专利名称：显微硬度测量仪检测平台的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检测装置配件，尤其是涉及一种对显微硬度测量仪检测平台的结构改良。
背景技术：
显微硬度测量仪在检测待测件时是将待测件夹装在夹具上并放置在载物台上，以便检测。目前广泛使用的载物台结构复杂，操作时不甚方便。并且，由于表面硬度不高，较为粗糙，尺寸过小，使得夹具在其上滑动困难，在测量待测件时，特别是大型待测件时容易造成较大的误差，使其适用范围受到了很大的限制。此外，水平度的调整也存在较大的困难，无法根据使用状况随时进行调整，以便保证每一次测量的水平度都符合要求。安装调试以及拆卸也存在着较大的缺陷，使得装配及日常使用工序较为复杂。
发明内容
本实用新型主要是解决现有技术所存在的显微硬度测量仪在测量大型待测件时难于摆放，测量值容易产生偏差，待测件摆放水平度难以保证，导致测量精度不高，适用范围小等的技术问题；提供了一种结构简单，适用范围广，能够有效提高显微硬度测量仪检测精度的检测平台。
本实用新型还解决了现有技术所存在的检测平台的水平度难以调整，不易装配和拆卸等的技术问题；提供了一种便于安装调试和拆卸，易于调整水平度的显微硬度测量仪检测平台。
本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的显微硬度测量仪检测平台，包括载物平面，其特征是在所述的载物平面下方设有若干配接脚，所述的配接脚通过定位件与显微硬度测量仪的载物台相配接；所述载物平面的面积远大于所述载物台的面积。本实用新型配接在显微硬度测量仪的原载物台上，有效扩展了其适用范围，不仅能够检测小型的待测件，而且能够检测大型的待测件。由于大型待测件能够平稳地摆放，因此能够有效避免不必要的测量误差，提高检测精度。此外，通过调节配接件的松紧度，能够对水平度进行微调，进一步提高了检测精度。
为了提高水平度，作为优选，所述各配接脚的长度相等，在配接脚上设有通孔。
为了便于待测件的移动，防止定位件对待测件造成影响，作为优选，所述的通孔设有台阶，所述的定位件为沉头螺栓。
这里的载物平面的形状可以采用多种方案，例如多边形，椭圆形等，作为优选，所述的载物平面为一圆盘。所述的载物平面为多边形或矩形。
作为优选，所述载物平面的表面粗糙度Ra不大于0.4μm。；所述载物平面的表面硬度为650HV～900HV。
为了便于调整水平度，作为优选，所述的各配接脚均匀且对称地分布在载物平面上。
因此，本实用新型具有如下特点1、设计合理，结构简单，效果明显；2、便于摆放大型待测件，适用范围广，能够有效提高显微硬度测量仪检测的精度；3、便于安装调试和拆卸，易于调整水平度。
附图1是本实用新型的一种使用状态示意图；附图2是本实用新型的一种结构示意图。
具体实施方式
下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。
实施例显微硬度测量仪检测平台，包括载物平面1，在其下方设有四个配接脚2，所述的配接脚2通过定位件与显微硬度测量仪的载物台3相配接。各配接脚2的长度相等，均匀且对称地分布在载物平面1上；在配接脚2上设有通孔4。所述载物平面1的面积远大于所述载物台3的面积。所述的通孔4设有台阶5，所述的定位件为沉头螺栓。载物平面1为一圆盘。所述载物平面的表面粗糙度Ra为0.38μm；所述载物平面的表面硬度为800HV。这里的检测平台经过表面硬化处理，使其具有较高的耐磨性。
在使用时，通过沉头螺栓将载物平面1配接在载物台3上，并通过调节沉头螺栓的松紧度调节水平度。将待测件的夹具6放置在载物平面1上即可进行测量。
本文中所描述的具体实施例仅仅是对本实用新型精神作举例说明。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本实用新型的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。
尽管本文较多地使用了载物平面、配接脚、载物台、台阶等术语，但并不排除使用其它术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了更方便地描述和解释本实用新型的本质；把它们解释成任何一种附加的限制都是与本实用新型精神相违背的。
权利要求1.一种显微硬度测量仪检测平台，包括载物平面，其特征是在所述的载物平面(1)下方设有若干配接脚(2)，所述的配接脚(2)通过定位件与显微硬度测量仪的载物台(3)相配接；所述载物平面(1)的面积远大于所述载物台(3)的面积。
2.根据权利要求1所述的显微硬度测量仪检测平台，其特征是在所述各配接脚(2)的长度相等，在配接脚(2)上设有通孔(4)。
3.根据权利要求1或2所述的显微硬度测量仪检测平台，其特征是在所述的通孔(4)设有台阶(5)，所述的定位件为沉头螺栓。
4.根据权利要求1或2所述的显微硬度测量仪检测平台，其特征是在所述的载物平面(1)为一圆盘。
5.根据权利要求1或2所述的显微硬度测量仪检测平台，其特征是在所述的载物平面(1)为多边形或矩形。
6.根据权利要求1或2所述的显微硬度测量仪检测平台，其特征是在所述载物平面(1)的表面粗糙度Ra不大于0.4μm
7.根据权利要求3所述的显微硬度测量仪检测平台，其特征是在所述载物平面(1)的表面粗糙度Ra不大于0.4μm。
8.根据权利要求1或2所述的显微硬度测量仪检测平台，其特征是在所述载物平面(1)的表面硬度为650HV～900HV。
9.根据权利要求3所述的显微硬度测量仪检测平台，其特征是在所述载物平面(1)的表面硬度为650HV～900HV。
10.根据权利要求1或2所述的显微硬度测量仪检测平台，其特征是在所述的各配接脚(2)均匀且对称地分布在载物平面(1)上。
专利摘要本实用新型涉及一种对显微硬度测量仪检测平台的结构改良。包括载物平面，其特征是在所述的载物平面下方设有若干配接脚，所述的配接脚通过定位件与显微硬度测量仪的载物台相配接；所述载物平面的面积远大于所述载物台的面积。因此，本实用新型具有如下特点1.设计合理，结构简单，效果明显；2.便于摆放大型待测件，适用范围广，能够有效提高显微硬度测量仪检测的精度；3.便于安装调试和拆卸，易于调整水平度。
文档编号G01N3/02GK2788172SQ20052010171
公开日2006年6月14日 申请日期2005年4月19日 优先权日2005年4月19日
发明者吴成卫, 王晓华 申请人:万向钱潮股份有限公司