专利名称：基于宇宙射线产生的带电粒子的成像的制作方法
技术领域：
本专利文件涉及宇宙辐射的检测和基于宇宙射线产生的带电粒子的成像。
背景技术：
宇宙射线断层摄影(tomography)是利用宇宙射线产生的带电粒子(例如，μ介子)的多次库伦散射而不使用人工辐射来对物质执行非破坏性检查的技术。地球受到来自深层空间的能量稳定的粒子(大多数是质子)连续地轰击。这些粒子与高层大气中的原子相互作用以产生粒子的簇射(shower)，其包括衰减产生更长寿命的μ介子的许多短寿命的η介子。μ介子主要通过不具有核相互作用并且其辐射比电子容易得多的库伦力而与物体相互作用。这种宇宙射线产生的粒子通过电磁相互作用缓慢地丧失能量。结果，许多宇宙射线产生的μ介子到达地球表面作为高穿透的带电辐射。海平面处的μ介子通量是大约每分钟每cm2 1个μ介子。同样在海平面处，存在来自δ射线产生(电子分离 (knock-out))、在宇宙射线引起的簇射中的粒子的韧致辐射(Bremsstrahlung)或衰减的宇宙射线生成的电子的通量。海平面处的电子通量是大约每三分钟每cm2 1个电子。当诸如μ介子之类的带电粒子移动通过物质时，亚原子粒子的电荷的库伦散射沿其轨迹摄动(perturb)。总的偏转依赖于几个物质属性，但是主要影响是核的原子序数 Z。进行良好的伽马射线屏蔽的物质(诸如铅和钨)和特殊核物质(SNM)(诸如铀和钚)比组成更常见对象的物质(诸如水，塑料、铝和钢铁)对带电粒子(例如，μ介子)的轨迹的影响更强烈。每个带电粒子(例如，μ介子)携带有关其穿透的对象的信息。可以测量并处理多个带电粒子(例如，μ介子)的散射以探测这些对象的属性。当具有高原子序数Z 和高密度的物质位于低Z和中Z物体中时，可以检测和识别所述高原子序数Z和高密度的物质。来自物体中的原子核的库伦散射导致在带电粒子在穿越该物体时带电粒子的非常多的小角度的偏转。可以使用相关分布函数来近似表征依赖于物质的密度和原子电荷的轨迹的位移和角度改变。作为示例，该分布函数可以被近似为高斯分布。该分布函数的宽度与粒子的粒子的动量(momentum)的倒数和辐射长度中测量的物质的实际密度的平方根成比例。宇宙射线产生的带电粒子(例如，μ介子)的相关分布函数可以在不高于地球背景的辐射剂量的情况下提供关于带电粒子的行程中物质的信息，并且可以以这样的方式来实现对这种宇宙射线产生的带电粒子(例如，μ介子)的适当的检测，所述方式对于所选择的要检测的物质(诸如良好的辐射屏蔽物质)特别灵敏。可以配置带电粒子断层摄影检测系统(例如，μ介子断层摄影检测系统)以基于目标对象对带电粒子的散射而对待检查的目标对象执行断层摄影，并且该带电粒子断层摄影检测系统可以用于诸如边境交叉点、口岸、车道检查点和其他安全检测点之类的各种位置的入口监视器，用于检测诸如走私的核物质、核武器和常规武器或者其他违禁品的一些目标对象。带电粒子断层摄影检测系统可以与诸如伽马或X射线检测器之类的其他核物质检测器一同使用或者作为所述其他核物质检测器的替代。伽马和X射线检测器通过将伽马和X射线辐射对准目标并且测量穿透的伽马和X射线辐射而进行操作。核物质的屏蔽可能降低伽马和X射线检测器中的计数率并且降低伽马和X射线检测器的检测性能。可以配置带电粒子断层摄影检测系统来检测屏蔽的核物质和对象。
发明内容
本文件提供了通过使用带电粒子断层摄影检测系统来获得感兴趣的体积(volume of interest)的断层摄影图像的技术、装置和系统。在一方面，一种用于感测被暴露给带电粒子的体积的方法包括测量进入并穿透该体积的带电粒子或者停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的能量损失；基于所测量的能量损失，确定进入并穿透该体积的带电粒子或者停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的空间分布；以及使用带电粒子的能量损失的空间分布来重构检查体积中的物质的三维分布。在另一方面，提供了一种断层摄影检查系统，其包括第一组位置敏感检测器，位于对象容纳区域的第一侧，用于测量进入对象容纳区域的入射带电粒子的位置和方向；第二组位置敏感检测器，位于与第一侧相对的、对象容纳区域的第二侧，用于测量出射对象容纳区域的外出带电粒子的位置和方向，或者已经停止在体积中的带电粒子的缺失；以及信号处理单元，接收来自第一组位置敏感检测器的进入带电粒子的测量信号和来自第二组位置敏感检测器的外出带电粒子的测量信号的数据。信号处理单元被配置为基于测量的带电粒子的进入及外出位置和方向来分析由于与对象容纳区域内的物质相互作用造成的带电粒子的行为，以获得对象容纳区域内的物质的断层摄影剖面或者空间分布。信号处理单元能够操作来测量进入体积并且穿透体积的带电粒子、以及停止在体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的能量损失；确定进入体积并且穿透体积的带电粒子和停止在体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的空间分布；并且基于所测量的能量损失，使用空间分布来重构检查体积中物质的空间分布。在另一方面，提供了一种感测被暴露给带电粒子的体积的方法，其包括使用位于该体积的第一侧的第一组位置敏感检测器来测量穿透第一组位置敏感检测器以进入该体积的入射带电粒子的位置和方向；使用位于与第一侧相对的、该体积的第二侧的第二组位置敏感检测器来测量出射该体积的外出带电粒子的位置和方向，或者其的缺少；使用由第二组位置敏感检测器进行的测量来确定进入该体积并且穿透该体积的入射带电粒子和未穿透该体积以到达第二组位置敏感检测器的入射带电粒子；确定进入体积并且穿透体积的带电粒子和停止在体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的能量损失；基于所测量的能量损失，确定进入体积并且停止在体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的空间分布；以及使用进入体积并且停止在内部的带电粒子的空间分布来重构检查体积中物质的空间分布。在另一方面，提供了一种感测暴露给带电粒子的体积的方法，其包括=测量进入该体积并且停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的能量损失；基于所测量的能量损失，确定进入该体积并且停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的空间分布；并且使用该空间分布，来根据体积中物质各自的密度和原子序数重构该体积中物质的三维空间分布。从该空间分布，可以根据它们的原子序数和密度来检测对象。在另一方面，提供了一种感测暴露给带电粒子的体积的方法，其包括测量进入该体积并且停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的能量损失；基于所测量的能量损失，确定进入该体积并且停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的空间分布； 并且使用该空间分布，来检测具有低原子序数的一个或多个低密度物质的存在。在另一方面，提供了一种断层摄影检查系统，其包括第一组位置敏感检测器，位于对象容纳区域的第一侧，用于测量朝向对象容纳区域的入射带电粒子的位置和方向；第二组位置敏感检测器，位于与第一侧相对的、对象容纳区域的第二侧，用于测量出射对象容纳区域的外出带电粒子的位置和方向；以及信号处理单元，接收来自第一组位置敏感检测器的进入带电粒子的测量信号和来自第二组位置敏感检测器的外出带电粒子的测量信号的数据。信号处理单元被配置为基于所测量的带电粒子的进入及外出位置和方向来分析由于电荷在对象容纳区域内的物质中的散射造成的带电粒子的散射行为，以获得对象容纳区域内的散射中心的断层摄影剖面或者空间分布。信号处理单元能够操作来测量进入体积并且停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的能量损失；基于所测量的能量损失，确定进入体积并且停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的空间分布；并且根据体积中物质的密度和原子序数使用空间分布来重构该体积中物质的三维空间分布。从该空间分布，可以根据对象的原子序数和密度来检测对象。在一个实施方式中，这可以用于检测具有低原子序数的一个或多个低密度物质的存在。在另一方面，提供了一种感测被暴露给带电粒子的体积的方法，其包括使用位于该体积的第一侧的第一组位置敏感检测器来测量穿透第一组位置敏感检测器以进入该体积的入射带电粒子的位置和方向；使用位于与第一侧相对的、该体积的第二侧的第二组位置敏感检测器来测量出射该体积的外出带电粒子的位置和方向；使用由第二组位置敏感检测器进行的测量来确定进入该体积并且未穿透该体积以达到第二组位置敏感检测器的入射带电粒子；确定进入体积并且停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的能量损失；基于所测量的能量损失，确定进入体积并且停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的空间分布；以及根据体积中物质的密度和原子序数，使用该空间分布来重构该体积中物质的三维空间分布。从该空间分布，可以根据其原子序数和密度来检测对象。在一个实施方式中，这可以用于检测该体积内具有低原子序数的一个或多个低密度物质的存在。在另一方面，提供了一种断层摄影检查系统，其包括第一组位置敏感带电粒子检测器，位于对象容纳区域的第一侧，用于测量进入对象容纳区域的进入带电粒子的位置和方向；第二组位置敏感带电粒子检测器，位于与第一侧相对的、对象容纳区域的第二侧，用于测量出射对象容纳区域的外出带电粒子的位置和方向；以及信号处理单元，与第一组和第二组位置敏感带电粒子检测器进行通信，以接收来自第一组位置敏感带电粒子检测器的进入带电粒子的测量信号和来自第二组位置敏感带电粒子检测器的外出带电粒子的测量信号的数据，基于所接收的数据，检测每个进入带电粒子的进入动量和每个外出带电粒子的外出动量；并且基于所检测的进入动量和外出动量来计算能量损失。在另一方面，提供了一种用于获得待检查的对象的断层摄影图像的方法，其包括 检测每个进入带电粒子的进入动量；检测每个外出带电粒子的外出动量；基于所检测的进入动量和外出动量来计算能量损失；并且根据体积中物质的密度和原子序数，使用所计算的能量损失来重构体积中物质的三维空间分布。从该空间分布，可以根据其原子序数和密度来检测对象。在又一方面，在感兴趣的体积的穿透的带电粒子和俘获的带电粒子两者中测量的信息可用于构建该体积的断层摄影图像。基于对穿透的带电粒子和停止的带电粒子的测量，处理单元将穿透的带电粒子(例如，穿透的μ介子)的轨迹改变、关于在感兴趣的体积内部被俘获的停止的带电粒子(例如，俘获的μ介子)的信息、以及关于穿透的带电粒子 (例如，穿透的μ介子)的能量损失的信息的两种或三种类型的测量数据进行组合，以构建感兴趣的体积的断层摄影图像。该处理使用感兴趣的体积内部的不同处理的信息来改进感兴趣的体积的最终图像的逼真度和分辨率并且减少误检测。在附图、说明书和权利要求书中更详细地描述这些和其他方面。
图1图示了用于检测带电粒子的示例性的漂流管(draft tube)气体室的操作。图2示出本申请中描述的基于气体室的μ介子断层摄影系统的示例。图3是被分解为电子和μ介子分量的海平面宇宙射线通量的估算。图4示出在本文中讨论的使用宇宙射线的两种模式的图示。左边(a)是透射的宇宙射线的图示，而右边(b)是停止的宇宙射线的图示。图5示出作为能量函数的有效的平均自由行程。该估算已经忽略了电子簇射并且已经假设2MeV/g/cm2的能量损失。图6示出对于一组普通物质和爆炸物质的停止功率和辐射长度的图形以及对于 22 X 22 X 22cm3尺寸样本的这些物质在一分钟的暴露中期望的测量误差条。图7示出沿周期表绘制的能量损失(dE/dx)的最小值和辐射长度的乘积。图8示出20kg钨块中停止的宇宙射线粒子的2维分布的图形。红色峰值表示钨块中另外的停止粒子并且位于检测器中的钨的X-Y位置处。图9示出带电粒子的停止功率相对带电粒子入射能量的示例。图10示出物质中能量损失测量以及测量的损失怎样探测感兴趣的体积中的物质的属性的示例图示。图11示出图2的系统基于在穿透的带电粒子和俘获的带电粒子这两者中测量的信息进行的操作。
具体实施例方式可以实现本申请中描述的带电粒子断层摄影检测技术、装置和系统来检测诸如核物质之类的某些对象或物质的存在并且获得各种应用中这样的对象的断层摄影信息，所述各种应用包括但不限于，在安全检查点、边境交叉或其他位置针对核威胁对象(其范围可能从完全装配好的核武器到少量的被高度屏蔽的核物质)而检查包裹、集装箱、占用的车辆。该方法使得能够使用紧凑配置中的单个检测系统来检测屏蔽的和未屏蔽的核物质以提供一种用于检测核及其其他目标装置和物质的节省成本的方法。背景宇宙辐射提供了可以用于研究对象的内部结构而不需要附加辐射的源。μ 介子断层摄影(MT)产生“散射密度”的3维图像，所述密度由物质的辐射长度进行加权。 MT可以以5cm体元(voxel)在一分钟以下的暴露次数来辨别通常类型的物质(高Z、中Z 和低Z)。使用停止在正在研究的对象中的宇宙射线通量的分量的测距放射线摄影(range radiography)提供了增加的信息并且以提供有关对象的物质组成的信息的方式而对μ介子断层摄影信号进行补充。测量入射粒子的宇宙射线跟踪器将相当可观的统计功率添加到该测距信息。带电粒子断层摄影利用了经由宇宙辐射与地球大气的相互作用而生成的带电粒子的恒定的海平面通量。在强子区以外，例如，μ介子仅仅经由库伦力和微弱的力相互作用。因此，其高度地穿透物体。这些带电粒子具有近似3GeV的平均能量。例如，大多数大气μ介子将穿透不止一米的铅。μ介子以顶点(zenith)的余弦平方分布到达表面。在偏离顶点接近90°的角度处，通量较低，但是偏离顶点的平均μ介子角度是37. 5°。本申请中描述的特征可以用于构建各种带电粒子断层摄影检测系统。例如，带电粒子断层摄影系统可以包括对象容纳区域或体积，用于放置要检查的对象；第一组位置敏感带电粒子检测器，位于对象容纳区域的第一侧，以测量朝向对象容纳区域的入射带电粒子的位置和方向；第二组位置敏感带电粒子检测器，位于与第一侧相对的对象容纳区域的第二侧，以测量从对象容纳区域出射(exit)的外出的带电粒子的位置和方向；以及信号处理单元(其例如可以包括微处理器)，用于接收来自第一组位置敏感带电粒子检测器的进入带电粒子的测量信号和来自第二组位置敏感带电粒子检测器的外出带电粒子的测量信号的数据。作为示例，可以将第一组和第二组带电粒子检测器中的每一组实现为包括被安排为用于允许在第一方向中的带电粒子位置测量和在与第一方向不同的第二方向中的带电粒子的位置测量的漂移管。信号处理单元被配置为基于所测量的带电粒子的进入及外出位置和方向来分析由带电粒子在对象容纳区域内的物质中的散射所造成的电荷的散射行为， 以获得对象容纳区域内散射中心的断层摄影剖面或空间分布。所获得的散射中心的断层摄影剖面或者空间分布可以用于揭示对象容纳区域中诸如具有高原子序数的物质(包括核物质或装置)、或者具有特定密度和原子序数特征的对象(诸如低Z爆炸物或其他中Z或低 Z的违禁品)之类的一个或者多个对象的存在或者不存在。另外，通过带电粒子生成的电磁簇射，诸如与感兴趣的体积中的对象进行相互作用的高能电子可以在第二组带电粒子检测器处进行表征。来自所生成的电磁簇射的电子和正电子穿越通过该体积并且从第二组带电粒子检测器出射。可以以各种配置实现每个位置敏感带电粒子(例如，μ介子)检测器，包括诸如填充有可以由带电粒子电离的气体的漂移管之类的漂移单元。可以将这样的系统实现为利用自然宇宙射线产生的带电粒子作为用于检测对象容纳区域中的一个或多个对象的带电粒子的源。在2007年10月25日提交的、标题为“Particle Detection Systems and Methods”的PCT申请NO. PCT/US2007/082573 (PCT公开NO._)中描述了示例性的带电粒
9子断层摄影检测系统的各种特性，通过引用将其并入作为本申请的说明书的一部分。在一些应用中，粒子检测系统可以利用漂移管来使得能够跟踪通过体积的诸如μ 介子之类的带电粒子。然而，本领域技术人员将理解，可以在除宇宙射线产生的带电粒子跟踪以外的应用中采用这种带电粒子检测器来检测除宇宙射线产生的带电粒子之外的带电粒子。这些带电粒子检测器可应用于来自任何合适源的任何带电粒子。另外，可以通过宇宙射线或者来自加速器的低强度的μ介子束来产生μ介子。宇宙射线产生的带电粒子可以提供具有不高于地球背景的辐射剂量的信息并且可以以对于良好的屏蔽物质特别灵敏的这样的方式来实现这种宇宙射线产生的带电粒子的适当的检测。可以配置带电粒子检测系统来基于待检查的目标对象对带电粒子的散射而执行对目标对象的断层摄影。可以将该系统配置为执行断层摄影来使得散射局部化(RC和 LS)。可以按以下来近似表达断层摄影位置的分辨率
权利要求
1.一种用于感测被暴露给带电粒子的体积的方法，其包括测量进入并穿透该体积的带电粒子或者停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的能量损失；基于所测量的能量损失，确定进入并穿透该体积的带电粒子或者停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的空间分布；以及使用带电粒子的能量损失的空间分布来重构检查体积中的物质的三维分布。
2.根据权利要求1所述的方法，包括测量进入并穿透该体积的带电粒子和停止在该体积内的带电粒子；以及将带电粒子的能量损失的测量与带电粒子的角度偏转进行结合来重构该体积中的一个或多个物质的空间分布。
3.—种断层摄影检查系统，包括第一组位置敏感检测器，位于对象容纳区域的第一侧，用于测量进入对象容纳区域的入射带电粒子的位置和方向；第二组位置敏感检测器，位于与第一侧相对的、对象容纳区域的第二侧，用于测量出射对象容纳区域的外出带电粒子的位置和方向、或者已经停止在该体积内的带电粒子的缺失；以及信号处理单元，接收来自第一组位置敏感检测器的进入带电粒子的测量信号和来自第二组位置敏感检测器的外出带电粒子的测量信号的数据，所述信号处理单元被配置为基于测量的带电粒子的进入及外出位置和方向来分析由于与对象容纳区域内的物质相互作用造成的带电粒子的行为，以获得对象容纳区域内的物质的断层摄影剖面或者空间分布，其中，所述信号处理单元能够操作来测量进入该体积并且穿透该体积的带电粒子以及停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的能量损失，确定进入该体积并且穿透该体积的带电粒子和停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的空间分布；以及基于所测量的能量损失，使用空间分布来重构检查体积中物质的空间分布。
4.一种感测被暴露给带电粒子的体积的方法，包括使用位于该体积的第一侧的第一组位置敏感检测器来测量穿透第一组位置敏感检测器以进入该体积的入射带电粒子的位置和方向；使用位于与第一侧相对的、该体积的第二侧的第二组位置敏感检测器来测量出射该体积的外出带电粒子的位置和方向、或者其的缺少；使用由第二组位置敏感检测器进行的测量来确定进入该体积并且穿透该体积的入射带电粒子和未穿透该体积以到达第二组位置敏感检测器的带电粒子；确定进入体积并且穿透该体积的带电粒子和停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的能量损失；基于所测量的能量损失，确定进入该体积并且停止在体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的空间分布；以及使用进入体积并且停止在内部的带电粒子的空间分布来重构检查体积中物质的空间分布。
5.一种感测被暴露给带电粒子的体积的方法，包括测量进入该体积并且停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的能量损失；以及基于所测量的能量损失，确定进入该体积并且停止在体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的空间分布；以及使用该空间分布来检测具有低原子序数的一个或者多个低密度物质的存在。
6.根据权利要求5所述的方法，包括测量进入并且穿透该体积的带电粒子以确定具有高于所述一个或多个低密度物质的低原子序数的原子序数的一个或多个高密度物质的存在；以及将所述一个或多个高密度物质和所述一个或多个低密度物质两者的测量进行结合以检查该体积内的内容。
7.—种断层摄影检查系统，包括第一组位置敏感检测器，位于对象容纳区域的第一侧，用于测量朝向对象容纳区域的入射带电粒子的位置和方向；第二组位置敏感检测器，位于与第一侧相对的、对象容纳区域的第二侧，用于测量出射对象容纳区域的外出带电粒子的位置和方向；以及信号处理单元，接收来自第一组位置敏感检测器的进入带电粒子的测量信号和来自第二组位置敏感检测器的外出带电粒子的测量信号的数据，所述信号处理单元被配置为基于所测量的带电粒子的进入及外出位置和方向来分析由于带电粒子在对象容纳区域内的物质中的散射造成的带电粒子的散射行为以获得对象容纳区域内的散射中心的断层摄影剖面或者空间分布，其中，所述信号处理单元能够操作来测量进入该体积并且停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的能量损失，基于所测量的能量损失来确定进入该体积并且停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的空间分布，并且使用该空间分布来检测具有低原子序数的一个或多个低密度物质的存在。
8.—种感测被暴露给带电粒子的体积的方法，包括使用位于该体积的第一侧的第一组位置敏感检测器来测量穿透第一组位置敏感检测器以进入该体积的入射带电粒子的位置和方向；使用位于与第一侧相对的、该体积的第二侧的第二组位置敏感检测器来测量出射该体积的外出带电粒子的位置和方向；使用由第二组位置敏感检测器进行的测量来确定进入该体积并且未穿透该体积以到达第二组位置敏感检测器的入射带电粒子；确定进入体积并且停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的能量损失； 基于所测量的能量损失，确定进入该体积并且停止在该体积内部而没有穿透该体积的带电粒子的空间分布；以及使用该空间分布来检测该体积内具有低原子序数的一个或多个低密度物质的存在。
9.根据权利要求8所述的方法，包括测量进入并且穿透该体积的带电粒子以确定具有高于所述一个或多个低密度物质的低原子序数的原子序数的一个或多个高密度物质的存在；以及将所述一个或多个高密度物质和所述一个或多个低密度物质两者的测量进行结合以检查该体积内的内容。
10.一种断层摄影检查系统，包括第一组位置敏感带电粒子检测器，位于对象容纳区域的第一侧，用于测量进入对象容纳区域的进入带电粒子的位置和方向；第二组位置敏感带电粒子检测器，位于与第一侧相对的、对象容纳区域的第二侧，用于测量出射对象容纳区域的外出带电粒子的位置和方向；以及信号处理单元，与第一组和第二组位置敏感带电粒子检测器进行通信，以接收来自第一组位置敏感带电粒子检测器的进入带电粒子的测量信号和来自第二组位置敏感带电粒子检测器的外出带电粒子的测量信号的数据；基于所接收的数据，检测每个进入带电粒子的进入动量和每个外出带电粒子的外出动量；以及基于所检测的进入动量和外出动量来计算能量损失。
11.根据权利要求10所述的系统，其中，信号处理单元被配置为分析由对象容纳区域中的物质造成的进入带电粒子的散射特性。
12.一种用于获得待检查的对象的断层摄影图像的方法，包括 检测每个进入带电粒子的进入动量；检测每个外出带电粒子的外出动量； 基于所检测的进入动量和外出动量来计算能量损失；以及使用所计算的能量损失来识别待检查的对象。
全文摘要
通过使用带电粒子断层摄影检测系统来获取感兴趣的体积的断层摄影图像的技术、装置和系统。
文档编号G01N23/04GK102203637SQ200980142687
公开日2011年9月28日 申请日期2009年8月27日 优先权日2008年8月27日
发明者亚历克西.V.克利门科, 克里斯托弗.L.莫里斯, 加里.布兰皮德, 康斯坦汀.N.博罗兹丁, 弗拉迪米尔.图马科夫, 拉里.J.舒尔茨, 杰西.A.格林, 科洛.瓦姆巴, 迈克尔.J.索桑 申请人:决策科学国际公司, 洛斯阿拉莫斯国家安全股份有限公司