专利名称：射频含水分析仪磁环擦除装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于一种含水分析仪，特别涉及一种射频含 水分析仪磁环擦除装置。
背景技术：
含水分析仪测定原油中含水率时为了保证测定的含水 率的准确性，必须擦除探头表面蜡、垢和油污。现有的射频 含水分析仪是采用自动擦除机构带动橡胶擦油套来擦拭探 头表面。由于高粘稠油中含蜡量高，含胶质沥青量高，凝固 点高、粘度大，所以造成探头表面的蜡、垢和油污擦除不净， 影响高精度测量的准确性。 发明内容
本实用新型的目的是要解决现有技术存在的上述问题， 提供一种具有可擦除探头表面的蜡、垢、油污，保证探头高 精度测量能力的射频含水分析仪磁环擦除装置。
本实用新型是这样实现的它包括管状罩体，在罩体内 设有橡胶套和磁环，所述的橡胶套和磁环上、下相邻。
上述的射频含水分析仪磁环擦除装置，所述的橡胶套位 于磁环下面并通过压紧螺母安装在罩体上。上述的射频含水分析仪磁环擦除装置，在罩体上设有安 装孔，以便于与自动擦除往复机构中的导向块连接，实现探 头不动、擦除套往复运动的擦除方式。
上述的射频含水分析仪磁环擦除装置，在罩体顶部设有 环形卡沿，以便于与自动擦除往复机构护管连接，实现擦除 套不动、探头往复运动的擦除方式。
上述的射频含水分析仪磁环擦除装置，在罩体表面设有 通口，以便于原油通过。
本实用新型的优点是利用磁力排除探头结蜡、结垢、 油污干扰，自动擦除探头表面蜡、垢和油污，保证探头长期、 准确、可靠地探测含水信号。该射频含水分析仪磁环擦除装 置安装在现场后，原油通过探头时磁环产生的高强度磁场对 探头表面的蜡、垢和油污进行磁化处理，使其粘度降低，蜡 的结晶体分化。如重油，渣油等烃类，在磁场中受到磁能作 用而磁化，使油分子扩散细微均匀；盐类分子的电子运动方 位及轨道发生变化，原子和分子的结构改变，维系的结晶受 到破坏，分子间引力减弱，从而破坏结晶状态，进而达到除 蜡、除垢的目的。
图l是本实用新型的结构示意图(对应实施例l);
图2是本实用新型的安装示意图3是图2中A部放大图；图4是本实用新型的结构示意图(对应实施例2)。
图中l-罩体，101-环形凸台，102誦通口, 103-安装孔， 104-环形卡沿，2-磁环，3-橡胶套，4-压紧螺母，5-射频含水 分析仪，6-管段，7-探头，8-自动擦除往复机构，9-导向块， 10-紧固螺钉，11-丝母外套。
具体实施方式
.-实施例l
如图1-图3所示，本实用新型有一个管状罩体l，罩体l 表面设有通口102，在罩体1内壁下部设有环形凸台101，在 罩体1内壁对应环形凸台101处设置有磁环2和橡胶套3，在罩 体1底部对应橡胶套3外面设有压紧螺母4。通过压紧螺母4将 磁环2和橡胶套3紧固在罩体1内。在罩体l上部设有安装孔 103。
安装时将罩体1安装在自动擦除往复机构8下端，并通过 穿过安装孔103的紧固螺钉10与自动擦除往复机构8中导向 块9内侧的丝母外套11连接。把射频含水分析仪5通过管段6 安装在输油管道中。工作时，自动擦除往复机构8带动罩体1 往复运动，罩体1带动磁环2和橡胶套3将探头7表面的蜡、跪 和油污擦除干净，保证并提高含水测量的准确性。从而实现 磁环和橡胶套移动、探头不动的擦除方式。 实施例2
如图4所示，本实用新型有一个管状罩体l，在罩体l的顶部设有与罩体1为一体的环形卡沿104，在罩体l内壁设有 环形凸台IOI，在罩体1内壁下部对应环形凸台101设置有磁 环2和橡胶套3，在罩体1底部对应橡胶套3外面设有压紧螺母 4。通过压紧螺母4将磁环2和橡胶套3紧固在罩体1内。
安装时，将罩体1顶部的环形卡沿104与自动擦除往复 机构的护管下端口连接并通过锁紧螺母锁紧。从而实现探头 移动、磁环和橡胶套不动的擦除方式。
权利要求1、一种射频含水分析仪磁环擦除装置，包括管状罩体，其特征是在罩体内设有橡胶套和磁环，所述的橡胶套和磁环上、下相邻。
2、 根据权利要求l所述的射频含水分析仪磁环擦除装 置，其特征是所述的橡胶套位于磁环下面并通过压紧螺母 安装在罩体上。
3、 根据权利要求l所述的射频含水分析仪磁环擦除装 置，其特征是在罩体上设有安装孔。
4、 根据权利要求l所述的射频含水分析仪磁环擦除装 置，其特征是在罩体顶部设有环形卡沿。
5、 根据权利要求3所述的射频含水分析仪磁环擦除装 置，其特征是在罩体表面设有通口。
专利摘要一种射频含水分析仪磁环擦除装置，解决了由于高粘稠油中含蜡量高、含胶质沥青量高、凝固点高、粘度大，造成探头表面的蜡、垢和油污擦除不净，影响高精度测量的准确性的问题。它包括管状罩体，在罩体内设有橡胶套和磁环，所述的橡胶套和磁环上、下相邻。该射频含水分析仪磁环擦除装置利用磁力排除探头结蜡、结垢、油污干扰，自动擦除探头表面蜡、垢和油污，保证探头长期、准确、可靠地探测含水信号。
文档编号G01N33/28GK201307113SQ20082021969
公开日2009年9月9日 申请日期2008年11月20日 优先权日2008年11月20日
发明者朱广升 申请人:锦州电子技术研究所