专利名称：：飞行时间成像器的制作方法
技术领域：
：本发明涉及利用飞行时间测量法产生深度图的改善方案，更具体地，涉及具有改善的精确度的飞行时间成像器和飞行时间成像方法。
背景技术：
：对于3D视频内容的产生，除了通常的视频数据之外，测量位于正被捕获的场景中的物体的距离是重要的。为此目的，确定了所谓的深度图。通常飞行时间成像器用于此目的，也就是在飞行时间原理的帮助下建立距离数据的测量系统。飞行时间成像器包括光源和光传感器，该光传感器由像素阵列构成。为了测量深度图，光源用脉冲触发，传感器的所有像素用转移栅极(TG)脉冲和全局快门栅极(GSG)脉冲同时地触发。具体见K.Fife等白勺"A0.5μmpixelframe-transferCCDimagesensorinIlOnmCMOS(在IlOnmCMOS中的0.5μπι像素帧转移CCD图像传感器)”，2007IEEEInternationalElectronDevicesMeeting,Vol.35(2007)，pp.1003-1006。此外，W02009/135952公开了飞行时间测量的方法和传感器。该传感器适于在可变的背景辐射条件下实现有效的背景辐射抑制。不仅背景辐射降低深度图测量的精确度。为了获得准确的深度图，光源、转移栅极脉冲和全局快门栅极脉冲之间的时间关系恒定也是重要的。
发明内容因而，本发明的目的是提供深度图的飞行时间产生的方案，其实现了改善的精确度。根据本发明，该目的通过用于测量物体的深度图的飞行时间成像器来实现，该飞行时间成像器具有光源，用于照射物体；传感器，具有用于检测被物体反射的光的像素阵列以获得测量的深度图，其中飞行时间成像器适于(adaptedto)将深度校正轮廓施加到测量的深度图。类似地，一种用飞行时间成像器测量物体的深度图的方法具有以下步骤-用光源发射的光照射物体；-用具有像素阵列的传感器检测被物体反射的光以获得测量的深度图；以及-施加深度校正轮廓到所测量的深度图。尽管光源、转移栅极脉冲和全局快门栅极脉冲之间的时间关系的微小控制，特别对于具有大量像素的传感器，所测量的深度图不令人满意。已经发现，这是由飞行时间成像器的传感器引起，也就是由到传感器的不同像素的不同电路长度引起。转移栅极脉冲和全局快门栅极脉冲沿相同的路径传输。因此在这些脉冲之间没有显著的偏差(shift)。然而，这些脉冲关于光源触发脉冲的时间关系在整个传感器的像素阵列上不同，也就是脉冲受到在整个像素阵列上的传播延迟。对传播延迟的另一个贡献来源于传感器的水平和垂直驱动器。精确的传播延迟取决于像素在像素阵列内的位置，但能够容易地在10至20ns的范围内。在下文，此效应被称作“阴影(shading)”。由于光以3X109m/s的速度传播，所以Im的距离使光延迟3.3ns。为了用飞行时间成像器测量此距离，光必须传播回到成像器，因此Im的距离导致6.6ns的延迟。因此，在成像器上20ns的传播延迟差异导致:的错误。显然，在成像器上的脉冲的传播延迟对测量的精确度有很大的影响。随着成像器的尺寸变得更大，传播延迟的问题增大。用于解决该问题的直接选择是优化传感器的水平和垂直驱动器用于较高的速度和较低的传播延迟。然而，这增加了传感器以及由此飞行时间成像器的成本。此外，即使优化驱动器，仍会保留残留延迟。根据本发明的方法通过用深度校正轮廓来校正深度图中由传播延迟引起的误差而解决了传播延迟的问题。该方法具有以下优点，其在保证产生具有改善精确度的深度图的同时能够以低成本实现。此外，通过使得深度校正轮廓可调节，可以应对由传感器的老化或环境变化引起的影响。有利地，深度校正轮廓是两个η阶多项式的叠加。这两个多项式中的第一个将传感器的行数作为输入值，而这两个多项式中的第二个将传感器的行的像素数作为输入值。优选地，使用两个二阶多项式，因为这在传感器的行方向和列方向上通常是足够的。两个多项式的叠加导致3D深度校正轮廓，其从所测量的深度图被减去以获得校正的深度图。当然，对于两个多项式可以使用不同的阶。优选地，深度校正轮廓从存储器例如从查阅表(look-uptable)取回。这具有仅需要相当有限量的处理能力的优点。可选地，深度校正轮廓基于多项式对飞行进行计算。在此情形下，多项式的系数有利地从存储器取回。尽管后面的方案需要更多的处理能力，但减少了所需的存储器的量。为了应对环境的变化，例如温度或湿度的变化，针对不同环境条件的深度校正轮廓有利地在存储器中可获得。在此情形下，飞行时间成像器包括相应的传感器，例如温度传感器和湿度传感器，以选择合适的深度校正轮廓。优选地，深度校正轮廓通过测量已知物体的深度图并将测量的深度图与期望的深度图比较而确定。更具体地，为了确定深度校正轮廓，进行以下步骤-用光源发射的光来照射一平坦表面，该平坦表面平行于飞行时间成像器的传感器并处于距离飞行时间成像器已知距离的位置；-用传感器检测被平坦表面反射的光以获得测量的深度图；以及-从测量的深度图确定深度校正轮廓。有利地，深度校正轮廓通过以下步骤从测量的深度图确定-对传感器的行进行行平均；-将η阶多项式拟合到平均的行值以确定两个多项式中的第一个；-从测量的深度图减去平均的行值；-对传感器的列进行列平均；以及-将η阶多项式拟合到平均的列值以确定两个多项式中的第二个。这里，深度校正轮廓以简单的方式确定。可选地，深度校正轮廓通过从测量的深度图减去已知物体的期望深度图来获得。为此目的，有利地确定多次测试的平均。在此情形下，不需要将任何函数拟合到深度校正轮廓。然而，深度校正轮廓将不那么平滑，因为在此情形下由测量公差引起的噪声对最终的深度校正轮廓具有更大的影响。此外，替代从良好定义的物体(也就是，平坦表面)测量的深度图确定深度校正轮廓，同样可以直接测量或至少大致计算在传感器的像素的阵列内的转移栅极脉冲和全局快门栅极脉冲的传播延迟。确定的延迟然后被转换成深度值。为了更好的理解，在以下的描述中将参照附图更详细地解释本发明。应理解，本发明不限于此示范性实施例，指定的特征也可以被方便地结合和/或修改，而不背离本发明的由权利要求书所限定的范围。在附图中图1示出根据本发明的飞行时间成像器的原理；图2绘出通过常规飞行时间成像器获得的平坦表面的深度图；图3解释了在飞行时间成像器的传感器中的传播延迟的起源；图4示出用2阶多项式拟合到垂直阴影；图5示出用2阶多项式拟合到水平阴影；图6绘出通过结合图4和图5的2阶多项式获得的深度校正图；图7绘出在用图6的深度校正图校正之后图3的深度图；图8示出以不同深度布置的四个物体的示范性场景；图9示出用常规飞行时间成像器获得的图8的场景的深度图；图10绘出在用图6的深度校正图校正之后图9的深度图；以及图11示出将图10的被校正的深度图中的深度放大。具体实施例方式图1示出根据本发明的飞行时间成像器6的原理。飞行时间成像器6包括光源2、透镜4、传感器5和处理电路7。物体1位于距飞行时间成像器6的距离d为75cm的位置处，物体1由光源2(例如4X4的红外LED阵列)照射。物体1具有面对传感器5的像素阵列的平坦表面。被此平坦表面反射的光3被透镜4收集并在传感器5的像素阵列上成像。这使得可以测量物体1的深度图。处理电路7能够处理所测量的深度图。物体1的由飞行时间成像器6测量的深度图在图2中示出。灰度值表示测量的深度(单位为cm)。它们对于传感器5的像素在χ方向和y方向绘制。尽管物体1的平坦表面具有离传感器5平面的75cm的固定距离d，但是所得的深度图显然是不平的。相反，它示出在右下角处随着减小y像素和减小χ像素而从期望值增大的距离。图2的不平坦深度图的解释是在传感器5的像素阵列内的传播延迟，如以下将参照图3解释的。传感器5包括多个像素51，其布置成行和列。转移栅极脉冲TG和全局快门栅极脉冲GSG需要从输入端行进到各个像素51。可以看到，对于不同的像素51，脉冲不得不经过的距离不同。这导致在水平方向上增大的传播延迟Ath以及在垂直方向上增大的传播延迟Atv，也就是已经说过的阴影。已经发现，2阶多项式允许模拟(approximate)阴影效应。图4绘出了以cm为单位的垂直阴影的量的测量值随行数的变化以及拟合到测量值的2阶多项式。垂直阴影的量通过行平均得到。5类似地，如能够从图5看到，水平阴影效应也能够由2阶多项式模拟。水平阴影的量通过从原始的图像减去行平均图像然后进行列平均而得到。所获得的分别用于水平阴影和垂直阴影的两个2阶多项式的组合产生如图6所示的3D多项式校正图像。该校正图像随后被电路7使用以校正由传感器5获得的任何深度图。例如，图7绘出了在用图6的深度校正图校正之后的图3的深度图。校正通过从由飞行时间成像器6测量的深度图减去校正图像而进行。可见，被校正的深度图在整个传感器区域上示出期望的距离。在以下，对于示范性的场景，校正图像将应用于由飞行时间成像器6测量的深度图。该场景在图8中示出。四个物体11、12、13和14布置为距离飞行时间成像器6不同的距离，也就是45Cm、75Cm、105Cm和135cm。通过飞行时间成像器6获得的该场景的初始深度图在图9中示出。由于阴影效应，对于不同的物体11、12、13和14所测量的距离也不是恒定的。然而，在减去校正图像之后，获得了图10的被校正的深度图。对此被校正深度图的放大在图11中绘出，示出仅从Ocm到140cm的减小的深度范围。可见，不同物体11、12、13和14的距离实质上是恒定的并拟合到期望的距离。权利要求1.一种用于测量物体(1、11、12、13、14)的深度图的飞行时间成像器(6)，具有光源(2)和传感器(5)，该光源(2)用于照射该物体(1、11、12、13、14)，该传感器(5)具有像素阵列(51)并用于检测被该物体(1、11、12、13、14)反射的光(3)以获得测量的深度图，该飞行时间成像器(6)的特征在于，该飞行时间成像器(6)适于将深度校正轮廓施加到该测量的深度图。2.根据权利要求1所述的飞行时间成像器(6)，其中该深度校正轮廓是两个η阶多项式的叠加。3.根据权利要求2所述的飞行时间成像器(6)，其中该两个η阶多项式中的第一个将该传感器(5)的行数作为输入值，该两个η阶多项式中的第二个将该传感器(5)的行的像素数作为输入值。4.根据权利要求1至3中任一项所述的飞行时间成像器(6)，其中该深度校正轮廓基于飞行来计算或者从查阅表提取。5.一种用飞行时间成像器(6)测量物体(1、11、12、13、14)的深度图的方法，具有以下步骤用光源(2)发射的光照射该物体(1、11、12、13、14)；以及用具有像素阵列(51)的传感器(5)检测被该物体(1、11、12、13、14)反射的光(3)以获得测量的深度图；该方法的特征在于，还包括以下步骤施加深度校正轮廓到该测量的深度图。6.根据权利要求5所述的方法，其中该深度校正轮廓是两个η阶多项式的叠加。7.根据权利要求6所述的方法，其中该两个η阶多项式中的第一个将该传感器(5)的行数作为输入值，该两个η阶多项式中的第二个将传感器(5)的行的像素数作为输入值。8.根据权利要求5至7中任一项所述的方法，其中该深度校正轮廓基于飞行来计算或者从查阅表提取。9.一种确定用于飞行时间成像器(6)的深度校正轮廓的方法，具有以下步骤用光源(发射的光来照射一平坦表面，该平坦表面平行于该飞行时间成像器(6)的传感器(5)的像素阵列(51)并处于距离该飞行时间成像器(6)已知距离的位置处；用传感器(5)检测被该平坦表面反射的光(3)以获得测量的深度图；该方法的特征在于，还包括以下步骤从该测量的深度图确定该深度校正轮廓。10.根据权利要求9所述的方法，其中该深度校正轮廓是两个η阶多项式的叠加。11.根据权利要求10所述的方法，具有以下步骤对该传感器(5)的行进行行平均；将η阶多项式拟合到平均的行值以确定两个多项式中的第一个；从该测量的深度图减去该平均的行值；对该传感器(5)的列进行列平均；以及将η阶多项式拟合到平均的列值以确定该两个多项式中的第二个。12.根据权利要求9至11中任一项所述的方法，还具有步骤将该深度校正轮廓存储在查阅表中。全文摘要本发明提供了一种飞行时间成像器。本发明涉及一种利用飞行时间测量法产生深度图的改善方案，更具体地，涉及具有改善的精确度的飞行时间成像器(6)和飞行时间成像方法。根据本发明，深度校正轮廓施加到测量的深度图，其考虑了在飞行时间成像器(6)的传感器(5)的像素阵列(51)内的传播延迟。文档编号G01S17/08GK102346250SQ20111015346公开日2012年2月8日申请日期2011年6月9日优先权日2010年6月9日发明者尼古拉斯.J.达姆斯特拉,彼得勒斯.G.M.森滕,朱尔.范登海杰坎特,杰罗恩.罗特申请人:汤姆森特许公司