一种皮革厚度测定仪的制作方法

文档序号:5847168阅读:255来源:国知局
专利名称:一种皮革厚度测定仪的制作方法
技术领域
本实用新型涉一种皮革参数的测定仪,具体涉及一种皮革厚度的 测定仪。
背景技术
皮革厚度是皮革的一个非常重要的参数。传统的测量方法都是采 用接触式的测量方法。接触式测量方法具有很多缺点这种测量方法 中必须施加一定的作用力。由于皮革具有疏松性,采用接触法测量必 然会引起皮革变形。这种变形的大小随着皮革的种类而变化;同时, 传统的测量方法中没有考虑测量过程中环境温度对皮革厚度的影响。 所以这种方法一般都会弓i起比较大的误差,特别对于皮革商品生产或 交换过程中因为产品的厚度参数发生纠纷时,这种方法所测量的数据 缺乏说服力。所以需要研制一种能对温度影响进行修正的非接触测量 的新型皮革厚度测量装置。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种非接触测量,彻底排除人为因素 和环境因素的皮革厚度测定仪。
为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是包括放置皮革 样品的测量平台,在皮革样品的横截面正前方设置有显微镜,显微镜 经CCD摄像头与安装在计算机内的图像采集卡相连。本实用新型的测量平台上还安装有温度测量仪,温度测量仪与安 装在计算机内的数据采集卡相连。
本实用新型的计算机可以对图像信号进行处理,从而获得皮革样 品的厚度尺寸。测量方法为无接触测量方法,与现有技术相比,其显 著优点是非接触式测量,对温度影响进行修正,能快速、准确地测量 出皮革的厚度,大大提高了测量精度。
并根据测量现场温度对获得的参数进行修正,同时还根据测量现 场的温度进行修正。


图1为本实用新型的整体结构示意图。
具体实施方式

以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步描述。 参见图1,本实用新型包括放置皮革样品2的测量平台1,其特
征在于在皮革样品2的横截面正前方设置有显微镜3,显微镜3经 CCD摄像头4与安装在计算机8内的图像采集卡6相连,测量平台1 上还安装有温度测量仪5,温度测量仪5与安装在计算机8内的数据 采集卡7相连。
本实用新型的工作过程如下将要测量的皮革样品2平整地放到 测量平台1上,皮革样品的横截面正对着显微镜3,经显微镜3放大 后,再经过高清晰的CCD摄像头4,然后经过图像转换装置,即安 装在计算机8内的图像采集卡6进行采集和转换,将摄到的图像转换 成灰度图像。图像中可以得到很多可以量化的测量信息,如厚度、宽度等。计算机8经过对图像滤波分析和区域分割分析,即可得到皮革
横截面的特性参数。同时温度测量仪5将测量到的温度信号通过数据 采集卡7传送给计算机8。计算机根据测量现场的温度,对上述皮革 横截面的特性参数进行修正即可获得皮革样品的厚度尺寸。
权利要求1、一种皮革厚度测定仪,包括放置皮革样品(2)的测量平台(1),其特征在于在皮革样品(2)的横截面正前方设置有显微镜(3),显微镜(3)经CCD摄像头(4)与安装在计算机(8)内的图像采集卡(6)相连。
2、根据权利要求1所述的皮革厚度测定仪,其特征在于所说的测量平台(1)上还安装有温度测量仪(5),温度测量仪(5)与安装在计算机(8)内的数据采集卡(7)相连。
专利摘要一种皮革厚度测定仪,皮革样品平整放在信号采集台上。信号采集台上还安装有显微镜、CCD摄像头和温度传感器。摄像头和温度传感器分别通过图像采集卡和数据采集卡与计算机连接。显微镜对皮革样品横截面进行放大,CCD摄像头采集放大的皮革样品横截面的图像信号并传递给计算机;计算机经过对图像信号的处理,从而获得皮革样品横截面的参数。同时温度传感器将检测得到皮革厚度测量现场的温度信号传给计算机,计算机根据现场环境温度对获得的参数进行修正,从而获得标准的厚度尺寸。由于本实用新型一改过去的机械接触法测量为无接触测量方法,同时还根据现场测量的温度进行修正,彻底排除了人为因素和环境因素对测量结果的影响。
文档编号G01B11/06GK201368726SQ20092003213
公开日2009年12月23日 申请日期2009年3月6日 优先权日2009年3月6日
发明者刘本福, 博 王, 董继先, 陈海峰, 陈海英, 勋 黄 申请人:陕西科技大学
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