专利名称：检测磁共振检查系统中的失超的制作方法
技术领域：
本发明涉及磁共振检査系统和操作该磁共振检查系统的方法。特别地， 本发明涉及的磁共振检查系统包括围绕检查区域并且在检查区域中生成主 磁场的超导主磁体，以及还包括在检查区域内选择性地引起交变梯度磁场 的磁场梯度系统，所述磁场梯度系统被耦合到主磁体。
背景技术：
近来，已经提出了新型的磁共振检査系统设计，其中，主磁体系统包 括超导材料的磁线圈，并且其中，所述磁场梯度系统被置于超导线圈系统
的外侧并且提供软铁(weak-iron)通量传导系统以引导磁梯度通量进入患 者膛内。在公开为WO2005/124381 A2的国际专利申请中给出了该磁共振 检查系统的详细说明。该新型磁共振检查系统的一个主要优点是减小的扫 描器噪声("无声成像")。此外，主磁体的超导线圈更接近于检査区域 而不折衷于有效的膛尺寸。因此，需要较少的超导材料，其减少了所述磁 共振检查系统的总花费。
对于常见的磁共振检查系统，已知地使用平衡桥电路以检测新出现的 失超(emergingquenches)，艮P，部分线圈中超导状态的丢失。然而，所述 磁共振检査系统的主磁体外侧的磁场梯度系统的布置可以在主磁体中引起 电压，其可能被错误地视为失超。现有技术的失超检测方法因此并不适合 于确保这样的磁共振检査系统的超导主磁体的失超的可靠检测。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种技术以可靠地检测磁共振检査系统的超 导主磁体的失超，其中，磁场梯度系统以梯度磁场可以在主磁体内引起电 压的方式耦合到主磁体。通过磁共振检査系统实现本发明的目的，所述磁共振检查系统包括围 绕检査区域并在所述检査区域内产生主磁场的超导主磁体，以及还包括在 所述检查区域内选择性地引起交变梯度磁场的磁场梯度系统，所述磁场梯 度系统耦合到主磁体，其中，所述磁共振检査系统包括用以检测主磁体的 新出现的失超的检测设备，所述检测设备适于根据磁共振检查系统的操作 模式而采用不同模式操作。
根据本发明，也可以通过一种操作磁共振检查系统的方法实现该目的， 所述系统包括围绕检査区域且在检查区域内产生主磁场的超导主磁体， 以及还包括在检查区域内选择性地引起交变梯度磁场的磁场梯度系统，所 述磁场梯度系统耦合到主磁体，其中，所述方法包括检测主磁体的新出现 的失超的步骤，所述检测依赖于磁共振检查系统的操作模式而采用不同模 式执行。
还通过计算机中执行的计算机程序来实现本发明的目的，所述程序包 括用耦合到磁共振检査系统的主磁体的磁场梯度系统检测所述主磁体的新 出现的失超的计算机指令，当在计算机中执行计算机程序的时候，根据磁 共振检查系统的操作模式而采用不同的模式来执行所述检测。
可以因此在根据本发明的计算机程序的指令的基础上了解根据本发明
的必要技术效果。该计算机程序可以被存储在硬盘、诸如CD-ROM的载体 上或其可以经由因特网或其他计算机网络得到。在执行之前，通过从例如 通过CD-ROM播放器的载体或从因特网中读取计算机程序而在计算机中载 入所述计算机程序并且存储在所述计算机的存储器中。所述计算机其中包 括中央处理器(CPU)、总线系统、例如RAM或ROM等的内存器件、例 如软盘或硬盘单元等的存储器件、以及输入/输出单元。可替代地，本发明 的计算机程序可以采用硬件实现，例如，使用一个或多个集成电路。
本发明的核心思想是提供一种具有失超检测功能性的磁共振检査系 统，其依赖于所述磁共振检查系统的操作的模式而采用不同模式操作。换 言之，失超检测可以适于磁共振检查系统或其部分在不同操作模式下的不 同性能。因此，提供了一种非常灵活的失超检测功能性，其可以用于，例 如，如果磁共振检査系统的主磁体一方面在斜升或斜降期间而另一方面在 连续操作期间表现出不同的性能的情况。因此，在本发明中，在磁场梯度系统耦合到主磁体的情况下实现一种可靠的失超检测。由于失超检测，所 述磁体将不会因为失超而损坏。另外，由于失超检测技术仅仅使用简单的 和鲁棒的组件就能达到，因此可以确保非常可靠的失超检测。因此，可以 提供一种非常安全和可靠的磁共振检查过程。通常，本发明可以应用于所 有磁共振检査系统，其中，所述梯度线圈系统能在主磁体内引起干扰电压。
在权利要求书所定义的下列实施例的基础上，将进一步详细说明本发 明的这些和其他方面。
根据本发明，所述检测设备可操作的不同模式的数目并不受限制。例 如，如果具有二、三或四种磁共振检査系统的操作模式，则所述检测设备 可以相应地分别适于以二、三或四种不同操作模式进行操作。
根据本发明的一个优选实施例，检测设备适应于在主磁体的斜升和斜 降期间以第一模式操作，在该模式中，所述检测设备包括具有第一阈值的
第一測量信号(Um，b)，以及所述检测设备还适于在所述主磁体的连续操作期 间以第二模式操作，在该模式中，所述检测设备包括具有第二阈值的第二 測量信号(Um,a)。所述第一阈值和所述第二阈值优选地在预先在磁共振检 査系统的设置相位定义。然而，所述阈值也可以由检测设备基于所述磁共 振检查系统的己知设置而动态地确定。
根据本发明的一个优选实施例，所述第一测量信号是耦合到所述主磁 体的(一个或多个)线圈的电桥电路的电阻上的桥电压。在该情况中，所 述电桥优选地将主磁体的(一个或多个)线圈划分为两个对称线圈段。换 言之，存在没有失超情况下的平衡桥电压，即如果桥处于平衡状况，则 所述桥电压为零。在主磁体内失超的情况下，所述桥电压不为零。
根据本发明的优选实施例，所述第二测量信号是主磁体上的总电压。 为了确保在主磁体的连续操作期间可以将所述总电压用作第二测量信号， 所述主磁体优选地适于这样的方式，即磁场梯度系统在主磁体的连续操作 期间基本上不会在主磁体内引起感应电压。换言之，必须确保所述主磁体 上的总电压并不由改变梯度磁场而受损，梯度磁场是具有耦合到主磁体的 梯度线圈的磁检査系统的固定值。然而，梯度线圈相对于磁体的中平面对 称，因此不会发生净耦合(net-coupling)。根据本发明的优选实施例，检测设备包括将检测设备在第一操作模式 和第二操作模式之间自动切换的切换器件，所述切换器件适于接收指示所 述磁共振检査系统的操作模式的信号，优选地，晶体管或继电器被作为切 换器件使用。因此，切换器件从电源控制处接收信号，其指定了操作模式 (斜升、斜降或连续操作)。根据磁共振检査系统的操作模式，切换器件 选择检测设备的操作模式。可替代地，切换器件可以被实现为计算机系统 中的数字切换。根据这样的实现，指定磁共振检查系统的操作模式的电源 控制信号被传送到所述计算机系统并且使用软件程序以设置检测设备的相 应操作模式。
根据本发明的一个优选实施例，所述检测设备适用于控制保护器件以 在失超情况下保护主磁体。特别地，检测器件适用于在检测到新出现的失 超的情况下断开主磁体的电源。优选地，在该情况下检测设备适于操作开 关以断开主磁体的电源。磁共振检查系统优选地采用如下方式布置，艮P-
通过在主磁体绕组(main magnet's winding)外侧消耗所存储的电磁能量而 使主磁体安全地斜坡向下。该器件限制了在主磁体绕组中的不可控制的电 磁能量消耗，其可以损害或破坏主磁体。替代地，大部分磁能量在特定阻 抗中安全地消耗。
优选地，所述磁共振检査系统包括以如下方式连接于主磁体的多个大 电阻，S卩在断开主磁体的电源的情况下，通过主磁体的超导线圈的电流 被引导通过这些电阻。在该情况下，所述电阻通过从超导线圈接收电流以 及将所述电流转化为热而在一定程度上起到"能量吸收器"的作用。换言 之，电阻消耗了主磁体绕组外侧的大量能量，因此，在失超开始的区域的 局部加热被最小化。因此，在误触发所述检测设备的情况下，即，在不必 要地断开主磁体的电源的情况下，主磁体保持在超导状态，并且再次进入 操作而不需要任何延迟。
将参照如下的实施例和附图，通过示例的方式在下文中详细地描述本 发明的这些和其他方面，其中
图1示出了磁共振成像系统的示意性框图；图2示出了磁共振成像系统的磁场生成部分的透视图3示出了图2的磁共振成像系统的透视图，其中，移除了主场磁铁 的真空护套和支撑管的一部分以展示主磁线圈和磁场梯度系统； 图4示出了说明磁共振成像系统的组件的示意性电路； 图5示出了根据本发明的方法的流程图； 图6示出了在主磁体的斜升期间的测量信号图； 图7示出了在斜升期间具有起始失超的测量信号图； 图8示出了在主磁体的连续操作期间具有起始失超的测量信号图； 图9示出了解释本发明的另一实施例的示意性电路； 图IO示出了解释本发明的另一实施例的示意性电路；以及 图11示出了解释本发明的另一实施例的示意性电路。
附图标记
IOMRI扫描器
12通量返回护罩
14膛管
16真空护套
18检査区域
20主磁体
21温度传感器
22绕组段
24线圈部分
30梯度系统
32轭
34梯度线圈 40环 42环 44环 50闩
60 RF系统65主磁体电源
66梯度系统电源
67测量装置
68测量装置
69开关
70计算机系统
71控制电路
72信号线
73模拟数字转换器
75电桥
76控制线
77信号线
78 二极管
79开关
80处理单元
90计算机程序
91软件检测模块
92软件切换模块
100显示器
101-105方法步骤
200斜升相位
300连续操作相位
具体实施例方式
如在图1中所示的，磁共振成像(MRI)扫描器10包括超导主磁体20， 所述超导主磁体20围绕检查区域18 (参照图2)并在检査区域18内生成 主磁场。另外，MRI扫描器10包括使MRI信号能被空间定位的磁场梯度 系统30。如在下文中更详细描述地，磁场梯度系统30在检查区域18中选 择性地引起交变梯度磁场，并且其被置于主磁场20的外侧。另外，MRI扫描器10包括射频(RF)系统60，所述射频(RF)系统60传输能量并且接 收信号信息，以及计算机系统70以控制扫描器组件和子系统。
参照图2和3，MRI扫描器10包括由外部通量返回护罩12和内部膛管 14组成的外壳。外部通量返回护罩12和内部膛管14密封在一起以限定真 空护套16。检查区域18位于膛管14内。患者或其他成像对象被置于检查 区域18内。主磁体20被置于真空护套16内。磁体20使用超导材料构成， 例如，在30到100K温度下操作的高Tc超导体。主磁体20包括多个空间 分离的通常环状的磁体绕组段(magnet windings segment) 22，在图3的实 施例中为6段。每个绕组段22包括多匝电导体，优选地为超导体。通常地， 与靠近通量返回护罩12相比，主磁体20更加靠近膛管14。
对主磁体20的绕组段22进行设计以在检查区域18中产生基本空间均 匀的磁场，其中，主磁场向量沿着平行于膛管14的轴的轴向或z方向。外 部通量返回护罩12由铁磁材料构成并提供通量返回路径以完成磁通回路。 即，由主磁体20产生的磁通遵循穿过包括检查区域18的膛管14内部的闭 合回路并且通过穿过通量返回护罩12而返回其自身。所以，在主磁体20 和通量返回护罩12之间的真空护套16内存在低磁场区域。
磁场梯度系统30置于位于主磁体20的外侧和通量返回护罩12的内侧 间的低磁场区域内。磁场梯度系统30包括线圈和可选择的铁磁部件布置从 而产生用于成像的梯度场Gx、 Gy、 Gz。这些线圈和部件采用这样的方式布 置和成形，使得在切换梯度的时候在整个磁电路内引起的净电压为零。在 2005年12月20日提交的美国临时专利申请US 60/752,121中描述了这一特 殊布置，在此以整体引用的形式将其并入本文。如图2和3中所示出的， 采用了铁磁轭32，其包括置于通常为环状的磁绕组段22之间的三个铁磁环 40、 42、 44。磁场梯度系统30还包括多个磁场梯度线圈34。这些场梯度线 圈34包括电线匝或围绕铁磁闩50的其他电导体，所述铁磁闩被布置为通 常地横跨铁磁环40、 42、 44并且与铁磁环40、 42、 44连接。磁场梯度系 统30通过4个成九十度环型间隔布置的闩而具有4倍旋转对称。每个闩50 包括围绕在左右对称的平面的任一侧的磁场梯度线圈34。在如WO2005/124381 A2公开的国际专利申请中的MRI扫描器10中 给出了关于磁场梯度系统30的布置的更详细信息，在此以整体引用的形式 将其并入本文。
MRI扫描器10的计算机系统70包括处理单元80，其适于根据本发明 执行运算和计算数据以及确定和估计结果的所有任务。这些根据本发明通 过计算机程序90而实现，所述计算机程序90包括当在处理单元80中执行 软件的时候适于执行本发明方法的步骤的计算机指令。特别地，处理单元 80适用于执行计算机程序90以检测主磁体20的新出现的失超，所述检测 根据MRI扫描器10的操作模式而采用不同的模式执行。通过执行计算机程 序卯实施软件检测模块91，其功能将在下文详细讨论。所有设备，特别地 处理单元80，以及应用软件检测模块91,采用这样的方式构成和编程使得 数据处理过程根据本发明的方法而运行。处理单元80自身可以包括功能性 模块或单元，其可以以硬件、软件或其二者组合的形式实现。换言之，本 发明也可以仅仅使用专门的硬件而不需要使用计算机程序来实现。在该情 况下，软件检测模块91可以被实施为示出相同功能性的硬件设备。MRI扫 描器10的计算机系统70连接到外部触摸屏监视器100，所述外部触摸屏监 视器IOO作为MRI扫描器操作者的接口。可替代地，使用与计算机键盘和/
或计算机鼠标相组合的传统显示器。
参照图4， MRI扫描器10包括针对主磁体20的超导线圈的第一电源 65以及针对磁场梯度系统30的线圈的第二电源66。通过例如高阻抗电压 计的适合的测量设备67，在主磁体20的线圈附近处测量主磁体20的总电 压Um，a。针对主磁体20的超导线圈的第一电源65的连接可以通过开关69 而断开。主磁体20的线圈作为具有电感Lp L2和电阻Rb R2的对称电路 给出。电桥75被连接到主磁体20的超导线圈，并将主磁体20的线圈分为 两个对称线圈段24，形成平衡桥电路。提供大测量电阻RM以通过例如高
阻抗电压计的合适的测量设备68而获取桥电压UM，b。优选地，电阻RM的
值为一到数千Ohm的量级。测量设备67、 68通过信号线77连接到计算机 系统70的模拟数字转换器73。桥电路75还包括两个大电阻R3、 R4。电阻 R3和R4的量值依赖于主磁体20的电感L并且优选地采用确保主磁体20内 的电流快速减少，例如在ls内的方式。给定该时间常数，R3和R4必须满足条件L/( R3+ R4) 1 s。电阻R3和R4平行地连接主磁体20的线圈段24。 在斜升和连续操作期间开关69闭合。在该情况下，由于电阻R" R4和RM 远大于主磁体20的电阻R,、 R2，主磁体20的线圈携带所有电流。
另外参照附图5，现在描述MRI扫描器10的操作方法。在馈送步骤101，
主磁体20的桥电压UM,B和总电压UM，A均传送入计算机系统70，在此通过
模拟-数字转换器73将这些测量信号转换为数字信号。
因为计算系统70控制主磁体20的电源66，所以其不变地控制MRI扫 描器10的操作。换言之，计算机系统70的控制电路71可以产生操作信号， 所述操作信号指示MRI扫描器10是在连续操作模式下还是在斜升或斜降模 式下操作。软件检测模块91经由信号线72从控制电路71处接收这些信号。 在计算机程序卯内，切换软件切换模块92用于接收所述信号。软件切换 模块92也可以被实现为软件检测模块91的一部分。根据这些信号，在切 换步骤102中，所述软件切换模块92将软件检测模块91自动地在第一操 作模式和第二操作模式之间切换。现在，如果软件检测模块91在其第一操 作模式，则使用桥电压UM，B以检测主磁体20的失超，如果软件检测模块 91在其第二操作模式，贝U使用总电压UM^以检测主磁体20的失超。
为了检测失超，在比较步骤103中，桥电压UM,B或总电压UM，A通过软 件检测模块91分别与第一或第二阈值电压Uq,B或Uq,A比较，所述阈值电压 Uq，B和Uq,A被存储在计算机系统70的数据库中。分别地，将在斜升和斜降 期间使用的桥电压UM，B与阈值电压Uq,B比较，而将总电压UM，A与阚值电压 Uq，A比较。
软件检测模块91经由控制线76控制开关69，所述控制线76连接计算 机系统70和开关。如果超出了一阈值，则在步骤105中通过软件检测模块 91打开开关并且断开主磁体20的电源。之后，通过在主磁体绕组的外侧， 即在电阻Ra、 R4内消耗所有存储的电磁能量而安全地斜降。如果检测到了 失超，则例如以电阻形式的可选的额外加热元件(未示出)被用于有目的 地加热所述主磁体20的超导线圈。这样的加热元件优选地由计算机系统70 控制。由于均匀加热，主磁体20的电阻可以增加。因此，可以防止在主磁 体20上的所谓热点的出现。热点对应于局部受限的阻抗传导区域。在这些 区域，温度由于引起电阻率额外增加并因此引起额外温度升高的消耗而增加。特别地，如果主磁体由高Tc超导材料制成，其中，热传导非常低，由 于消耗的热产生超过了热传导且因此可能导致主磁体20中的一些损坏。
参照图6到8，将讨论测量信号UM,a (实线)和Um3 (虚线)。图6 示出了在主磁体20的斜升期间的两个信号的产生。由于主磁体线圈的自感,
在斜升相位200总电压UM,a较大。因为UM,a是如此大，其不能在该相位使
用以指示主磁体20的失超。然而，桥电压UM,b保持为0且不受主磁体20 的斜升的影响。因此，在斜升相位200期间，软件检测模块91将桥电压
UM,b用作为测量信号以检测新出现的失超。如果桥电压UM,b超出了阈值
Uq，b，则软件检测模块91指示失超。
图7中示出了新出现的失超。在斜升相位200的特定时间点tq，发生主 磁体200的失超。换言之，主磁体的一部分的状态从超导性转变为普通电
阻率。总电压UM，a的路线基本保持不变，这是由于其大体上受到自感的控
制。然而，桥电压UM,b出现了显著的变化，这是因为桥75由于主磁体线圈 的上部或下部24内的电阻率的改变而不平衡。此外，在主磁体20的斜降 相位，能够获得相同的信号性能。因此，在斜降相位(未示出)软件检测
模块91将桥电压UM,b用作测量信号以检测新出现的失超。
图8示出了在主磁体20的连续操作相位300的Um，a和Um,b。如在图 的左侧可以看出的，在切换时间ts处，桥电压受到由于切换磁场梯度系统 30而引起的交变梯度磁场的严重影响，这是由于磁场梯度系统30在主磁体 20内引起电压。另一方面，由于梯度系统30和主磁体20布置的对称性， UM^保持不变且不受到这样的交变梯度磁场的影响。在主磁体20的连续操
作期间的特定时间点tq处新出现的失超的情况下，UM，A和UM,B均发生变化。
尽管梯度切换可能导致Um,b的变化，但是UM,A的变化可靠地指示了失超。
因此，在连续操作相位期间，软件检测模块91将总电压UM，A用作测量信号 以检测新出现的失超。如果总电压UMA超出了阈值Uq，A，则软件检测模块
91指示失超。
在本发明中，在主磁体20的斜升、斜降以及连续操作相位，可以可靠 地检测失超。此外，失超检测不受磁场梯度系统30的切换的影响。
图9、 10和11示出了本发明的另外的实施例。在图9中，二极管78 与电阻&和R4串联以避免剩余电流通过电阻R3和R4。采用与图4中所示相同的方式操作开关69。在图10中，使用电阻Rs (1 Ohm)以及使用另外 的电阻R3、 R4和Rm (每个为l千Ohm)。此外，如所示地使用开关79。 在操作过程中，开关79闭合且没有电流通过Rs。在检测失超的情况下，电 源关闭且开关79打开。结果所有电流通过Rs且在那里部分地消耗。计算 机70采用如上所述的相同方法控制开关79。在图11中，使用多个二极管 78代替电阻Rs (参照图IO)。与电阻相比较，级联二极管78的优势是非 线性的特征电流/电压曲线。因此，与使用电阻的情况相比较，在二极管78 上的压降(以及在所述二极管中的消耗)保持较大以减少电流。
对于本领域技术人员来说，本发明显然不受限于前面示出的实施例的 详细描述，并且在不脱离本发明精神或实质特征的情况下，本发明可以以 其他特别的形式实施。因此，本实施例在所有方面都应被考虑为阐释性的 而不是限制性的，并且本发明的保护范围通过权利要求书而不是在前说明 书来限定，以及在权利要求的等价物的意图和范围内的所有变形都应该确 定在其保护范围内。此外，词语"包括"显然不排除其他元件或步骤，词 语"一"或"一个"不排除多个，以及单个元件，诸如一计算机系统或其 他单元可以满足权利要求书中多个组件的功能。权利要求书中的任何附图 标记都不应该构成对权利要求的限制。
权利要求
1、一种磁共振检查系统(10)，包括-围绕检查区域(18)并且在所述检查区域(18)中产生主磁场的超导主磁体(20)，以及-在所述检查区域(18)内选择性地引起交变梯度磁场的磁场梯度系统(30)，所述磁场梯度系统(30)耦合到所述主磁体(20)，其特征在于，所述磁共振检查系统(10)包括用于检测所述主磁体(20)新出现的失超的检测设备(91)，所述检测设备(91)适于根据所述磁共振检查系统(10)的操作模式以不同的模式操作。
2、 如权利要求l所述的系统(10)，其中-所述检测设备(91)适于在所述主磁体(20)的斜升和斜降过程中以 第一操作模式操作，在所述模式中，所述检测设备(91)将第一测量信号与第一阈值(Uq,B)进行比较，以及-所述检测设备(91)适于在所述主磁体(20)的连续操作过程中以第 二操作模式操作，在所述模式中，所述检测设备(91)将第二测量信号与第二阈值(Uq,a)进行比较。
3、 如权利要求2所述的系统(10)，其中，所述第一测量信号为耦合到所 述主磁体(20)的线圈上的电桥电路(75)的电阻(Rm)上的桥电压(Um3)。
4、 如权利要求3所述的系统(10)，其中，所述电桥(75)将所述主磁体 (20)的所述线圈划分为两个对称线圈部分(24)。
5、 如权利要求2所述的系统(10)，其中，所述第二测量信号是所述主磁 体(20)上的总电压(Um,a)。
6、 如权利要求5所述的系统(10)，其中，所述主磁体(20)适用于这样 的方式，即在所述主磁体(20)的连续操作期间，所述磁场梯度系统(30) 基本上不会在所述主磁体(20)内引起感应电压。
7、 如权利要求l所述的系统(10)，其中，所述检测设备(91)包括用于 将所述检测设备(91)在所述第一操作模式和所述第二操作模式之间切换 的切换器件(92)，所述切换器件(92)适于接收指示所述磁共振检査系 统(10)的操作模式的信号。
8、 如权利要求l所述的系统(10)，其中，所述检测设备(91)适于控制 保护器件(69)以在失超情况下保护所述主磁体(20)。
9、 一种操作磁共振检査系统(10)的方法，所述系统(10)包括围绕检查 区域(18)并且在所述检査区域(18)中产生主磁场的超导主磁体(20)， 以及还包括在所述检査区域(18)内选择性地引起交变梯度磁场的磁场梯 度系统(30)，所述磁场梯度系统(30)耦合到所述主磁体(20)，其特征 在于，所述方法包括检测所述主磁体(20)的新出现的失超的步骤，根据 所述磁共振检査系统(10)的操作模式而采用不同的模式来执行所述检测。
10、 一种在计算机(80)中执行的计算机程序(90)，所述程序(卯)包括 当在所述计算机(80)中执行所述计算机程序(90)的时候，用耦合到磁 共振检查系统(10)的主磁体(20)的磁场梯度系统(30)检测所述主磁 体(20)的新出现的失超的计算机指令，根据所述磁共振检査系统(10) 的操作模式而采用不同的模式来执行所述检测。
全文摘要
本发明涉及一种磁共振检查系统(10)以及一种操作该磁共振检查系统(10)的方法。特别地，本发明涉及一种磁共振检查系统(10)，其包括围绕检查区域(18)并且在检查区域(18)中产生主磁场的超导主磁体(20)，以及还包括在检查区域(18)中选择性地引起交变梯度磁场的磁场梯度系统(30)，所述磁场梯度系统(30)耦合到主磁体(20)。为了提供一种技术以可靠地检测该磁共振检查系统(10)的超导主磁体(20)的失超，提供了一种检测设备(91)用以检测主磁体(20)的新出现的失超，所述检测设备(91)适于根据磁共振检查系统的操作模式(例如，斜升、斜降或连续操作)而采用不同模式操作。
文档编号G01R33/3815GK101535831SQ200780041479
公开日2009年9月16日 申请日期2007年11月5日 优先权日2006年11月10日
发明者H·蒂明格, J·A·奥弗韦格 申请人:皇家飞利浦电子股份有限公司