专利名称：确定辐射检测器的灵敏度的方法
技术领域：
本发明涉及数字放射线摄影系统的质量保证.
更具体来说，本发明涉及与用在数字放射线摄影系统中的一组检
测器相关的质量保证，该组检测器被称作检测器清单(detector inventory)。
背景技术：
所设想的检测器可以是粉末磷光体屏幕或针困像板(needleIP)、 直接放射线摄影检测器(被设置成用于直接放射线摄影的无定形硅、 无定形硒、Cmos、裤光体检测器等等)或类似检测器.
通过把所述检测器(也被称作"平板")啄光于X射线场而在该 检测器上记录辐射困像.在所谓的读出系统(也被称作"数字化器") 中读出由该检测器临时存储的所述辐射图像，在该读出系统中利用具 .有适当波长的光对所曝光的检测器进行扫描，其中检测到由该检测器 在受到激励时发射的经过困像方面调制的光并且将其转换成表示所述 辐射困像的数字图像信号。
磷光体屏幕或针困像板通常被放置在盒带中，并且不是所述读出 系统的一部分。这意味着需要对于每一个检测器评估该检测器的均匀 性.
均匀性的概念指的是所述检测器在该检测器表面的每一点处相对 于平均灵敏度的灵敏度。这一概念被称作固有均匀性.其对于该检测 器表面的每一点处的恒定刑量被表示为由所述屏幕发射的平均信号的 一个百分比。
对于每一个检测器还可以评估所述灵敏度是否在规范之内，即对 于给定的刑量评估由该检测器发射的信号是否在规范之内.
美国医学物理学家协会(简称为AAPM)计算机放射线摄影笫10
任务组讨论了接收器可再现性、密度均匀性和伪像分析.该组织声明， 预期所述固有的接收器之间的均匀性是均质且连贯的。该任务组提出 一种用于检测器测试的程序，并且还定义了验收水平.
所规定的程序涉及对检测器清单的所有检测器部件进行啄光，从
而把所有检测器相对于入射X射线束的轴集中.在整个平板表面上对 各检测器进行均勾地照射.随后相对于预定义的验收水平评估由校准 后的读出系统从各检测器读出的信号.
IEC公布了一种用来评估平板间灵敏度变化的测试程序.该测试 是为了确认存储裤光体系统的平板间灵敏度变化处于所指定的范围 内，并且满足制造商的规范或者规章或合同要求.
所述AAPM组已经规定，在不均匀性方面，10%的峰-峰变化是可 以接受的，并且对于灵敏度规范，10%的变化是可以接受的.
本发明的一个目的是提供一种确定参与在检测器清单测试中的各 辐射检测器的灵敏度的方法.
发明内容
上述目的是通过一种具有如权利要求1所述的特征的方法实现 的.在各从属权利要求中阐述了本发明优选实施例的特定特征.
参照下面的描述和附图，本发明的其他优点和实施例将变得显而 易见。
附困说明
图l是数字放射线摄影中的一般设置； 图2示出了本发明的方法的相继步骤； 图3示出了数据信号发生器的结果；
图4以闺形的方式示出了仿真的每个检测器的ROI信号；
图5对于多个检测器示出了对应于每个感兴趣区域的信号值的位
置；
图6对于多个检测器尺寸示出了不同感兴趣区域的位置的分布； 图7A和7B示出了关于补偿x射线拍摄之间(shot-to-shot)的曝
光刑量变化的方法步骤以及用于自动检查不均匀性和/或灵敏度要求的
程序；
图8是示出了相对于被取作参考的感兴趣中心区域表示的检测器 信号比值的曲线图9是示出了对应于检测器清单中的不同检测器的不均匀性值的
曲线图io是示出了对应于检测器清单中的不同检测器的相对灵敏度的 曲线图。
具体实施例方式
为了能够执行根据本发明的方法，要求所述检測器清单(也被称 作平板清单)的所有检测器部件都经受基本上均匀并且基本上完全相
同的照射场，该照射场是由对应于给定辐射剂量水平的诸如x射线源
之类的辐射源发射的.
在
图1中示出了用于照射各检测器以及用于读取存储在检测器中 的信号的一般设置.
基于通过在读出设备(也被称作数字化器)中从检测器读出信号 所获得的数字困像，对所述检测器清单的各检测器进行分析.在下面 假设所述检测器是光激励罅光体屏幕，但是也可以设想其他类型的检 测器，
由所述数字化器检测到的信号源自撞击到所述检测器上的x射线 的照射水平以及该检测器自身的均匀性和/或灵敏度.由于这些因素具 有乘法效果，因此要求所述照射水平在所述辨光体屏幕上的每一个位 置处是相等的，以便能够对一组检测器的均匀性和/或灵敏度做出正确 的评估.
然而，在实践中，在所述照射场中会发生变化.
这些变化源自这一亊实不是所述检测器表面的每一点都与所述 辐射源具有相同的距离.在照射轴上的一点最接近所述辐射源的焦 点，并且比起位于该检测器边界处的一点将会自动接收到更多照射.
导致不均勻照射的第二种效应是所谓的足跟效应，其导致在所有 方向上评估的所发射x射线的频谱和强度并不均匀.这种效应源自这 一亊实由于所述焦点不在所述x射线源的阳极的表面上而是在所述 阳极之下，因此在该x射线源的阳极处通过距离差而进行滤波，从而 产生强度变化以及频谱变化. 一般来说，检测器不仅对于照射量是敏 感的，而且对于撞击辐射的频谦也是敏感的.因此，所述足跟效应导 致对所述检测器表面的照射的不均匀性。
所述照射场的变化的笫三种原因是由当光束落在所添加的滤波器 上时的光束距离差而造成的，从而导致垂直落在所述滤波器上的光束 相对于有角度地穿过这些滤波器的光束受到不同的衰减.
由于上面描述的效应，实际的输入照射场具有非常复杂的分布. 实现一个均匀的进入辐射场以用于对检测器进行照射看起来是不可能
的.
根据本发明的一个方面，首先确定所述实际的照射场不均匀性， 随后在计算所述检测器的灵敏度和/或均匀性(不均匀性)时抵消所述 照射场不均匀性，从而最终结果只包括所述检测器自身的效应，而不 包括所述照射场的不均匀性的效应.
在现有技术中，已经尝试通过用一半的刑量对所述检测器执行两 次照射来解决上述问题，其中在第一次照射期间把该检测器定位在第
一位置处，随后在第二次照射之前将其旋转180度.
通过把从受到两次半剂量照射的该检测器读出的信号相加，至少 可以部分地消除所述不均勾照射场的效应.
通过仿真产生关于检測器清单测试的数据
为了获得足够多数量的数据以便执行对灵敏度和/或均匀性的测 量，可以通过所谓的感兴趣区域(ROI)信号发生器执行如下所述的数 据仿真程序.
对于多个测试检测器，针对该检测器表面上的多个感兴趣区域产 生一个信号值.在所描述的示例性实施例中，存在五个感兴趣区域. 可以对应于由上面提到的AAPM组织定义的位置来选择所述区域
的位置，
第一区域在所述照射场的光束轴上位于所述检测器的中心处.在 检测器的特定尺寸的表面区域内定义四个另外的感兴趣区域的位置， 这些感兴趣区域当中的每一个形成该检测器的所述表面区域上的一个 象限的中心.
首先产生每个感兴趣区域内的平均困像信号.
在实践中，所述数据不是被仿真，而是从所曝光的各检测器的读 出中收集的.利用所述辐射源的给定的电压和mAs设置执行所述曝 光。
然而还采用一个剂量计，这是由于从实践中已经知道仅仅依赖于 从照射管的控制台读取的电压和mAs值是不够的，因为所述x射线发 生器和照射设备存在x射线拍摄间的差异.
所述剂量计被定位在所述照射场中的接近所述检测器但是处在该 检测器区域外部的所指定的固定位置处，从而利用该刑量计可以确定 所述照射设备的x射线拍摄间的不稳定性。
通过执行这一测量，将有可能对于在检测器的所述五个感兴趣区 域当中的每个感兴趣区域内测量的信号执行校正.
在所述数据仿真步骤中，对所述X射线拍摄间的差异进行仿真.
在图3的左上列中示出了由信号发生器产生的数据.所述数据是 根据一个仿真模型产生的，其中对于多个检测器，对所述照射设备的 给定的x射线拍摄间的变化进行仿真.
该仿真示例的检测器部件的数目等于27，所述各检测器被标记为 A到Z、 AA、 AB和AC.
此外，在第二列中对每一个检测器上的不均勻性的量进行仿真. 这在该列中被表示为"局部灵敏度变化，峰-峰增益".在该示例中， 所述局部灵敏度变化是"5"，这意味着假设对于一个困像检测器可以 测量到5%的峰-峰信号的变化(灵敏度).
这被用在所述数据生成模型中，以便自动产生ROI信号.
图3中的第三列包括与不均匀的2D咏光场的仿真相关的数据.所 述不均匀性是前面所描述的足跟效应、局部的源到检测器距离以及所 使用滤波器的组合效应的结果，其代表被分配给每个ROI的遮蔽 (shading)(相对于中心感兴趣区域表示).
将所述遮蔽与对应于所述检测器的峰-峰增益变化相组合.
这样，获得了适用于根据本发明方法的图像分析的数据.这些数 据在图3中的标题为"仿真的图像分析" 一列中给出.
图3中示出的表的该部分对于所述中心感兴趣区域和四个另外的 感兴趣区域包括一个仿真的图像信号值，该仿真的困像信号值是从对 上述效应的仿真得到的.所述信号值被表示为"百分比全尺度线性 值".
所述数字化器提供经过量化的信号，所述经过量化的信号的值在 零到最大信号之间，其值取决于量化范围U0比特，12比特，对应于
饱和水平的最大值).
在图4中以困形的方式显示了通过所述仿真得到的结果.
图4的橫轴示出了不同的检测器，所述检测器由字母A到Z以及 AA、 AB和AC表示.
该图的纵轴代表所产生的信号值.
图中的各点代表对应于每个感兴趣区域的信号值的位置.
在该图的右侧示出了平均值.
困5对于多个检测器(H、 F、 N、 V)示出了对应于在横轴上表示 的每一个ROI(Ql、 Q2、 Q3、 Q4、中心ROI)的信号值的位置.
此外还示出了对应于所述四个检测器的平均信号分布(见点划 线).
上面描述的仿真得到多个数据信号，所迷数据信号可以被用来说 明和测试本发明的方法.这些数据充当对本发明的算法的虚拟输入，
应当明白，在本发明的真实世界应用中，使用在检测器清单的各 检测器部件上测量的信号而不是仿真的数据.
在图1中示出了所述真实世界设置.
在图2中示出了说明本发明的方法的相继步骤的方框图，
确定及提取不均匀照射场
下面对本发明的关于确定不均匀照射影响的一方面进行描述. 一旦提取了该不均匀照射，将在计算所述各检测器的不均匀性和
灵敏度的过程中抵消所测量的分布.
所述测试开始于检测器清单的需要被评估的多个(例如20个、30
个)检测器部件。
所述各检测器被咏光于完全相同的几乎均匀的照射场
所曝光的检测器被输入到一个数字化设备中，在该设备中利用具 有适当激励波长的激光对它们进行扫描.在受到激励之后，所述各检 测器发光，利用一个光电换能器检测到所述光并且将其转换成信号表 示，随后将其转换成数字信号表示，
由上述读出设备(也被称作数字化器)在五个感兴趣区域的位置 上读出的信号随后被用于如下所述的评估.在该特定实施例中，所述 读出信号被变换成线性信号，并且校正数字化器的偏移.
对于每个检测器定义所述五个感兴趣区域，在这些感兴趣区域(在 特定应用中，这些感兴趣区域是位于该检测器的中心处以及位于所述 四个象限当中的每一个象限中心处的约为2mm的圃)内计算所述平均 信号，并且在这五个数据值的基础上对所述检测器清单测试的每一个 检测器部件继续进行评估.
图6示出了不同的感兴趣区域的位置分布。该图中的各点示出了 对应于可能的不同检測器格式的感兴趣区域的位置.
在一个特定实施例中，不同的检测器格式相对于所述照射轴被集中。
优选地，各感兴趣区域被定位成使得在所述测试中使用的最大检 测器格式的各象限的中心位于作为该测试一部分的最小检测器格式的 边界内，从而独立于所述格式，即使在最小格式的检測器中也可以找 到五个感兴趣区域.
假设作为所述检測器测试的一部分的所有检测器都具有相同的尺 寸，从而在图像中的各感兴趣区域被完全相同地定位.
然而，这对于本发明并不是十分重要.
还有可能在单一检测器清单测试中混合具有不同尺寸的平板.在 这种情况下，将对于所有检测器收集关于每个感兴趣区域内的信号值 的数据，其中所述感兴趣区域是对于所有所述格式定义的.因此，将 对于每一个检测器收集对应于经受所述检测器清单测试的检测器的每 一种检测器格式的图像数据(在所描述的实施例中是对应于所述检测
器清单测试的每个检测器格式部分的5个信号值).所有这些数据的 组合有助于抵消所述不均匀照射场的效应.
为了能够定义及评估所述不均匀照射场，把每个检测器具有一个 平均灵敏度这一亊实纳入考虑.
检测器的局部灵敏度由以下各项的组合导致在粉末鳞光体平板 的情况下是礴光体层的厚度，或者在针图像板的情况下是针晶体层的 组成。
由于源自这种所膝光的检测器的对应于给定照射水平的信号被认 为是该检测器的局部灵敏度的函数，并且该局部灵敏度具有正态分 布，因此在考虑到大量检测器的情况下，我们应用统计量假设平均而 言任何检测器的局部灵敏度都是相同的.
通过把所述检测器清单测试的不同检测器部件上的相应感兴趣区
域(其在每个检测器中具有相同的位置)的信号求平均，可以对撞击 在所述检测器表面上的所述照射场的不均匀性做出估计.
为了不使得描述复杂化，假设所述检测器清单测试仅仅包括相同 格式的检测器。
因此，所描述的实施例中的每个检测器具有五个感兴趣区域，所 述感兴趣区域位于每个检测器内的相同地方.
这意味着当抵消所述照射场不均匀性时，仅有源自这些感兴趣区 域的信息被抵消.
在实际情况中，并不是每个医院都具有足够多的相同格式的检测 器来执行对应于该格式的测试，以便能够对所述不均勾照射的效应执 行统计抵消.
如上所述，在一个优选实施例中，所述感兴趣区域的位置使得在 特定检测器清单中的最大可用检测器格式的各感兴趣区域仍然被定位 在所述最小可用格式的检测器场的外缘尺寸内，从而对于每个检测器 的每个困像中的所有格式，可以对于所有检测器格式的所有感兴趣区 域找到一个平均信号.
因此，对于经受所述测试的每个(不同格式的)检测器具有一个 数字信号，其中可以在对于所有可用检测器格式(从而不仅是对于所 评估的特定检测器的格式，而且是对于所述检测器清单中的其他格 式)定义的每一个感兴趣区域的位置上从该数字信号中提取所述信号 值.
例如，在一个示例性測试中(其中有七个格式可用，并且对于每
个检测器取5个感兴趣区域的信号)，35项数据将可用于通过如上所 述的统计求平均来确定所述不均匀照射分布. 剂量补偿
通过图7中示出的示例性数据说明关于x射线拍摄间的膝光刑量 变化的方法步骤。
图7B的左列包括表示对于多个检测器测量的辐射剂量的输入数 据，所述检测器被标记为A-Z以及AA、 AB和AC.
执行所述剂量测量以便允许消除所述辐射发生器和辐射源的x射 线拍摄间的不稳定性.
如果一个检测器接收了过多的辐射，则关于该检测器的结果与接
收了较少辐射的检测器的结果不可比较.
为了能够消除该效应，使用通过剂量计测量的反馈.重新计算数 据，以便适合实际上恒定的辐射水平.
在第一列下面是包括相同数据但是以大小递增的顺序组织的一列.
在一个实施例中，如下计算所迷虚拟平均照射水平首先确定所
述值的中值，随后关于围绕该中值的多个检测器值计算所述各值的平 均值.
该平均值被用作该检测器清单测试的虚拟参考剂量.
在该值的基础上，通过一个刑量补偿因数来补偿对应于所述测试 中的不同检测器的各单独刑量值.
该剂量补偿因数使得对于每个检测器获得的对应于五个感兴趣区 域的各信号被校正，从而补偿由曝光的X射线拍摄间的变化导致的不
均匀照射.
当检测器的所测量剂量大于所计算的平均剂量时，所述剂量补偿
因数小于1;当对于某一检测器检测到的剂量小于所述平均计算剂量 时，该补偿因数大于l.
在该困中的困像分析列具有5列，其中包括被表示为百分比全尺 度线性的所测量的经过线性化的平均信号(因此是对于所述数字化器 的偏移以及对于该数字化器的平方根或对数特性被校正的数据).所 述五列与位于所述四个象限Q1、 Q2、 Q3、 Q4和所述中心感兴趣区域 当中的每一个中心处的感兴趣区域相关.通过前面解释的分析获得这 些数据，所述分析是对于每个ROI执行的.该表是二维的，这是因为 其涉及到与对应于单一特定格式的各检测器的ROI相关的数据.该表 可以具有附加的维度，其包括对应于在所述测试中可用的其他检测器 格式的ROI的ROI数据(如前面所解释的那样)。
下面的解释将基于与单一特定盒带格式相关的数据.为了解释方
便，假设该测试中的所有检测器具有相同的格式.
为了测量所述刑量，把一个刑量计放置在处于所述照射场中的接 近所述检测器但是却在该检测器的困像场外部的一个固定位里处的检 测器固定器上，该位置是与检测器格式无关的固定位置.
在一个实施例中，不同格式的所有检测器都被放置在一个固定器 上，所述固定器处在相对于所述照射光束轴集中的位置处，这是借助 于一组孔洞以及与之协作的参考引脚执行的.
由所述刑量计测量的实际剂量并不精确地对应于在所述中心(所 述照射轴的位置)位置处的剂量.
对于该效应，计算一个考虑到距离差的校正，在所述测量中考虑 该校正，
由于所述检测器清单测试通常是"相对测试"，这意味着在所述 测试中的各检测器的灵敏度是相对于彼此被确定的，因此检测器所接 收到的有效实际剂量并不很重要.
然而，在诸如图2(右上)中所示出的图的聚类困中，平均剂量值 被表示成一个绝对值.当计算所述各检测器的灵敏度的绝对值时，重 要的是考虑到由所评估的检测器接收到的有效实际剂量.
为了测量绝对灵敏度，重要的是知道在所述进入辐射的轴上的剂 量.对于所述剂量计的轴外位置及其与所述RX轴上的所述检测器上位 置的高度差，将确定一个校正因数(基于距离差).
该校正因数在图7B中被称作"距离和轴外校正因数"，并且其考 虑到在所述检测器上的轴上的刑量水平.
在图7B的表的"图像分析"列中的数据对于特定的检测器格式给 出在五个感兴趣区域Ql、 Q2、 Q3、 Q4和所述中心位置上的信号值. 这些信号值是原始数据(作为全尺度百分比的线性化的平均信号)， 其尚未对于以下因素被校正所述辐射发生器的x射线拍摄间的不稳 定性，不同检测器上的局部灵敏度对不同感兴趣区域的影响，作为足 跟效应的结果的共模辐射因数，以及场分布中的距离差.
最重要的是在每一个所述原始困像数据信号中提取所述共模輻射 变化，
为此目的，在每个检测器的感兴趣区域Ql、 Q2、 Q3和Q4中的 信号值将相对于在所述中心感兴趣区域内找到的信号值被表示.在该 中心感兴趣区域内的信号被取作参考并且被设置到"1"，其他信号则 相对于该中心感兴趣区域内的该信号而被转换.这导致每个感兴趣区 域的信号比值。
参见图7A中的表(相对于中心感兴趣区域的局部信号比值)。 这也在图8的曲线困中示出.该检测器信号比值曲线图对于每个
检测器示出了每个感兴趣区域相对于所述中心感兴趣区域的信号比值.
该曲线图对于被标记为H、 F、 N和V的四个检测器表示每个象限 相对于中心ROI (被称作参考)的检测器信号比值.每个检测器的作 为感兴趣区域的函数的信号分布相对于在所述中心感兴趣区域中检测 到的信号被归一化.
在作为参考位置的中心位置处组合所有曲线图.
对于每个检测器获得一种场信号分布.从而消除所述X射线拍摄 间的不稳定性.
获得经过剂量校正的遮蔽分布.该信号遮蔽分布还包括由照射场 不均匀性产生的照射遮蔽.
通过对这些信号遮蔽分布求平均，可以确定底层共同照射遮蔽分 布是什么。
这是通过对于每个感兴趣区域对与所述检测器清单测试中的每个
检测器相关的信号(见困7A的表相对于中心ROI的局部信号比值) 求平均来执行的.
在该表的底部示出了每个感兴趣区域的所述平均值.(平均值或 者中值)，该值统计地表示每个感兴趣区域的共模信号比值因数.通 过所述求平均，可能存在于每个检测器中的不均匀灵敏度的效应被统 计地消除，这是由于对大量检测器取了平均值.
在图7A的表(顶部)的下方对于每个感兴趣区域表示出一个中值 平均信号比值，其中所述中心ROI被取作参考.
可以通过连接这些中值平均信号比值而形成的曲线困表示二维辐 射遮蔽，这是由于通过上述求平均抵销了所述检测器的不均匀灵敏度 的效应。
在图8中示出的检测器信号比值的曲线图对于四个检测器示出了 在对所述中心感兴趣区域进行了参考校准之后的相应的信号比值.
如果已经对于所述测试中的所有检测器执行了所述操作，则将已 经找到之前计算的所述中值平均值.
在图8中通过点划线示出了表示所述中值遮蔽分布的这些值.
如果在所述测试中有足够多的检测器可用，則所述值将对应于所 有检测器的照射的变化.
通过提取该曲线困，获得对应于所述不均匀检测器照射的校正因 数，这些值可以在实际计算灵敏度和不均匀性时被用于补偿的目的.
直到现在为止，已经根据以下假设提取了所述不均匀照射遮蔽 如果对于大量检测器计算了所述信号比值的中值(其中所迷中心感兴 趣区域内的信号被取作参考)，则得到所述不均匀照射场的签名.
确定不均匀性
现在必须确定每个检测器的不均匀性.
此外还确定特定检测器的信号对于其每个感兴趣区域与所述不均 匀照射遮蔽模式的上面确定的值的差异程度.
这在图2中示出.对于每个检测器，以百分比的方式(+或-)确 定针对特定位置找到的ROI信号比值相对于相同位置处的中值的偏 差.该偏差对于每个检测器的每个ROI表示在抵销了不均匀照射和x 射线拍摄间的差异之后的局部的固有不均匀性.
接下来，对于每个检测器，针对每个ROI局部地确定最大偏差.
在困7B的表中，在标题"不均匀性-与平均瀑光遮蔽的偏差，％ 平均信号"下示出了该最大偏差，
这些值被表示为所述检测器平均信号的百分比，并且代表对于不 均匀照射在局部ROI信号比值与参考信号比值之间找到的最大偏差.
在计算所述清单平均不均匀性时，下一步是对于所述检测器清羊
测试的所有图像部分计算所有所找到的检测器固有最大值的平均值. 该值被表示为清单平均不均匀性值(在困7B的表的底部).
在图7B的表中的所述不均匀性列中找到的值是每个检测器的最 大值，其以绝对值的形式被表示为所述检测器平均信号的一个百分 比。
在图9中以困形的方式对于每个检测器示出了这些值.在横轴上 示出了检测器标识，在纵轴上示出了作为对于每个检测器确定的最大 值的百分比绝对偏差.
在该图的右側示出的条表示所述清单平均不均匀性.其是所述不 均匀性的平均最大绝对偏差。
确定灵敏度
当确定所述灵敏度时，考虑到下面的校正值对所述辐射源和场 分布(遮蔽)的x射线拍摄间的不稳定性进行校正的距离和轴外校正 因数。前面已经描述了对于这些值的计算.
在图7B的表中，中间列表示经过剂量和遮蔽校正的线性化的检测 器平均信号(以全尺度线性值表示).
这些值源自每个感兴趣区域的所述原始图像信号.该原始困像信 号对于照射的局部不均匀性被校正(困7A的表中示出的因数-不均匀 性的中值计算).对于每个ROI执行该操作.
计算这些经过校正的原始信号值的平均值(由于与5个感兴趣区 域相关的数据可用性，因此和被除以5)。随后对于x射线拍摄间的变 化校正该平均值，这是通过将该值乘以所述剂量补偿因数.
该动作得到一个对于照射异质性以及x射线拍摄间的变化被校正 的平均图像信号.
该信号是一个经过刑量归一化的信号，其表示所评估的检测器的 平均灵敏度。
该信号被表示为百分比全尺度线性，并且对于所述检测器清单的 所有检测器部件被计算.
这样做对于所述测试中的每个检测器产生经过刑量和曝光遮蔽归 一化的信号值.清单平均信号被计算为对于每个检测器计算的所述信 号的平均值.该值在困7B的表的底部被表示为清单平均信号.
在图10中示出了标题为"灵敏度"的困.(灵敏度被表示为一个 百分比，其参考是零百分比，该参考表示经过剂童校正的各单独的检 测器平均信号的平均值).该图对于被标记为A-Z、 AA、 AB、 AC的 所有检测器以百分比的形式表示与(被设置在零百分比的)平均灵敏 度信号的偏差，
已经发现，平均来说检测器比所述参考更加灵敏或者更不灵敏. 对应于整个检测器清单测试的所有成员的这些检测器平均值的平均值 被任意地设置到零百分比.
所述零百分比还指代在困2中的聚类图中示出的零百分比，其中， 在单个图中示出了所有检测器关于其在不均匀性以及灵敏度方面的特 性的位置.
所述清单平均测试信号是一个百分比线性化的信号，其被用于各 检测器平均灵敏度的相对比较.
除了所迷聚类图之外，示出所述信号所代表的内容也是令人感兴 趣的.
因此，相对于利用所述照射轴上的刑量值计算为每单位剂量的信 号量的值示出所述清单平均信号.其代表绝对灵敏度.
在图7B的字段"清单平均灵敏度"中示出了所述值，其中所述清 单平均被示为一个绝对值，该绝对值是通过把所述清单平均值除以对 于所述各检测器上的中心位置(轴上)计算的刑量而获得的.该值表
示每单位剂量的信号量.
到现在为止，已经对于整个清单确定了平均不均匀性和平均灵敏度.
所述平均灵敏度信号已经被转化成一个相对于所述平均刑量(在
各检测器的中心处计算的平均剂量)的绝对值.(如困2的聚类图中 所示).
在详细描述了本发明的优选实施例之后，本领域技术人员将会明 白，在不脱离由所附权利要求书所限定的本发明范围的情况下可以对 本发明进行许多修改.
权利要求
1、一种检测参与在检测器清单测试中的各辐射检测器的灵敏度的方法，包括以下步骤-使得每一个所述检测器经受基本上完全相同的平场辐射曝光，以便在该检测器中产生辐射图像；-利用剂量计对于每一个所述辐射图像测量该检测器被曝光的相应的辐射剂量；-对于每一个所述检测器产生表示在预定义数目的感兴趣区域(ROI)处的所述辐射图像的多个信号(ROI信号)，针对所述平场曝光在检测器表面上的不均匀特性校正所述ROI信号；-利用所述校正后的ROI信号对于每个检测器计算检测器信号；-还针对由所测量的辐射剂量的差异所反映的所述曝光设备的x射线拍摄间的辐射输出变化率校正所述检测器信号；-通过对所述校正后的检测器信号求平均对于所述清单计算清单平均信号；-把所述相对检测器灵敏度确定为所述校正后的检测器信号与所述清单平均信号的偏差。
2、 根据权利要求l的方法，其中，定义对于所述相对检测器灵敏 度的验收标准，并且评估所述相对检测器灵敏度是否满足所迷验收标准.
3、 根据权利要求l的方法，修改之处在于，替代所述相对检测器 灵敏度，通过以下步骤确定检测器清单平均灵敏度-基于所述剂量测量数据计算在所述检测器平面处的轴上清羊平 均剂量，其中所述剂量测量数据是在参与所迷清单测试的各检测器的 辐射膝光期间收集的；-把所述轴上清单平均刑量除以所述清单平均信号。
4、 根据权利要求l的方法，其中通过以下步骤针对所述x射线拍摄 间的膝光变化率校正所迷ROI信号 - 通过计算多个所测量的剂量值的平均值来计算对应于所述清单的平均剂量值；-通过考虑到对应于每个检测器的实际測量的剂量与所述清单平 均剂量值的偏差，对于该检测器计算刑量补偿因数； 把该刑量补偿因数乘以检测器信号，所述检测器信号是通过对每个检测器的经过不均匀咏光校正的ROI信号求平均而获得的，所述每个 检测器的经过不均匀曝光校正的ROI信号是通过把所述ROI信号除以 其相应的清单中值ROI信号比值来计算的.
5、 根据权利要求4的方法，其中通过以下步骤获得所述平均剂量值-对于为每个所述检测器所检测到的剂量值进行排序；-考虑在排序后的剂量值的中值周围的多个剂量值；-计算所考虑的各值的平均值，所述平均值表示所述清单平均剂量值； 对于每个检测器计算对应于该检测器的照射的实际测量的刑量 与所述清单平均剂量的偏差；-对于每个检测器在该偏差的基础上计算剂量补偿因数.
6、 根据权利要求l的方法，其中，通过以下步骤产生附加的ROI 信号数据把所述各检测器旋转预定义的角度，把所述各检测器膝光 于所述基本上完全相同的平场咏光，以及在所述各感兴趣区域的相同 位置处检测ROI信号.
7、 根据权利要求l的方法，其中，所述各感兴趣区域位于辐射检 测器的中心处以及位于每一个所述象限的中心处。
全文摘要
使得检测器清单的每一个检测器经受完全相同的平场曝光，以便在每一个所述检测器中产生辐射图像，根据所述辐射图像确定总体场分布并且在所述图像中抵消所述场分布，接下来确定所述灵敏度。
文档编号G01T1/24GK101109820SQ200710110200
公开日2008年1月23日 申请日期2007年6月18日 优先权日2006年6月19日
发明者M·克雷森斯, W·埃克塞尔曼斯 申请人:爱克发医疗保健公司