用共振散射光谱测定CdTe量子点粒径的方法

文档序号:6126262阅读:484来源:国知局
专利名称:用共振散射光谱测定CdTe量子点粒径的方法
技术领域
本发明涉及CdTe量子点的表征方法,具体地说是一种用共振散射光谱测定 CdTe量子点粒径的方法。
背景技术
量子点(Quantum Dots )又称半导体纳米晶体(Semiconductor Nanocrystal),是一种发光纳米颗粒,与传统的有机荧光染料相比,量子点具 有激发光谱宽,且连续分布,而发射光谱呈对称分布,且宽度窄、颜色可调、 光化学稳定性高、不易光解等优良的光学特性,已被用于发光二极管、纳米激 光器等研究领域,而它作为荧光标识在医学、临床检验学、免疫学、生物学等 研究领域中的潜在应用前景已引起国际科学界的广泛关注。目前,CdTe量子点 的制备分有机溶剂相和水溶剂相两种。有机溶剂合成的CdTe量子点,其制备条 件比较苛刻,成本较高,给推广应用带来了一定的困难;水相合成的半导体纳 米晶体具有成本低、污染小、易批量生产等优势,不仅能直接用于生物标记, 而且通过对量子点的表面进行功能修饰,也可应用于重金属离子的检测,因而 水相合成倍受关注。因此,建立一种快速、简便表征CdTe量子点粒径的方法具 有很高的应用价值。目前常采用X射线光电子能谱(XPS)、透射电子显微镜(TEM)、 隧道显微镜(STM)、 X射线衍射仪(XRD)、红外吸收光谱(FTIR)、紫外吸收光 谱、荧光光谱等来表征CdTe量子点的光谱特性、形貌、晶型和结构。但尚未见 用共振散射光谱法对CdTe量子点粒径进行表征的报导。

发明内容
本发明的目的是要提供一种既操作简单、快速、成本低,又具有较好应用 价值的用共振散射光谱测定CdTe量子点粒径的方法。
本发明的目的采用如下技术方案实现
用共振散射光谱测定CdTe量子点粒径的方法,其特征是包括如下步骤在 常温下将CdTe溶液于带刻度的容器中,用亚沸高纯度水定容,定容后的溶液放 入石英池中,置于荧光分光光度计上,用Volt=500v ,
Ex.mono. Slit二Em.mono. Slit=5. 0nm,同步扫描激发波长人ex和发射波长入em (入ex二入em),得到CdTe纳米微粒的同步散射光谱,即CdTe量子点粒径的共 振散射光谱。因波长A与ln(d)存在较好的线性关系,据此只要测得其共振散射 峰波长,据入^148.371n(d)+418.08,即可求得其粒径(d)。
本发明用共振散射光谱测定CdTe量子点粒径的方法的优点在于 (1)操作简便、快速,只要测得CdTe量子点的共振散射峰波长A,据入 二148.371n(d)+418.08,可求得其粒径(d); (2)具有较好的应用价值。


图1是本发明粒径为3. 8nm的CdTe量子点的共振散射光谱图2是本发明粒径为4. Onm的CdTe量子点的共振散射光谱图3是本发明CdTe量子点的共振散射波长与粒径的关系图。
具体实施例方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的描述
一种用共振散射光谱测定CdTe量子点粒径的方法,包括如下操作步骤
(1) 移取l.Oml的1.8X10—W L"CdTe溶液于5. Oml带刻度的试管中, 用亚沸高纯水定容至2.0ml。
(2) 移取溶液于石英池中,置于荧光分光光度计上,用Volt二500v, Ex. mono. Slit=Em. mono. Slit=5. Onm,同步扫描激发波长A ex和发射波长入em
(入ex二入em ),得到CdTe量子点的共振同歩散射光谱。利用入 二148. 371n(d)+418. 08,求得CdTe量子点的粒径。
图1、 2中显示粒径为3. 8nm的CdTe量子点在597nm处有一共振散射峰; 而粒径为4.0nm的CdTe量子点在622nm处有一共振散射峰;结果表明,不仅共 振散射波长与CdTe量子点粒径的对数存在较好的线性关系(如图3所示),而 且同一粒径的CdTe量子点,共振散射强度与CdTe量子点的浓度也有良好的线 性关系。因此,测得CdTe量子点的共振散射波长,便可测得CdTe量子点的粒 径。
权利要求
1.用共振散射光谱测定CdTe量子点粒径的方法,其特征是包括如下步骤(1)在常温下将CdTe溶液于带刻度的容器中,用亚沸高纯度水定容;(2)移取溶液放入石英池中,置于荧光分光光度计上,用Volt=500v,Ex.mono.Slit=Em.mono.Slit=5.0nm,同步扫描激发波长λex和发射波长λem,得到CdTe量子点的共振散射光谱。(3)利用共振散射波长和CdTe量子点粒径的线性关系,求得CdTe量子点粒径即可。
2. 根据权利要求1所述的测定CdTe量子点粒径的方法,其特征是禾廿用 CdTe量子点的共振散射波长A =148. 371n(d)+418. 08,而求得CdTe量子点的粒
全文摘要
本发明公开了一种用共振散射光谱测定CdTe量子点粒径的方法,它是在常温下将CdTe溶液于带刻度的容器中,用亚沸高纯度水定容;将定容后的溶液放入石英池中,置于荧光分光光度计上,用Volt=500v,Ex.mono.Slit=Em.mono.Slit=5.0nm,同步扫描激发波长λex和发射波长λem(λex=λem),即得到CdTe量子点的共振散射光谱,利用共振散射波长和CdTe量子点粒径的线性关系,求得CdTe量子点粒径。这种用共振散射光谱测定CdTe量子粒径的方法优点在于(1)操作简便、快速,只要测得CdTe量子点的共振散射峰波长λ,据λ=148.37ln(d)+418.08,可求得其粒径(d);(2)具有较好的应用价值。
文档编号G01N15/00GK101196461SQ20071004870
公开日2008年6月11日 申请日期2007年3月17日 优先权日2007年3月17日
发明者张声森, 王素梅, 蒋治良 申请人:广西师范大学
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