专利名称：珍珠品质的非破坏判定方法
技术领域：
本发明涉及珍珠品质的非破坏性判定方法。
背景技术：
Akoya珍珠(7 ^ ~真珠)、白蝶珍珠(* 口 f 3々真珠)、黑蝶珍珠(7 口 f 3々 真珠)、企鹅珍珠(ι 真珠)、淡水珍珠等珍珠由珍珠层结构构成，所述珍珠层结构包含多层由200 700nm左右的文石的碳酸钙结晶和硬蛋白(基质蛋白)形成的薄膜，通过该多层薄膜结构而产生珍珠独特的珍珠光泽。在统称为贝壳硬蛋白的珍珠中的有机基质中，珍珠层基质蛋白(Nacreous Shell Matrix Proteins(NSMPs))发挥粘结碳酸钙结晶间并维持珍珠层结构的重要作用。若该蛋白因光或热、或化学药品等任何原因而被破坏(若受到损伤)，则碳酸钙结晶慢慢变得零散，结晶层剥离，其结果，失去珍珠光泽。这样的影响随时间的推移而显现出来。根据珍珠中蛋白的损伤程度，对珍珠的经年变化的影响也不同，珍珠层中基质蛋白的损伤越大，越容易发生珍珠光泽降低等珍珠的经年劣化。蛋白刚刚被破坏的珍珠，直至珍珠层开始剥离前都具有美丽的珍珠光泽，但之后随着时间的推移，珍珠层的剥离显现出来。因此，只要珍珠层的剥离没有显现出来，则无论是何种原因使珍珠蛋白劣化，可以说都几乎不可能通过目视对其进行判别。在以产品珠的形式流通的养殖珍珠中，还包括施行加工处理的珍珠，根据社团法人日本珍珠振兴会的“珍珠标准” (2009年版)，所述加工处理定义为“利用物理的、科学的方法，导出天然珍珠或养殖珍珠所具有的潜在的美，或者，在与它们所具有的本来的性质无关的情况下，改变其颜色或外观”。在施行了这样的加工处理的珍珠中，还包括通过加工珍珠中的蛋白显著劣化的珍珠、在较短期间内失去珍珠光泽的珍珠。被过度加工的珍珠，其珍珠层受到明显的损伤，在珍珠层表层附近产生剥离痕等。存在剥离痕等时，通过由专门的熟练检查者进行目视评价，可以判别这些剥离痕等。但是，关于在刚刚加工后珍珠层的剥离没有显现出来的珍珠的检查，即使是熟练检查者，通过目视判定也极为困难。通过这样的过度加工处理使珍珠层的蛋白受到损伤的珍珠，有时会迅速发生经年变化，损及作为宝石的珍珠的耐久性。另一方面，关于珍珠的蛋白的性状评价，人们寻求在不破坏珍珠的情况下进行，以使其不丧失作为宝石的价值。作为非破坏性地检查珍珠品质的方法，虽然为数不多，但迄今为止也有几篇报道。例如，日本特开平10-260136号公报中记载着照射预定波长的光GSSnm 等)， 以检查作为珍珠的内部结构信息的细微缺陷的方法。该方法的目的在于发现、评价珍珠内部的缺陷等物理性损伤、脱落，关于贝壳硬蛋白这样的珍珠层基质蛋白的状态则没有研究。此外，日本特开2006-118923号公报中公开了珍珠贝的品位的非破坏判定方法。 该方法中，通过X射线衍射测定珍珠的珍珠层中文石结晶的取向性，进行品质评价。但是， 其中关于贝壳硬蛋白这样的珍珠层基质蛋白的状态则没有研究，而且测定方法也是使用X 射线衍射。因此，人们依然在寻求可以非破坏性地判定、并且简便且快速地测定珍珠品质得到结果的方法。
发明内容
这次，本发明人等在进行珍珠或珍珠贝壳的品质评价时，着眼于珍珠层的蛋白的性状。本发明人等通过利用珍珠或珍珠贝壳的紫外区 可见区的分光反射光谱和紫外区 可见区的荧光光谱，在不破坏或者不损伤珍珠或珍珠贝壳的情况下，可以测定珍珠层的蛋白的劣化状态，并成功地将它们转换成数值。而且，根据这些数值，成功地快速且简便地进行珍珠或珍珠贝壳的劣化程度的评价和判定加工类型。本发明基于这些发现。因此，本发明的目的在于提供可以非破坏性地、简便且快速判定目标珍珠或珍珠贝壳的品质的方法和检查装置。根据本发明，提供以下的判定方法和检查装置。(1)非破坏性地判定珍珠品质的方法，该方法通过测定作为被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区 可见区的反射光谱和/或紫外区 可见区的荧光光谱，并将得到的值与预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的值进行比较，来非破坏性地判定珍珠品质。(2)上述(1)的方法，该方法测定作为被检体的珍珠或珍珠贝壳中的珍珠层蛋白的分光反射光谱和/或荧光光谱。(3)上述(1)或O)的方法，该方法判定被检体的珍珠或珍珠贝壳的劣化程度。(4)上述(1) (3)中任一项的方法，该方法包括通过组合评价被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区 可见区的反射光谱的测定结果和被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区 可见区的荧光光谱的测定结果，判定被检体的珍珠或珍珠贝壳的品质劣化是起因于热处理、还是起因于日光照射。(5)上述(1) (4)中任一项的方法，其中，作为反射光谱，测定波长230 475nm 范围的珍珠或珍珠贝壳的分光反射率。(6)上述(1) (5)中任一项的方法，其中，作为反射光谱，测定波长250 ^Onm 的分光反射率(Ra)和波长270 ^Onm的分光反射率(Rb)，求出两者之比(分光反射比 R(a/b)或两者之差，基于此进行判定。(7)上述(1) (6)中任一项的方法，其中，作为荧光光谱，以波长250 300nm的紫外线作为激发光，对珍珠或珍珠贝壳进行照射，测定由此产生的波长320 360nm的荧光强度。(8)上述(1) (7)中任一项的方法，其中，作为荧光光谱，以波长250 400nm的紫外线作为激发光，对珍珠或珍珠贝壳进行照射，测定由此产生的波长400 550nm的荧光强度。(9)上述(7)或(8)的方法，其中，用装有透过波长320 360nm、420 460nm或400 550nm的光学滤光片的CXD照相机拍摄通过紫外线照射而产生的荧光，并将结果转换成数值，基于此进行判定。(10)珍珠品质的非破坏检查装置，该装置具备光照射部，用于对珍珠或珍珠贝壳照射来自紫外线光源的光；荧光检测部，测定通过照射来自上述光照射部的紫外线而产生的荧光。(11)上述(10)的装置，其中进一步包括分光反射检测部，该分光反射检测部测定珍珠或珍珠贝壳对来自上述光照射部的紫外线照射的分光反射率。(12)上述(10)或(11)的装置，其中进一步包括分析部，该分析部比较上述检测部中得到的数据和预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的数据，以判定被检体的珍珠或珍珠贝壳的劣化程度。(13)上述(12)的装置，其中进一步包括配置部，配置作为被检体的珍珠或珍珠贝壳；显示部，显示上述分析部的输出结果。(14)上述(10) (1 中任一项的装置，其中，荧光检测部具备装有使通过紫外线照射而产生的荧光透过波长320 360nm、420 460nm或400 550nm的光学滤光片的 CCD照相机。(15)上述(10) (14)中任一项的装置，其中，来自光照射部的照射光的波长为 230 475nm。以及(16)上述(10) (1 中任一项的装置，其中，在显示部中，根据珍珠或珍珠贝壳的劣化程度，分色显示来自分析部的输出结果。根据本发明的判定方法或检查装置，可以在不破坏珍珠或珍珠贝壳的非破坏条件下快速且简便地测定珍珠品质。本发明的装置还可以小型化，并且操作也简单，因此在销售珍珠的现场等中可以容易地使用。可以这样快速且简便地测定珍珠品质，这只有本发明人等知道，以往并不为人所知，可谓是划时代的判定方法和检查装置。
图1显示实施例1中的反射光谱的测定结果。图中，A表示热处理区的结果，B表示日光照射区的结果。图中，粗线表示未处理的结果，点线表示6小时后的结果，长点线表示192小时后的结果，细线表示768小时后的结果。图2显示在实施例1中随着热和日光照射处理时间的推移，254nm附近的分光反射
率的变化量。图3显示实施例1中的荧光光谱的测定结果。图中，A表示热处理区的结果，B表示日光照射区的结果。图中，粗线表示未处理的结果，点线表示6小时后的结果，长点线表示192小时后的结果，细线表示768小时后的结果。图4显示在实施例1中随着热和日光照射处理时间的推移，340nm的荧光强度值 FI340的变化。图5显示实施例2中的反射光谱的测定结果。图6显示实施例2中的荧光光谱的测定结果。图7显示实施例2中得到的&54/282和FI34tl的值的关系。
图8显示实施例3的结果。图9显示实施例4的结果。图10显示实施例5的结果。图11显示本发明的装置的概念图。
具体实施例方式如上所述，本发明涉及非破坏性地判定珍珠品质的方法，该方法通过测定作为被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区 可见区的反射光谱(优选分光反射光谱)和/或紫外区 可见区的荧光光谱，并将得到的值与预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的值进行比较，从而非破坏性地判定珍珠品质。S卩，本发明的判定方法，是在不损伤珍珠或珍珠贝壳、或者不削取一部分样品的情况下，利用非破坏条件可以判定珍珠品质。本发明中，珍珠只要是养殖珍珠、天然珍珠、柯氏(Keshi，’ ν )、带贝珍珠等通常被称为珍珠的珍珠即可，没有特别限定，但代表性的例子有=Akoya珍珠、白蝶珍珠、黑蝶珍珠、企鹅珍珠和淡水珍珠。本发明中，珍珠贝壳是指这些珍珠的珍珠贝的贝壳，特别是指贝壳中的珍珠层部分。这里，珍珠品质是指，以装饰的观点评价时珍珠或珍珠贝壳的品质，具体而言，这样的珍珠品质是指由于珍珠或珍珠贝壳的珍珠层蛋白的状态而受到影响的品质，本发明中，特别是指与珍珠层蛋白相关的品质。作为这种意义上的珍珠品质，可以列举例如从珍珠或珍珠贝壳的颜色、光泽、颜色的深度、损伤程度等观点考虑的品质。此外，当品质劣化时，劣化程度也包含在所判定的品质中。并且，关于品质的劣化， 其原因也可作为判定的对象。此时，被认为是珍珠品质的劣化原因的因素有因加工引起的品质劣化和因经年引起的品质劣化等。作为前者的因加工引起的品质劣化的主要原因，其例子有例如，加工时的热处理；使用氧化剂或还原剂进行的漂白处理；使用硝酸银等化学药品或着色剂、染色剂进行的着色处理；荧光增白剂处理；以及使用碱性溶剂或有机溶剂等化学药品进行的处理等。作为后者的因经年引起的品质劣化的主要原因，可以列举受到日光照射时的劣化，认为这样的因日光照射引起的劣化是随时间进行劣化的。因此，作为本发明的一个优选方案，在本发明的判定方法中，判定被检体的珍珠或珍珠贝壳的劣化程度。根据本发明的一个优选方案，在本发明的判定方法中，测定作为被检体的珍珠或珍珠贝壳的珍珠层蛋白的分光反射光谱和/或荧光光谱。在本发明中，测定作为被检体的、供给利用判定法进行的检查的珍珠或珍珠贝壳的紫外区 可见区的反射光谱和/或紫外区 可见区的荧光光谱，并将得到的值(结果) 与预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的值(结果)进行比较。这里，预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的值(结果)是指，准备正常、特别是已知珍珠层蛋白是正常的珍珠或珍珠贝壳，在实施判定方法之前，先测定该珍珠或珍珠贝壳的紫外区 可见区的分光反射光谱和/或紫外区 可见区的荧光光谱并保持的该值(以下，有时称作“正常值”或“对照值”)。在实施本发明的判定方法时使用该值。在担心受到珍珠或珍珠贝壳的种类、或测定条件影响的情况下，优选在与实际的判定条件相同的珍珠或珍珠贝壳的种类、测定条件下预先求出正常值。在本发明的判定方法中，测定作为被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区 可见区的反射光谱和/或紫外区 可见区的荧光光谱，包括测定被检体的珍珠或珍珠贝壳的“紫外区 可见区的反射光谱”、“紫外区 可见区的荧光光谱”中的任一种、以及将它们组合起来进行测定的任一种情形。“紫外区 可见区”是指，除处于紫外区 可见区的范围的情形以夕卜，还包含只处于紫外区的情形、只处于可见区的情形中的任一种情形，以上述意义使用。根据本发明的一个优选方案，在本发明的判定方法中，作为分光反射光谱，测定波长230 475nm的范围的珍珠或珍珠贝壳的分光反射率。上述波长范围优选230 400nm， 更优选为230 320nm，进一步优选为240 300nm，更进一步优选为250 290nm，特别优选为250 286nm。这里，珍珠或珍珠贝壳的分光反射(率)光谱可以使用惯用的分光光度计或多重测光装置等进行测定。根据本发明的一个更优选的方案，在本发明的判定方法中，作为分光反射光谱，测定波长250 ^Onm的分光反射率(Ra)和波长270 ^Onm的分光反射率(Rb)，求出两者之比(分光反射比R(a/b))或两者之差，基于此进行判定。特别优选测定波长约254nm的分光反射率(Ra)和波长约观2歷的分光反射率(Rb)，求出两者之比(分光反射比R254/282) 或两者之差，基于此进行判定。根据本发明的另一优选方案，在本发明的判定方法中，作为荧光光谱，以波长 250 300nm(优选波长270 ^Onm)的紫外线作为激发光，对珍珠或珍珠贝壳进行照射， 测定由此产生的波长320 360nm(优选波长330 350nm)的荧光强度。根据本发明的特别优选的方案，作为珍珠或珍珠贝壳的紫外区的荧光光谱的测定，以波长^Onm附近的紫外线作为激发光，对珍珠或珍珠贝壳进行照射，测定由此产生的波长;MOnm的荧光强度
(FI340) ο根据本发明的又一优选方案，在本发明的判定方法中，作为荧光光谱的测定，以波长250 400nm(优选波长320 380nm)的紫外线作为激发光，对珍珠或珍珠贝壳进行照射，测定由此产生的波长400 550nm(优选波长400 500nm、更优选波长410 480nm) 的荧光强度。根据本发明的特别优选的方案，作为珍珠或珍珠贝壳的可见区的荧光光谱的测定，以波长365nm附近的紫外线作为激发光，对珍珠或珍珠贝壳进行照射，测定由此产生的波长420 460nm附近的荧光强度。这里，紫外区荧光和可见区荧光可以使用惯用的分光荧光光度计来测定。根据本发明的又一优选方案，本发明的判定方法包括通过组合评价被检体的紫外区 可见区的分光反射光谱的测定结果和被检体的紫外区 可见区的荧光光谱的测定结果，判定被检体的珍珠或珍珠贝壳的品质劣化是起因于热处理、还是起因于日光照射。在本发明中，测定珍珠或珍珠贝壳的荧光光谱并进行判定时，可以使用所得的全体荧光光谱，但优选测定上述的预定波长范围的荧光强度。测定这样的预定波长范围时，通过使用光学滤光片、优选设定有波长谱带的通带滤光片，可以高效率地进行测定。为了将所得的结果转换成数值、或者转换成图像，使用装有光学滤光片(例如通带滤光片)的CCD照相机拍摄荧光，根据需要对其进行图像处理后使用，这是有效的。
因此，根据本发明的又一更优选的方案，在本发明的判定方法中，使用装有透过波长320 360nm、420 460nm或400 550nm的光学滤光片(例如通带滤光片)的CCD照相机拍摄通过紫外线照射而产生的荧光，将结果转换成数值，基于此进行判定。通过如此操作，可以实施快速的大量珍珠或珍珠贝壳的检查。根据本发明的又一方案，如上所述，提供珍珠品质的非破坏检查装置，该装置具备光照射部，用于对珍珠或珍珠贝壳照射来自紫外线光源的光；荧光检测部，测定通过照射来自上述光照射部的紫外线而产生的荧光。根据本发明的又一优选方案，本发明的装置进一步包括分析部，该分析部比较上述检测部中得到的数据和预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的数据，以判定被检体的珍珠或珍珠贝壳的劣化程度。根据本发明的又一更优选的方案，本发明的装置进一步包括配置部，配置作为被检体的珍珠或珍珠贝壳；以及显示部，显示上述分析部的输出结果。这里，配置部可以配置作为被检体的珍珠或珍珠贝壳，对可配置的珍珠或珍珠贝壳的数量或种类没有特别限定。对配置方法也没有特别限定，例如，可以是在平面上可以等间隔地二维配置的试样台，也可以是直接放置珍珠串或精品、或珍珠、珍珠贝壳的平面。这样的试样台优选为不产生测定波长范围的荧光的试样台，但在周围具有产生荧光的部位的情况下，通过在测定部位以外安装光掩模(无荧光)，可以更准确地进行测定。光照射部是指用于对上述配置部的珍珠或珍珠贝壳照射来自紫外线(UV)光源的光的部分，可以直接照射光源的光，也可以经由滤光片等进行照射。作为滤光片，例如可以在棒状透镜上安装光学滤光片(截断300nm以上)等后使用。光源可以适当使用惯用的光源，光源和光照射部根据需要可以通过光纤等连接，或者可以将光源和光照射部一体化后使用。作为荧光检测部，可以使用惯用的分光荧光光度计，可以测定紫外区荧光和可见区荧光。根据本发明的优选方案，在本发明的装置中，荧光检测部通过装有透过波长 320 360nm、420 460nm或400 550nm的光学滤光片(例如通带滤光片)的(紫外区对应型)CCD照相机拍摄通过紫外线照射而产生的荧光。通过如此操作，可以实施快速的大量珍珠或珍珠贝壳的检查。需要说明的是，根据需要，可以通过A/D转换器将所拍摄的图像转换成数字数据， 之后传送到分析部。根据本发明的优选方案，本发明的装置进一步包含分光反射检测部，该分光反射检测部测定珍珠或珍珠贝壳对来自上述光照射部的紫外线照射的分光反射率。此时，优选分析部设计成通过组合评价被检体的珍珠或珍珠贝壳的分光反射光谱的测定结果和被检体的珍珠或珍珠贝壳的荧光光谱的测定结果，可以判定被检体的珍珠或珍珠贝壳的品质劣化是起因于热处理、还是起因于日光照射。在分析部将由荧光检测部和/或分光反射检测部得到的数据与预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的数据进行比较，判定被检体的珍珠或珍珠贝壳的劣化程度。作为预先测定的正常数据，可以保持测定好的正常的珍珠或珍珠贝壳的数据并使用该数据，也可以获取每次测定的正常数据并使用该数据。在本发明中，作为分析部和显示部，可以使用市售的个人计算机(PC)等。在检测部，使用装有光学滤光片(例如通带滤光片)的CCD照相机检测通过紫外线照射而产生的被检体的荧光时，将该结果传送到分析部，使用个人计算机(PC)进行图像处理，可以对各被检体的亮度进行数值化处理。在数值化处理中，例如只要是市售或通常可以获取的图像处理软件(例如，Image Jihotoshop等)，无论是哪一种，均可使用。使用图像处理软件，进行测定对象部位的灰度等级(浓淡的变化程度)的平均化处理(例如，在8 位(bit)的图像处理中，最多达到256个灰度等级)，以得到的值作为“荧光评价值”，可以在判定中使用该值。需要说明的是，在实际测定时，对测定位置的一定面积(例如直径为5mm的圆形区域)进行测定，基于此求出荧光评价值，可以判定。根据本发明的优选方案，本发明的装置，从光照射部照射的波长为230 475nm。根据本发明的优选方案，本发明的装置可以在显示部中，根据珍珠或珍珠贝壳的劣化程度分色显示来自分析部的输出结果。由此，可以容易地把握测定结果，还可以容易地把握检查或判定结果。需要说明的是，在本说明书中，使用了 “约”或“左右”、“附近”的值的表现手法的意思是指，除了通过设定该值来达到目的，还包含本领域技术人员可接受的值的变动。实施例通过以下的例子详细说明本发明，但本发明并不限于这些例子。实施例1(1-1)材料和方法供试材料使用20颗直径为6. 0 7. Omm的Akoya贝珍珠和由Akoya贝壳珍珠层得到的珍珠层粉末试样。需要说明的是，约250g的珍珠层粉末试样如下获得使用研磨机从50颗通过人工采苗产生的Akoya贝(3年贝)体分的贝壳中完全除去棱柱层和光亮层部分，粉碎至粒径不足0. 3mm，得到珍珠层粉末试样。试样的处理基本是在冷暗处避光进行。(1-2)反射光谱的测定使用带有积分球的分光光度计(V-570，日本分光株式会社)，测定200 550nm的波长范围的反射光谱。需要说明的是，测定中使用5mm尺寸的光掩模(mask)。(1-3)荧光光谱的测定使用分光荧光光度计(FP-750，日本分光株式会社)，测定300 400nm的波长范围的荧光光谱。激发波长为280nm，测定荧光强度时使用5mm尺寸的光掩模。(1-4)热处理试验热处理时(以下记作热处理区)，将10颗珍珠试样和30g珍珠层粉末试样放入 60mmX 18mm的圆形玻璃制培养皿中，之后在热风干燥机(程序温度调节器E型，株式会社 Isuzu制作所)内静置，在100°C下处理768小时。在处理前和处理后6小时、12小时、24 小时、48小时、96小时、192小时、384小时、768小时分别测定珍珠试样的反射光谱和荧光光谱。需要说明的是，在试样冷却至室温后进行测定。(1-5)日光照射处理实验
日光照射处理(以下记作日光照射区)如下进行将10颗珍珠试样和30g珍珠层粉末试样固定在氙测试器(SUNTESTER XF-180CPS，株式会社东洋精机制作所)中，使光照射在试样的同一个面上，利用以氙光O00V，1. 5kW，使用带有反射涂层的石英玻璃和特殊 UV滤光片，使放射光近似于太阳光的光谱)为光源的人工太阳光，在放射照度为250W/m2、 35°C的条件下进行768小时的日光照射处理(相当于蓝色标度8级，JIS L-0841)。在处理前和处理后12小时、24小时、48小时、96小时、192小时、384小时、768小时分别测定珍珠试样中光照射面的反射光谱和荧光光谱。(1-6)实验结果(i)反射光谱的变化珍珠试样中热处理区和日光照射区的典型的反射光谱的变化如图1所示。在处理前的珍珠试样的反射光谱中，在分别确认到吸收最大值。在热处理区的反射光谱中，自处理后6小时起大于250nm的长波长侧全区的分光反射率显示出变高的趋势，之后12小时以后以322nm附近为中心的300 450nm的范围的分光反射率和以 2Mnm为中心的248 的范围的分光反射率轻微下降；相对于此，450nm以上的可见区的分光反射率有变高的趋势(图1A)。在日光照射区，322 475nm的分光反射率和以254nm为中心的248 的范围的分光反射率缓慢下降，在处理前的珍珠中明确确认到的^Onm附近的吸收最大值变得极不明确(图1B)。于是，求出2Mnm的分光反射率Ii254的值与的分光反射率Ii282的值之比 R2547282 ,随着热和日光照射处理时间的推移，254nm附近的分光反射率的变化量见图2。热处理区的&54/282直至处理后12小时显著减少，但之后显示出缓慢减少的趋势。 相对于此，在日光照射区，直至处理后48小时确认到显著减少，之后显示出缓慢减少的趋势，但与热处理区相比减少量大，在处理后192小时以后低于1. 0的试样增加，在768小时所有试样均显示出低于1. 0的值。(ii)荧光光谱的变化珍珠试样中热处理区和日光照射区的典型荧光光谱的变化见图3。处理前的珍珠试样的荧光光谱在340nm附近的波长区显示出单一的荧光最大值。 热处理区和日光照射区的荧光光谱随着处理的进行，荧光最大波长发生最大为5nm左右的蓝移，同时荧光强度慢慢变弱，显示出几乎相同特征的变化(图3A、B)。于是，随着两试验区中的处理的进行，340nm的荧光强度值FI34tl的变化见图4。其结果，在热处理区和日光照射区，直至处理后96小时FI34tl均显示出同样的减少趋势；120小时后，与日光照射区相比，热处理区的减少显示出稍小的趋势，但在试验结束时两者间没有确认到明显差异。实施例2非破坏性地评价药物(漂白)处理对Akoya珍珠的影响。需要说明的是，测定方法和测定装置与实施例1相同。具体而言，准备Akoya珍珠(36颗，直径为5. 5mm的未处理珠)，将其分为4组。各组的处理条件如下处理A(漂白液浓度1.5%，溶剂水)；处理B (漂白液浓度3. 0%，溶齐U 水)；处理C (漂白液浓度1. 5 %，溶剂醇系溶剂)；处理D (漂白液浓度3. 0 %，溶剂醇系溶剂)。需要说明的是，作为漂白液，使用该领域通常使用的市售漂白液。对于各处理条件的珍珠，经时性(处理开始日 40天后)测定254nm的分光反射率K54的值与的分光反射率Ii282的值之比&54/282。结果如图5所示。由结果确认珍珠的&54/282的变化根据各自的处理方法而不同，但在处理开始后若超过3天左右，则处理期间越长，珍珠的&54/282越显著下降。此外，对于各处理条件的珍珠，还测定随着时间的推移(处理开始日 40天后) 紫外区荧光评价值的变化。紫外区荧光评价值使用下述构成的检查装置进行测定。在150 X 150mm的丙烯酸板(可设置100颗珍珠)上，在使用测定面积为直径5mm 的光掩模(无荧光板)的试样台(相当于配置部)上放置试样珍珠，利用使用了氙灯的UV 光源(相当于光照射部)和滤光片(截断300nm以上的光的滤光片)，对被检体的珍珠照射300nm以下的紫外线约1秒。使用装有通带滤光片(320 360nm)的紫外区对应型CXD 照相机(相当于荧光检测部)，测定对其进行紫外线照射而产生的被检体的珍珠的荧光，使用个人计算机(PC)，通过图像处理，对各被检体珍珠的亮度进行数值化处理(相当于分析部)。这里，在图像处理中使用市售的图像处理软件，进行测定状态部位的灰度等级的平均化处理(这里，由于是8位(bit)的图像处理，所以最多存在256个灰度等级，这相当于处理结果的数值)。在PC的监视器上以数值形式显示处理结果(相当于显示部)，以所显示的值作为紫外区荧光评价值。结果如图6所示。进一步测定340nm的荧光强度值(FI34tl)，关于&54/282和FI34tl的值的关系，分为未处理的情形、处理5 10天后的情形、处理10 20天后的情形、处理20 30天后的情形、 以及处理30 40天后的情形进行显示，如图7所示。由结果确认进行了药物(漂白)处理的珍珠，其在处理后5天以上，处理期间越长，R254/282和FI34O越显著下降。实施例3准备771颗正常的白蝶珍珠和8颗正在劣化的白蝶珍珠(分别由业内者获取)，进行与实施例2相同的操作，测定这些珍珠的分光反射率比&54/282和紫外区荧光评价值。结果如图8A所示。并且，与实施例2同样地测定从正常的白蝶珍珠中随机抽取的74颗珍珠和8颗正在劣化的白蝶珍珠的分光反射率比&54/282、340nm的荧光强度值(FI34tl)和紫外区荧光评价值。结果如图8B 图8D所示。由结果可知由于批量2(〇)的珍珠的&54/2821134(1和紫外区荧光评价值均低，因此可以判定珍珠正在劣化。实施例4
准备30颗市售的3批淡水珍珠(从业界获取)，进行与实施例2相同的操作，测定这些珍珠的分光反射率比&54/282和340nm的荧光强度值(FI34tl)。结果如图9(图9A 图9C)所示。由结果可以判定所有珍珠均存在测定值按批量1 >批量2 >批量3的顺序减小的趋势，与批量1相比，批量2和批量3因加工等正在推进珍珠的劣化。实施例5准备73颗Akoya珍珠的未处理珠和用荧光增白剂处理的珍珠(从业内者获取)， 测定这些珍珠的可见区荧光，比较可见区荧光评价值。需要说明的是，可见区荧光评价值使用下述的构成的检查装置进行测定。将试样珍珠放在暗箱的试样台(相当于配置部)上，对被检体的珍珠照射365nm 的使用了 LED的UV光源(相当于光照射部)。使用装有通带滤光片G20 460nm)的CXD 照相机(相当于荧光检测部)，检测对其进行紫外线照射而产生的被检体的珍珠的荧光，使用PC通过图像处理，对各被检体珍珠的亮度进行数值化处理(相当于分析部)。这里，在图像处理中使用市售的图像处理软件，进行测定状态部位的灰度等级的平均化处理(这里，由于是8位的图像处理，所以最多存在256个灰度等级，这相当于处理结果的数值)。在PC的监视器上以数值形式显示处理结果(相当于显示部)，以所显示的值作为可见区荧光评价值。结果如图10所示。由结果可知用可见区荧光评价装置转换成数值的Akoya珍珠(未处理珠)的可见区荧光评价值为100以下，相对于此，用荧光增白剂处理的两种珍珠的荧光评价值显示出明显高的值。
权利要求
1.非破坏性地判定珍珠品质的方法，该方法通过测定作为被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区 可见区的反射光谱和/或紫外区 可见区的荧光光谱，并将得到的值与预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的值进行比较，来非破坏性地判定珍珠品质。
2.权利要求1所述的方法，该方法测定作为被检体的珍珠或珍珠贝壳中的珍珠层蛋白的分光反射光谱和/或荧光光谱。
3.权利要求1或2所述的方法，该方法判定被检体的珍珠或珍珠贝壳的劣化程度。
4.权利要求1 3中任一项所述的方法，该方法包括通过组合评价被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区 可见区的反射光谱的测定结果和被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区 可见区的荧光光谱的测定结果，判定被检体的珍珠或珍珠贝壳的品质劣化是起因于热处理、还是起因于日光照射。
5.权利要求1 4中任一项所述的方法，其中，作为反射光谱，测定波长230 475nm 范围的珍珠或珍珠贝壳的分光反射率。
6.权利要求1 5中任一项所述的方法，其中，作为反射光谱，测定波长250 ^Onm 的分光反射率Ra和波长270 ^Onm的分光反射率Rb，求出两者之比即分光反射比R(a/ b)或两者之差，基于此进行判定。
7.权利要求1 6中任一项所述的方法，其中，作为荧光光谱，以波长250 300nm的紫外线作为激发光，对珍珠或珍珠贝壳进行照射，测定由此产生的波长320 360nm的荧光强度。
8.权利要求1 7中任一项所述的方法，其中，作为荧光光谱，以波长250 400nm的紫外线作为激发光，对珍珠或珍珠贝壳进行照射，测定由此产生的波长400 550nm的荧光强度。
9.权利要求7或8所述的方法，其中，用装有透过波长320 360nm、420 460nm或 400 550nm的光学滤光片的CXD照相机拍摄通过紫外线照射而产生的荧光，并将结果转换成数值，基于此进行判定。
10.珍珠品质的非破坏检查装置，该装置具备光照射部，用于对珍珠或珍珠贝壳照射来自紫外线光源的光；以及荧光检测部，测定通过照射来自上述光照射部的紫外线而产生的荧光。
11.权利要求10所述的装置，其中进一步包括分光反射检测部，该分光反射检测部测定珍珠或珍珠贝壳对来自上述光照射部的紫外线照射的分光反射率。
12.权利要求10或11所述的装置，其中进一步包括分析部，该分析部比较上述检测部中得到的数据和预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的数据，以判定被检体的珍珠或珍珠贝壳的劣化程度。
13.权利要求12所述的装置，其中进一步包括配置部，配置作为被检体的珍珠或珍珠贝壳；以及显示部，显示上述分析部的输出结果。
14.权利要求10 13中任一项所述的装置，其中，荧光检测部具备装有使通过紫外线照射而产生的荧光透过波长320 360nm、420 460nm或400 550nm的光学滤光片的 CCD照相机。
15.权利要求10 14中任一项所述的装置，其中，来自光照射部的照射光的波长为230 475nm。
16.权利要求10 15中任一项所述的装置，其中，在显示部中，根据珍珠或珍珠贝壳的劣化程度，分色显示来自分析部的输出结果。
全文摘要
本发明涉及非破坏性地判定珍珠品质的方法，该方法通过测定作为被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区～可见区的反射光谱和/或紫外区～可见区的荧光光谱，并将得到的值与预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的值进行比较，来非破坏性地判定珍珠品质。本发明还涉及珍珠品质的非破坏性检查装置。根据本发明，可以非破坏性地、并且简便且快速判定目标珍珠或珍珠贝壳的品质。
文档编号G01N21/87GK102549411SQ201080002848
公开日2012年7月4日 申请日期2010年12月27日 优先权日2010年8月24日
发明者岩桥德典, 平松润一, 永井清仁 申请人:株式会社御木本