专利名称：：一种ito测试板和测试方法
技术领域：
：本发明涉及LCD(LiquidCrystalDisplay,液晶显示器)制造领域的测试技术，具体地说是涉及一种ITO电极测试技术。
背景技术：
：ITO(IndiumTinOxides,铟锡氧化物)玻璃是LCD重要组成部分，ITO腐蚀是液晶显示器制造中非常严重的问题。ITO腐蚀是指ITO在潮湿或酸碱环境下，得到电子还原成金属单体或交换得到酸碱根离子生成其它物质。导致ITO腐蚀的一般原因是对ITO层保护不足或在保护前ITO已被污染。ITO腐蚀会造成液晶显示板和液晶显示器的报废，ITO腐蚀是一种可靠性失效，发生过程缓慢，且通电状态能加速反应速度。所以如果在厂内留下隐患，有可能出现产品被销售至客户甚至是终端客户手上才体现，产品出现可靠性问题，厂家会遭到客户投诉并要负相关的连带责任。ITO腐蚀主要是由制程工艺来控制。制程工艺主要是通过加强对ITO表面的清洁，减少ITO表面污染，加强IT0表面防护来控制IT0腐蚀。目前ITO腐蚀改善中对于改善效果评价一般是使用实际产品加电后进行可靠性试验，根据可靠性试验是否出现腐蚀来判定改善的好坏。但实际中不同产品之间存在着差异不同IC有不同的输出电压，不同LCD有不同的ITO走线线距和线宽。而且产品驱动过程中由于显示画面的不同颜色是由相邻RGB象素的不同灰阶混合而成，所以在复杂画面中每根ITO线出现各灰阶电压的概率不一致，每一根ITO走线之间所承受的平均电压也不一样。这样每根ITO在不同的电压条件下进行可靠性测试，得出的腐蚀评估不能体现出改善所适应的条件范围。而且由于条件的不一致，每根ITO走线出现腐蚀的概率也不一样。同样对于改善中所采用的材料的评估也不够科学，而且对于可靠性测试中对腐蚀的极限条件也很难评估。
发明内容本发明的主要目的是为了解决现有技术中对no玻璃腐蚀的改善效果评估不方便，不准确的问题，提出一种测试板及其测试方法。为了实现上述目的，本发明提供一种ITO测试板，包括玻璃基板、ITO导电层、绝缘层，该ITO导电层涂覆于该玻璃基板上，且该绝缘层涂覆于该ITO导电层的部分或全部表面。上述的ITO测试板，所述ITO导电层包括若干分区，每一分区包括二条线宽一致、走线平行的ITO平行电极。所述IT0导电层的各分区IT0平行电极的线宽、线距之一或之二设置为不同值。上述的ITO测试板，所述ITO导电层包括若干分区；每二个分区为一组，在同组分区内，所述各ITO平行电极的线宽一致、线距一致；且该绝缘层仅涂覆于同组分区的其中之一分区之上；不同组分区之间，所述各IT0平行电极的线宽、线距之一或之二设置为不同值。上述的ITO测试板，所述ITO导电层包括若干分区；每一分区分别仿真STN或CSTN液晶显示器的IT0电极走线。上述的ITO测试板，所述ITO导电层包括若干分区；所述分区被整体划分二组，二组中的各分区一一对应，对应分区结构相同、各ITO平行电极的线宽线距分别相同；所述绝缘层仅涂覆于其中之一组分区之上；同一分区的各ITO平行电极的线宽线距分别相同。本发明还提供了一种IT0电极腐蚀的测试方法，包括如下步骤将仿真IT0电极走线的IT0测试板置于预定温湿度的环境中，对IT0电极通以一定时间的工作电压，对IT0电极的腐蚀情况进行评估。上述的测试方法，所述工作电压为仿真IT0电极在实际工作过程中所受的有效电压。上述的测试方法，所述IT0测试板同时仿真STN或CSTN液晶显示器的IT0电极走线；或分别仿真STN或CSTN液晶显示器的IT0电极走线。上的测试方法，所述IT0测试板采用同一玻璃基板分区仿真STN和CSTN液晶显示器的ITO电极，各分区IT0电极的走线间距、线宽、绝缘层覆盖、绝缘层覆盖材料中的一个或一个以上因素不相同。上述的测试方法，所述ITO测试板采用同一玻璃基板对称设置ITO导电层，该ITO导电层包括分成二组的若干分区，二组中各分区一一对应，对应分区的ITO走线结构相同；每组内各分区的走线线宽或线距之一或之二设置为不同值；其中之一组涂覆绝缘层。上述的测试方法，对涂覆相同的绝缘层、相同线距、相同线宽的ITO电极，按正交设计的不同电压、温度、湿度组合成不同的高温高湿环境，对各组ITO电极通电相同时间，以评估不同电压、温度、湿度对ITO腐蚀的影响。上述的测试方法，对ITO电极走线线距相同、线宽相同的IT0测试板，涂覆不同之绝缘层，以评估不同之绝缘层材料的防腐性能。本发明的有益的效果是采用本发明所述的技术方案，可以仿真STN、CSTN液晶显示器的ITO走线间距、线宽、所受有效电压及绝缘层覆盖等情况，在一定的高温高湿条件下进行腐蚀评估，可以更客观更科学的评估腐蚀改善或新材料的效果，为ITO的设计、生产提供依据。同理，可以通过极差分析得到最容易产生腐蚀的电压、温度、湿度条件，可以对现有工程防腐蚀能力进行客观的评估，为改善提高ITO的防腐能力、保证LCD产品质量提供依据。下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细地说明。图1是本发明实施例一it0测试板结构示意图2是本发明实施例一it0测试板上第六区域中it0走线的放大示意图。具体实施例方式实施例一如图1所示，该ITO测试板包括玻璃基板、it0导电层、绝缘层，该no导电层涂覆于该玻璃基板上，且该绝缘层涂覆于该ito导电层的部分表面。该ITO测试板ITO导电层被分成第一部分A和第二部分B，每个部分包括三个区域，其中，第一部分A包括第一区域1、第三区域3和第五区域5;第二部B分包括第二区域2、第四区域4和第六区域6;第一、第二部分A、B的各区域对称分布，区别在于第一部分A上涂有绝缘层，第二区域B上没有涂绝缘层。每个区域内都分布有两组线宽一致的ITO走线组成的平行电极，各区域串联连接，电极之间不相连且间距固定。图2为图1中第六区域6的放大图，该区域内平行电极Pl和P2之间的线距S为10um，平行电极P1和P2在第六区域6内的线宽W为15um。每个区域内的电极之间线距值设计成不同值，这样可以根据LCD的设计需要，有目的性的研究特定线距下ITO测试板的腐蚀情况。同样ITO走线线宽也可根据LCD的设计需要设定。图1中第一区域1和第二区域2内平行电极的线距设置为20um;第三区域3和第四区域4区内平行电极之间的线距设置为15um;第五区域5和第六区域6区内平行电极的线距设置为10Pm。所有区域内的ITO走线线宽都设置为15um。测试时，在同一测试板任意两根ITO走线之间的电压差都是一样的，这样可以改善用实际产品做测试时的不一致性。由于不同区域有不同的线距，所以可以在一个测试板上评价不同线距的ITO走线在同样的测试条件下腐蚀的情况，可以更客观更科学地评估腐蚀改善或新材料的效果。测试方法LCD工作时，驱动时信号是变动数字信号，测试时只需要施加等效的直流电压。不同型号LCD的有效电压不一样，主要跟驱动IC和驱动IC设置的初始化驱动方法及ITO电阻有关，现有产品大部分在1(Tl5V左右。将上述测试板的第一接电端11、第二接电端12之间施加15V直流电压，仿真产品工作过程中所受的有效电压，在温度为6CTC，湿度95%的环境条件下通电96个小时。在96小时后，停电取出ITO测试板，在显微镜下观察腐蚀的状况，以腐蚀位置和腐蚀面积为参考，以IT0走线的线宽为基准，对腐蚀面积进行估算，从而对腐蚀程度进行量化腐蚀点宽度超过线宽的一半计10分，不够一半计5分，腐蚀点长度为线宽的N倍，则计10*化长度得分乘以宽度得分即该腐蚀点的腐蚀得分。计算测试板上各个区域内腐蚀得分之和，即可得到在该特定条件下各线距值IT0走线的腐蚀情况即改善效果。实施例二本例中，使用实施例一中所述的IT0测试板评估新的IT0保护胶材料的性能。将三组测试板经过超声波清洗后，分别涂敷绝缘保护层，绝缘保护层胶材采用目前通用的材料1号硅胶和新材料2、3号硅胶，然后通15V直流电，投入温度6(TC、湿度95%的高温高湿条件下进行实验。经过48小时后按照上例中提供的量化方法进行腐蚀数值统计，得到如下数据表1:数据表l<table>complextableseeoriginaldocumentpage7</column></row><table>根据数据表1可以明显的看出，新材料2号硅胶较目前使用的材料1号硅胶防腐蚀效果明显提升。经过这样的评估就可以客观地得出材料的优劣。同时根据测试板上不同区域的腐蚀状况得出2号硅胶更适用于第三区域和第六区域的线距的产品。此方法同样适用于对与ITO接触的材料对腐蚀影响的评估。比如清洗剂、ACF(异方向性导电胶)、ITO绝缘保护层胶材以及所有在制程中有可能与IT0面接触的材料。实施例三本例以实施例一所述的ITO测试板为基础，并上述提供的量化方法进行可靠性测试评估及现有工程防腐蚀能力的评估。设计一个三因子三水平的DOE(DesignofExperiments实验设计)实验，分析温度、湿度和电压对腐蚀的影响。将九组IT0电极走线结构相同的测试板经过超声波清洗后，涂敷相同的ITO绝缘保护层胶材，然后按正交设计的不同的电压、温度、湿度组合分别进行高温高湿实验经过96小时后对腐蚀数值进行统计，可得到数据表2，然后进行极差分析即可得到最容易产生腐蚀的电压、温度、湿度条件。此条件即为可靠性测试最严格条件，在此条件下就可以对现有工程防腐蚀能力进行客观的评估。<table>tableseeoriginaldocumentpage8</column></row><table><table>tableseeoriginaldocumentpage9</column></row><table>根据数据表3中的极差值可以判断电压对于腐蚀的影响最大，电压越大越容易发生腐蚀；湿度为水平2时更容易发生腐蚀；温度为60度时更容易发生腐蚀。以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的实施只局限于这些说明。对于测试领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。权利要求1.一种ITO测试板，其特征是包括玻璃基板、ITO导电层、绝缘层，该ITO导电层涂覆于该玻璃基板上，且该绝缘层涂覆于该ITO导电层的部分或全部表面。2.如权利要求1所述的IT0测试板，其特征是所述ITO导电层包括若干分区，每一分区包括二条线宽一致、线距一致、走线平行的ITO平行电极。3.如权利要求1或2所述的IT0测试板，其特征是所述ITO导电层包括若干分区；每二个分区为一组，在同组分区内，所述各ITO平行电极的线宽一致、线距一致；且该绝缘层仅涂覆于同组分区的其中之一分区之上；不同组分区之间，所述各ITO平行电极的线宽、线距之一或之二设置为不同值。4.如权利要求1或2或3所述的IT0测试板，其特征是所述IT0导电层包括若干分区；每一分区分别仿真STN或CSTN液晶显示器的IT0电极走线。5.如权利要求1或2所述的IT0测试板，其特征是所述ITO导电层包括若干分区；所述分区被整体划分二组，二组中的各分区一一对应，对应分区结构相同、各ITO平行电极的线宽线距分别相同；所述绝缘层仅涂覆于其中之一组分区之上；同一分区的各ITO平行电极的线宽线距分别相同。6.—种IT0电极腐蚀的测试方法，包括如下步骤将仿真ITO电极走线的IT0测试板置于预定温湿度的环境中，对IT0电极通以一定时间的工作电压，对IT0电极的腐蚀情况进行评估。7.如权利要求6所述的测试方法，其特征是所述工作电压为仿真IT0电极在实际工作过程中所受的有效电压。8.如权利要求6或7所述的测试方法，其特征是所述ITO测试板同时仿真STN或CSTN液晶显示器的IT0电极走线；或分別仿真STN或CSTN液晶显示器的IT0电极走线。9.如权利要求6或7所述的测试方法，其特征是所述ITO测试板采用同一玻璃基板分区仿真STN和CSTN液晶显示器的IT0电极，各分区IT0电极的走线间距、线宽、绝缘层覆盖、绝缘层覆盖材料中的一个或一个以上因素不相同。10.如权利要求6或7所述的测试方法，其特征是所述ITO测试板采用同一玻璃基板对称设置IT0导电层，该IT0导电层包括分成二组的若干分区，二组中各分区一一对应，对应分区的ITO走线结构相同；每组内各分区的走线线宽或线距之一或之二设置为不同值；其中之一组涂覆绝缘层。11.如权利要求6或7所述的测试方法，其特征是对涂覆相同的绝缘层、相同线距、相同线宽的ITO电极，按正交设计的不同电压、温度、湿度组合成不同的高温高湿环境，对各组ITO电极通电相同时间，以评估不同电压、温度、湿度对ITO腐蚀的影响。12.如权利要求6或7所述的测试方法，其特征是对IT0电极走线线距相同、线宽相同的ITO测试板，涂覆不同之绝缘层，以评估不同之绝缘层材料的防腐性能。全文摘要本发明公开了一种ITO测试板，该测试板包括玻璃基板、ITO导电层和绝缘层，其中，ITO导电层涂覆于玻璃基板上，绝缘层涂覆于ITO导电层的部分或全部表面；该ITO测试板可仿真STN或CSTN液晶显示器的ITO电极走线。本发明还公开了一种使用ITO测试板的测试方法，该方法将ITO测试板置于预定温度湿度的环境中，对ITO电极通以一定时间的工作电压，对ITO测试版的腐蚀情况进行评估。采用本发明的方案，可以对影响ITO玻璃腐蚀的因素进行有效、客观地测试和评估。文档编号G01R31/28GK101339302SQ20071007582公开日2009年1月7日申请日期2007年7月5日优先权日2007年7月5日发明者周佩先,石道才,枫郑申请人:比亚迪股份有限公司