专利名称：具扫描仪之基材检测装置的制作方法
技术领域：
本发明系一种具扫描仪之基材检测装置，尤其是一种以扫描仪作为影像 撷取设备，以全面性地撷取基材表面之影像，且能縮小整体装置之体积以及 成本的基材检测装置。
背景技术：
由于合成材料基材广泛地应用于电子、半导体、纺织等产业，该基材系 利用含浸步骤而掺杂有树脂等物质的多层纤维、塑料、纸及玻璃等基材，如 含浸于环氧树脂的玻纤布、为提高纸张的强度和耐水性而含浸树脂的纸张， 并可制成具有热固性之薄片状成品，而且目前各产业之产品皆要求精密化以 及高品质，因此运用于生产产品的基材则必须具有极良好的品质，才能制成 高价值且符合需求的产物。
一般判断基材是否有缺陷需要藉由分别检测基材的上、下表面是否有所 缺陷，目前系利用一种检测装置，以光学检测法来检测基材的上、下表面。
请参看台湾专利证书第M285884号以及M283174号之新型专利案，其各揭 露一种检测装置，二者之主要特征请参看第4及5图所示，其系在于包括一框 架(60)以及一控制单元(70)，该框架(60)中央设有一承载基材(20)之输送带 (80)以及设置在相对于该输送带上方及下方的二影像撷取装置，该输送带 (80)系呈透明，而该影像撷取装置包括可调整角度之一灯源(91)以及一线性 电荷耦合组件摄影机(Line CCD Camera) (92)，藉由灯源(91)与摄影机(92) 的角度调整而使得摄影机(92)能够撷取到基材(20)表面的影像，该控制单元 (70)系连接于该影像撷取装置，且包括一影像处理装置，如FPGA影像处理演 算系统(Field-programmable gate array),以接收并处理摄影机(92)撷取 到的影像，而检测基材(20)表面是否出现瑕疵。由于该影像撷取装置系呈"点"之设置，而所要侦测的基材(20)表面系
一 "面"的呈现，因此该影像撷取装置中的摄影机(92)需要能够调整角度， 且灯源(91)亦须搭配摄影机(92)而改变角度，才能撷取到基材(20)整个表面 之影像。
然而，就因为既有的影像撷取装置必须能够调整角度而照射到完整的基 材(20)表面，所以该影像撷取装置必须要设置在离输送带(80)较远之处(大 约距离5(T60公分)，使得影像撷取装置无须转动太大幅度即可照射到完整的 基材(20)表面，亦能够避免该摄影机(92)在照射时出现死角。如此，该框架 (60)的整体体积势必会增加，才能让影像撷取装置与输送带(80)之间维持一 定的距离。
因此，既有基材检测装置的缺点即在于框架(60)体积大，造成框架(60) 材料成本上的负担，且影像撷取装置之可旋转性以及所使用之昂贵的线性电 荷耦合组件摄影机(92)，皆增加该基材检测装置的成本。
发明内容
本发明人有鉴于现有基材检测装置的框架体积大且所使用的影像撷取装 置昂贵，因此经过不断的研究以及努力试验之后，终于发明出此具扫描仪之 基材检测装置。
本发明之目的系在于提供一种以扫描仪作为影像撷取设备，以全面性地 撷取基材表面之影像，且能縮小整体装置之体积以及成本的基材检测装置。
为达上述目的，本发明具扫描仪之基材检测装置，系包括
一框架；
一输送带，其系设置于该框架上；
至少一扫描仪，其系固定于该框架且至少相对于该输送带之上表面，其 具有一灯源以及一影像撷取单元；
一控制单元，其系连接于该扫描仪。
进一步的，所述输送带系具有可透光性，且在相对于该输送带之下表面 亦设有固定于框架的扫描仪。
4由于扫描仪系呈一 "线"的设置，并横跨于输送带上，所以当输送带运 作而让基材通过该扫描仪时，则该扫描仪可将基材表面完整扫描，并以该影 像撷取单元撷取影像，再传至该控制单元，因此该扫描仪完全无须转动，使 得扫描仪与输送带之间的距离能够縮短，故可縮小框架的体积，并节省框架 的制作成本；而且目前扫描仪已发展成熟而大量生产，所以扫描仪的价格 低，使得本发明之基材检测装置的成本能够降低。
图l系本发明之立体图。
图2系本发明之侧视图。
图3系本发明之端视图。
图4系现有技术基材检测装置的立体图。
图5系现有技术基材检测装置的侧视图。
主要组件符号说明
10、 80-输送带20 -基材30-扫描仪40 、 70 -控制装置 50、 60 -框架91 -灯源 92-摄影机
具体实施方式
请参看第1及2图所示，本发明之自动调整照明强度的基材检测装置，
其系包括
一可透光的输送带IO，其系用于承载并传送基材20;
至少二扫描仪30，亦请附加参看第3图，其系分别设置于该输送带10 的上方与下方，且各扫描仪30距输送带10之距离约为20公分以下，各扫 描仪30系具有一灯源以及一具感光组件的影像撷取单元，该扫描仪30可为 反射式扫描仪，其系在扫瞄时朝基材20投射光线，再由具有感光组件的影 像撷取装置以接收基材20所反射的光；
一控制装置40，系内建有影像处理程序，并与该输送带10以及该扫描 仪30相连接，以分别控制该扫描仪30的运作，并接收该扫描仪30之影像撷取单元所撷取到的影像资料，以进行影像的处理，并判断基材20的品
质；
一框架50，其系固定于该输送带10的两侧，用以将该扫描仪30固定 在输送带10的上、下方位置，且包括一影像处理装置，如FPGA影像处理演 算系统(Field-programmable gate array),以接收并处理摄影机撷取到的 影像，而检测基材表面是否出现瑕疵。
由于本发明之扫描仪能够在不转动的情形下撷取到基材表面的影像，所 以能够縮短各扫描仪与输送带的距离，其中各扫描仪与输送带的距离可縮短 至约20公分以下，较既有的各影像撷取装置与输送带之间50 60公分的距 离已节省二至三倍之多，若以整体高度观之，则本发明之框架可较既有框架 减少60 80公分以上，因此能够节省框架的材料，又能縮小框架之体积，使 得该基材检测装置能够节省摆放之空间，又能方便运送。
而且因为扫描仪无须转动，因此输送带的转速能够加快，无须担心会有 部分表面的影像尚未被撷取，所以能够增加基材检测的速率。
再者，扫描仪的发展已经非常成熟，而且市场需求量大，因此价格较既 有基材检测装置的线性CCD摄影机便宜很多，故更能节省本发明之基材检测 装置的成本。而且各种适合用于本发明之扫描仪可被于本发明所属技术领域 中具有通常知识者所知悉，而其皆属于本发明之范畴。
权利要求1. 具扫描仪之基材检测装置，其特征在于，系包括一框架；一输送带，其系设置于该框架上；至少一扫描仪，其系固定于该框架且至少相对于该输送带之上表面，其具有一灯源以及一影像撷取单元；一控制单元，系与该扫描仪连接。
2. 根据权利要求l所述具扫描仪之基材检测装置，其特征在于其中 所述扫描仪为反射式扫描仪。
3. 根据权利要求1或2所述具扫描仪之基材检测装置，其特征在于 其中各扫描仪距输送带之距离为20公分以下。
4. 根据权利要求1或2所述具扫描仪之基材检测装置，其特征在于 其中所述输送带系具有可透光性，且在相对于该输送带之下表面亦设有固定 于框架的扫描仪。
5. 根据权利要求3所述具扫描仪之基材检测装置，其特征在于其中所述输送带系具有可透光性，且在相对于该输送带之下表面亦设有固定于框 架的扫描仪。
专利摘要本实用新型系一种具扫描仪之基材检测装置，其系包括一框架、设置于该框架上的一输送带和至少二扫描仪，以及一控制单元，该等扫描仪系固定于该框架且相对于该输送带之上、下表面，其具有一灯源以及一影像撷取单元，该控制单元系连接该扫描仪；由于扫描仪系呈一“线”的设置，所以当输送带运作而让基材通过该扫描仪时，该扫描仪可完整扫描基材表面，因此该扫描仪完全无须转动，使得扫描仪与输送带之间的距离能够缩短，而缩小框架的体积，并节省框架的制作成本；而且扫描仪的价格低，使得本实用新型之基材检测装置的成本能够更为降低。
文档编号G01N21/88GK201298023SQ200820135238
公开日2009年8月26日 申请日期2008年9月11日 优先权日2008年9月11日
发明者李辉雄 申请人:捷将科技有限公司