专利名称：螺母光孔轴线垂直度检具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种螺母冲孔成型后检验其轴线与螺母端面垂直 度的检具。
背景技术：
螺母冲孔成型时，发生所冲的孔与螺母端面垂直度不合格问题， 现有技术中并没有相应的检具。 发明内容
为了克服己有技术中螺母冲孔成型后无法检测所冲的孔与螺母端 面垂直度是否合格的不足，本实用新型提供一种能够检测所冲的孔与 螺母端面垂直度是否合格的螺母光孔轴线垂直度检具。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是
一种螺母光孔轴线垂直度检具，包括芯棒和滑套，所述滑套套装 在芯棒上，所述芯棒包括至少三个不同直径的阶梯轴，所述芯棒一端 为锥形轴，所述锥形轴的直径最大处与芯棒的中轴一端连接，所述芯 棒的中轴的另 一端与圆柱连接，芯棒的中轴的直径比锥形轴的直径最 大处大，且同时比圆柱的直径小，所述芯片的中轴与滑套内孔滑动配 合，所述滑套的外径比所述圆柱的外径小。
本实用新型的有益效果主要表现在能够检测所冲的孔与螺母端 面垂直度是否合格，能够快速判断是否合格。
图1是本实用新型的螺母光孔轴线垂直度检具的结构图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一歩描述。
参照图l， 一种螺母光孔轴线垂直度检具，包括芯棒1和滑套2，
所述滑套2套装在芯棒1上，所述芯棒1包括至少三个不同直径的阶 梯轴，所述芯棒一端为锥形轴，所述锥形轴的直径最大处与芯棒的中 轴一端连接，所述芯棒的中轴的另一端与圆柱连接，芯棒的中轴的直 径比锥形轴的直径最大处大，且同时比圆柱4的直径小，所述芯片的 中轴与滑套内孔滑动配合，所述滑套2的外径比所述圆柱4的外径小。 将滑套2套装在芯棒1上，圆柱4阻挡滑套2的滑动，然后将成 型制品3 (例如螺母)套在芯棒的锥形轴上，对照成型制品3与滑套 的连接面，即可检测所冲的孔与螺母端面垂直度是否合格，如两个平 面无间隙，则合格；反之则不合格。
权利要求1、一种螺母光孔轴线垂直度检具，其特征在于包括芯棒和滑套，所述滑套套装在芯棒上，所述芯棒包括至少三个不同直径的阶梯轴，所述芯棒一端为锥形轴，所述锥形轴的直径最大处与芯棒的中轴一端连接，所述芯棒的中轴的另一端与圆柱连接，芯棒的中轴的直径比锥形轴的直径最大处大，且同时比圆柱的直径小，所述芯片的中轴与滑套内孔滑动配合，所述滑套的外径比所述圆柱的外径小。
专利摘要一种螺母光孔轴线垂直度检具，包括芯棒和滑套，所述滑套套装在芯棒上，所述芯棒包括至少三个不同直径的阶梯轴，所述芯棒一端为锥形轴，所述锥形轴的直径最大处与芯棒的中轴一端连接，所述芯棒的中轴的另一端与圆柱连接，芯棒的中轴的直径比锥形轴的直径最大处大，且同时比圆柱的直径小，所述芯片的中轴与滑套内孔滑动配合，所述滑套的外径比所述圆柱的外径小。本实用新型提供一种能够检测所冲的孔与螺母端面垂直度是否合格的螺母光孔轴线垂直度检具。
文档编号G01B5/24GK201210042SQ20082008656
公开日2009年3月18日 申请日期2008年5月4日 优先权日2008年5月4日
发明者姜海峰, 张纪明, 谢仔新, 谢伟东, 郭好礼, 陈生观 申请人:浙江乍浦实业股份有限公司;浙江工业大学