专利名称：一种校正超声波检测仪器的测试块的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种UT检测测试块。
背景技术：
现有技术中在做超声波检测时，采用UT探头探测缺陷到工件表面的距离，用来校正超声波检查仪器的测试块一般为长方形，但是被测量的工件多为圆弧形，这样就存在着检测校正试块表面形状与被测量的工件的表面不吻合的问题。
发明内容为了解决现有校正超声波检测仪器的测试块在工作时存在校正不准确而导致检测不准确的技术问题，本实用新型提供一种校正超声波检测仪器的测试块。本实用新型的技术解决方案一种校正超声波检测仪器的测试块，包括测试块本体，其特殊之处在于所述测试块本体为拱形，所述测试块本体的工作面上设置多个测试孔。本实用新型所具有的优点本实用新型的测试块为拱形，与拱形的工件表面相类似，在校正测试仪器时，测试块能够再现测量的环境，提高校正的准确率，从而提高测量的准确率。
图1为本实用新型的结构示意图；图2为本实用新型校正超声波检测仪器的测试块的主视图；图3为本实用新型校正超声波检测仪器的测试块的仰视图；图4为图2的剖视图。
具体实施方式
如图1-4所示，一种校正超声波检测仪器的测试块，包括测试块本体，测试块为拱形，测试块本体的工作面上设置多个测试孔。在校正测试仪器时，测试块能够再现测量的环境，提高校正的准确率，从而提高测量的准确率。用UT探头探测缺陷到表面的距离，使得UT 探头能够尽可能的测量缺陷到工件表面的准确距离，测量更准确。
权利要求1. 一种校正超声波检测仪器的测试块，包括测试块本体，其特征在于所述测试块本体为拱形，所述测试块本体的工作面上设置多个测试孔。
专利摘要本实用新型涉及校正超声波检测仪器的测试块，包括测试块本体，测试块本体为拱形，测试块本体的工作面上设置多个测试孔。现有校正超声波检测仪器的测试块在工作时存在校正不准确而导致检测不准确的技术问题，本实用新型提高校正的准确率，从而提高测量的准确率。
文档编号G01S11/14GK202093168SQ20112015480
公开日2011年12月28日 申请日期2011年5月13日 优先权日2011年5月13日
发明者陆乾 申请人:无锡德乾能源设备有限公司