端视原子荧光光谱仪的制作方法

文档序号:6120674阅读:232来源:国知局
专利名称:端视原子荧光光谱仪的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种原子荧光光谱仪,具体说,涉及一种端视原子荧光光谱仪。
技术背景原子荧光光谱以其高灵敏度的、基体干扰的特性在有害元素分析领域获得了广泛的应用。其分析流程为首先通过样品导入系统将样品转化为气相物或气溶胶,并送入原子化器;之后气相物或气溶胶在原子化器中转化为基态原子,这些基态原子在一个特定区域内聚集形成一个基态原子区;通过光源照射基态原子区将其中的基态原子激发,形成一个激发态原子区;激发态原子区中的激发态原子退激发发出的原子荧光被光学检测系统所接受用于定量测量。
现有的原子荧光光谱仪器使用氩-氢扩散火焰作为原子化器1,为侧视结构。其结构示意于图1和图2,图中所示的氩-氢扩散火焰原子化器,其基态原子区11与火焰区重叠,光源2照射基态原子区11将其中的基态原子激发,形成一个激发态原子区12,光源2和光学检测系统3与激发态原子区12之间形成检测光路,其中包括入射光路21,原子荧光出射光路22,入射光路21和原子荧光出射光路22构成光学检测平面与基态原子区11的轴线11A垂直。这种检测方式造成激发原子区12大大小于基态原子区11,所以很大一部分基态原子区11实际上被浪费了;另一方面,这种检测方式中基态原子区11边缘所占比例较高,而散射也主要存在于该区域,所以由散射引起噪音也相对较高。
鉴于以上原因,本专利提出了一种端视的原子荧光光谱仪器,该仪器结构能很好的克服现有仪器的上述两个缺点。
实用新型内容本实用新型的目的是克服上述现有就是的缺陷,提供一种端视原子荧光光谱仪。
本实用新型所述的端视原子荧光光谱仪,包括原子化器、光源和光学检测系统。所述光源位于原子化器的中心线上,光学检测系统的中心线与原子化器的中心线之间具有一个夹角。
所述光学检测系统的中心线与原子化器的中心线之间的夹角为90~135°。
本实用新型所述的端视原子荧光光谱仪进行检测,造成激发原子区基本等于基态原子区,所以几乎全部基态原子区都被利用了;另一方面,这种检测方式中基态原子区边缘所占比例较低,所以主要存在于该区域的散射也得到了很好的抑制,由散射引起噪音也较低。鉴于以上原因,本专利提出的端视原子荧光光谱仪器将具有更高的灵敏度和更低的噪音,所以其检测能力将大大增强。


图1是现有原子荧光光谱仪的结构侧视示意图;图2是图1的顶视图;图3是本实用新型所述端视原子荧光光谱仪的结构侧视示意图;图4是图2的顶视图。
具体实施方式
参见图3和图4,本实用新型所述的端视原子荧光光谱仪,包括原子化器1、光源2和光学检测系统3。所述光源2位于原子化器1的中心线上,光学检测系统3的中心线与原子化器1的中心线之间具有一个夹角α。这样设置改变了原子化器1、光源2和光学检测系统3的相对结构,在原子化器1出口部分形成了一个横向、狭长的基态原子区11,光源2照射基态原子区11将其中的基态原子激发,形成一个激发态原子区12,光源2和光学检测系统3与激发态原子区11之间形成检测光路,其中包括入射光路21,原子荧光出射光路22,基态原子区11的轴线11A位于入射光路21和原子荧光出射光路22构成光学检测平面上,并与入射光路21的延长线重合。
所述光学检测系统3的中心线与原子化器1的中心线之间的夹角α为90~135°。
权利要求1.端视原子荧光光谱仪,包括原子化器(1)、光源(2)和光学检测系统(3),其特征是所述光源(2)位于原子化器(1)的中心线上,光学检测系统(3)的中心线与原子化器(1)的中心线之间具有一个夹角(α)。
2.根据权利要求1所述的光谱仪,其特征是所述光学检测系统(3)的中心线与原子化器(1)的中心线之间的夹角(α)为90~135°。
专利摘要本实用新型涉及一种端视原子荧光光谱仪,包括原子化器、光源和光学检测系统。所述光源位于原子化器的中心线上,光学检测系统的中心线与原子化器的中心线之间具有一个夹角。用本光谱仪进行检测,造成激发原子区基本等于基态原子区,所以几乎全部基态原子区都被利用了;另一方面,这种检测方式中基态原子区边缘所占比例较低,所以主要存在于该区域的散射也得到了很好的抑制,由散射引起噪音也较低。鉴于以上原因,本专利提出的端视原子荧光光谱仪器将具有更高的灵敏度和更低的噪音,所以其检测能力将大大增强。
文档编号G01N21/64GK2916625SQ20062011761
公开日2007年6月27日 申请日期2006年5月24日 优先权日2006年5月24日
发明者刘霁欣, 那星, 陈志新, 裴晓华 申请人:北京吉天仪器有限公司
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