专利名称：一种x射线荧光激发检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及载流x射线荧光品位分析技术领域，尤其涉及一种x射线荧光激发检测装置。
背景技术：
x射线荧光分析仪在矿石、金属元素分析领域具有广泛的应用空间，尤其在选矿行
业，利用x射线荧光分析仪进行矿石品位分析，具有诸多优点。x射线荧光分析仪是一种 利用初级x射线光子或其他微观离子激发待测矿物物质中的原子，使之产生荧光(次级x射
线)而进行矿物物质成分分析和化学态研究的方法。它主要包括激发、色散、探测、记录 及数据处理等单元。
现有的x射线荧光分析仪结构复杂，各个单元分散组合等缺点。
发明内容
鉴于上述现有技术所存在的问题，本发明的目的是提供一种结构紧凑简单、能够方
便的同时安装多个探测装置、测量的准确度高的x射线荧光激发检测装置。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的
一种x射线荧光激发检测装置，用于检测矿物样品中的矿物品位，该检测装置包括安
装基架、样品承载装置、X射线发生装置和探测装置；所述的样品承载装置、X射线发生
装置和探测装置固定安装于安装基架上，并且x射线发生装置与样品承载装置相通，探测
装置与样品承载装置相通。
所述的安装基架包括中空孔、安装法兰和探测装置安装件；中空孔设于安装基架轴 向中部；安装法兰设于安装基架的一个端面上并与中空孔垂直，安装法兰的外侧面设有 样品承载装置安装孔；探测装置安装件设于安装基架与中空孔平行的外表面。
所述的安装基架中空孔包括具有同一中心线的台阶孔，并且靠近两端部的台阶孔直 径大于中部的台阶孔；其中，远离安装法兰的端部台阶孔内径与X射线发生装置相适应，
4设有安装法兰端部台阶孔与探测装置安装件相连通。
所述的探测装置安装件包括与中空孔中心线平行的导槽。
所述的探测装置包括一个或者多于一个。
所述的探测装置包括六个。
所述的探测装置包括分光装置和X射线探测器，其中分光装置与X射线探测器连接。 所述探测装置中的分光装置与安装基架的探测装置安装件相连接。
所述的样品承载装置包括样品进口、样品出口和样品承载盒体；所述的样品进口和 样品出口分别设于样品承载盒体的上部和下部；所述的样品承载盒体与安装基架的安装 法兰相连接，并且样品承载盒体与X射线发生装置在同一轴线上。
所述的X射线发生装置与样品承载装置相通包括X射线发生装置所发出的X射线直接照 射样品承载装置的样品；所述的探测装置与样品承载装置相通包括样品承载装置中的样 品受X射线激发后所发出的二次X射线传输到探测装置。
本发明的X射线荧光激发检测装置通过上述的设计，将X射线发生装置和探测装置以 及样品承载装置整合到安装基架上，使X射线荧光激发检测装置具有结构紧凑简单、可以 方便的同时安装多个探测装置、测量的准确度高等优点。
图l为本发明的一种实施方式的结构示意图； 图2为本发明的一种实施方式的右视结构示意图3为本发明的安装基架的一种实施方式的结构示意图4为本发明的安装基架的一种实施方式的左视剖面结构示意图。
具体实施例方式
下面结合附图对于本发明的x射线荧光激发检测装置进行详细说明。
如图1和图2所示， 一种X射线荧光激发检测装置，用于检测矿物样品中的矿物品位， 该X射线荧光激发检测装置包括安装基架1、样品承载装置、X射线发生装置3和探测装 置；所述的样品承载装置、X射线发生装置3和探测装置固定安装于安装基架l上，并且X 射线发生装置3与样品承载装置相通，探测装置与样品承载装置相通。
所述的X射线发生装置3与样品承载装置相通包括X射线发生装置3所发出的X射线直接 照射样品承载装置的样品；所述的探测装置与样品承载装置相通包括样品承载装置中的样品受X射线激发后所发出的二次X射线传输到探测装置。X射线发生装置3包括X光管。
如图2和图3所示，所述的安装基架l为一回转体，包括中空孔101、安装法兰102和探 测装置安装件103;中空孔101设于安装基架1的轴向中部；安装法兰102设于安装基架1的 一个端面上并与中空孔101垂直，安装法兰102的外侧面设有样品承载装置安装孔1021; 探测装置安装件103设于安装基架1与中空孔101平行的外表面。
所述的安装基架中空孔101包括具有同一中心线的台阶孔，并且靠近两端部的台阶孔 直径大于中部的台阶孔1012;其中，远离安装法兰的端部台阶孔1011内径与X射线发生装 置3相适应，设有安装法兰端部台阶孔1013与探测装置安装件103相连通。设有安装法兰 端部的台阶孔1013与探测装置安装件103通过通孔1032相连通。
所述的安装法兰102既可以设为与整个安装基架1一体的，也可以设为与整个安装基 架1分体的。所谓分体的指的是安装法兰102是个独立的单元，其通过连接件固定连接于 安装基架l的一个端面上。
所述的探测装置安装件103包括与中空孔101中心线平行的导槽1031。所述的导槽 1031用于安装探测装置，在导槽1031的侧壁设有安装孔，通过该安装孔将探测装置固定 在安装基架l上。
如图l、图2、图3和图4所示，所述的探测装置包括一个或者多于一个。多个探测装 置均匀布置于安装基架l上。
所述的探测装置包括六个。其中三个探测装置安装于安装基架l的一侧，另三个探测 装置安装于与上述三个探测装置相对应的安装基架l的另一侧。
所述的探测装置包括分光装置401和X射线探测器402，其中分光装置401与X射线探测 器402连接。对矿物样品激发的二次X射线经过分光装置401到达X射线探测器402，由X射 线探测器402最终完成对于被测矿物样品的品位分析。
所述探测装置中的分光装置401与安装基架1的探测装置安装件103相连接。即分光装 置401安装于安装基架1的探测装置安装件103的导槽1031中，并且通过紧固件将分光装置 401固定于安装基架1上。
所述的样品承载装置包括样品进口202、样品出口203和样品承载盒体201;所述的样 品进口202和样品出口203分别设于样品承载盒体201的上部和下部，即样品进口202和样 品出口203分别设于样品承载盒体201对称的两端，以便于流体样品或者颗粒状样品通过 样品进口202进入样品承载盒体201内，而且在对于被测样品探测完成后，被测样品可以 通过样品出口 203被输送出样品承载盒体201 。所述的样品承载盒体201与安装基架1的安装法兰102相连接，并且样品承载盒体201 与X射线发生装置3在同一轴线上。
样品承载盒体201可以通过铰接安装于安装基架1的安装法兰102上，即在样品承载盒 体201与安装基架1的安装法兰102相连接处设有铰链或者铰轴，从而可以方便的打开或者 关闭样品承载盒体201。样品承载盒体201也可以固定安装于安装基架1的安装法兰102 上。
样品承载盒体201与X射线发生装置3在同一轴线上，以便于X射线发生装置3的发射窗 口与样品承载盒体201正对，X射线发生装置3发出的X射线直接照射到输入样品承载盒体 201中的样品。
本发明的X射线荧光激发检测装置属于X射线荧光分析仪的重要部分，本发明的工作 原理如下X射线发生装置3发出的X射线直接照射到输入样品承载装置中的被测样品，该 被测的流体样品或者颗粒状样品通过样品进口202进入样品承载盒体201内，而且在对于 被测样品探测完成后，被测样品可以通过样品出口203被输送出样品承载盒体201。被测 样品在X射线的激发下发出二次荧光，该二次荧光通过分光装置401到达X射线探测器 402，由X射线探测器402最终完成对于被测矿物样品的品位分析。
本发明的X射线荧光激发检测装置通过上述的设计，将X射线发生装置3和探测装置以 及样品承载装置整合到安装基架l上，使X射线荧光激发检测装置具有结构紧凑简单、可 以方便的同时安装多个探测装置、测量的准确度高等优点。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式
，但本发明的保护范围并不局限于此， 任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替 换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书的 保护范围为准。
权利要求
1、一种X射线荧光激发检测装置，用于检测矿物样品中的矿物品位，其特征在于，该装置包括安装基架、样品承载装置、X射线发生装置和探测装置；所述的样品承载装置、X射线发生装置和探测装置固定安装于安装基架上，并且X射线发生装置与样品承载装置相通，探测装置与样品承载装置相通。
2、 根据权利要求1所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述的安装基架包 括中空孔、安装法兰和探测装置安装件；中空孔设于安装基架轴向中部；安装法兰设于 安装基架的一个端面上并与中空孔垂直，安装法兰的外侧面设有样品承载装置安装孔； 探测装置安装件设于安装基架与中空孔平行的外表面。
3、 根据权利要求2所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述的安装基架中 空孔包括具有同一中心线的台阶孔，并且靠近两端部的台阶孔直径大于中部的台阶孔； 其中，远离安装法兰的端部台阶孔内径与X射线发生装置相适应，设有安装法兰端部台阶 孔与探测装置安装件相连通。
4、 根据权利要求2或3所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述的探测装 置安装件包括与中空孔中心线平行的导槽。
5、 根据权利要求1所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述的探测装置包 括一个或者多于一个。
6、 根据权利要求5所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述的探测装置包 括六个。
7、 根据权利要求5或6所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述的探测装 置包括分光装置和X射线探测器，其中分光装置与X射线探测器连接。
8、 根据权利要求7所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述探测装置中的 分光装置与安装基架的探测装置安装件相连接。
9、 根据权利要求1所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述的样品承载装 置包括样品进口、样品出口和样品承载盒体；所述的样品进口和样品出口分别设于样品 承载盒体的上部和下部；所述的样品承载盒体与安装基架的安装法兰相连接，并且样品 承载盒体与X射线发生装置在同一轴线上。
10、 根据权利要求1所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述的X射线发生 装置与样品承载装置相通包括X射线发生装置所发出的X射线直接照射样品承载装置的样品；所述的探测装置与样品承载装置相通包括样品承载装置中的样品受X射线激发后所发 出的二次X射线传输到探测装置。
全文摘要
本发明的一种X射线荧光激发检测装置，属于载流X射线荧光品位分析技术领域。该X射线荧光激发检测装置用于检测矿物样品中的矿物品位，其包括安装基架、样品承载装置、X射线发生装置和探测装置；所述的样品承载装置、X射线发生装置和探测装置固定安装于安装基架上，并且X射线发生装置与样品承载装置相通，探测装置与样品承载装置相通。本发明的X射线荧光激发检测装置通过上述的设计，具有结构紧凑简单、可以方便的同时安装多个探测装置、测量的准确度高的优点。
文档编号G01N23/223GK101614684SQ20091008989
公开日2009年12月30日 申请日期2009年7月27日 优先权日2009年7月27日
发明者周俊武, 宁 徐, 曾荣杰, 赵建军 申请人:北京矿冶研究总院