一种用于辉光放电溅射深度测量的双激光器在线实时测量装置及方法

文档序号:6011878阅读:236来源:国知局
专利名称:一种用于辉光放电溅射深度测量的双激光器在线实时测量装置及方法
技术领域
本发明属于利用放电测试材料的领域,具体了提供一种用于辉光放电溅射深度测量的双激光器在线实时测量装置及方法。
背景技术
辉光放电逐层溅射技术可以测定样品各成分随深度定量变化的规律,在涂镀层、超硬涂层等样品的快速深度分布分析领域有着广泛的应用。在辉光光谱深度分析中,溅射深度的测量值是非常重要的分析信息。采用传统辉光深度分析方法存在以下不足由于主要通过对材料各元素的密度粗略估算来计算溅射深度,因而导致成分沿深度方向分布等重要参数的测量存在较大的误差。
采用激光在线实时深度测量的新技术将为辉光定量分析方法提供更为准确快速的深度分析信息,可以在线得到样品溅射深度的真实测量值。目前,国内外对激光在线实时深度测量方法的研究一直处于探索阶段,仍存在以下不足前人的研究中由于光源构造及测量方法等局限,没有实现元素光谱信号与溅射深度信号的同步采集。另外,前人采用建立理论模型的方式排除溅射过程中光源位移对深度测量产生的影响,而单纯的理论推导难以涵盖所有真实参数的变化,最终得到的溅射深度实时测量曲线存在偏差。现有技术中激光位移传感器可精确非接触测量被测物体的位置、位移等变化,主要应用于检测物的位移、厚度、振动、距离、直径等几何量的测量。按照测量原理,激光位移传感器原理分为激光三角测量法和激光回波分析法,激光三角测量法一般适用于高精度、短距离的测量,而激光回波分析法则用于远距离测量。但是,在辉光放电材料分析装置中采用激光位移传感器进行深度测量的技术方案,现有技术中还未见报道。

发明内容
本发明的目的在于提供用于辉光放电溅射深度测量的双激光器在线实时测量装置及方法,实现了辉光放电光谱信号与溅射深度信号的同步测量,能够在辉光放电光谱仪进行金属样品分析的同时实时准确测得样品的溅射深度测量曲线和准确的溅射深度测量结果,为传统辉光深度分析方法中对深度估算不准确的问题提供有效解决方案。为了实现上述目的,本发明提供了如下技术方案一种用于辉光放电溅射深度测量的双激光器在线实时测量装置,它由辉光放电光谱信号测量单元和双激光器溅射深度测量单元组成,包括辉光放电光源(GDS)、第一激光位移传感器A、第二激光位移传感器B以及光纤d,能够实现辉光放电光谱信号与溅射深度信号的同步测量;其中辉光放电光源(OTS)包括第一石英观测窗a以及第二石英观测窗b ;
第一激光位移传感器A及第ニ激光位移传感器B处于辉光放电光源c的同一侧,且第一激光位移传感器A位于第一石英观测窗a的后方,正对样品e派射坑,实时测量样品溅射深度;第二激光器B位于第二石英观测窗b的后方,用来测量样品e未溅射表面的位移。所述辉光放电光源(OTS),是符合激光三角測量的Grimm辉光放电光源。所述第一石英观测窗a用来观测辉光光谱信号,且激光測量束通过所述观测窗a测量样品e溅射坑表面。所述第二石英观测窗b处于阳极筒f和阴极绝缘盘h之间,且激光測量束通过所述观测窗b测量样品e未溅射表面。所述第一激光位移传感器A和第二激光位移传感器B是ー种激光三角位移传感器,其包括可激发激光測量束的激光器i以及CCD检测器j。 ー种使用本发明所述的装置进行在线实时测量的方法,包括如下步骤1)激发及形成溅射坑,2)信号采集,3)信号解析;(I)所述激发及形成溅射坑步骤中,针对不同金属材料样品选择溅射条件,辉光放电光源(GDS)激发辉光c,在金属材料样品e表面形成派射坑,同时第一激光位移传感器A通过第一石英观测窗a激发激光測量束,及第ニ激光位移传感器B通过第二石英观测窗b激发激光測量束;(2)所述信号采集步骤中,第一激光位移传感器A通过第一石英观测窗a实时采集样品e溅射坑的激光测量信号,第二激光位移传感器B通过第二石英观测窗b采集样品e未溅射表面的激光测量信号,同时金属材料样品的辉光放电光谱信号也通过第一观测窗a被光纤d接收并且实时传输到辉光放电光谱仪;(3)所述信号解析步骤中,对上述步骤(2)中的第一激光位移传感器A和第二激光位移传感器B采集的信号进行解析得到溅射坑以及未溅射表面的測量数据,以系统时间为単位叠加溅射坑以及未溅射表面的測量数据,得到所述金属材料样品溅射深度的在线实时测量曲线。第一激光位移传感器A和第二激光位移传感器B在光源的同一侧同步测量样品e溅射坑深度和样品e表面未溅射面的位移,用于消除溅射过程中光源系统的位移对深度实时测量的影响。测量的派射坑和未派射面位于同一样品e的同一侧表面上。第一激光位移传感器A和第二激光位移传感器B发出的激光测量束互相平行。本发明的有益效果I、本发明提供了一种准确測量样品溅射深度的方法,有效解决了传统辉光深度分析方法中对深度估算不准确的问题;2、本发明采用双激光器在光源的同一侧同步測量溅射坑深度和样品表面未溅射面的位移,基本消除了溅射过程中光源装置的位移对深度实时测量的影响。


图I为本发明基于新型光源结构的双激光器在线实时測量装置和測量方法示意图。
图2为本发明中第二激光位移传感器B通过第二石英观测窗b激发以及采集激光测量光束示意图。图3为本发明测量的锡基样品溅射深度在线实时测量曲线,其溅射条件为30mA,900V,溅射时间20分钟。其中a)样品溅射坑测量曲线,b)样品参考面测量曲线,c)溅射坑深实际测量曲线。图4为本发明测量的锌基样品溅射深度在线实时测量曲线,其溅射条件为30mA,900V,溅射时间20分钟。其中a)样品溅射坑测量曲线,b)样品参考面测量曲线,c)溅射坑深实际测量曲线。附图标记A第一激光位移传感器 B第二激光位移传感器a第一石英窗b第二石英窗 c辉光d光纤e样品f阳极筒g阴极h阴极绝缘盘i激光器j CCD检测器
具体实施例方式下面根据附图对本发明作进一步说明。如图I所示,一种用于辉光放电溅射深度测量的双激光器在线实时测量装置,它由辉光放电光谱信号测量单元和双激光器溅射深度测量单元组成,包括辉光放电光源(GDS)、第一激光位移传感器A、第二激光位移传感器B以及光纤d,能够实现辉光放电光谱信号与溅射深度信号的同步测量;其中辉光放电光源(OTS)包括第一石英观测窗a以及第二石英观测窗b ;第一激光位移传感器A及第二激光位移传感器B处于辉光放电光源c的同一侧,且第一激光位移传感器A位于第一石英观测窗a的后方,正对样品e派射坑,实时测量样品溅射深度;第二激光器B位于第二石英观测窗b的后方,用来测量样品e未溅射表面的位移。所述辉光放电光源(OTS),是符合激光三角测量的Grimm辉光放电光源。所述第一石英观测窗a用来观测辉光光谱信号,且激光测量束通过所述观测窗a测量样品e溅射坑表面。所述第二石英观测窗b处于阳极筒f和阴极绝缘盘h之间,且激光测量束通过所述观测窗b测量样品e未溅射表面。所述第一激光位移传感器A和第二激光位移传感器B是一种激光三角位移传感器,其包括可激发激光测量束的激光器i以及CCD检测器j。一种本发明所述的装置进行在线实时测量的方法,包括如下步骤1)激发及形成溅射坑,2)信号采集,3)信号解析;(I)所述激发及形成溅射坑步骤中,针对不同金属材料样品选择溅射条件,辉光放电光源(GDS)激发辉光c,在金属材料样品e表面形成派射坑,同时第一激光位移传感器A通过第一石英观测窗a激发激光测量束,及第二激光位移传感器B通过第二石英观测窗b激发激光測量束;(2)所述信号采集步骤中,第一激光位移传感器A通过第一石英观测窗a实时采集样品e溅射坑的激光测量信号,第二激光位移传感器B通过第二石英观测窗b采集样品e未溅射表面的激光测量信号,同时金属材料样品的辉光放电光谱信号也通过第一观测窗a被光纤d接收并且实时传输到辉光放电光谱仪;(3)所述信号解析步骤中,对上述步骤(2)中的第一激光位移传感器A和第二激光位移传感器B采集的信号进行解析得到溅射坑以及未溅射表面的測量数据,以系统时间为単位叠加溅射坑以及未溅射表面的測量数据,得到所述金属材料样品溅射深度的在线实时测量曲线。第一激光位移传感器A和第二激光位移传感器B在光源的同一侧同步测量样品e溅射坑深度和样品e表面未溅射面的位移,用于消除溅射过程中光源系统的位移对深度实时测量的影响。 测量的派射坑和未派射面位于同一样品e的同一侧表面上。第一激光位移传感器A和第二激光位移传感器B发出的激光测量束互相平行。具体实施例I :在本发明的ー个具体实施例中,采用本发明所述的双激光器在线实时測量装置及方法测量锡基标准样品的溅射深度。首先,准备样品,采用150目的砂纸打磨锡基标准样品表面,然用无水こ醇擦洗干净,吹干待用。然后,将处理后的锡基标准样品e置于本发明所述装置的阴极g与阴极绝缘盘h之间,作为装置的阴极,如图I所示。再用本发明所述的双激光器在线实时測量方法,测量锡基标准样品的溅射深度,选择溅射条件为放电电流30mA,放电电压900V,溅射时间20分钟。最后,得到本实施例中锡基标准样品的溅射坑測量曲线,如图3a)所示;样品參考面測量曲线,如图3b)所示;以及溅射坑深实际测量曲线,如图3c)所示。
具体实施方式
2 在本发明的另ー个具体实施例中,采用本发明所述的双激光器在线实时測量装置及方法测量锌基标准样品表面的溅射深度。首先,准备样品,采用150目的砂纸打磨锌基标准样品表面,然用无水こ醇擦洗干净,吹干待用。然后,将处理后的锌基标准样品e置于本发明所述装置的阴极g与阴极绝缘盘h之间,作为装置的阴极,如图I所示。再用本发明所述的双激光器在线实时測量方法,测量锌基标准样品的溅射深度,选择溅射条件为放电电流30mA,放电电压900V,溅射时间20分钟。最后,得到本实施例中锌基标准样品的溅射坑測量曲线,如图4a)所示;样品參考面測量曲线,如图4b)所示;以及溅射坑深实际测量曲线,如图4c)所示。以上为用本发明对金属样品溅射深度在线实时测量实验的测试结果。采用本发明所述方法測量金属样品,得到了较为理想的样品溅射深度在线实时測量曲线。本发明可应用于辉光放电光谱仪对金属镀层样品溅射深度的在线实时准确测量和深度分布分析。
权利要求
1.一种用于辉光放电溅射深度测量的双激光器在线实时测量装置,其特征在于它由辉光放电光谱信号测量单元和双激光器溅射深度测量单元组成,包括辉光放电光源(GDS)、第一激光位移传感器(A)、第二激光位移传感器(B)以及光纤(d),能够实现辉光放电光谱信号与溅射深度信号的同步测量; 其中辉光放电光源(GDS)包括第一石英观测窗(a)以及第二石英观测窗(b); 第一激光位移传感器(A)及第二激光位移传感器(B)处于辉光放电光源(c)的同一侦1J,且第一激光位移传感器(A)位于第一石英观测窗(a)的后方,正对样品(e)派射坑,实时测量样品溅射深度;第二激光器(B)位于第二石英观测窗(b)的后方,用来测量样品(e)未派射表面的位移。
2.如权利要求I所述的装置,其特征在于所述辉光放电光源(GDS),是符合激光三角测量的Grimm辉光放电光源。
3.如权利要求I或2所述的装置,其特征在于所述第一石英观测窗(a)用来观测辉光光谱信号,且激光测量束通过所述观测窗(a)测量样品(e)溅射坑表面。
4.如权利要求I或2所述的装置,其特征在于所述第二石英观测窗(b)处于阳极筒(f)和阴极绝缘盘(h)之间,且激光测量束通过所述观测窗(b)测量样品(e)未溅射表面。
5.如权利要求I所述的装置,其特征在于所述第一激光位移传感器(A)和第二激光位移传感器(B)是一种激光三角位移传感器,其包括可激发激光测量束的激光器(i)以及CCD检测器(j)。
6.一种使用权利要求I所述的装置进行在线实时测量的方法,包括如下步骤1)激发及形成溅射坑,2)信号采集,3)信号解析;其特征在于 (1)所述激发及形成溅射坑步骤中,针对不同金属材料样品选择溅射条件,辉光放电光源(GDS)激发辉光(c),在金属材料样品(e)表面形成派射坑,同时第一激光位移传感器(A)通过第一石英观测窗(a)激发激光测量束,及第二激光位移传感器(B)通过第二石英观测窗(b)激发激光测量束; (2)所述信号采集步骤中,第一激光位移传感器(A)通过第一石英观测窗(a)实时采集样品(e)溅射坑的激光测量信号,第二激光位移传感器(B)通过第二石英观测窗(b)采集样品(e)未溅射表面的激光测量信号,同时金属材料样品的辉光放电光谱信号也通过第一观测窗(a)被光纤(d)接收并且实时传输到辉光放电光谱仪; (3)所述信号解析步骤中,对上述步骤(2)中的第一激光位移传感器A和第二激光位移传感器B采集的信号进行解析得到溅射坑以及未溅射表面的测量数据,以系统时间为单位叠加溅射坑以及未溅射表面的测量数据,得到所述金属材料样品溅射深度的在线实时测量曲线。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于第一激光位移传感器(A)和第二激光位移传感器(B)在光源的同一侧同步测量样品(e)溅射坑深度和样品(e)表面未溅射面的位移,用于消除溅射过程中光源系统的位移对深度实时测量的影响。
8.如权利要求6所述的方法,其特征在于测量的溅射坑和未溅射面位于同一样品(e)的同一侧表面上。
9.如权利要求6所述的方法,其特征在于第一激光位移传感器(A)和第二激光位移传感器(B)发出的激光测量束互相平行。
全文摘要
本发明属于利用放电来测试材料领域,具体提供了一种用于辉光放电溅射深度测量的双激光器在线实时测量装置及方法。本发明采用两台激光位移传感器(A、B)和Grimm辉光放电光源(GDS)构成在线实时深度测量装置,能够在辉光放电光谱仪进行金属样品分析的同时,实时准确测得样品的溅射深度测量曲线和准确的溅射深度测量结果,为传统辉光深度分析方法中对深度估算不准确的问题提供有效解决方案。
文档编号G01N21/67GK102829732SQ201110161110
公开日2012年12月19日 申请日期2011年6月15日 优先权日2011年6月15日
发明者李小佳, 万真真, 王海舟, 贾云海, 余兴, 张胜坤, 罗剑秋 申请人:钢铁研究总院
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1