专利名称：校准计算机断层x射线光束跟踪回路的方法和设备的制作方法
技术领域：
本发明通常涉及计算机断层(CT)成像，更具体而言，涉及用于选择检测器通道以有助于优化CT X射线光束跟踪的可靠性的方法和设备。
背景技术：
在多层面CT系统中，X射线光束半影在具有不同响应函数的检测器元件上的移动能够产生信号变化，导致图像伪影。保持检测器元件位于X射线光束本影的开孔系统(Opening system)校准可以防止伪影，但增加了患者剂量。因此，至少一种已知的CT系统利用闭环z轴跟踪系统来确定X射线光束相对于检测器阵列的位置。
例如，在至少一种已知的CT成像系统中，X射线准直仪装置包括活动凸轮，所述凸轮配置成能够跟踪焦点位置，由此更准确地确定多层面检测器的有源元件上的X射线光束的位置。更具体而言，至少一种已知CT系统检测在检测器一端的X射线光束的形状并利用该信息调整凸轮位置。而另一种已知CT系统检测检测器两端的X射线光束的形状并利用该信息调整凸轮位置。
对于当光束形状没有严格地越过检测器移动的情况，使用检测器两端改善了定位X射线光束的能力。然而，当检测器、准直仪和X射线焦点没有很好地对准时，两种系统的可靠度都降低。例如，如果X射线管没有正确放置，X射线光束将向检测器的一端(即要么A端要么B端)均匀地移动。而且，如果X射线管正确对准，准直仪和检测器的末端可以彼此保持歪斜，光束图形看上去将是歪斜的。X射线管、准直仪和/或检测器之间的不对准将影响在跟踪控制回路中使用的Z比率、R的测量。对于检测器一端或两端的一组检测器元件，这里使用的Z比率由检测器外部行信号与检测器内部行信号的比率定义。当检测器外部行取样半影，即，X射线光束边缘处的强度减少时，Z比率一般是有用的。因此，如果从检测器外部行接收的信号处于光束的本影内，即均匀强度区域内，则Z比率将接近恒定的值，并且不能用来可靠地确定光束位置。
发明内容
一方面，提供一种确定跟踪控制参数的方法，该跟踪控制参数用于确定计算机断层成像系统的X射线光束的位置。该成像系统包括可逐步定位的移动准直仪，以及包括多个成行成列布置的检测器元件的检测器阵列，所述行从检测器A端延伸到检测器B端。该方法包括确定检测器A端和检测器B端目标光束半影位置；计算对应于不同检测器行和检测器通道的多个Z比率曲线；以及比较检测器A端和检测器B端目标光束半影位置处的Z比率曲线，以确定优化的Z比率曲线和用于控制X射线光束定位的相应的检测器通道和行。
另一方面，提供一种计算机断层(CT)成像系统。该CT成像系统包括可逐步定位的移动准直仪、包括多个成行成列布置的检测器元件的检测器阵列以及与该准直仪和检测器阵列耦合的计算机，其中所述行从检测器A端延伸到检测器B端。所述计算机配置成确定检测器A端和检测器B端目标光束半影位置；计算对应于不同检测器行和检测器通道的多个Z比率曲线；以及比较检测器A端和检测器B端目标光束半影位置处的Z比率曲线，以确定优化的Z比率曲线和用于控制X射线光束定位的相应的检测器通道和行。
另一方面，提供其上具有记录的机器可读介质。该机器可读介质安装在CT成像系统上，该CT成像系统包括可逐步定位的移动准直仪和包括多个成行成列布置的检测器元件的检测器阵列，所述行从检测器A端延伸到检测器B端。该机器可读介质配置成指示处理器以确定检测器A端和检测器B端目标光束半影位置；计算对应于不同检测器行和检测器通道的多个Z比率曲线；以及比较检测器A端和检测器B端目标光束半影位置处的Z比率曲线，以确定优化的Z比率曲线和用于控制X射线光束定位的相应的检测器通道和行。
图1是CT成像系统的示图；图2是图1所述系统的方框图；图3是图1所示CT成像系统的一部分的示意图；图4是校准跟踪回路参数的方法的流程图；图5是图1中所示的CT成像系统的一部分的示意图，示出了本发明的z-轴定位系统的实施例。
图6是图4中所示方法的图解。
图7是图4中所示方法的图解。
具体实施例方式
在一些已知的CT成像系统结构中，X射线源发射扇形光束，该扇形光束被校准使之位于笛卡儿坐标系统的X-Y平面内，该平面一般被称为“成像平面”。该X射线光束穿过正在成像的对象，例如患者。在被对象衰减之后，光束作用到辐射检测器的阵列。检测器阵列处接收的衰减的辐射束强度取决于通过对象的X射线光束的衰减。阵列的每个检测器元件产生单独的电信号，该电信号是检测器位置处光束强度的测量结果。所有检测器的强度测量结果都被单独采集以产生传输的图形。
第三代CT系统中，X射线源和检测器阵列在成像平面内环绕待成像的对象和起重机一起旋转，使得X射线光束与对象相交的角度不断地变化。在一个起重机角度从检测器阵列获得的一组X射线衰减测量结果，即投影数据，称为一个“视图”。对象的“扫描”包括在X射线源和检测器的一次旋转过程中从不同起重机角度或视角得出的一组视图。
在轴向扫描中，投影数据被处理以构建对应于从对象获得的二维层面的图像。一种从一组投影数据再现图像的方法在本领域中称为滤波反投影技术。该方法将从扫描获得的衰减测量结果转换成整数，称为“CT数”或“豪恩斯弗尔德单位”(RU)，它们用于控制显示器上相应像素的明度(brightness)。
为减少总的扫描时间，可以执行“螺旋”扫描。为执行“螺旋”扫描，当采集指定编号的层面的数据时患者是移动的。这种系统从扇形光束螺旋扫描中产生单螺旋线。由扇形光束映射出的螺旋线得出投影数据，从该数据可以再现每个指定层面中的图像。
螺旋扫描的再现算法一般使用螺旋加权算法，它使收集的数据作为视角和检测器通道指数的函数加权。尤其是，在滤波反投影步骤之前，根据螺旋权重因子将数据加权，该螺旋权重因子是起重机角度和检测器角度的函数。然后加权的数据被处理以产生CT数并且再现图像，该图像对应于从对象获得的二维层面。
为进一步减少总的采集时间，采用了多层面CT。多层面CT中，投影数据的多个行在任何时候即时同步采集。当和螺旋扫描模式相结合时，系统产生单螺旋线的锥形光束投影数据。类似于单层面螺旋加权方案，可以得出一种方法以在滤波反投影算法之前，使权重和投影数据相乘。
这里使用的，以单数形式记载的且前面具有“一”或“一个”的元件或步骤应当理解成不排除多个所述元件或步骤，除非明确地记载了排除多个所述元件或步骤。而且，参考本发明的“一个实施例”不应当理解成排除了结合所记载特性的其它实施例的存在。
而且，在这里，短语“再现图像”不应理解成排除其中产生代表图像的数据但不产生可视图像的本发明的实施例。然而，很多实施例产生(或配置成产生)至少一个可视图像。
参考图1和图2，示出了多层面扫描成像系统，例如，计算机断层(CT)成像系统10，包括代表“第三代”CT成像系统的起重机12。起重机12具有X射线管14(这里也称为X射线源14)，它向起重机12的相对面上的检测器阵列18发射X射线光束16。检测器阵列18由多个检测器行(未示出)形成，该多个检测器行包括多个检测器元件20，它们一起感测经过阵列18和源14之间的对象(例如医学患者)22的投射的X射线。每个检测器元件20产生一个电信号，该信号代表射入的X射线光束的强度并可用于估算当光束经过对象或患者22时的衰减。在扫描以采集X射线投影数据过程中，起重机12和安装在其中的部件沿旋转中心24旋转。图2仅示出了检测器元件20的单行(即检测器行)。然而，多层面检测器阵列18包括检测器元件20的多个平行的检测器行，所以可以在扫描过程同时采集对应于多个准平行或平行的层面的投影数据。
起重机12上部件的旋转和X射线源14的操作由CT系统10的控制装置26管理。控制装置26包括为X射线源14提供功率和计时信号的X射线控制器28，以及控制起重机12上的部件的旋转速度和位置的起重机马达控制器30。控制装置26中的数据采集系统(DAS)32从检测器元件20取样模拟数据并将这些数据转换成用于后续处理的数字信号。图像再现器34从DAS 32接收取样并数字化的X射线数据并执行高速图像再现。再现的图像作为输入应用到计算机36，该计算机将图像存储在存储装置38中。图像再现器34可以是专门的硬件或计算机36上执行的计算机程序。
计算机36还通过具有键盘的控制台40从操作员接收命令和扫描参数。相关的显示器42，例如阴极射线管或其它适当的显示装置，允许操作员观察计算机36的再现图像和其它数据。操作员提供的命令和参数被计算机36使用，从而为DAS 32、X射线控制器28和起重机马达控制器30提供控制信号和信息。此外，计算机36操作工作台马达控制器44，该控制器控制了机械化工作台46以确定患者22在起重机12中的位置。尤其是，工作台46将患者22的一部分移动经过起重机开孔48。
一个实施例中，计算机36包括指令读取或接收装置50，例如，软盘驱动、CD-ROM驱动、DVD驱动、磁光碟片(MOD)装置或任何其它包括网络连接装置的数字装置，该网络连接装置例如是以太网装置，用于从计算机可读介质52，例如软盘、CV-ROM、DVD或其它数字源例如网络或英特网以及待研发的数字装置中读取指令和/或数据。另一个实施例中，计算机36执行存储在固件(没有示出)中的指令。计算机36被编程以执行这里描述的功能，这里，术语计算机不限于本领域中称为计算机的集成电路，而是广泛地指计算机、处理器、微控制器、微型计算机、可编程逻辑控制器、专用集成电路或其它可编程电路，这里使用的这些术语是可互换的。尽管上述特定的实施例指第三代CT系统，但是这里描述的方法同样应用于第四代CT系统(静止的检测器、旋转的X射线源)和第五代CT系统(静止的检测器和X射线源)。此外，可以预期的是，本发明的优点对于除了CT之外的成像医疗器械也是有益的。此外，尽管这里描述的方法和装置是以医学设备描述，但是可以预期的是，本发明的优点对于非医学成像系统也是有益的，例如在工业设备或运输设备中一般采用的系统，例如但不限于机场或其它运输中心的行李扫描系统。
一个实施例中，如图3所示，从X射线源14(在图2中示出)的焦点51发射X射线光束16。X射线光束16被准直仪53校准，校准光束16投射到检测器阵列18。检测器阵列18以多层面结构制造并包括用于投射数据收集的检测器元件行54、56、58和60。平面86，一般称为“扇形光束平面”，包含焦点51的中心线和光束16的中心线。在图3中示出的扇形光束平面86与检测器阵列18的中心线D0对准，尽管扇形光束平面86并不总是如此对准。一个示例性实施例中，检测器元件行62、64、66和68用作确定X射线光束16的z-轴位置的z-位置检测器。一个实施例中，检测器行62、64、66和68是检测器阵列18的行。选择外部行62和68以至少基本位于光束16的半影70内，而选择内部行64和66以至少基本位于光束16的半影72内。“至少基本位于…之内”表示要么完全位于要么至少充分位于…之内，使得外部行62和68信号强度取决于X射线光束位置且内部行64和66信号强度提供与外部行信号对比的参考。一个实施例中，准直仪53包括锥形凸轮74和76。(除非特别声明，这里所述的“具有锥形”的凸轮并没有排除具有零锥形的凸轮。)X射线控制器28控制了凸轮74和76的定位。每个相应凸轮74和76可以被独立定位以改变X射线本影72相对于检测器阵列18的边缘(未示出)的位置和宽度。
图4的流程图示出了校准成像系统10以帮助减少释放给对象22(例如患者)的X射线剂量的一个示例性方法100。该示例性实施例中，方法100包括确定102检测器A端和检测器B端目标光束半影位置；计算104对应于不同检测器列或行的多个Z比率曲线；以及比较检测器A端和检测器B端目标光束半影位置处的Z比率以确定优化的Z比率曲线和相应的检测器通道和行。
图5示出了用于示范方法100的示例性检测器18。如图5所示，在示例性实施例中，检测器阵列18包括m行90和n通道92(也称为列92)的检测器元件20，使得检测器阵列18具有m×n个检测器元件20的矩阵。在示例性实施例中，m＝16且n＝32，使得检测器阵列18包括512个检测器元件20。尽管检测器阵列18以包括16行90(m＝16)和32通道92(n＝32)的检测器元件20示出，但应当理解的是检测器阵列18可以包括任意数目的行90(＞＝4)和通道92而不影响这里描述的本发明的范围。检测器阵列18还可以是整个检测器的一个子集。例如，在具有64行和912通道的检测器中，某些模式可能需要X射线仅集中在中间的16行和912通道上。
该示例性实施例中，方法100包括在成像系统10使用的X射线光束跟踪方法中，以产生这里如前所述的实时控制回路校准期间使用的操作参数。相应地，方法100包括递增地即逐步地平移准直仪凸轮74和76，使得X射线光束16的半影70扫过检测器阵列19的末行219。例如，并再次参考图5，在平移过程中，X射线光束16定位在检测器A端210，即大约接近较低编号的行1、2、3等。准直仪凸轮74和76然后递增移动使得X射线光束16向较高编号的行移动。更具体而言，准直仪凸轮74和76递增，所以X射线光束16移动到检测器B端212，即较高编号的行m-2、m-1和m等。这里，检测器A端210指从第一或底端行214延伸到大约位于检测器18的中心的检测器中间行215的一些检测器行，检测器B端指从与中间行215临近的行216延伸到最后的或顶行217的一些检测器行。例如，这里描述的示例性16行检测器中，A端210从行1延伸到行8，B端212从行9延伸到行16。备选地，在32行检测器中，A端210从行1延伸到行16，B端212从行17延伸到行32。
方法100还包括确定104检测器18的检测器A端210上的第一目标X射线光束半影位置220和检测器18的检测器B端212上的第二目标X射线光束半影位置222。更具体而言，在操作过程中，使用从末行219即有源检测区域的16行检测器中的行1到行16的数据获得一个凸轮步进到下一个的比率，即步进比率。例如，该示例性实施例中，末行219包括第一检测器行和最后检测器行，即16行检测器的行1和行16。该示例性实施例中，通过计算每个检测器A端210和检测器B端212上的检测器行(即末行219)的多个规一化比率，并发现最小准直仪孔径而确定目标光束半影位置220和222，该最小准直仪孔径具有规一化的比率，该比率不超出经验确定的灵敏度函数。该示例性实施例中，目标光束位置220和222独立于Z比率产生。而且，目标光束位置220和222被选择以有利于最小化患者剂量，同时减少成像伪影。
方法100还包括计算作为准直仪凸轮位置函数的多个Z比率曲线，该多个Z比率曲线对应于不同的检测器通道和行。这里使用的Z比率由Z-跟踪通道的外部行除以Z-跟踪通道的内部行的比率定义。例如，图3所示的外部行62和内部行64的比率，用于检测器A端Z比率的计算，外部行68和内部行66的比率用于检测器B端Z比率的计算。对于第一Z比率曲线，可以使用通道1-12(编号低的通道)的平均值。对于第二Z比率曲线，可以使用通道n-12到n-1(编号高的通道)的平均值。
然后通过计算在准直仪扫描中给出的步进范围的比率产生多个Z比率曲线。例如，如图6和7所示，使用较低编号的通道，即1-12，为检测器A端210产生第一Z比率曲线230(Z比率低)；使用较高编号的通道，即n-12到n-1，为检测器A端210产生第二Z比率曲线232(Z比率高)；使用较低编号的通道，即1-12，为检测器B端212产生第三Z比率曲线234(Z比率低)；使用较高编号的通道即n-12到n-1，为检测器B端212产生第四Z比率曲线236(Z比率高)。更具体而言，如图6和7所示，对应于图5中所示的检测器的底端行(1)和顶行(16)，为检测器18的两端(A端210和B端212)都计算Z比率曲线(230，232，234，236)。
该示例性实施例中，使用低编号通道和高编号通道为产生的Z比率选择相同的检测器行。因此，在良好对准的系统中，使用检测器18低通道端或高通道端产生的Z比率曲线230、232、234、236将重叠。
例如，参考图6和7，以垂直线图解示出A端210和B端212两端的目标光束半影位置220和222，该垂直线指示方法100中确定的目标光束半影位置。该示例性实施例中，方法100还包括确定第一操作点250和第二操作点252，然后选择操作点250或252具有最大容余的一个Z比率曲线。
例如，如这里先前所述，Z比率是检测器一端或两端的一组检测器元件外部行检测器信号与内部行信号的比率。该比率仅当检测器的外部行取样X射线光束的半影(边缘强度降低)时有用。如果外部行信号位于光束的半影内(均匀强度区域)，Z比率将接近恒定的值(通常接近统一值)，并且不能用来可靠地确定光束位置。
因此，方法100还包括为每一端A端210和B端212选择最可靠的Z比率曲线。例如，该示例性实施例中，为A端选择曲线230或232，为B端选择曲线234或236。选择最可靠的Z比率曲线，即，具有最大容余的Z比率曲线，包括为每个Z比率曲线230、232、234和236确定Z比率曲线的最小值(minZratio)；为每个Z比率曲线230、232、234和236确定每个Z比率曲线的最大值(maxZratio)；确定在操作点的值(opZratio)；确定每个Z比率曲线的容余，其中容余＝(opZratio-minZratio)或(maxZratio-opZratio)中的较小者；以及选择操作点250或252具有最大容余的Z比率曲线。
例如，参考图6，Z比率曲线230的最小值(minZratio)大约为0.1，Z比率曲线230的最大值(maxZratio)大约为1.0，Z比率曲线230的操作点250(opZratio)，即Z比率曲线穿过目标220的点，大约为0.7。Z比率曲线230的容余是(0.7-0.1)或(1.0-0.7)的较小者，即0.6和0.3的较小者。因此，Z比率曲线230的容余为0.3。
而且，Z比率曲线232的最小值(minZratio)大约为0.1，Z比率曲线232的最大值(maxZratio)大约为1.0，Z比率曲线232的操作点252(opZratio)，即Z比率曲线穿过目标220的点，大约为1.0。Z比率曲线232的容余是(1.0-0.1)或(1.0-1.0)的较小者，即0.09和0.0的较小者。因此，Z比率曲线232的容余为0.0。
因此，操作点250具有最大容余，这样Z比率曲线230将在正常患者扫描过程确定X射线光束的位置。尽管，该实例仅示出了检测器A端210，但应当理解的是通过确定操作点254和256(如前所述)，并选择Z比率，即曲线234和236中操作点具有最大容余的那个曲线，还可以在检测器B端212上执行选择最可靠的Z比率曲线。因此，在示例性实施例中，为每端(A和B)选择较低或较高的通道，以确定检测器上X射线光束的位置。
这里所描述的是一种执行CT成像系统的系统校准的方法和系统。更具体而言，这里，检测器的低通道或高通道端可以用来计算Z比率。而且，这里描述的方法可以用于优化为Z比率使用哪个检测器行。例如，在示例性VCT(64个层面)扫描仪上，对于32层面采集使用行18A和1A(18A/1A)来计算Z比率。发现当X射线管焦点没有很好地对准时，目标点的Z比率值接近高和低通道Z比率的极限。因此，对于计算Z比率，这里描述的方法增加了使用额外行(例如17A/1A)的灵活性，以有利于改善系统可靠性，和/或有利于减少患者接收的X射线剂量。
一些实施例中，这里描述的方法由控制了计算机36、图像再现器34或它们二者的软件、固件或它们的组合来实施。而且，可以提供额外的z-检测器行。这种实施例中，z-检测器行信号的各种组合可以用作内部和外部行信号，由此可以看成可以用相同或不同和/或更精细的转移函数来确定光束位置。
应当理解这里描述的系统10仅以实例示出，本发明可以与其它类型的成像系统结合使用。
而且，本领域技术人员应当意识到这里描述的校准系统对于其它需要X射线光束跟踪校准的应用(例如对象位置或移动的感测)也是适用的。
尽管本发明以各种特定实施例描述，但本领域技术人员应当理解的是本发明可以使用在权利要求的精神和范围内进行的修改来加以实施。
权利要求
1.一种计算机断层(CT)成像(10)，包括可逐步定位的移动准直仪(53)；检测器阵列(18)，包括多个布置成行(90)和通道(92)的检测器元件(20)，所述行从检测器A端(210)延伸到检测器B端(212)；以及与所述准直仪和所述检测器阵列耦合的计算机(36)，所述计算机配置成确定(102)检测器A端和检测器B端目标光束位置(220，222)；计算(104)对应于多个检测器行和通道的多个Z比率曲线(230，232，234，236)；以及比较(106)检测器A端和检测器B端目标光束半影位置处的Z比率曲线以确定优化的Z比率曲线和用于控制X射线光束定位的相应的检测器通道和行。
2.根据权利要求1的系统(10)，其中所述计算机(36)还配置成在从检测器A端(210)延伸到检测器B端(212)的多个准直仪步进位置获得检测器样品；以及确定从至少一个检测器A端行(214，215)和至少一个检测器B端行(216，217)接收的信号的步进比率。
3.根据权利要求2的系统(10)，其中所述计算机(36)还配置成通过选择最小准直仪孔径产生独立于Z比率的目标光束半影位置(220，222)，其中步进比率不超过经验确定的灵敏度函数；以及确定每个Z比率曲线(230，232，234，236)上的点，对于这些Z比率曲线上的点来讲X射线光束半影位置位于目标位置。
4.根据权利要求3的系统(10)，其中所述计算机(36)还配置成对于检测器A端末行(219)和检测器B端末行，通过比较步进比率与灵敏度函数，产生检测器A端(210)和检测器B端(212)上的目标光束半影位置(220，222)。
5.根据权利要求1的系统(10)，其中所述计算机(36)还配置成利用多个通道(92)以及至少一个内部行(64，66)和一个外部行(62，68)，对于检测器A端(210)和检测器B端(212)产生多个Z比率曲线(230，232，234，236)；当准直仪凸轮(74，76)和相应的光束半影(70)步进穿过检测器(18)时，利用测量的检测器通道信号产生多个Z比率曲线；以及产生多个Z比率曲线，其中每个曲线是X射线光束半影位置(220，222)的函数。
6.根据权利要求5的系统(10)，其中所述计算机(36)还配置成为每个产生的Z比率曲线(230，232，234，236)确定最小值；为每个产生的Z比率曲线确定最大值；以及为每个Z比率曲线确定操作点(254，256)；
7.根据权利要求3的系统(10)，其中所述计算机(36)还配置成为每个Z比率曲线(230，232，234，236)确定容余；选择具有最大容余的检测器A端Z比率曲线；选择具有最大容余的检测器B端Z比率曲线；和利用选出的Z比率曲线和相应的检测器通道(92)和行(90)在正常的患者(22)扫描过程中确定准直仪凸轮(74，76)和X射线光束(16)的位置。
8.一种具有记录的机器可读介质(52)，所述机器可读介质安装在一个CT成像系统(10)上，该CT成像系统包括一个可逐步定位的移动准直仪(53)；以及一个包括多个布置成行(90)和通道(92)的检测器元件(20)的检测器阵列(18)，所述行从检测器A端(210)延伸到检测器B端(212)，所述机器可读介质配置成指示处理器以确定检测器A端和检测器B端目标光束位置(220，222)；计算多个Z比率(230，232，234，246)；以及比较检测器A端和检测器B端目标光束位置处的Z比率曲线以确定优化的Z比率曲线和用于控制X射线光束定位的相应检测器通道和行。
9.根据权利要求8的机器可读介质(52)，还配置成指示处理器以在从检测器A端(210)延伸到检测器B端(212)的多个准直仪步进位置获得检测器样品；确定从至少一个检测器A端行(214，215)和至少一个检测器B端行(216，217)接收的信号的Z比率；以及使用Batwing函数规一化所确定的Z比率。
10.根据权利要求9的机器可读介质(52)，还配置成指示处理器以通过选择最小准直仪孔径产生独立于Z比率的目标光束位置(220，222)，其中步进比率不超出预定的灵敏度函数；以及选择具有不超出预定极限的规一化比率的目标光束位置。
全文摘要
一种确定用于定位计算机断层成像系统的X射线光束(16)的跟踪控制参数的方法，该成像系统(10)包括可逐步定位的移动准直仪(53)和包括多个布置成行(90)和通道(92)的检测器元件(20)的检测器阵列(18)，所述行从检测器A端(210)延伸到检测器B端(212)。该方法包括确定(102)检测器A端和检测器B端目标光束半影位置(220，222)；计算(104)对应于不同检测器行和检测器通道的多个Z比率曲线(230，232，234，236)；以及比较(106)检测器A端和检测器B端目标光束位置处的Z比率曲线以确定优化的Z比率曲线和用于控制X射线光束定位的相应的检测器通道和行。
文档编号G01T1/00GK1857163SQ20061007784
公开日2006年11月8日 申请日期2006年5月8日 优先权日2005年5月6日
发明者E·H·曹, T·L·托思, M·S·哈米德 申请人:通用电气公司