理解，以下将举一实例，以说明依本发明较佳实施例的电路板测试治具3的实施方法的流程。
首先，请参阅图4与图6所示，操作者先将第二电路板35’放置于承载件32上，且以固定件36固定第二电路板35’，由于控制组件34是与承载件32与滑动件33连结，且承载件32与滑动件33是分别以第一滑动组件37与第二滑动组件38连结于基座30之上，因此，当施一外力推动控制组件34的第一连杆341由一起始位置S0至一第一位置S1时，第一连杆341的导引部3413沿着承载件32的凹槽321滑动，而驱动承载件32往一第一方向D1移动，以使第二电路板35’的第二连接部351与第一连接部31相连接。接着，如图4与图7所示，当推动控制组件34的第一连杆341至一第二位置S2时，第一连杆341将带动第二连杆342，且第二连杆342带动滑动件33，而使滑动件33往一第二方向D2移动，以使第二电路板35’的第三连接部352与第四连接部331相连接。
综合上述，第一连接部31是可以为一插槽，该插槽是连结于模拟测试模组4(如图3所示)，另外，第一连接部31亦可以为第一电路板39上的插槽，此时该第一电路板39是承载于基座30上(如图6所示)，该些插槽是分别相对待测卡35与第二电路板35’的接头而设置。又，上述的待测卡35以及第二电路板35’可以为一显示卡，且第一电路板39可以为一主机板。
由此，当待测卡35或第二电路板35’的第二连接部351以及第三连接部352分别与第一连接部31以及滑动件33的第四连接部331相连接后，测试人员即可视不同测试需求，以滑动件33为更换测试埠的介面来进行测试埠的转换。在本实施例中，滑动件33上的第四连接部331亦可以为一转接器41，以提供更换测试埠的介面，测试人员即可在不造成待测卡35或第二电路板35’晃动的情况下在外部更换不同的测试埠，来进行不同的功能测试。
因此，在此一提，本发明的电路板测试治具3是一种用于测试电路板性能的测试治具，在此所指的电路板是泛指具有电路布线的基板，如本实施例的显示卡以及主机板等。
综上所述，由于本发明较佳实施例的电路板测试治具是利用一简单的机械结构，提供测试人员一简单的操作步骤来达到待测卡连结于主机板以及测试埠的目的，以利进行产品功能测试，由于该电路板测试治具免除了测试人员需以人工将待测卡连结于主机板以及更换测试埠的步骤，因此可防止现有习知技术常发生的短路以及烧板的情形，进而可以提升产品的良率以及减低测试人员的劳动力。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
权利要求
1.一种电路板测试治具，其特征在于其包括一基座；一第一连接部，其是连结于该基座；一承载件，其是承载一待测卡，该待测卡具有一第二连接部与一第三连接部，该承载件是连结于该基座；一滑动件，其具有一第四连接部，该滑动件是连结于该基座；以及一控制组件，其是驱动该承载件与该滑动件移动，以使该第一连接部与该第二连接部相连接，且该第三连接部与该第四连接部相连接。
2.根据权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于其更包括一第一滑动组件与一第二滑动组件，其中该第一滑动组件是连接该基座与该承载件，而该第二滑动组件是连接该基座与该滑动件。
3.根据权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于其中所述的控制组件是具有一第一连杆、一第二连杆、一第一枢轴与一第二枢轴，该第一连杆更具有一第一枢接部、一第二枢接部以及一导引部，该第二连杆更具有一第三枢接部与一第四枢接部，该第一连杆的第一枢接部枢设于该基座，该第一枢轴是枢接该第一连杆的第二枢接部与该第二连杆的第三枢接部，该第二枢轴是枢接该第二连杆的第四枢接部与该滑动件。
4.根据权利要求3所述的电路板测试治具，其特征在于其中所述的承载件面对该基座的一表面具有一凹槽，该第一连杆的导引部是扣接于该凹槽。
5.根据权利要求4所述的电路板测试治具，其特征在于其中当推动该第一连杆至一第一位置时，该第一连杆的导引部沿着该承载件的凹槽滑动，且带动该承载件往一第一方向移动，以使该第一连接部与该第二连接部相连接。
6.根据权利要求3所述的电路板测试治具，其特征在于其中当推动该第一连杆至一第二位置时，该第一连杆带动该第二连杆，该第二连杆带动该滑动件，使该滑动件往一第二方向移动，而使该第三连接部与该第四连接部相连接。
7.根据权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于其中所述的待测卡是为一显示卡。
8.根据权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于其中所述的电路板测试治具的机构材质是为抗静电材质。
9.根据权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于其更包括一固定件，其设于该承载件上，固定该待测卡。
10.一种电路板测试治具，其特征在于其包括一基座，一第一电路板是固定于该基座，该第一电路板具有一第一连接部；一承载件，其是承载一第二电路板，该第二电路板具有一第二连接部与一第三连接部，该承载件是连结于该基座；一滑动件，其具有一第四连接部，该滑动件是连结于该基座；以及一控制组件，其是驱动该承载件与该滑动件移动，以使该第一连接部与该第二连接部相连接，且该第三连接部与该第四连接部相连接。
全文摘要
本发明是关于一种电路板测试治具，其包括一基座、一第一连接部、一承载件、一滑动件以及一控制组件。其中，第一连接部是连结于基座；承载件是承载一待测卡，待测卡具有一第二连接部与一第三连接部，且承载件是连结于基座；滑动件是具有一第四连接部，且滑动件是连结于基座；控制组件是驱动承载件与滑动件移动，使第一连接部与第二连接部相连接，且使第三连接部与第四连接部相连接。
文档编号G01R31/28GK1755374SQ200410080550
公开日2006年4月5日 申请日期2004年9月28日 优先权日2004年9月28日
发明者张智雅, 王忠平, 彭丽玲 申请人:华硕电脑股份有限公司