一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于平整度测量技术领域，特别涉及一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪。
【背景技术】
[0002]随着我国科学技术的不断发展，机械工业的不断变革，对测量精度的要求也越来越高。平面的表面平整度在工业领域是一个常见且十分重要的一个测量项目，对于各类零件的定位，安装及检测等都有着广泛而重要的应用。平整度是加工或生产工业零件时表面不会绝对平整，所不平与绝对平整之间所差数据就是平整度，一般指晶片表面与基准平面之间的最高点和最低点的差值。目前的平整度测量仪比较庞大，精度高的测量仪比较昂贵，缺乏自动化、高测量精度的便携式平整度测量仪。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的是针对现有平整度测量仪存在的不足，提供一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪。
[0004]本实用新型的技术解决方案是:一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪，包括机械探针，步进电机，磁栅尺、底座，在所述底座的两端设有支架，支架的一端安装有步进电机，在支架的中间设置丝杠导轨，步进电机与丝杠导轨连接，在丝杠导轨上设置滑块;所述磁栅尺为开放式，包括磁条、磁头;所述磁栅尺安装在所述滑块的外表面，在所述滑块上设置固定架，所述探针直接与磁条固定在固定架上，所述磁头设置在滑块上，所述磁头与探针相嵌入口 ο
[0005]进一步地，所述磁条的输出端与微型PC机连接，所述探针的位移转化为所述磁条的位移，所述磁条位移转化为模拟量输出至微型PC机。
[0006]进一步地，所述探针包括探针内芯、探针外芯，在探针内芯的下部设有弹簧。
[0007]进一步地，所述探针内芯的上部安装支撑架，支撑架为倒“L”型，在“L”型的竖直边安装磁条。
[0008]进一步地，在所述磁条与所述探针内芯相平行。
[0009]进一步地，所述探针在固定架上的固定端利用弹簧保持探针始终与待测平面保持接触。
[0010]本实用新型技术方案是通过磁栅尺进行位移测量结合微型控制面板进行自动补偿的一种接触式测量装置，在满足精度的要求下有效缩小装置的尺寸，从而达到便携的目的。
[0011]本实用新型设计的平整度测量仪适用于检测中小型的金属平面，相对轻巧，便于携带至实验现场，将本平整度测量仪固定于待测平面上，滑块在步进电机的驱动下，带动探针沿着丝杠导轨来回做直线运动，垂直于工作表面的探针随着工作表面的不平轮廓产生垂直方向的位移，再通过磁栅尺将位移量转换成电量的变化输入微型PC机，微型PC机将在所有点测量完之后进行数据处理和分析，从而测出被测表面的表面平整度，通过液晶显示屏显示，从而实现对待测表面平整度的测量。
[0012]本实用新型平整度测量仪采用阿贝原则，即被测零件的尺寸线和仪器中作为读数用的基准线应顺序排成一条直线，只存在二次微小误差，所以精度较高。
[0013]本实用新型的有益效果是:相对轻巧，便于携带至实验现场，尤其对于很多不便于拆卸的平面平整度能够进行有效而便捷的测量;精度较高，无需人员读数或者其余高难度操作；自动化程度高，能够准确获得位置信息及该位置的平整度信息;符合经济原则，成本低，物美价廉。
【附图说明】
[0014]图1是一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪结构图。
[0015]图2是探针及磁条的装配图。
[0016]其中:1.步进电机;2.丝杠导轨;3.滑块;4.固定架;5.支架;6.底座;7.探针;8.磁条;9.磁头；10.待测平面；11.支撑架；12.探针内芯；13.探针外芯；14.弹
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【具体实施方式】
[0017]下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。
[0018]在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
[0019]—种基于磁栅尺的便携平整度测量仪，包括机械探针7，步进电机1，磁栅尺、底座6，在所述底座6的两端设有支架5，支架5的一端安装有步进电机1，在支架5的中间设置丝杠导轨2，步进电机1与丝杠导轨2连接，在丝杠导轨2上设置滑块3;所述磁栅尺为开放式，包括磁条8、磁头9;所述磁栅尺安装在所述滑块3的外表面，在所述滑块3上设置固定架4，所述探针7直接与磁条8固定在固定架4上，所述磁头9设置在滑块3上，所述磁头9与探针7相嵌合。
[0020]所述磁条8的输出端与微型PC机连接，所述探针7的位移转化为所述磁条8的位移，所述磁条8位移转化为模拟量输出至微型PC。
[0021 ]所述探针7包括探针内芯12、探针外芯13，在探针内芯12的下部设有弹簧14。
[0022]在所述探针内芯12的上部安装支撑架11，支撑架11为倒“L”型，在“L”型的竖直边安装磁条8。
[0023]在所述磁条8与所述探针内芯12相平行。
[0024]所述探针7在固定架4上的固定端利用弹簧14保持探针7始终与待测平面10保持接触。
[0025]尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本实用新型的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
【主权项】
1.一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪，包括机械探针(7)，步进电机(1)，磁栅尺、底座(6)，其特征是在所述底座(6)的两端设有支架(5)，支架(5)的一端安装有步进电机(1)，在支架(5)的中间设置丝杠导轨(2)，步进电机(1)与丝杠导轨(2)连接，在丝杠导轨(2)上设置滑块(3);所述磁栅尺为开放式，包括磁条(8)、磁头(9);所述磁栅尺安装在所述滑块(3)的外表面，在所述滑块(3)上设置固定架(4)，所述探针(7)直接与磁条(8)固定在固定架(4)上，所述磁头(9)设置在滑块(3)上，所述磁头(9)与探针(7)相嵌合。2.根据权利要求1所述的一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪，其特征是所述磁条(8)的输出端与微型PC机连接，所述探针(7)的位移转化为所述磁条(8)的位移，所述磁条(8)位移转化为模拟量输出至微型PC。3.根据权利要求1所述的一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪，其特征是所述探针(7)包括探针内芯(12)、探针外芯(13)，在探针内芯(12)的下部设有弹簧(14)。4.根据权利要求2所述的一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪，其特征是在所述探针内芯(12)的上部安装支撑架(11)，支撑架(11)为倒“L”型，在“L”型的竖直边安装磁条(8)。5.根据权利要求3所述的一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪，其特征是在所述磁条(8)与所述探针内芯(12)相平行。6.根据权利要求2所述的一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪，其特征是所述探针(7)在固定架(4)上的固定端利用弹簧(14)保持探针(7)始终与待测平面(10)保持接触。
【专利摘要】本实用新型涉及一种基于磁栅尺的便携平整度测量仪。包括机械探针7，步进电机1，磁栅尺、底座6，在所述底座6的两端设有支架5，支架5的一端安装有步进电机1，在支架5的中间设置丝杠导轨2，步进电机1与丝杠导轨2连接，在丝杠导轨2上设置滑块3；所述磁栅尺为开放式，包括磁条8、磁头9；所述磁栅尺安装在所述滑块3的外表面，在所述滑块3上设置固定架4，所述探针7直接与磁条8固定在固定架4上，所述磁头9设置在滑块3上，所述磁头9与探针7相嵌合。本实用新型便于携带至实验现场，尤其对于很多不便于拆卸的平面平整度能够进行有效而便捷的测量；精度较高，无需人员读数或者其余高难度操作；自动化程度高，能够准确获得位置信息及该位置的平整度信息。
【IPC分类】G01B7/34
【公开号】CN205138418
【申请号】CN201520947558
【发明人】张代林, 朱鸿, 左苏, 刘阳, 陈幼平, 李轶, 张兴, 罗昕, 张湧正
【申请人】华中科技大学
【公开日】2016年4月6日
【申请日】2015年11月25日